一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法与流程

本申请属于高电压复合绝缘子技术领域，尤其涉及一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法。

背景技术：

目前，复合绝缘子因具有机械强度高，污闪电压高、重量轻、运行维护简单等优点，广泛应用在电力系统输电线路绝缘上。然而，由于受到输电线路周围环境的影响，包括紫外线、温湿度、污秽度和电晕等等，复合绝缘子会出现不同程度的老化。复合绝缘子的老化主要表现在伞裙切片脆硬、粉化和破损，甚至出现芯棒断裂，这些现象的出现会严重影响复合绝缘子的正常运行，进而影响了电网的安全可靠运行。因此，对于运行维护部门来说，需要对复合绝缘子的老化状态进行检测，确定何时对复合绝缘子进行更换。

现有技术中，对复合绝缘子的老化检测方法包括：外观观察，憎水性测试，傅里叶变换红外光谱(ftir)、扫描电镜(sem)、核磁共振等。上述多种方法研究了复合绝缘子老化后外观、憎水性以及材料物化性能的变化规律，实现了对复合绝缘子材料老化程度的评估。

实际上，复合绝缘子的老化状态并不只是代表硅橡胶材料的现有老化程度，更大程度上反映了其抗老化能力，即对老化程度后期可持续挂网运行的能力进行预判。但是，现有技术采用的复合绝缘子老化检测方法，难以实现复合绝缘子的剩余寿命判断，无法判断其是否适合继续长时间挂网运行。当大量抗老化能力遭到严重破坏的复合绝缘子长时间继续挂网运行时，复合绝缘子会在电场、污秽、水分、紫外线、局部放电等因素的共同作用下加快老化，这些无法预判的现象可能会对输电线路的安全可靠运行造成巨大的威胁。

技术实现要素：

本申请提供了一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法，以解决现有技术采用的复合绝缘子老化检测方法，难以实现复合绝缘子的剩余寿命判断，无法判断其是否适合继续长时间挂网运行的技术问题。

一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法，所述方法包括以下步骤：

步骤s100：获取复合绝缘子伞裙切片，制成圆形薄片试样；

步骤s200：利用无水乙醇进行擦拭，获得洁净的复合绝缘子伞裙切片试样；

步骤s300：对伞裙切片试样分别利用红外线光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度分析法进行检测，获得测试结果，上述四种方法得到的测量结果为反映老化程度的0到1的标量，分别用a1、a2、a3、a4表示；

步骤s400：利用bp神经网络算法优化步骤s300中四种测试方法得到的测试结果a1、a2、a3、a4所对应的权值，得到优化的权值分别用b1、b2、b3、b4表示，并根据公式l＝a1b1+a2b2+a3b3+a4b4计算复合绝缘子的老化程度，l表示复合绝缘子综合老化程度结果值；

步骤s500：通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命，利用公式d＝w(1-l)求出复合绝缘子的剩余寿命，其中w表示绝缘子的全周期寿命，l表示复合绝缘子综合老化程度值，d表示复合绝缘子的剩余寿命。

进一步地，所述步骤s400利用bp神经网络算法优化步骤s300中四种测试方法得到的测试结果a1、a2、a3、a4所对应的权值，得到优化的权值分别用b1、b2、b3、b4表示，优化对应权值所用的公式为：

f(b)＝e^t(k)e(k)；

c^m(k+1)＝c^m(k)-αs^m；

b^m(k+1)＝b^m(k)-αs^m(y^m-1)^t；

s^m＝-2f^m(n^m)(t-y)；

s^m＝f^m(n^m)(b^m+1)^ts^m+1,m＝m-1,...,2,1；

其中，b为bp神经网络中权值组成的矩阵，f(b)为均方差，e(k)为神经元第k次计算的结果与其预期结果之差组成的误差向量，k为bp神经网络的迭代次数，s^m为表征第m层输出对f(b)均方误差的影响程度敏感系数，m为神经网络的总层数，n^m为第m层神经元的输出向量，f^m()表示第m层的均方误差函数，t为bp神经网络的目标输出，y为bp神经网络的实际输出，b^m(k+1)是第m层bp神经网络的第k+1次迭代的权值矩阵，c^m(k+1)是第m层bp神经网络的第k+1次迭代时使用的阈值，α为学习率。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用红外线光谱分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s301：获取复合绝缘子伞裙切片试样的红外线光谱；

