无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法、终端设备及系统与流程

本发明属于道路交通技术领域，尤其涉及一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法、终端设备及系统。

背景技术：

为保证高速铁路轨道的稳定性，高速铁路轨道采用无砟轨道，主要由混凝土底座、砂浆层、轨道板和扣件钢轨等部分组成。在高客运量、高货运量的情况下，无砟轨道的缺陷日益增多，为保证高速铁路的安全运行，需要对无砟轨道缺陷进行检测。目前，传统的无砟轨道缺陷检测方法包括超声波法和雷达检测法，但是，由于无砟轨道内部分布有大量的钢筋结构，会对超声波或电磁波的传播产生干扰，在通过超声波法或雷达检测法检测无砟轨道的缺陷时，导致检测结果不准确。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明实施例提供了一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法、终端设备及系统，以解决现有技术中无砟轨道缺陷检测结果不准确的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法，包括：

获取待测无砟轨道反射的弹性波信号；

对所述弹性波信号进行滤波处理；

对滤波处理后的弹性波信号进行零均值化处理；

对零均值化处理后的弹性波信号进行傅里叶变换，获取幅值频谱数据；

根据所述幅值频谱数据判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷。

一种可能的实现方式中，所述根据所述幅值频谱数据判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷，包括：

根据表达式确定第一频段的上限，根据表达式确定所述第一频段的下限；

根据表达式确定第二频段的上限，根据表达式确定所述第二频段的下限；

根据所述幅值频谱数据确定与所述第一频段δf1＝[f11,f12]对应的幅值之和，得到第一幅值；

根据所述幅值频谱数据确定与所述第二频段δf2＝[f21,f22]对应的幅值之和，得到第二幅值；

判断所述第一幅值与所述第二幅值的比值是否超过预设阈值，若是，则所述待测无砟轨道存在缺陷，若否，则所述待测无砟轨道不存在缺陷；

其中，所述待测无砟轨道从上至下依次为轨道板、混凝土层、支撑层和路基层；d1为所述轨道板的厚度，d2为所述混凝土层的厚度，d3为所述支撑层的厚度，d4为所路基层的厚度，β为所述待测无砟轨道的外形系数，cp为p波波速。

一种可能的实现方式中，所述对所述弹性波信号进行滤波处理，包括：

对所述弹性波信号进行带通滤波处理，其中，根据表达式确定带通滤波的下截止频率，根据表达式确定带通滤波的上截止频率；

其中，所述待测无砟轨道从上至下依次为轨道板、混凝土层、支撑层和路基层；d1为所述轨道板的厚度，d2为所述混凝土层的厚度，d3为所述支撑层的厚度，d4为所路基层的厚度，β为所述待测无砟轨道的外形系数，cp为p波波速，fa为第一偏移量，fb为第二偏移量。

一种可能的实现方式中，所述对所述弹性波信号进行滤波处理之前，还包括：

确定所述弹性波信号的幅值的标准差；

去除所述弹性波信号中幅值大于所述标准差预设倍数的数据。

本发实施例第二方面提供了一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明实施例第一方面所述方法的步骤。

本发实施例第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如本发明实施例第一方面所述方法的步骤。

本发实施例第四方面提供了一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统，包括：激发单元、信号采集单元和控制单元；所述控制单元分别与所述激发单元和所述信号采集单元连接；

所述控制单元用于控制所述激发单元向待测无砟轨道激发弹性波；

所述控制单元还用于控制所述信号采集单元采集所述待测无砟轨道反射的弹性波信号，并接收所述信号采集单元采集的所述弹性波信号；

所述控制单元还用于实现如本发明实施例第一方面所述的方法的步骤。

一种可能的实现方式中，还包括检测架和驱动电机；所述激发单元和所述信号采集单元分别设置在所述检测架的底部端面上；所述驱动电机分别与所述控制单元和所述检测架连接；所述控制单元用于控制所述驱动电机驱动所述检测架沿所述无砟轨道移动。

一种可能的实现方式中，所述检测架包括：第一导轨、第二导轨、安装板和支撑架；所述驱动电机包括第一驱动电机和第二驱动电机；所述支撑架贯穿所述安装板；所述支撑架安装在所述待测无砟轨道上；所述激发单元和所述信号采集单元分别设置在所述安装板的底部端面上；

