用于分析装配玻璃质量的光学装置的校准以及相关方法与流程

本发明涉及装配玻璃质量分析领域，尤其涉及淬火或半淬火（换言之，硬化）装配玻璃中的淬火痕迹或加热不均匀性的分析。

背景技术：

众所周知，具有应力的钢化玻璃是光学各向异性的。它展现出双折射属性。在专利wo2011/157815中，正是这些属性用于分析淬火痕迹。

为了进行淬火痕迹的分析，装配玻璃通过一个组合件以便测量由淬火产生的双折射的存在。该组合件的主要组件由通过光弹性测量进行测量的装置或偏振器构成，包括：

-在装配玻璃上游，光源、第一直线偏光镜、第一波片；

-在装配玻璃下游，第二波片、检偏振器（第二直线偏光镜）、然后是光电探测器。

这产生位于装配玻璃上的痕迹的严重性和分布的图像。然后根据预先建立的标准分析所存在的痕迹的图像，以对应于观察者对这些痕迹的出现的感知。向一系列淬火装配玻璃被提交给的专家小组进行统计评估。

该分析缺乏可靠性，因为被分析的图像将依赖于所使用的光学系统。

本发明的目的是提供不依赖于所使用的硬件的淬火和甚至半淬火装配玻璃的质量分析。

技术实现要素：

为此，本发明首先目的在于一种光学装置，包括第一偏振器，优选地为竖直向偏振器，其沿着与光轴（优选地，竖直轴z或水平轴）光学对齐的方式以此顺序包括：

-第一（可见）光源，优选为多色光源，其具有给定光谱、尤其是白色光谱，其释放光束——其中优选地在由所述光轴给出的方向上发射光，第一光源特别是多个无机电致发光二极管（称为led）或甚至一个或多个有机电致发光二极管（称为oled），第一光源尤其是正交于所述光轴；

-第一圆形（或准圆形）偏光镜，其在第一旋转（偏振）方向——左或右——上，第一偏光镜尤其是正交于所述光轴，第一偏光镜尤其包括尤其是具有第一偏振轴x1的第一线性偏光镜以及第一四分之一波片，第一四分之一波片尤其具有第一快轴和第一慢轴，其相对于第一偏振轴x1具有45°的角度a1；

-第一检偏振器，其为圆形（或准圆形）偏光镜，其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向——或者说右或左——上，第一检偏振器尤其是正交于所述光轴，尤其是第一检偏振器包括第二四分之一波片，其尤其具有（以在绝对值上等于a1的角度a2的）第二快轴和第二慢轴，接着是第二线性偏光镜，其尤其具有垂直于所述光轴并垂直于第一偏振轴x1的第二偏振轴y1（因此第一和第二偏光镜成十字形），特别地，第二慢轴与第一快轴对齐并且第二快轴与第一慢轴对齐。

根据本发明的光学装置在第一检偏振器的下游并且沿着所述光学对齐还包括：

-第一数字传感器，尤其是正交于所述光轴；

-第一物镜，尤其是正交于所述光轴并限定焦平面，其面向第一数字传感器并且在第一检偏振器与第一数字传感器之间，尤其被固定到第一数字传感器或靠在第一数字传感器上。

此外，根据本发明的光学装置在第一偏光镜与第一检偏振器之间并且沿着所述光学对齐包括已检定的第一光学延迟发生器，尤其是正交于所述光轴，特别是巴比涅补偿器，所述第一光学延迟发生器是在范围ab中，其中值a（优选为整数）在从0nm至100nm的范围内，优选地a等于0nm，并且其中差b-a至少为100nm、或甚至至少200nm，并且甚至至多2000nm、或甚至至多800nm、或至多500nm、或至多300nm，并且优选地第一光学延迟发生器处于所述焦平面中。

第一数字传感器包括一组第一光电探测器，其对第一光源的光谱敏感，具有给定的光谱响应。第一光电探测器中的一个或（优选地）多个——称为第一校准光电探测器——面向第一光学延迟发生器（的校准表面，尤其是孔径）。每个第一校准光电探测器针对所述范围ab中的所述光学延迟中的每一个连续接收从第一检偏振器出射的光束发出的光能，然后第一数字传感器针对所述范围ab中的所述光学延迟生成称作校准数字图像的数字图像，每个校准数字图像是用一个或多个参考通道ck由一个或多个像素形成的，所述一个或多个像素表示一个或多个第一校准光电探测器的光谱响应。

根据本发明的光学装置最后包括用于处理校准数字图像从而形成校准库的第一处理单元，所述校准库针对所述范围ab中的每个光学延迟包含针对参考通道ck中的每一个的数值ik，数值ik表示由一个或多个第一校准光电探测器收集的光能。

因此根据本发明，可以基于已检定的第一光学延迟发生器来实现第一数字传感器和第一偏振器的校准，这具有以下优点：

-客观性，因为每个光学延迟的测量不依赖于用于该偏振器的光学硬件的选择；

-简便性，因为其是依靠易于使用的光学系统；

-快速，因为延迟与值ik的关联不需要复杂的计算（数值计算、方程、光弹性定律的使用等），尤其是仅涉及到提取/收集数字数据（针对每个延迟的值ik）以便形成校准库，在多个校准像素的情况下可以简单地取ik的平均值。

特别地，每个校准图像可以具有缩减的尺寸。此外，收集合理数量的校准图像，因此处理时间很快。

在该校准期间，（均匀的）光束中的仅一部分可用（穿过了孔径、片表面、校准表面等的那部分）。

例如，形成（线形、矩形等的）发光带，其（至少中心部分）随后将在装配玻璃的质量分析期间全部起作用。例如，安装一组二极管——led或（一个或多个）oled，二极管的一部分（例如大多数）未被使用（可以无差别地点亮或熄灭它们），但它们随后将在装配玻璃的质量分析期间起作用。可以避免在校准之后（在校准表面、孔径的任一侧）再次添加二极管，因为这可能由于改变了发光环境而破坏校准和/或这再次添加步骤。

在校准期间，优选地安装随后用于分析装配玻璃质量的所有光电探测器，光电探测器的一部分（例如大多数）未被使用，但它们随后将在装配玻璃的质量分析期间起作用。替换地，可以在校准之后再次添加光电探测器（在校准表面、孔径的任一侧）。