步骤s302：提取复合绝缘子主要吸收峰的高度；

步骤s303：根据复合绝缘子主要吸收峰的高度，得到的测量结果为0到1的标量，用a1表示；

步骤s304：根据复合绝缘子主要吸收峰的高度测试结果a1对复合绝缘子老化程度进行评价，a1值为0-0.25表示老化程度较轻，a1值为0.25-0.5表示老化程度一般，a1值为0.5-0.75表示老化程度较重，a1值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用热刺激电流tsc分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s311：对复合绝缘子伞裙切片样品的不同位置进行取样得到切片；

步骤s312：对所述切片进行热刺激电流tsc实验，获得tsc曲线；

步骤s313：根据tsc曲线计算切片的陷阱电荷量和陷阱能级，得到反映所述陷阱电荷量和陷阱能级的测量结果为0到1的标量，用a2表示；

步骤s314：根据反映所述陷阱电荷量和陷阱能级的测量结果a2对复合绝缘子老化程度进行评价，a2值为0-0.25表示老化程度较轻，a2值为0.25-0.5表示老化程度一般，a2值为0.5-0.75表示老化程度较重，a2值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用高光谱谱图分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s321：通过高光谱测试仪获得复合绝缘子伞裙切片样本的高光谱图像；

步骤s322：对获取的高光谱图像进行预处理，选取训练样本；

步骤s323：建立复合绝缘子老化模型，将老化模型定量，得到的测量结果为0到1的标量，用a3表示；

步骤s324：根据复合绝缘子老化模型定量得到的测试结果a3对复合绝缘子老化程度进行评价，a3值为0-0.25表示老化程度较轻，a3值为0.25-0.5表示老化程度一般，a3值为0.5-0.75表示老化程度较重，a3值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用表面电荷密度分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s331：利用高压加载装置对伞裙切片试样施加直流电压；

步骤s332：利用表面电荷测试装置测量伞裙切片试样的表面电荷；

步骤s333：获得伞裙切片试样的平均表面电荷密度，得到的测量结果为0到1的标量，用a4表示；

步骤s334：根据伞裙切片试样的平均表面电荷密度的测试结果a4对复合绝缘子老化程度进行评价，a4值为0-0.25表示老化程度较轻，a4值为0.25-0.5表示老化程度一般，a4值为0.5-0.75表示老化程度较重，a4值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述步骤s400计算得到复合绝缘子综合老化程度结果值l，对复合绝缘子老化程度等级划分为四个等级：l值为0-0.25表示老化程度较轻，l值为0.25-0.5表示老化程度一般，l值为0.5-0.75表示老化程度较重，l值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述步骤s100圆形薄片试样为直径为25mm、厚度为1.2mm的圆形薄片试样。

本申请的有益效果是：

由以上技术方案可知，本申请提供了一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法。通过获得红外光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度法的测量结果，利用bp神经网络算法优化不同测试方法获得测试结果的权值；获得复合绝缘子的综合老化程度；通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命。本申请通过综合多种方法获得复合绝缘子的老化程度，实现了对复合绝缘子老化程度的综合检测，能够更加精准测量复合绝缘子的老化程度，并且预测复合绝缘子的剩余寿命，为输电线路的运维人员及时更换老化程度严重的复合绝缘子提供更加精准的技术支撑，保障输电线路的安全可靠运行。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法的流程图；

图2为本申请利用红外光谱分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图；

图3为本申请利用热刺激电流tsc分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图；

图4为本申请利用高光谱谱图分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图；

图5为本申请利用表面电荷密度分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图。

具体实施方式

这里将详细地对实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下实施例中描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。

参见图1，为本申请一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法的流程图。

一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法，所述方法包括以下步骤：

步骤s100：获取复合绝缘子伞裙切片，制成圆形薄片试样；

步骤s200：利用无水乙醇进行擦拭，获得洁净的复合绝缘子伞裙切片试样；

步骤s300：对伞裙切片试样分别利用红外线光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度分析法进行检测，获得测试结果，上述四种方法得到的测量结果为反映老化程度的0到1的标量，分别用a1、a2、a3、a4表示；

