图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法。能够进行高精度的异物检查。具备背景值设定部，基于位于关注像素的附近并且相对于关注像素处于预先设定的位置关系的至少一个参照像素的第1像素值来设定视为背景值的值，将该值设定为关注像素的背景值。

技术研发人员：加集功士
受保护的技术使用者：住友化学株式会社
技术研发日：2019.03.29
技术公布日：2019.10.15