关于检偏振器或偏光镜的尺寸选择也是如此，优选地将它们选为具有足够的尺寸以用于随后的装配玻璃质量分析。

在校准期间，不使用被延迟区外部的光束照射的任何光电探测器。它们可以是在质量分析时添加的，但为了简单起见，优选地将它们全部安装用于校准。

因此，光轴穿过第一物镜的中心，并且尤其是穿过校准表面（孔径）的中心。优选地，它穿过第一光源的中心（中心线）。

有利地，已检定的第一光学延迟发生器包括由双折射材料制成的光学系统，选自：

-a）一组已检定的静止光学平面波片，所述波片是可互换的，在范围ab中进行光学延迟，每个波片依次插入所述光学装置中；

-或者b）已检定的系统或光学补偿器，优选为索累-巴比涅补偿器（或等效器件），包括由双折射材料制成的第一和第二劈片，第二片相对于静止的第一片可平移地移动。

因此，使用根据本发明的这种双折射光学系统的校准非常简单，因为它不需要复杂的安装，其中光学延迟由机械安装来产生，例如包括将玻璃样品置于拉伸或压缩应力下（例如径向压缩）。

此外，利用根据本发明的这种双折射光学系统的这种校准优于需要应已知其应力场且借助于使用光弹性定律来推断其延迟功率的一个或多个参考玻璃的校准。

如果需要的话，利用根据本发明的这种双折射光学系统的光学装置易于携带。

优选地，第一光学延迟发生器，例如双折射光学系统，尤其是补偿器，被放置在固定的（在通过延迟进行延迟校准时不可移动或静止的）安装支架上和/或固定到固定的安装支架（以便稳定），优选地在平板上，该平板例如固定到框架或侧支柱上，如果光学对齐是竖直向的则优选为水平的。

根据本发明的第一光学延迟发生器可以由校准表面限定，该校准表面以光轴为中心、面向如平板之类的可能的安装支架的孔。

例如，对于a），相继使用由塑料（优选由丙烯酸）制成的板，尤其是2mm厚，具有静态光学延迟。优选地，光束在除边缘区域之外处穿过该板。

静止的光学平面波片的改变可以例如用转盘或平移移动型系统而是自动化的。

具有根据本发明的已检定的（索累-巴比涅）补偿器的光学装置还使得能够在不更改（添加、更换光学元件）光学装置的情况下获得定制范围内的所有光学延迟。

优选地，第一光学延迟发生器是补偿器，尤其是索累-巴比涅补偿器，包括彼此相对且间隔开的：

-第一固定三角形劈片，由第一（单轴、以第一光轴限定的）双折射材料制成，所述双折射材料如石英或其他晶体，诸如氟化镁；

以及，第二三角形劈片，其可相对于第一片平移地移动，由第二（单轴、以第二光轴限定的）双折射材料制成，所述双折射材料如石英或其他晶体，诸如氟化镁，优选地与第一双折射材料相同。

可移动劈片的平移可以由电机产生，或者通过尤其是微米尺寸的螺钉（或其他机械部件）手动产生。即使是手动，也可以使光学延迟以给定步长（螺钉上的参考标记等）在范围ab内增量（以从a增加到b或从b减小到a的顺序）。

这些第一和第二光轴是正交的。用d1和d2分别表示第一劈片和第二劈片沿光学装置的光轴的局部厚度、ne和no表示双折射材料的不正常或正常指数，彼此正交且分别平行于补偿器的两个片的光轴的电磁振动之间的光学延迟或路径差δ对应于：（no-ne）（d1-d2）。

根据本发明的补偿器可以由以光轴为中心的孔径限定。所述孔径由第一光源完全照射，孔径在所述焦平面中，具有至多为30mm的宽度o1（如果孔径是圆形的则为直径，或者是等效直径）。孔径位于光的通过区域中，该通过区域被封闭部件环绕，如配给孔径的不透明盒体或外罩。一个或多个第一校准光电探测器面向该孔径。

优选地，光学延迟的改变是自动化的（计算机控制的），尤其是：

-静止的光学平面波片的改变例如用转盘或平移移动型系统而是自动化的；或者

-第一光学延迟发生器是机械化补偿器，如索累-巴比涅补偿器，其能够使光学延迟在范围ab内自动增量（以从a增加到b或从b减小到a的顺序）。

（计算机控制的）电机例如在（第一）安装支架上，如平板。增量步长p0优选为至多1nm且甚至至多0.5nm且至少2nm，特别是在15至25nm和甚至0至25nm之间的延迟范围内。

可以选择可变步长，例如：

-在0至200nm的延迟范围ab1中选择较小的步长，即0.5nm；

-然后在大于200nm至800nm的延迟范围中选择较大的步长，即1nm。

特别地，第一光学延迟发生器，如尤其是索累-巴比涅补偿器，可以连接到与第一处理单元通信的控制接口（计算机）。

像素是包含表示由第一传感器（相机）的一个或多个光敏组件（该组第一光电探测器）接收的光能的值的数字图像，所述第一传感器（相机）形成已穿过偏振器的光束的接收器。每个第一光电探测器可以具有每种颜色（因此对于每个像素来说，每个参考通道）一个（基本的）光敏表面，尤其是针对具有r、g、b通道的像素的三个（基本的）光敏表面。替换地，每个第一光电探测器可以具有用于所有颜色（因此针对像素的所有参考通道）的一个光敏表面，尤其是针对具有r、g、b通道的像素的一个（基本的）光敏表面。

针对每个参考通道ck、针对校准期间使用的每个像素，第一处理单元建立值ik，并且这是针对每个光学延迟。

针对每个参考通道ck、针对每个像素，第一处理单元建立值ik，并且这是针对每个光学延迟。

优选地，没有寄生光。

第一光学延迟发生器处的发光表面可以大于（孔径的）校准表面的尺寸，使得通过（孔径的）校准表面的光功率是均匀的，尤其是以cd为单位的光强变化至多5％。

更一般地，为了更精确的校准，优选的是，第一光学延迟发生器、尤其是双折射光学系统（例如静止波片）处的发光功率是均匀的。

对于在给定延迟下的校准，优选地以光轴为中心的单个第一校准光电探测器（并且因此一个参考像素）可足以正确地生成与延迟校准比参考通道的数据库。尤其地，因此不用管例如由于使用发散光束（当将光轴移远时光线的角度）而没有准直光学器件的情况下产生的透视效应。

在一个补偿器的情况下，单个第一光电探测器面向孔径，甚至位于孔径的中心。

对于利用一个补偿器在给定延迟下的校准，特别地可以选择选取第一光电探测器中的一部分被第一传感器照射并且在孔径中。可以将表示孔径中心的那些光电探测器用作第一校准光电探测器，以避免边缘效应。接下来，逐个通道对这些代表性校准光电探测器取平均，以便获得针对每个光学延迟的值ik。

