用于带测量容积的具有箔腔室的测试泄漏的方法与流程

文档序号:21459299发布日期:2020-07-10 17:56阅读:407来源:国知局
用于带测量容积的具有箔腔室的测试泄漏的方法与流程

本发明涉及一种使用箔腔室测试试样是否存在泄漏的方法。

背景

箔腔室是具有至少一个柔性壁部分的测试室,该柔性壁部分例如箔片制成。典型的箔腔室具有在测试样品周围彼此相对放置的两个箔层,以完全包围测试样品。容纳试样后,将箔腔室密封并抽成真空。然后,监测箔腔室容积在试样外的部分中的压力变化,其中压力增加被认为是试样泄漏的指示。作为监视箔腔室容积中的压力的替代方式,还可以监视柔性壁部分,其中,柔性壁部分或箔片的变化可以指示泄漏。de102012200063a1中公开了这种方法。

de102012200063a1描述了一种用于对试样进行严重泄漏测试的箔腔室,该腔室具有在箔腔室容积中在柔性壁部分的相对侧上邻接于柔性壁部分的测量容积。测量容积与箔腔室容积密闭地形成。在箔腔室包括两个柔性壁部分的一个实施例中,每个柔性壁部分均是一个箔片的形式,测量容积分别邻接两个箔片中的每一个。在所描述的方法中,将容纳试样的封闭的箔腔室抽成真空,在箔腔室的排空期间已经对测量容积进行监视,以便基于监视结果来评估试样中可能的泄漏的大小。可以通过测量测量容积中的压力或通过测量箔腔室中或来自箔腔室的气体流量来实现对测量容积的监视。

当以这种方式检查具有严重泄漏的试样时,在将箔腔室抽真空的同时,也至少部分抽真空该试样。由于箔腔室容积和测量容积之间的柔性壁部分,因此增大了测量容积。在此,测量容积的增大大于在紧密的试样的情况下或在具有较小泄漏的试样的情况下。在紧密的试样的情况下,仅抽空试样外部区域中的箔腔室容积。在具有大的泄漏的试样的情况下,还抽真空试样或至少一部分试样容积,从而与紧的试样相比抽出更大的容积。由此,测量容积的容积膨胀越大,则试样的泄漏越大。基于测量容积和/或柔性壁部分的膨胀,然后可以评估试样中可能泄漏的大小。

简要说明

本发明的目的是允许对试样进行严重泄漏检测,特别是对于大的试样,这种检测得到改善。

本发明的方法由权利要求1的特征限定。

据此,在将测量容积与箔腔室周围的大气连接的气体路径中设置有可控的排气阀,如果测量容积内的压力低于阈值,则在箔腔室关闭时关闭该阀。当关闭箔腔室后,一旦测量容积中的压力超过阈值,便会打开排气阀。对于较小的试样,在关闭箔腔室时不会超过测量容积中的压力阈值,并且排气阀保持关闭状态。对于大的试样,该试样在关闭箔腔室时会相应地移出更大比例的测量体积,超过了测量体积中压力的预定阈值,并且阀门被打开,多余的气体可能从测量体积中逸出结果,从而柔性壁部分或箔片围绕试样。

在测量过程中,即在排空箔腔室后监测测量容积的过程中,排气阀保持关闭。当取出试样并将新的试样放入箔腔室中以进行后续测量时,排气阀也保持关闭状态。在此,不必再次减小测量容积并且可以比以前更快地进行测量。在随后的测量中使用较小的试样的情况下,在排空箔腔室期间,将柔性壁部分或箔片拉到试样的外轮廓上,从而以便扩大柔性测量容积或箔片所需的气体可以流入。

附图说明

在下文中,将参照附图详细说明本发明的实施例。在图中:

图1示出了处于打开状态的箔腔室;以及

图2示出了处于关闭状态的箔腔室,其中试样被放置在其中。

具体实施方式

图中所示的箔腔室10包括上盖12和下盖14。上箔层16是上盖12的基本元件,下箔层18是下盖14的基本元件。在箔腔室的关闭状态下(见图2),两个箔层16、18包围容纳在箔腔室20中的试样22。