步骤s400：利用bp神经网络算法优化步骤s300中四种测试方法得到的测试结果a1、a2、a3、a4所对应的权值，得到优化的权值分别用b1、b2、b3、b4表示，并根据公式l＝a1b1+a2b2+a3b3+a4b4计算复合绝缘子的综合老化程度，l表示复合绝缘子综合老化程度结果值；

步骤s500：通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命，利用公式d＝w(1-l)求出复合绝缘子的剩余寿命，其中w表示绝缘子的全周期寿命，l为复合绝缘子综合老化程度值，d表示复合绝缘子的剩余寿命。

现有技术中，对复合绝缘子的老化检测方法包括：外观观察，憎水性测试，傅里叶变换红外光谱(ftir)、扫描电镜(sem)、核磁共振等。上述多种方法研究了复合绝缘子老化后外观、憎水性以及材料物化性能的变化规律，实现了对复合绝缘子材料老化程度的评估。

实际上，复合绝缘子的老化状态并不只是代表硅橡胶材料的现有老化程度，更大程度上反映了其抗老化能力，即对老化程度后期可持续挂网运行的能力进行预判。但是，现有技术采用的复合绝缘子老化检测方法，难以实现复合绝缘子的剩余寿命判断，无法判断其是否适合继续长时间挂网运行。当大量抗老化能力遭到严重破坏的复合绝缘子长时间继续挂网运行时，复合绝缘子会在电场、污秽、水分、紫外线、局部放电等因素的共同作用下加快老化，这些无法预判的现象可能会对输电线路的安全可靠运行造成巨大的威胁。

可选的，步骤s100：获取复合绝缘子伞裙切片，制成圆形薄片试样；

复合绝缘子是由一根承担机械负荷的绝缘芯棒和外覆的聚合物伞套构成，机械负荷通过金属附件传递给芯棒。复合绝缘子的伞裙是复合绝缘子产品外绝缘的组成部件。它是由混练好的绝缘胶料通过专用模具在经橡胶硫化加压升温硫化而成。复合绝缘子是输电线路上悬挂导线的绝缘部件，在运行过程中，伞裙绝缘性能极易受周围环境因素的影响，尤其是污垢物的影响将导致输电线路发生污闪跳闸断电事故，要保证输电线路的安全运行，除了以伞裙数量加大爬电距离的方式来保证表面绝缘性能外，还必须最大限度利用伞裙绝缘中硅橡胶材料特有的憎水性和憎水迁移性能，提高绝缘子表面的抗污闪电压水平。由于硅橡胶具有的憎水性和憎水迁移性能，可限制泄漏电流，提高闪络电压，因此，复合绝缘子外绝缘具有卓越的防污性能，可以有效地防止输电线路由于污闪分闸事故的发生，保证线路的安全运行。因此，对于复合绝缘子的老化程度及抗老化能力进行评价，需获取复合绝缘子的伞裙切片进行试验。选取同一型号不同老化程度的复合绝缘子10支，在10支复合绝缘子上分别截取伞裙切片。伞裙切片应当完整，无破损。

步骤s200：利用无水乙醇进行擦拭，获得洁净的复合绝缘子伞裙切片试样；

可选的，使用无水乙醇对复合绝缘子伞裙切片进行清洗后，再用去离子水对伞裙切片表面进行清洁，然后放入干燥箱中，在温度为303k下，干燥3小时。

步骤s300：对伞裙切片试样分别利用红外线光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度分析法进行检测，获得测试结果，上述四种方法得到的测量结果为反映老化程度的0到1的标量，分别用a1、a2、a3、a4表示；