特别地，补偿器的孔径是圆形的，具有直径o1，或者补偿器的孔径具有等效直径o1，孔径的中心位于直径为o1/2的中心圆盘中，称为代表性校准光电探测器的第一校准光电探测器完全面向所述中心圆盘。

第一光学延迟发生器可以包括被光束（均匀地）照射的入射表面，从而限定校准表面。这在整个表面上产生（均匀的）延迟。

校准表面可以（非常）小于玻璃分析表面。例如，校准表面直径在5mm至25mm范围内至多30mm（圆盘）或等效直径至多30mm甚至5mm至25mm的（矩形等的）表面。例如，玻璃分析表面比校准表面大至少10倍或至少100倍。

特别是对于补偿器，校准表面可以是孔径表面的全部或一部分（例如孔径的中心圆盘的表面）并且（非常）小于玻璃分析表面。例如，玻璃分析表面比孔径表面或甚至孔径的中心圆盘的表面大至少10倍或至少100倍。

第一校准光电探测器（甚至所述组的第一光电探测器的其他光电探测器）的基本光敏表面的宽度为wp，并且优选为方形。因此wp<o1且甚至比o1/2还要小。

可以具有一排代表性第一校准光电探测器的一部分或以矩阵方式排布的校准光电探测器的一部分。

该组第一光电探测器可以成行或成矩阵。第一光源的射束被第一线性数字传感器接收，其沿着平行于初始光束的方向的方向上线性延伸。因此，第一光电探测器根据该方向对齐。

针对每个像素中的每个参考通道的强度ik是以数值方式给出的（英语为数字单位du）。对于8比特编码方案，强度从0到255变化（256个数值即2⁸）。

编码方案可以是按照至少三个参考波长，例如以λ1=611.3nm为中心的红色“r”、以λ2=549.2nm为中心的绿色“g”和以λ3=464.3为中心的蓝色“b”（英语的rgb）。因此涉及到三个光谱带，例如r±50nm、g±50nm、b±50nm。

因此优选地选择容易使用的rgb通道作为参考通道。因此，对于每个延迟、对于孔径中的每个像素，每个rgb通道获得一个rgb三元组（a,b,c），其中a、b和c是值ik。

第一处理单元被布置在第一数字传感器的上游，通过无线或有线链路连接到第一传感器，尤其是远离传送装置并且优选地连接到第一光源。

第一处理单元可以包括（远离传送装置的）计算机，其通过无线或有线链路连接到第一传感器并且优选地连接到第一光源。第一处理单元控制第一传感器甚至第一光源。

可以使用通过无线或有线链路连接到第一传感器并且优选地连接到第一光源的（远离传送装置的）计算机。

第一处理单元（计算机）与第一数字传感器交互（操控它并取回数据）并甚至操控第一光源。

第一数字传感器可以接通到计算机的以太网端口（利用网卡等），尤其是利用“gige”协议。

计算机可以管理第一光源，尤其是控制点亮（以减少硬件疲劳）。

第一处理单元（计算机）从第一数字传感器接收数据并控制采集（曝光时间等）、回收数据并以像素形式存储它们。

第一处理单元（计算机）控制从一个光学延迟自动转至另一个光学延迟，例如移动自动化的（巴比涅）补偿器电机或具有固定波片的一个轮子（或另一个轮子），分析数字传感器的数据，记录校准结果文件，显示人机界面。

优选地，光学装置在第一光学延迟发生器与第一线性传感器之间、在第一检偏振器上游包括具有延迟a'0的已检定的光学波片，延迟a'0选自其中作为光学延迟的函数的值ik的关系针对参考通道ck中的至少一个基本上是线性的区域，尤其是70或75至175nm或185nm或者从350或375nm至425nm。

可以通过复用元件而在由第一光源的光束扫描的两个区域（或甚至不止两个区域）中进行同时校准。复制所需光学元件，特别地，再次添加至少一个（如果共享第一偏振器的话）：

-第二光学延迟发生器，其优选地与第一光学延迟发生器相同；

-一组第二光电探测器，优选地相同且具有其自己的物镜。

选择将两个光学延迟发生器的两个校准表面（例如补偿器的两个孔径）放置在光轴上，特别是放置在线形源的中心线上。例如，它们与中心等距和/或隔开至少50cm。

在这种情况下，处理单元可以同时处理两个校准。

如果移动了第一光学延迟发生器，则还可以在被第一光源的光束扫描的两个区域（或甚至不止两个区域）中进行连续校准。

优选地，首先对于流水线上的校准，光学装置是以竖直向，具有竖直光轴z。

优选地，光轴z是竖直的，并且第一偏振器、第一数字传感器和第一光学延迟发生器在加热和淬火（工业）流水线上，可能地加热流水线、淬火弯曲流水线，在淬火系统（淬火仓）下游，尤其是在冷却区中，在装配玻璃没有在校准区域中纵向前行的情况下并且更好地是在停机（静止）时。该流水线包括沿（水平）传送轴y的水平装配玻璃传送装置，竖直光轴z垂直于y轴，并且可能地该流水线为淬火弯曲流水线，第一偏振器、第一数字传感器和第一光学延迟发生器位于弯曲系统下游。

第一发生器的第一安装支架可以在停机时被置于装配玻璃的传送装置上或独立于传送装置——或至少独立于水平传送装置的可移动部分，所述可移动部分通常是单独旋转的辊或具有一个或多个相邻传送带的系统。

因此，本发明还涉及如上所述的光学装置在加热和淬火流水线中、可能地在加热、淬火弯曲流水线中、在淬火系统下游的使用。

因此，本发明还涉及一种加热和淬火流水线，可能为加热、淬火弯曲流水线，包括：

-沿传送轴y的装配玻璃传送装置，所述传送装置优选为水平的，并且可能地该流水线为淬火弯曲流水线；

-并且在淬火系统下游、尤其是在冷却区中包括如上所述的光学装置，在装配玻璃没有在校准区域中纵向前行的情况下并且更好地是在停机时（所述校准区域具有第一光学延迟发生器的校准表面，其为被光束照射的入射表面）；

并且，在弯曲的情况下，第一偏振器、第一数字传感器、物镜和第一光学延迟发生器位于弯曲系统的下游。两个辊充分间隔开以使第一光源的光束通过。

传送装置尤其包括两个辊，这两个辊被辊间空间隔开，所述辊间空间例如至少是延迟发生器的校准表面的尺寸。

优选地，第一光源位于传送区域下方，（全部或部分地）位于两个辊之间和/或（部分地）位于与所述辊相邻的两个辊下方，可能地第一光源位于与地面隔开的源支架上并通过（金属等的）支柱固定在传送装置的任一侧（辊的侧端部的任一侧），并且优选地线性的第一数字传感器被两个辊间隔开并且在两个辊、传送区域上方。