所述第一导轨上设有第一滑块，所述第一滑块与所述安装板连接，所述第一驱动电机分别与所述控制单元和所述第一滑块连接；所述控制单元用于控制所述第一驱动电机驱动所述安装板沿所述第一导轨移动；

所述第二导轨上设有第二滑块，所述第二滑块与所述第一导轨连接；所述第二驱动电机分别与所述控制单元和所述第二滑块连接；所述控制单元用于控制所述第二驱动电机驱动所述安装板沿所述第二导轨移动。

一种可能的实现方式中，所述检测架包括底板和设置在所述底板上的滚轮；所述激发单元和所述信号采集单元分别设置在所述底板的底部端面上；所述驱动电机分别与所述滚轮和所述控制单元连接。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本发明实施例通过冲击回波法，采集无砟轨道反射的弹性波信号，并对弹性波进行预处理、零均值化、傅里叶变换后，获取幅值频谱数据，根据幅值频谱数据判断无砟轨道是否存在缺陷，获得准确的检测结果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法的实现流程示意图；

图2是本发明实施例一提供的待测无砟轨道的结构示意图；

图3是本发明实施例二提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法的实现流程示意图；

图4是本发明实施例四提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备的示意图；

图5是本发明实施例五提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统的示意图；

图6是本发明实施例六提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测的结构示意图；

图7是本发明实施例七提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测的结构示意图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、单元、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

实施例一

请参考图1，图1为本发明实施例一提供的一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法的实现流程示意图，本实施例中的无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法包括以下步骤：

步骤s101，获取待测无砟轨道反射的弹性波信号。

在本发明实施例中，敲击待测无砟轨道的表面时，会产生一个低频弹性波，弹性波向待测无砟轨道内部传播，在待测无砟轨道内部存在缺陷或在待测无砟轨道的介质面会产生反射，获取反射的弹性波信号。一种实现方式中，利用小锤或者小钢球人工敲击待测无砟轨道的表面，产生弹性波。另一种实现方式中，通过激发单元向待测无砟轨道表面激发弹性波，其中，激发单元可以为推拉式电磁铁冲击器，通过控制推拉式电磁冲击器的电源控制推拉式电磁冲击器向待测无砟轨道激发弹性波。在推拉式电磁冲击器通电时，推拉式电磁冲击器中的推杆伸出敲击待测无砟轨道，推杆上设有弹簧，在推拉式电磁冲击器断电时，推杆在弹簧的作用下回到初始位置。通过激发单元自动控制敲击待测无砟轨道的过程，不需要人工操作，节省人力资源。

步骤s102，对所述弹性波信号进行滤波处理。

在本发明实施例中，待测无砟轨道反射的弹性波信号中存在多种干扰信号，通过滤波处理，去除干扰信号。

步骤s103，对滤波处理后的弹性波信号进行零均值化处理。

在本发明实施例中，通过零均值化处理去除弹性波信号中的直流分量。优选的，通过表达式对弹性波信号中的第n个数据xn(n)进行零均值化处理，得到零均值化处理后的数据

步骤s104，对零均值化处理后的弹性波信号进行傅里叶变换，获取幅值频谱数据。

在本发明实施例中，由于时域中的弹性波信号很复杂，通过对弹性波信号进行傅里叶变换，将时域信号变换到频域。优选的，使用高速傅里叶变换将弹性波信号从时域变换到频域，以降低傅里叶变换过程的时间。

步骤s105，根据所述幅值频谱数据判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷。

在本发明实施例中，一种实现方式中，根据幅值频谱数据的对应关系绘制幅值频谱图，通过对幅值频谱图人工进行分析，判断无砟轨道是否存在缺陷。另一种实现方式中，通过对幅值频谱数据自动进行分析，判断无砟轨道是否存在缺陷。

本发明实施例通过冲击回波法，采集无砟轨道反射的弹性波信号，并对弹性波进行预处理、零均值化、傅里叶变换后，获取幅值频谱数据，根据幅值频谱数据判断无砟轨道是否存在缺陷，获得准确的检测结果。