在面对箔腔室容积20的一侧上,两个箔层16、18中的每一个具有非织造材料(图未示)作为导气层。每个箔层16、18与未示出的非织造材料一起形成箔室10的相应柔性壁部分。箔层16、18在其外边缘的区域中分别以气密的方式与测量室环26、28连接。箔层16因此气密地封闭上测量室26的面向箔腔室的下端。类似地,下箔层18封闭下测量室环28的面向箔腔室容积20的上端。每个测量室环26、28的分别与对应的箔层16、18相对的端部通过测量室盖30、32的气密方式封闭。

因此,测量室盖30,测量室环26和箔层16包围上测量容积34;箔层18,测量室环28和测量室盖32包围下测量容积36。测量容积34,36与箔腔室容积20和围绕箔腔室10的外部大气密闭地分开。气体传导路径50在图中示出,例如管或连接线以导气的方式将测量容积34,36彼此连接,从而在测量容积34,36之间实现恒定的压力补偿。

每个测量容积34,36通过相应的测量室环26、28中的气体传导通道46、48连接到气体传导路径50。气体传导路径50包括压力测量装置38,其允许压力在两个待测量的测量室的测量容积34,36中的传递。此外,气体传导路径50包括可控制的排气阀40,该可控制的排气阀40将气体传导管线50和测量容积34,36连接到外部的围绕箔腔室10的大气。在排气阀40的关闭状态下,测量容积34,36与大气密闭地分开,并且在排气阀40的打开状态下,它们以气体传导的方式与大气连通。

在两个箔层16、18之间在外边缘的区域中设置有密封环42,该密封环在箔腔室10的关闭状态下在箔层16、18之间提供气密连接。

包括阀54的抽空管线52将箔腔室10与真空泵56连接,该真空泵56将箔腔室容积向外部大气抽空。抽空管线52通过抽空接口58与在两个测量室环26、28之间形成的真空通道60连接。

图1示出了处于打开状态的箔腔室10。可以自由进入箔腔室容积20,以将试样22放置在箔腔室容积20中。此后,关闭箔腔室10,并使用真空泵56将箔腔室容积20抽空,从而使箔片16、18将自己紧密贴合在试样22周围。

在预先放置有试样22的箔腔室10排气之前,关闭排气阀40,使得当测量装置38测量的测量室容积34,36中的压力不超过预定阈值时,测量室容积34,36与大气密闭分隔。选择该阈值,以使得在相对较小的试样的情况下,将箔片16、18压在试样上并将它们紧密地贴合在试样的外轮廓周围。在相对较大的试样的情况下,由测量装置38测量的测量容积34,36中的压力增加并且超过阈值,由此排气阀40自动打开。为此,为清楚起见,压力测量装置38和排气阀40与电子控制装置(未示出)连接,该电子控制装置感测由测量装置38测量的压力并将其与阈值进行比较,并且当超过阈值时自动打开排气阀40,而当低于阈值时再次关闭排气阀40。

常规地,排气阀40被关闭以在测量室中进行压力测量,并且在大试样的情况下被打开。在两次测量之间的间隔中,箔片16、18返回到无压状态,空气流入测量室容积34,36。常规地,如果现在将大的试样放入其中,则必须将空气通过气体传导路径50的管和排气阀40的管排出,导致延迟并且对于使用者意味着更多的努力。

根据本发明,排气阀40是关闭的,并仅当测量容积34,36中的压力变得太高,即超过预定阈值时,排气阀40才打开。

当将较大的试样22放置在箔腔室10中时,压力随着箔腔室10的关闭而升高,直到超过阈值并且排气阀40自动打开。此后,过多的空气会像以前一样从测量室或测量室容积36、38流出,直到箔腔室10完全关闭。然后,排气阀40将在测量期间以及在随后移除测试样品22的过程中保持关闭。当放置下一个测试样品时,不再需要从测量容积34,36中排出空气,由于排气阀40的关闭,空气已经被排出并且没有新的空气流入测量容积34,36。因此,仅当将第一份试样放置在不同试样上进行一系列后续测量时,才需要以常规方式在测量容积34,36中调整气体量。

本发明提供的优点在于,在随后的对不同试样的测量中,不必在每次将新的连续试样放入其中时主动从测量室容积中排出过量的空气。由于在箔腔室10关闭时箔片16、18自身围绕试样22放置,因此与常规方法相比,排空箔腔室容积20的速度也更快。因此,本发明具有决定性的优点,即对不同试样的后续测量比以前更快。

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