第一光学延迟发生器可以固定在两个辊上的安装支架上，支架具有面向校准表面（补偿器的所述孔径）的孔。

所述辊例如由钢制成。

在一个优选配置中：

-第一光源在地面一侧、在两个辊下方、面向所述辊间空间；

-第一圆形偏光镜位于两个辊下面、固定在第一光源上；

-第一安装支架位于两个辊上方，固定在地面上，没有振动，或在停机时固定在传送装置上（没有振动）；

-第一检偏振器位于滤光架中，并且第一光电探测器位于两个辊上方。

光学装置也可以在流水线外运转，并且例如以水平光学对齐方式运转。

第一光源可以形成沿着给定方向（例如垂直于光轴，并且垂直于传送轴）的线形发光带，并且具有起作用的中心发射（带状）区域和一个或多个被遮蔽的（带状）侧区域，例如通过一个或多个不透明的侧带（外罩、胶带）沿着所述方向被遮蔽。特别地，（在源支架上的）第一光源与地面隔开，通过例如（金属等的）型材固定在传送装置的任一侧上。

第一线性偏光镜和第一四分之一波片例如粘在一起并连到第一光源。它们例如至少在中心发射区中起作用，通过一个或多个不透明的侧带（胶带）固定。第二四分之一波片和第二线性偏光镜例如粘在一起并连到第一物镜。第一线性偏光镜和第一四分之一波片也可以层压或粘接到透明支架（例如塑料，如pmma（用于聚甲基丙烯酸甲酯））并且没有内部机械约束。

可以选择两个550nm的四分之一波片。可以选择圆形偏光镜和在400至700nm之间的宽带检偏振器。

第一光源特别地可以是一行或多行无机电致发光二极管和/或第一数字传感器（例如相机）可以是线形的，即在第一光电探测器成行的情况下可能地具有第二数字传感器（例如，数字相机），其中第二光电探测器成一行，在称为分析长度的长度上（在光源的方向上）相邻并相同。

第一光源，尤其是形成线形（矩形）光带，尤其是无机电致发光二极管或一个或多个有机电致发光二极管，可以被布置成视场（即第一光电探测器处的立体角），其为至少1m或甚至至少2m。

第一光源可以具有宽度为wi的矩形或正方形（或任何其他形状）的发射带，在第一发生器（或水平传送装置）的平面内形成宽度为w0（大于或等于wp）的矩形或正方形（或任何其他形状）的发光带。

第一传感器（数字相机）可以与宽度（尺寸）为小于宽度wi的wp成行的第一光电探测器成行，具有宽度wp并且小于（孔径的）校准表面的尺寸。该行第一（校准）光电探测器通过光轴、第一光源的中心线，从而摆脱了一个方向上的边缘效应。

在第一优选情况下，第一光源能够照射整个分析长度（沿着辊的方向），其是全部或部分的辊的长度（例如，辊的长度的至少70％或80％）（垂直于传送轴），以便随后在整个分析长度（沿辊的方向）上尽可能均匀地照射装配玻璃。

在第二种情况下，光学装置包括与第一光源相邻的第二光源（相同光谱，最好完全相同），以便随后在整个分析长度（沿辊的方向）上尽可能均匀地照射装配玻璃。

一个或多个光源的光束至少照射装配玻璃传送的实际（有用的）长度，同时可能地排除辊的边界区域。

根据缺陷的尺寸、分布和/或频率（一种或几种类型的缺陷）、并且还根据装配玻璃上的待检查的一个或多个区域的表面（整个表面、中心区域、一系列隔开的参考区域：中央和/或边界处等）来选择第一光源、工作距离、光电探测器的尺寸、像素的尺寸、光电探测器的数量（尤其是校准光电探测器的数量）和传送速度。

还根据缺陷的类型选择范围ab。

分辨率（单位为mm/像素）取决于待检查的装配玻璃和各向异性区域的通常尺寸。例如，例如用于线性数字传感器的分辨率至少为2mm/像素，并且更好为至少1mm/像素。

例如，可以选择1m的分析长度和至少1000个光电探测器或2000个光电探测器，2m的分析长度和至少2000个光电探测器或4000个光电探测器等。

当然，在校准期间，不使用位于所述一个或多个孔径外部的光电探测器。

第一数字传感器可以是数字相机。

实际上，光学装置可以包括多个线性数字传感器（相机），它们沿着水平传送装置的辊的长度相邻，每个线性数字传感器与一个专用光学延迟发生器和一个偏振器（共用或非共用的部件）相关联。

在线性系统的替换实施例中，其在待检查的静止（停机或流水线外/英语为“offline”）装配玻璃的情况下是优选的，特别是在具有水平对齐（水平光轴）的校准中，第一光源形成第一发生器上的圆盘状发光表面和/或第一数字传感器是矩阵式的，因此第一光电探测器处于矩阵中，例如1600×1200个光电探测器。

在一种配置中，为了检查静止的装配玻璃，逐个数字传感器连续地执行校准，第一传感器是机器人臂上的线形或矩阵状传感器，其在第一次（总是静止的）校准之后沿着水平传送装置的长度移动，从而将第一光学延迟发生器从第一校准区域移向第二校准区域。

在一个实施例中，为了获得期望的视场，光学装置在第一光源下游且在第一光学延迟发生器上游并且优选地在第一偏光镜上游（或在准直部件没有修改光的偏振的情况下在下游）包括第一（远心）准直部件，并且第一物镜是远心的。

第一数字传感器（相机）可以是线性或矩阵式的。在装配玻璃的分析期间，第一物镜然后能够单独地接收与传送轴y垂直的光。

一个或多个偏振器相对于地面的取向不是限制性的。

一个或多个偏振器和一个或多个光电探测器在校准期间和随后的装配玻璃质量分析期间以相同的方式定位。

在一个实施例中，使用可能共享部件（例如，共享第一光源和第一圆形偏光镜）的第二偏振器。如果选择第二偏振器，则校准表面（孔径）的放置例如关于中心线的中心对称。偏振器优选地被对齐：由视场和光轴限定的平面是重合的。