作为本发明的一个实施例，在步骤s102中，可以对所述弹性波信号进行带通滤波处理。根据待测的厚度确定带通滤波处理的通频带。如图2所示，待测无砟轨道从上至下依次为轨道板、混凝土层、支撑层和路基层。根据表达式确定带通滤波的下截止频率，根据表达式确定带通滤波的上截止频率。其中，d1为所述轨道板的厚度，d2为所述混凝土层的厚度，d3为所述支撑层的厚度，d4为所路基层的厚度，β为所述待测无砟轨道的外形系数，cp为p波波速，fa为第一偏移量，fb为第二偏移量。通常取值0.96，cp通常取值4031m/s。第一偏移量和第二偏移量根据经验确定。例如，下截止频率范围可以为2800赫兹至3200赫兹，上截止频率范围可以为12000赫兹至14000赫兹。

在本发明实施例中，通过带通滤波处理能去除干扰信号和无用的信号，选取出有用的信号。

作为本发明的一个实施例，在步骤s102之前，上述无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法还可以包括：

确定所述弹性波信号的幅值的标准差；

去除所述弹性波信号中幅值大于所述标准差预设倍数的数据。

在本发明实施例中，无砟轨道反射的弹性波信号由于操作不当、外界干扰等情况，会存在异常数据，需要去除弹性波信号中的异常数据。优选的，通过计算弹性波信号的幅值的标准差，去除弹性波信号中幅值大于标准差的预设倍数的数据，例如，去除弹性波信号中幅值大于标准差3倍至5倍的数据。通过去除弹性波信号中的异常数据，使分析结果更加准确。

实施例二

请参考图3，图3是本发明实施例二提供的一种无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法的实现流程示意图，在上述图1所示实施例的基础上，本实施例详细描述步骤s105的实现方式，如图3所示，本实施例方法包括以下步骤：

步骤s301，根据表达式确定第一频段的上限，根据表达式确定所述第一频段的下限。

步骤s302，根据表达式确定第二频段的上限，根据表达式确定所述第二频段的下限。

步骤s303，根据所述幅值频谱数据确定与所述第一频段δf1＝[f11,f12]对应的幅值之和，得到第一幅值。

步骤s304，根据所述幅值频谱数据确定与所述第二频段δf2＝[f21,f22]对应的幅值之和，得到第二幅值。

步骤s305，判断所述第一幅值与所述第二幅值的比值是否超过预设阈值，若是，则所述待测无砟轨道存在缺陷，若否，则所述待测无砟轨道不存在缺陷。

在本发明实施例中，根据第一频段确定幅值频谱数据中与第一频段对应的所有幅值，该幅值之和即为第一幅值，根据第二频段确定幅值频谱数据中与第二频段对应的所有幅值，该幅值之和即为第二幅值，若第一幅值与第二幅值的比值超过预设阈值，则说明待测无砟轨道存在缺陷，若第一幅值与第二幅值的比值未超过预设阈值，则说明待测无砟轨道不存在缺陷。例如，在第一幅值与第二幅值的比值大于2时，则判断待测无砟轨道存在缺陷，在所述第一幅值与第二幅值的小于或等于2时，则判断待测无砟轨道不存在缺陷。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

实施例三

请参考图4，图4是本发明实施例三提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备的示意图。本实施例的无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4包括：处理器401、存储器402以及存储在所述存储器402中并可在所述处理器401上运行的计算机程序403。所述处理器401执行所述计算机程序403时实现上述各个无砟轨道缺陷非接触式无损检测方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤s101至s105。

示例性的，所述计算机程序403可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器402中，并由所述处理器401执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序403在所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4中的执行过程。

所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备可包括，但不仅限于，处理器401、存储器402。本领域技术人员可以理解，图4仅仅是无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的示例，并不构成对无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器401可以是中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmablegatearray，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

所述存储器402可以是所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的内部存储单元，例如无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的硬盘或内存。所述存储器402也可以是所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的外部存储设备，例如所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smartmediacard,smc)，安全数字(securedigital,sd)卡，闪存卡(flashcard)等。进一步地，所述存储器402还可以既包括所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备4的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器402用于存储所述计算机程序以及所述无砟轨道缺陷非接触式无损检测终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器402还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述单元的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