可选的，利用红外线光谱分析法测量10组复合绝缘子伞裙切片，得到10组数据，并进行归一化处理，得到平均值，测量结果为0到1的标量用a1表示；利用热刺激电流tsc分析法测量10组复合绝缘子伞裙切片，得到10组数据，并进行归一化处理，得到平均值，测量结果为0到1的标量用a2表示；利用高光谱谱图分析法测量10组复合绝缘子伞裙切片，得到10组数据，并进行归一化处理，得到平均值，测量结果为0到1的标量用a3表示；利用表面电荷密度分析法测量10组复合绝缘子伞裙切片，得到10组数据，并进行归一化处理，得到平均值，测量结果为0到1的标量用a4表示；

步骤s400：利用bp神经网络算法优化步骤s300中四种测试方法得到的测试结果a1、a2、a3、a4所对应的权值，得到优化的权值分别用b1、b2、b3、b4表示，并根据公式l＝a1b1+a2b2+a3b3+a4b4计算复合绝缘子的综合老化程度，l表示复合绝缘子综合老化程度结果值；

步骤s500：通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命，利用公式d＝w(1-l)求出复合绝缘子的剩余寿命，其中w表示绝缘子的全周期寿命，l表示复合绝缘子老化程度值，d表示复合绝缘子的剩余寿命。

归一化是一种无量纲处理手段，使物理系统数值的绝对值变成某种相对值关系。从而通过归一化成为简化计算，缩小量值的有效办法。对于复合绝缘子剩余进行量化，有助于为输电线路的运维人员及时更换老化程度严重的复合绝缘子提供更加精准的技术支撑，保障输电线路的安全可靠运行。

由以上技术方案可知，本申请提供了一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法。通过获得红外光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度法的测量结果，利用bp神经网络算法优化不同测试方法获得测试结果的权值；获得复合绝缘子的综合老化程度；通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命。本申请通过综合多种方法获得复合绝缘子的老化程度，实现了对复合绝缘子老化程度的综合检测，能够更加精准测量复合绝缘子的老化程度，并且预测复合绝缘子的剩余寿命，为输电线路的运维人员及时更换老化程度严重的复合绝缘子提供更加精准的技术支撑，保障输电线路的安全可靠运行。

进一步地，所述步骤s400利用bp神经网络算法优化步骤s300中四种测试方法得到的测试结果a1、a2、a3、a4所对应的权值，得到优化的权值分别用b1、b2、b3、b4表示，优化对应权值所用的公式为：

f(b)＝e^t(k)e(k)；

c^m(k+1)＝c^m(k)-αs^m；

b^m(k+1)＝b^m(k)-αs^m(y^m-1)^t；

s^m＝-2f^m(n^m)(t-y)；

s^m＝f^m(n^m)(b^m+1)^ts^m+1,m＝m-1,...,2,1；

其中，b为bp神经网络中权值组成的矩阵，f(b)为均方差，e(k)为神经元第k次计算的结果与其预期结果之差组成的误差向量，k为bp神经网络的迭代次数，s^m为表征第m层输出对f(b)均方误差的影响程度敏感系数，m为神经网络的总层数，n^m为第m层神经元的输出向量，f^m()表示第m层的均方误差函数，t为bp神经网络的目标输出，y为bp神经网络的实际输出，b^m(k+1)是第m层bp神经网络的第k+1次迭代的权值矩阵，c^m(k+1)是第m层bp神经网络的第k+1次迭代时使用的阈值，α为学习率。

bp神经网络需要一定的数据积累，具体为，先优化不同老化程度的复合绝缘子进行测量，并利用获得的测量数据对神经网络进行训练；同时，针对不同型号的复合绝缘子建立不同的bp神经网络模型，且训练样本越多，其模型准确率也越高。

参见图2，为本申请利用红外光谱分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用红外线光谱分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s301：获取复合绝缘子伞裙切片试样的红外线光谱；

步骤s302：提取复合绝缘子主要吸收峰的高度；

步骤s303：根据复合绝缘子主要吸收峰的高度，得到的测量结果为0到1的标量，用a1表示；

步骤s304：根据复合绝缘子主要吸收峰的高度测试结果a1对复合绝缘子老化程度进行评价，a1值为0-0.25表示老化程度较轻，a1值为0.25-0.5表示老化程度一般，a1值为0.5-0.75表示老化程度较重，a1值为0.75-1表示老化程度严重。