因此，在一个实施例中，光学装置包括与第一偏振器相同且相邻的第二偏振器，沿着按照与所述光轴（z）平行的第二光轴的称为第二光学对齐的光学对齐以此顺序包括：

-a）第一光源，接着是第一圆形偏光镜和第一四分之一波片；

或者

-b）具有给定光谱的第二单色或优选多色线性光源，尤其正交于第二光轴，沿第一光源的长度与第一光源相邻，并且接着是第二圆形偏光镜和第二四分之一波片；

以及

-第二检偏振器，其为圆形偏光镜，其在与第一方向相反的第二旋转方向上，尤其是正交于第二光轴，第一检偏振器包括第二四分之一波片接着是第二线性偏光镜，

其在第二检偏振器的下游并且沿着所述第二光学对齐包括

-尤其是正交于第二光轴的第二光电探测器，包括第二数字传感器和第二物镜，第二物镜限定称为第二焦平面的焦平面、面向第二检偏振器，

-在第二检偏振器和第一或第二偏光镜之间，第二光学延迟发生器，

-以及第一处理单元或第二处理单元。

然而，替换地，如果连续地执行校准，即第一传感器然后是第二传感器，则仅第一延迟发生器就可以足够，将第一发生器从第一校准区域移向第二校准区域。

优选地，第一和第二线性光源的光束在至多100mm的中心部分（在装配玻璃的平面中）相交。

优选地，焦平面在所需视场宽度的至多一半的中心部分上相交。因此，全部焦平面限定了总视场。

可以复用偏振器以增加总视场或增加要获得的图像的分辨率。

接下来，本发明目的在于一种用于分析装配玻璃的质量的（光学）装置，所述装配玻璃尤其是淬火或半淬火（硬化）、可能是弯曲装配玻璃，（透明、超透明、着色等的）装配玻璃可能地具有表面涂层和/或表面纹理，从而保障其透明度（尤其是非零透光率），并且使得穿过该介质的光的偏振改变仅由该介质中的机械应力引起。

根据本发明的质量分析装置包括：前文限定的光学装置的（重复使用的）所述第一偏振器，尤其优选地通过已检定的第一光学延迟发生器（以及甚至其安装支架）而校准，第一物镜、第一数字传感器，尤其优选地通过已检定的第一光学延迟发生器（以及因此第一光电探测器组）而校准，以及校准库（优选地，不需要将第一光电探测器添加到已经存在于校准区外部的那些光电探测器）。

因此，取下第一光学延迟发生器，并且在运转中，分析静止的或优选地移动的装配玻璃，其例如在如已经描述的传送装置上平移地纵向前行。

在运转中，装配玻璃在第一偏光镜和第一检偏振器之间，光轴垂直于在被照明表面的一部分中与装配玻璃的表面相切的平面，优选地垂直于通过传送装置（辊）传送装配玻璃的轴。

换句话说，质量分析装置包括第一偏振器，尤其优选地通过已检定的第一光学延迟发生器而校准，并且沿着根据光轴（z）光学对齐以此顺序包括：

-第一光源，优选为多色光源，其具有给定光谱、尤其正交于光轴、释放光束，

-第一圆形偏光镜，其在第一偏振旋转方向上、尤其正交于光轴、包括第一线性偏光镜接着是第一四分之一波片，

-第一检偏振器，其为圆形偏光镜，其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向上、尤其正交于光轴，第一检偏振器包括第二四分之一波片接着是第二线性偏光镜，

该质量分析装置还包括：

-第一数字传感器，其在第一检偏振器下游并且沿着所述光学对齐，尤其优选地通过已检定的第一光学延迟发生器而校准，尤其正交于光轴，以及第一物镜，其正交于光轴并限定焦平面，第一物镜面向第一数字传感器、在第一检偏振器与第一数字传感器之间，

-当该装置在运转中时，装配玻璃位于第一偏光镜和第一检偏振器之间；

-第一数字传感器包括所述第一光电探测器组，其对第一光源的光谱敏感，具有给定的光谱响应；

-用于处理校准数字图像集合的第一数字处理单元，第一处理单元形成校准库。此外，所述组中的每个第一光电探测器能够接收从第一检偏振器出射的光束发出的光能，然后第一数字传感器产生称为质量分析数字图像的数字图像，每个质量分析数字图像是用所述一个或多个参考通道ck由一个或多个像素形成的，所述一个或多个像素表示第一光电探测器的光谱响应。

分析装置还包括处理单元，用于处理面向被照射表面的所述部分的第一传感器（和可能的第二传感器等）的质量分析数字图像的集合，借助于（针对范围ab中的每个光学延迟，包含针对参考通道ck中的每一个的数值ik的）已经描述的校准库来形成面向被照射表面的所述部分的光学延迟的绘图。

实际上，校准给出了针对对应于被分析表面的该部分的面积元的每个像素的每个参考通道ck的ik-光学延迟（以nm为单位）对应性，从校准表中将读取对应于每个面积元的光学延迟。

此外，优选（已经用于校准的）rgb通道作为参考通道。

测量是客观的，并且提供有关被测量的装配玻璃的定量信息。

处理单元（计算机）控制装配玻璃的分析：所有的采集、一个或多个传感器的数据分析、结果文件的记录、数据库的管理、人机界面的显示等。

为了使装配玻璃合格，可以基于所述绘图选择计算参数（对于绘图中的一行或多行，根据有参考风险的区域的大小，即喷嘴区域等），特别是：

-平均光学延迟，

-标准差，

-一个或多个分位数，

-针对已适配光学延迟的分布值。

基于光学延迟的绘图（任意点上的光学延迟的值），感兴趣的是确定优选地基于数学或统计分析的一个或多个度量：

-全局度量：针对给定光学延迟值的平均值和标准差、分位数、分布（对于后者，认为50nm为恰当阈值）；

-和/或局部度量：考虑缺陷的空间分布，尤其是重建人眼针对其敏感的光学延迟的局部强变化（具有强光学延迟但是均匀的玻璃不一定会被感知为是有缺陷的，除非与其他玻璃相比）。