实施例五

请参图5，图5是本发明实施例五提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统的示意图，本实施例中的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统包括：激发单元501、信号采集单元502和控制单元503。所述控制单元503分别与所述激发单元501和所述信号采集单元502连接。所述控制单元503用于控制所述激发单元向待测无砟轨道100激发弹性波。所述控制单元503还用于控制所述信号采集单元采集所述待测无砟轨道100反射的弹性波信号，并接收所述信号采集单元采集的所述弹性波信号。所述控制单元503还用于对所述弹性波信号进行滤波处理；对滤波处理后的弹性波信号进行零均值化处理；对零均值化处理后的弹性波信号进行傅里叶变换，获取幅值频谱；根据所述幅值频谱判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷。

在本发明实施例中，控制单元503控制激发单元501向待测无砟轨道激发弹性波。优选的，激发单元501为推拉式电磁铁冲击器，推拉式电磁铁冲击器设置于待测无砟轨道上表面的预设距离处，预设距离为推拉式电磁铁冲击器的冲击行程，例如，推拉式电磁铁的冲击行程为4毫米，则推拉式电磁铁设置距离待测无砟轨道上表面4毫米的位置。通过控制推拉式电磁冲击器的电源控制推拉式电磁冲击器向待测无砟轨道激发弹性波。在推拉式电磁冲击器通电时，推拉式电磁冲击器中的推杆伸出敲击待测无砟轨道，推杆上设有弹簧，在推拉式电磁冲击器断电时，推杆在弹簧的作用下回到初始位置。通过激发单元501自动控制敲击待测无砟轨道的过程，不需要人工操作，节省人力资源。

控制单元503控制信号采集单元502采集待测无砟轨道反射的弹性波信号，信号采集单元502采集弹性波信号后，将弹性波信号发送至控制单元503，控制单元503接收弹性波信号。优选的，信号采集单元502为激光位移传感器，激光位移传感器能够在不接触待测无砟轨道的情况下，精确测量出待测无砟轨道的各种物理量变化。

在本发明实施例中，控制单元503对弹性波进行滤波处理、零均值化处理、傅里叶变换和判断待测无砟轨道是否存在缺陷的实现方式与本发明实施例一步骤s101至步骤s105的实现方式相同，本发明实施例不再赘述。

优选的，还包括检测架和驱动电机；所述激发单元501和所述信号采集单元502设置在所述检测架的底部端面上。所述驱动电机分别与所述控制单元501和所述检测架连接。所述控制单元控制所述驱动电机驱动所述检测架沿所述无砟轨道移动。

在本发明实施例中，通过将激发单元501和信号采集单元502安装在检测架底部端面上，控制单元503控制驱动电机，使驱动电机控制检测架沿待测无砟轨道移动，在检测不同路段的无砟轨道时，不需要重新安装激发单元501和信号采集单元502。

本发明实施例通过冲击回波法检测无砟轨道是否存在缺陷，控制单元503控制激发单元向采集无砟轨道，激发弹性波，控制信号采集单元采集无砟轨道板反射的弹性波信号，并接收信号采集单元采集的弹性波信号，通过控制单元对弹性波进行预处理、零均值化、傅里叶变换后，获取幅值频谱数据，根据幅值频谱数据判断无砟轨道是否存在缺陷，能够获得准确的检测结果。并且，不需要人工操作，能够实现全自动检测，节省人力物力。

实施例六

请参考图6，图6是本发明实施例六提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统的结构示意图，本实施例中的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统包括：激发单元501、信号采集单元502和控制单元(附图未显示)。所述控制单元分别与所述激发单元501和所述信号采集单元502连接。

无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统还包括：第一导轨504、第二导轨505、安装架506、第一驱动电机507和第二驱动电机508。所述第一导轨504上设有第一滑块5041，所述第一滑块5041与所述安装架506连接，所述第一驱动电机507分别与所述控制单元和所述第一滑块5041连接；所述控制单元控制所述第一驱动电机507驱动所述安装架506沿所述第一导轨移动。