可选的，获得复合绝缘子伞裙切片试样的红外线光谱，提取si-0-si主链集团和si-ch3侧链集团对应吸收峰高度，将获得的吸收峰高度归一化，达到测量结果为0到1的标量，得到a1,并对老化程度进行区分评价。

当a1值为0.75-1时，表示所述类复合绝缘子出现老化程度严重，则所述类复合绝缘子不能继续挂网运行较长时间；当a1值为0-0.25表示老化程度较轻，则所述类复合绝缘子仍可继续挂网运行较长时间，而不会出现老化现象；当a1值为0.25-0.5表示老化程度一般，a1值为0.5-0.75表示老化程度较重，表明需要对所述类复合绝缘子的抗老化能力进行进一步判定，通过对所述类复合绝缘子老化的剩余寿命进行评估，从而给输电线路运行维护人员及时更换复合绝缘子提供技术数据支持。

参见图3，为本申请利用热刺激电流tsc分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用热刺激电流tsc分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s311：对复合绝缘子伞裙切片样品的不同位置进行取样得到切片；

步骤s312：对所述切片进行热刺激电流tsc实验，获得tsc曲线；

步骤s313：根据tsc曲线计算切片的陷阱电荷量和陷阱能级，得到反映所述陷阱电荷量和陷阱能级的测量结果为0到1的标量，用a2表示；

步骤s314：根据反映所述陷阱电荷量和陷阱能级的测量结果a2对复合绝缘子老化程度进行评价，a2值为0-0.25表示老化程度较轻，a2值为0.25-0.5表示老化程度一般，a2值为0.5-0.75表示老化程度较重，a2值为0.75-1表示老化程度严重。

可选的，热刺激电流(thermallystimulatedcurrentstsc)方法，能够测量物质，例如，电介质，绝缘材料，半导体，驻守极体等的微观参数。热刺激电流法是在温度变化的同时测量材料的参数，很容易将材料中不同活化能或松弛时间的荷电粒子分开，从而求得各自的参数。将从复合绝缘子上切取不同位置处的伞裙切片，之后放置于无水乙醇中进行漂洗，漂洗后放入烘箱中，进行干燥，真空蒸镀金膜，作为切片试验用电极。将切片试样放入真空容器中，将试样两端短路，进行升温，并加高压，然后注入液氮，将切片试样冷却，再将切片试样两端短路，随后升高温度，同时将静电计接入电路记录电流随温度的变化情况，获得tsc曲线。根据tsc曲线计算切片的陷阱电荷量和陷阱能级，得到反映所述陷阱电荷量和陷阱能级的测量结果为0到1的标量，用a2表示。

参见图4，为本申请利用高光谱谱图分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用高光谱谱图分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s321：通过高光谱测试仪获得复合绝缘子伞裙切片样本的高光谱图像；

步骤s322：对获取的高光谱图像进行预处理，选取训练样本；

步骤s323：建立复合绝缘子老化模型，将老化模型定量，得到的测量结果为0到1的标量，用a3表示；

步骤s324：根据复合绝缘子老化模型定量得到的测试结果a3对复合绝缘子老化程度进行评价，a3值为0-0.25表示老化程度较轻，a3值为0.25-0.5表示老化程度一般，a3值为0.5-0.75表示老化程度较重，a3值为0.75-1表示老化程度严重。

可选的，用高光谱成像仪对复合绝缘子伞裙切片成像，获取复合绝缘子伞裙切片的高光谱图像。对获取的高光谱图像进行预处理，包括几何校正、滤波去噪、辐射校正，从而获得比较精准的光谱信息。选取训练样本，包括确定状态数、选取每种状态的样区、取均值，得到每种状态的均值样本。建立复合绝缘子老化模型：首先量化老化程度，提取光谱特征，建立复合绝缘子老化模型。用最小二方法来解算老化模型参数。将老化模型定量得到的结果对复合绝缘子老化程度进行评价。用老化模型判断复合绝缘子的老化程度，从高光谱影像上，提取复合绝缘子伞裙切片试样的像素区域，然后用老化模型逐个判断区域内像素的老化系数，对区域内所有像素的老化程度取均值，即可得到复合绝缘子的老化程度。