针对淬火花观察到的特征缺陷是：

-情况1）长波长（刻度大于10cm）：特征加热痕迹；

-情况2）平均波长（刻度为10cm，但取决于淬火仓的几何特征）：由鼓风嘴引起的痕迹；

-情况3）小波长（刻度小于10cm）：例如在冷却区中形成的其他痕迹；

-情况4）孔周围或边缘的痕迹（刻度<10cm）：可以排除这些区域，因为其中的光学延迟系统性地过高并且一般在将被安装到框架中的最终装配玻璃中被遮蔽。

缺陷越大，度量将越是全局，并且反之亦然。对于情况1），感兴趣的是优选全局度量，对于情况2）和3）或甚至4），局部度量更好地察觉缺陷的空间分布。

接下来，可以将所述度量与参考进行比较。

流水线上的每个玻璃的测量使得能够构建数据库。在100%的玻璃是可控的情况下，利用该数据库使得能够获得有关生产的大量信息。

装配玻璃在传送装置上的取向不是限制性的。更广泛地说，装配玻璃相对于发光带的方向（长度）的取向不是限制性的。

在时刻t处被光束照射的表面部分可以是（优选地矩形）发光带，其不必平行于装配玻璃的边缘（所述装配玻璃可以是任何形状：具有直角、正方形、四边形、三角形、圆形等）。

可能希望逐段地分析整个表面（两个采集之间的外部区域尽可能精细）。

例如，在双层或三层装配玻璃中使用的装配玻璃的情况下，例如用于建筑（大楼）外墙，由间隔物和密封部件遮蔽的边缘的宽度至多为3至20mm，没有必要检查这些边缘，装配玻璃边缘的各向异性很高。考虑到它们通常在安装后被框架隐藏，似乎并不总是需要以与装配玻璃的视觉的透明部分相同的方式处理它们。然而，某些装配玻璃被放置成使得可见的窗玻璃表面最大。

在实践中，为了进行（几乎）整个装配玻璃的分析，有利地用线形射束来扫描装配玻璃并用一个或多个传感器形成一排像素。为了覆盖整个装配玻璃，于是布置了装配玻璃相对于（静止的）分析装置的移动。为此，装配玻璃是移动的，有利地被部署在可移动部件上，该可移动部件通过以平移方式的均匀运动来带动。优选地，它涉及到如已经描述的（水平）传送装置。它可以是滑架（只要速度受控制）。

类似于前述光学装置，在一个优选实施例中：

-竖直光轴为z或相对于竖直方向成角度，第一偏振器、第一数字传感器位于加热和淬火（工业）流水线上、在淬火系统下游（在冷却区中），该流水线包括沿传送轴y的（水平）装配玻璃传送装置，竖直光轴z优选地垂直于轴y，并且可能地，该工业流水线为加热、弯曲和淬火流水线，第一偏振器、第一数字传感器位于弯曲系统的下游；

-尤其是第一光源，优选地为单个或与相邻的第二光源一起，能够照射与传送轴y垂直的传送装置的全部或部分长度；

-第一数字传感器是线性的（相机），具有成行的第一光电探测器，尤其是第一数字传感器为单个或与相邻的第二线性数字传感器（及其物镜）一起，以便形成一排光电探测器，尤其是在垂直于传送轴y的传送装置的整个长度上；

并且尤其是，与处理单元、与第一数字传感器（和可能的第二数字传感器，并且因此与每个传感器）、甚至与第一光源对话：

-优选地，装配玻璃存在检测器，在第一光源上游，例如距第一光源至多1m，以便在随后的时刻to触发第一次采集，并且可能地以指示所述装配玻璃（或一批（或一批次）中的多个装配玻璃）的通过结束，以便定义随后的时刻td处的最后采集，或者使用知晓（熔炉的）批（或批次）的最大长度的计时器（英语为“timer（计时器）”）；

-优选地速度指示器，其指示围绕第一光源的2个辊的瞬时速度v；

-采集管理部件，其管理第一次采集的触发、采集持续时间taq和每次采集之间（用于存储数据）的死区时间tm的持续时间以及采集的停止。

因此，本发明涉及一种加热和淬火流水线，其包括沿传送轴y的装配玻璃传送装置，所述传送装置优选为水平的，并且可能地该流水线是淬火弯曲流水线，并且在淬火系统的下游包括如前文描述的质量分析装置，光轴优选地是竖直的（z），第一数字传感器是线性的，第一光电探测器成行，并且可能地，该流水线尤其是工业流水线，是加热、弯曲和淬火流水线，第一偏振器、第一数字传感器位于弯曲系统的下游。

它还可以包括在第一光源上游的装配玻璃存在检测器，尤其是为了在时刻to处触发第一次采集和/或优选地包括速度指示器，其指示围绕第一光源的两个辊的瞬时速度v。

根据本发明，因此可以在该流水线停机时在同一加热和淬火（或甚至弯曲）流水线上用根据本发明的光学装置进行校准，然后当流水线运行时，装配玻璃纵向前行，用根据本发明的质量分析装置进行装配玻璃的质量分析。

并且优选地采用：

-基于偏振器发出的图像的延迟绘图生成器（计算器）；

-基于延迟图的度量计算器；

-用于将度量与参考进行比较的比较器。

装配玻璃的恒定纵向前行速度v确保在整个表面分析中具有稳定的分辨率。如果存在滑动，则传送装置的速度v可以与装配玻璃的速度v'不同。如果假设v=v'，并且旋转编码器使得能够跟踪速度，则能确保恒定的分辨率。

第一光源产生在被分析表面的一部分中均匀的光束。

在采集期间，像素对应于从玻璃表面的单元归纳的信息。

例如，定义具有沿着分析长度的宽度w的正方形像素，所述分析长度平行于两个辊。

在持续时间为taq的采集期间，该行的每个光电探测器易于接收已穿过装配玻璃的光，射束照射了由传送轴中的宽度laq限定的装配玻璃表面的一个单元。laq等于采集持续时间taq乘以与第一光源邻接的辊的瞬时传送速度v。

此外，存在用于收集数据的死区时间tm，其中像素不“运转”。例如，tm至多为100ms。

优选地，布置成laq+vtm=w。

如果在采集持续时间期间，光电探测器直接从第一光源接收射束（没有穿过装配玻璃的区域），则光强度不会被各向异性差异所修改，这样像素释放可识别的信息（黑色像素=未累积延迟）。

（循环的）采集序列例如如下：

-从传送装置的旋转编码器接收脉冲n，其触发采集序列；

-用由处理单元发送的电子脉冲组成的以软件方式调节的曝光时间taq——第一传感器归纳信号（也就是说，在此时间taq期间接收的所有光能）；

-“死区”时间至少对应于读取像素以供处理所需的时间；

-编码器脉冲n+1在采集时间和死区时间之和后到达。

第一光源和装配玻璃之间的距离可以是至少10cm，特别是300mm，就像第一光源和所述孔径之间的距离可以是至少10cm，特别是300mm。

装配玻璃和物镜之间的距离可以是至少1m，特别是2m，就像孔径和物镜之间的距离可以是至少1m，特别是2m。

装配玻璃和第一发生器（优选地为巴比涅补偿器）可以相继与第一光源（以及偏光镜和检偏振器）的距离相同。

存在检测器例如是传感器，其被布置在传送装置的端部，面向被传送的玻璃的边沿。旋转编码器例如被布置在传送装置的一个辊的端部。

质量分析光学装置优选地包括第二偏振器，在一个或多个安装支架上的第一和第二光学延迟发生器由所述装配玻璃代替。

在另一实施例中：

-装配玻璃优选地为静止的，水平或竖直的；

-第一传感器是矩阵式的（包括矩阵式的第一光电探测器）。

本发明还涉及一种装配玻璃制造方法，依次包括：形成装配玻璃；加热；淬火或淬火弯曲；使用如已经描述的装配玻璃质量分析装置，其优选地在加热和淬火流水线上，优选地在通过引入在范围ab内变化的光学延迟进行的构成已经描述的光学装置的一部分的第一数字传感器和第一偏振器的校准之后再进行质量分析，所述光学延迟优选地在第一偏振器中基于优选地自动化的已检定的第一光学延迟发生器而自动变化，校准优选地在停机期间在流水线上进行。