所述第二导轨505上设有第二滑块5051，所述第二滑块5051与所述第一导轨504垂直连接；所述第二驱动电机508分别与所述控制单元和所述第二滑块5051连接；所述控制单元控制所述第二驱动电机508驱动所述安装架506沿所述第二导轨505移动。

所述安装架506包括安装板5061和支撑架5062；所述支撑架5062贯穿所述安装板5061；所述安装板5061与所述第一滑块5041连接；所述激发单元501和所述信号采集单元502分别设置在所述安装板5061的底部端面上；所述支撑架5062安装在所述待测无砟轨道100上。

所述控制单元用于控制所述激发单元501向待测无砟轨道100激发弹性波。所述控制单元还用于控制所述信号采集单元502采集所述待测无砟轨道100反射的弹性波信号，并接收所述信号采集单元采集的所述弹性波信号。所述控制单元还用于对所述弹性波信号进行滤波处理；对滤波处理后的弹性波信号进行零均值化处理；对零均值化处理后的弹性波信号进行傅里叶变换，获取幅值频谱；根据所述幅值频谱判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷。

在本发明实施例中，控制单元控制第一驱动电机507，第一驱动电机507控制第一滑块5041沿第一导轨504上下移动，则第一滑块5041带动安装板5061上下移动，控制单元控制第二驱动电机508，第一驱动电机508控制第二滑块5051沿第一导轨505左右移动，则第二滑块5051带动安装板5061左右移动，通过移动第一导轨504和第二导轨505将激发单元501固定到合适位置。

优选的，激发单元501为推拉式电磁铁冲击器，在激发单元501移动到与待检测无砟轨道100的距离为推拉式电磁铁冲击器的冲击行程时，则停止移动第一滑块5041。然后控制单元503控制激发单元501向待测无砟轨道激发弹性波。

优选的，激发单元501为推拉式电磁铁冲击器，通过控制推拉式电磁冲击器的电源控制推拉式电磁冲击器向待测无砟轨道激发弹性波。在推拉式电磁冲击器通电时，推拉式电磁冲击器中的推杆伸出敲击待测无砟轨道，推杆上设有弹簧，在推拉式电磁冲击器断电时，推杆在弹簧的作用下回到初始位置。通过激发单元501自动控制敲击待测无砟轨道的过程，不需要人工操作，节省人力资源。

控制单元503控制信号采集单元502采集待测无砟轨道反射的弹性波信号，信号采集单元502采集弹性波信号后，将弹性波信号发送至控制单元503，控制单元503接收弹性波信号。优选的，信号采集单元502为激光位移传感器，激光位移传感器能够在不接触待测无砟轨道的情况下，精确测量出待测无砟轨道的各种物理量变化。

实施例七

请参考图7，图7是本发明实施例七提供的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统的结构示意图，本实施例中的无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统包括：激发单元501、信号采集单元502和控制单元(附图未显示)。所述控制单元分别与所述激发单元501和所述信号采集单元502连接。

无砟轨道缺陷非接触式无损检测系统还包括：驱动电机(附图未显示)、底板601和设置在所述底板上的滚轮602。所述激发单元501和所述信号采集单元502分别设置在所述底板601的底部端面上。所述驱动电机分别与所述滚轮602和所述控制单元连接。

所述控制单元用于控制所述激发单元501向待测无砟轨道100激发弹性波。所述控制单元还用于控制所述信号采集单元502采集所述待测无砟轨道100反射的弹性波信号，并接收所述信号采集单元采集的所述弹性波信号。所述控制单元还用于对所述弹性波信号进行滤波处理；对滤波处理后的弹性波信号进行零均值化处理；对零均值化处理后的弹性波信号进行傅里叶变换，获取幅值频谱；根据所述幅值频谱判断所述待测无砟轨道是否存在缺陷。

在本发明实施例中，底板601和设置在所述底板上的滚轮602构成轨道小车，控制单元控制驱动电机，使驱动电机驱动轨道小车沿待测无砟轨道移动。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的单元/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的单元/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，单元或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或单元、记录介质、u盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。