参见图5，为本申请利用表面电荷密度分析法对复合绝缘子老化程度检测的流程图。

进一步地，所述对伞裙切片试样利用表面电荷密度分析法，获得测试结果包括以下步骤：

步骤s331：利用高压加载装置对伞裙切片试样施加直流电压；

步骤s332：利用表面电荷测试装置测量伞裙切片试样的表面电荷；

步骤s333：获得伞裙切片试样的平均表面电荷密度，得到的测量结果为0到1的标量，用a4表示；

步骤s334：根据伞裙切片试样的平均表面电荷密度的测试结果a4对复合绝缘子老化程度进行评价，a4值为0-0.25表示老化程度较轻，a4值为0.25-0.5表示老化程度一般，a4值为0.5-0.75表示老化程度较重，a4值为0.75-1表示老化程度严重。

可选的，利用高压加载设备对复合绝缘子伞裙试样进行加压，3min后撤去高压。利用表面电荷测试装置测量复合绝缘子伞裙试样的表面电荷，将试样表面一定范围内测的表面电荷绘制x-y-σ三维图。计算复合绝缘子伞裙试样的设定一定范围内的平均表面电荷密度，其中为平均表面电荷密度，n为测试点总数，σi为第i个测试点的表面电荷。x-y-σ三维图中平均表面电荷密度越高，说明复合绝缘子伞裙试样的陷阱捕获的电荷越多，陷阱能级越深，陷阱密度越高。x-y-σ三维图中某处表面电荷越多，说明此处捕获的电荷越多，陷阱能级越深。随着复合绝缘子伞裙试样的老化程度的增加，其陷阱能级加深，陷阱密度增加，在相同电压下复合绝缘子伞裙试样可以捕获的电荷增多，平均电荷密度增加，当平均电荷密度超过0.52μc/m²，认为复合绝缘子老化程度严重，需要进行更换，此时a4值为0.75-1表示老化程度严重。

进一步地，所述步骤s400计算得到复合绝缘子综合老化程度结果值l，对复合绝缘子老化程度等级划分为四个等级：l值为0-0.25表示老化程度较轻，l值为0.25-0.5表示老化程度一般，l值为0.5-0.75表示老化程度较重，l值为0.75-1表示老化程度严重。

可选的，为了方便运维人员了解量化复合绝缘子老化程度，将复合绝缘子老化程度量化后对应进行分级。

进一步地，所述步骤s100圆形薄片试样为直径为25mm、厚度为1.2mm的圆形薄片试样。

复合绝缘子的老化与复合绝缘子周围场强是紧密联系在一起的。对于复合绝缘子周围场强高区域，更容易发生老化。可选的，使用切片器从挂网运行过的复合绝缘子伞裙表面切下直径为25mm、厚度为1.2mm的圆形薄片试样。从而，避免选取复合绝缘子伞裙试样厚度过薄，且此处周围场强高的情况下，无法对复合绝缘子实际老化程度进行评估；以及避免选取复合绝缘子伞裙试样厚度过后，且此处周围场强低的情况下，切去不必要的伞裙部分造成浪费。

由以上技术方案可知，本申请提供了一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法。通过获得红外光谱分析法、热刺激电流tsc分析法、高光谱谱图分析法和表面电荷密度法的测量结果，利用bp神经网络算法优化不同测试方法获得测试结果的权值；获得复合绝缘子的综合老化程度；通过归一化方法获得复合绝缘子老化的剩余寿命。本申请通过综合多种方法获得复合绝缘子的老化程度，实现了对复合绝缘子老化程度的综合检测，能够更加精准测量复合绝缘子的老化程度，并且预测复合绝缘子的剩余寿命，为输电线路的运维人员及时更换老化程度严重的复合绝缘子提供更加精准的技术支撑，保障输电线路的安全可靠运行。

本申请提供的实施例之间的相似部分相互参见即可，以上提供的具体实施方式只是本申请总的构思下的几个示例，并不构成本申请保护范围的限定。对于本领域的技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下依据本申请方案所扩展出的任何其他实施方式都属于本申请的保护范围。