特别地，它可以包括导致制造和/或加热和/或流水线停止的警告和/或导致关于加热和/或淬火装置的参数的反馈。

本发明最后涉及一种用于校准第一数字传感器和第一偏振器的方法，该方法通过引入在范围ab内变化的光学延迟，所述光学延迟优选地在第一偏振器中基于优选地自动化的已检定的第一光学延迟发生器而自动变化。

对于平面的装配玻璃，（每个二极管的）光源的光束垂直于被分析的装配玻璃的主应力平面。

对于弧面的装配玻璃，如果将光轴移远则测量仍然有效，优选地，需要足够数量的相机来保持良好的观察条件，或者需要在机器人臂上使用相机。

优选地：

-装配玻璃具有至少5％的透光率tl；

-考虑可见光谱上的均匀的吸收a。

附图说明

通过阅读以下描述将更好地理解本发明，该描述仅以示例的名义给出，并且是参考附图进行的，在附图中：

图1是根据本发明的光学装置1000在x-z平面中的示意性剖视图，该光学装置1000构成具有水平传送装置的淬火产业流水线的一部分。

图1a是（在水平x-y平面中的）示意性顶视图，示出了具有安装支架的传送装置和图1的光学装置1000中使用的两个机械化索累-巴比涅补偿器的两个孔径。

图1b是在图1的光学装置1000中使用的安装支架上的机械化巴比涅补偿器的（在水平x-y平面中的）示意性顶视图。

图1c是图1的光学装置1000中使用的两个传送辊和光源以及辊间空间中的圆形偏光镜的示意性透视图。

图1d是示意性透视图，示出了在图1的光学装置1000中使用的第一圆形检偏振器、第一物镜、第一线性相机和安装型材。

图1e是图1的光学装置1000在y-z平面中的示意性剖视图。

图1f示出了作为针对三个rgb通道的光学延迟的函数的值ik的三个曲线图（其是针对孔径中的光电探测器的给定代表性像素或者是孔径中的光电探测器的多个像素上的平均值）。

图2是根据本发明的用于分析装配玻璃质量的光学装置2000的在y-z平面中的示意性剖视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图1中相同的仪器。

图2'是图2中所示的传送装置、待检查的装配玻璃的示意性顶视图。

图2a是传送装置的细节的示意图。

图2b解释了基于扫描表面的采集。

图2c和2d是示出采集序列和用于收集采集数据的死区时间序列的曲线图。

图3a是在第二实施例中的根据本发明的光学装置1001的在x-z平面中的示意性剖视图，光学装置1001构成淬火产业流水线的一部分。

图3b是根据本发明的用于分析装配玻璃质量的装置2001的在x-z平面中的示意性剖视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图3a中相同的仪器。

图4a是在第三实施例中的根据本发明的光学装置1002的在y-z平面中的示意性剖视图。

图4b是根据本发明的用于分析装配玻璃质量的光学装置2002的在y-z平面中的示意性侧视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图4a中相同的仪器。

具体实施方式

图1是根据本发明的光学装置1000在x-z平面中的示意性剖视图，该光学装置1000构成具有水平传送装置的淬火产业流水线的一部分。

光学装置1000包括竖直向的第一偏振器，其沿着与竖直光轴z光学对齐的方式以此顺序（从底部到顶部）包括：

-白色第一光源1，此处为称为del或led的一条（unebarrede）二极管，在此处其在没有准直部件的情况下释放光束，所述光束的光以在通过光轴给出的方向中的方式发射，或者作为变型，白色第一光源1是一个或多个有机电致发光二极管（称为oled），发光条正交于光轴，并且在有或没有漫射器的情况下产生均匀的光；

-第一圆形（或准圆形）偏光镜2，其在第一旋转方向——左或右——上，尤其是包括第一线性偏光镜和第一四分之一波片，靠在或粘在发光条1上；

-第一检偏振器2'，其为圆形（或准圆形）偏光镜，其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向——或者说右或左——上，尤其是第一检偏振器包括第二四分之一波片，接着是第二线性偏光镜。

光学装置1000在第一检偏振器的下游并且沿着所述光学对齐还包括：

-第一数字传感器6，其正交于光轴，在此处其为具有一排第一光电探测器的线性数字相机；

-第一物镜5，其正交于光轴并限定焦平面，其面向第一数字传感器并且在第一检偏振器2与第一数字传感器之间，尤其被固定到第一数字传感器或靠在第一数字传感器上。

此外，根据本发明的光学装置在第一偏光镜和第一检偏振器之间并且沿着所述光学对齐包括已检定的第一光学延迟发生器3，其正交于光轴，此处为巴比涅（索累）补偿器，其是在0nm至800nm之间的范围ab中，并且第一光学延迟发生器处于所述焦平面中。

因此，第一数字传感器6包括一组成排的第一光电探测器，其对第一光源1的光谱敏感，具有给定的光谱响应。

称为第一校准光电探测器的一些第一光电探测器面向第一光学延迟发生器的孔径31。

优选地，光学装置在第一光学延迟发生器与第一线性传感器之间、在第一检偏振器上游还包括具有延迟a'0的已检定的光学波片，延迟a'0选自其中作为光学延迟的函数的值ik的关系针对参考通道中的至少一个基本上是线性的区域，尤其是70或75至175nm或185nm或者从350或375nm至425nm。

以这种方式，可以更精确地测量具有很小各向异性的装配玻璃，因为小的延迟变化将导致ik中的线性变化而不是二次变化。

索累-巴比涅补偿器3包括由双折射材料制成的第一和第二劈片，第二板相对于静止的第一板可平移地移动，尤其是补偿器通过以光轴为中心的孔径31来限定，孔径被第一光源1完全照射，孔径在所述焦平面中，一个或多个第一校准光电探测器面向该孔径。

光学延迟的改变是自动化的，尤其是计算机控制的。机械化且尤其是由计算机控制的索累-巴比涅补偿器能够在范围ab中自动使光学延迟增量，尤其是以p0的增量步长，p0为至多0.5nm甚至至多0.3nm，特别是在15至25mm甚至0至25mm之间。

补偿器的孔径31是圆形的，直径o1至多30mm，孔径的中心位于直径为o1/2的中心圆盘中，所使用的一个或多个第一校准光电探测器完全面向所述中心圆盘。

每个第一校准光电探测器针对所述范围ab中的所述光学延迟中的每一个连续接收从第一检偏振器2'出射的光束发出的光能。然后第一数字传感器针对所述范围ab中的所述光学延迟生成称作校准数字图像的数字图像，每个校准数字图像是用一个或多个参考通道ck由一个或多个像素形成的，所述一个或多个像素表示一个或多个第一校准光电探测器的光谱响应。参考通道ck是称为rgb通道的红色、绿色和蓝色三个通道。

在停机期间，将第一偏振器、第一数字传感器和第一光学延迟发生器安装在淬火和加热流水线上在淬火系统下游，该流水线包括沿传送轴y的水平装配玻璃传送装置，可能地，该流水线是淬火弯曲流水线。

图1a是（在水平x-y平面中的）示意性顶视图，示出了具有安装支架的传送装置和图1的光学装置1000中使用的两个机械化索累-巴比涅补偿器的两个孔径。图1c是图1的光学装置1000中使用的两个传送辊和光源以及辊间空间中的圆形偏光镜的示意性透视图。图1e是图1的光学装置1000在y-z平面中的示意性剖视图。

传送装置（尤其参见图1a、1c）包括两个辊81、82，它们被辊间空间隔开，在与地面隔开的源支架10上的第一光源1位于传送区域下方，并且面向辊间空间位于两个辊下方。第一数字传感器是线性的并且与两个辊隔开并在两个辊上方。第一数字传感器可以固定到金属拱梁70，尤其是在传送装置的任一侧。

第一光学延迟发生器固定在两个辊上的安装支架7上，安装支架具有面向孔径31的孔71。

可以（例如，通过不透明的条带20）遮蔽发光带的侧表面，使得只有靠着第一偏光镜21的（中心）部分的中心表面照射补偿器3。

光学装置1000最后包括用于处理校准数字图像以便形成校准库的第一处理单元（计算机），校准库针对范围ab中的每个光学延迟包含针对参考通道ck中的每一个的数值ik，数值ik表示由第一校准光电探测器收集的光能。

辊的长度例如为3至4m。此处，使用第二偏振器，其使用发光条1、偏光镜2、安装支架7（带有另一个孔71）、已检定的第二静止波片4、第二检偏振器2'、第二线性相机6和具有其孔径31的第二补偿器3。

图1b是安装支架7上的机械化巴比涅补偿器的（在水平x-y平面中的）示意性顶视图，其具有比孔径31更宽的其孔71。（也在支架上的）电机操控装置32通过电缆33连接到补偿器3并且例如作用在微米尺寸的螺钉上。

图1d是示意性透视图，示出了（例如在滤光架中的）静止波片4、第一物镜5、第一线性相机6和安装型材101、具有用于定位相机6的螺钉103的安装板102。

图1f示出了作为针对三个rgb通道的光学延迟δ（nm）的函数的值ik的三个曲线图15、16、17，其是孔径中的光电探测器的多个像素上的平均值。

图2是用于分析装配玻璃质量的光学装置2000的在y-z平面中的示意性剖视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图1中相同的仪器。装配玻璃100沿着y轴纵向前行并被发光条1扫描。

图2'是图2中所示的传送装置、待检查的装配玻璃100在x-y平面中的示意性顶视图。

图2a是传送装置8及其辊81、82（和固定拱梁70）的细节的示意图。使用装配玻璃（不可见）存在检测器84来触发采集。此外，优选使用旋转编码器83，其将提供关于瞬时速度v的信息。

图2b解释了基于扫描表面的采集。

第一光源产生在被分析的表面的一部分上均匀的射束。

在采集期间，一个像素对应于从玻璃表面的一个单元归纳的信息。

例如，定义平行于两个辊的沿分析长度的宽度为w的正方形像素91。

在持续时间为taq的采集期间，该行的每个光电探测器易于接收已穿过沿着y纵向前行的装配玻璃100的光，射束照射了由传送轴中的宽度l限定的装配玻璃表面的一个单元。l等于采集持续时间taq乘以与第一光源邻接的辊的瞬时传送速度v。

此外，存在用于收集数据的死区时间tm，其中像素不“运转”。例如，tm至多为100ms。

优选地，布置成l+vtm=w。

如果在采集持续时间期间，光电探测器直接从第一光源接收射束（没有穿过装配玻璃的区域），则光强度不会被各向异性差异所修改，这样像素释放可识别的信息（黑色像素=未累积延迟）。

（循环的）采集序列例如如下：

-从传送装置的旋转编码器接收脉冲n，其触发采集序列；

-用由处理单元发送的电子脉冲组成的以软件方式调节的曝光时间taq——第一传感器6归纳信号（也就是说，在此时间taq期间接收的所有光能）；

-“死区”时间至少对应于读取像素以供处理所需的时间；

-编码器脉冲n+1在采集时间和死区时间之和后到达。

图2c和2d是曲线图，针对图2c示出了用于启动采集的脉冲18，并且针对图2d，示出了具有用于收集采集数据的死区时间的采集序列。

图3a是在第二实施例中的根据本发明的光学装置1001的在x-z平面中的示意性剖视图，光学装置1001构成淬火产业流水线的一部分。它与第一装置1000的不同之处尤其在于，射束13是准直的（led条1'是准直的）并且第一物镜6'是远心的。于是可以使用单个偏振器和单个补偿器3。

图3b是根据本发明的用于分析装配玻璃100的质量的装置2001的在x-z平面中的示意性剖视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图3a中相同的仪器。

图4a是在第三实施例中的根据本发明的光学装置1002的在y-z平面中的示意性剖视图。

它与第一装置1000的不同之处尤其在于，光轴y是水平的，因此元件1、2、4、2'、5、6位于竖直面支架70、70'上，并且补偿器3位于例如侧支柱71、72上。

图4b是用于分析装配玻璃1000的质量的光学装置2002的在y-z平面中的示意性侧视图，除了巴比涅补偿器及其操控装置之外，其使用与图4a中相同的仪器。装配玻璃位于例如侧支柱73上。