一种显示设备背光灯板的检测方法、装置设备及存储介质与流程

本发明涉及电视技术领域，尤其涉及一种显示设备背光灯板的检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

led(lightemittingdiode，发光二极管)背光灯板是构成显示设备背光的重要组成部分，led背光灯板高低亮的检测是led背光灯板检测的重要一道工序，目前针对背光灯板高低亮的检测，采用人工通过接入背光灯板电源，驱动led灯板点亮，通过人工手动切换背光灯板的高亮模式，人工目测点亮的背光灯板是否存在不良，再经过人工将背光灯板切换为低亮模式，人工目测点亮的背光灯板是否存在不良，结合两次检测结果来判断背光灯板的好坏，该方式需要借助人员进行检测，会导致人工长时间对着背光强光对员工视力造成伤害，同时，人员的检测过程会由于人眼疲劳会倒是产品异常存在漏测或误判，其次，需要人工切换高低亮进行检测，会影响测试的效率。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于提供一种显示设备背光灯板的检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决目前人为地检测发光二极管背光灯板过程繁琐，且影响工作人员的视力健康，导致效率不高的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种显示设备背光灯板的检测方法，所述方法包括：

获取待测显示设备的背光灯板的显示区域；

确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域；

获取各个发光区域的待检测发光参数；

获取所述背光灯板的标准发光参数；

对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；

在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述显示区域中的位置。

优选地，所述获取所述背光灯板的标准发光参数的步骤之前，所述方法还包括：

求取各个待检测发光参数的平均值，将各个待检测发光参数的平均值作为所述背光灯板的标准发光参数；

将所述标准发光参数保存到预设存储区域。

优选地，所述待检测发光参数包括发光面积，所述发光面积为所述发光二极管发光时，亮度值在预设值范围内的面积；

相应地，所述获取各个发光区域的待检测发光参数的步骤，具体包括：

分别对各个发光区域的发光面积进行量测，得到各个发光区域对应的目标面积；

相应地，所述求取各个待检测发光参数的平均值，将各个待检测发光参数的平均值作为所述背光灯板的标准发光参数的步骤，具体包括：

求取各个目标面积的面积平均值，将所述面积平均值作为所述背光灯板的发光面积标准；

相应地，所述对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域的步骤，具体包括：

对各个发光区域的发光面积进行遍历，将遍历到的当前发光面积与所述发光面积标准进行比较；

将所述当前发光面积小于所述发光面积标准的发光区域作为异常发光区域。

优选地，所述待检测发发光参数包括灰度值；

相应地，所述获取各个发光区域的待检测发光参数的步骤，还包括：

分别对各个发光区域的灰度值进行量测，得到各个发光区域对应的目标灰度值；

相应地，所述求取各个待检测发光参数的平均值，将各个待检测发光参数的平均值作为所述背光灯板的标准发光参数的步骤，还包括：

求取各个目标灰度值的灰度平均值，将所述灰度平均值作为所述背光灯板的灰度标准；

相应地，所述对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域的步骤，还包括：

对各个发光区域的目标灰度值进行遍历，将遍历到的当前灰度值与所述灰度标准进行比较；

将所述当前灰度值小于所述灰度标准的发光区域作为异常发光区域。

优选地，所述获取待测显示设备的背光灯板的显示区域的步骤，具体包括：

对待测显示设备的背光灯板进行图像采集；

对采集到的灯板图像进行滤波处理；

从滤波处理后的灯板图像中获取所述背光灯板的显示区域。

优选地，所述确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域的步骤，具体包括：

获取所述发光二极管在所述显示区域上的位置，并在所述显示区域上获取每个所述发光二极管与其周侧所述发光二极管连线的中点；

将所述中点相连形成围绕所述发光二极管的区域为单个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域。

优选地，所述求取各个待检测发光参数的平均值，将各个待检测发光参数的平均值作为所述背光灯板的标准发光参数的步骤之后，还包括：

对待测显示设备的背光灯板进行图像采集，对采集到的灯板图像进行滤波处理，将滤波处理后的灯板图像作为待测灯板图像；

从待测灯板图像中获取所述背光灯板的待测显示区域；

获取所述待测显示区域上的每个发光二极管对应的目标发光区域；

相应地，所述获取所述背光灯板的标准发光参数的步骤，具体包括：

分别对各个目标发光区域的发光面积进行量测，得到各个目标发光区域对应的目标待检测面积；分别对各个目标发光区域的灰度值进行量测，得到各个目标发光区域对应的目标待检测灰度值；

相应地，所述对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域的步骤，具体包括：

对各个目标发光区域的目标待检测发光面积进行遍历，将遍历到的当前待检测发光面积与所述发光面积标准进行比较，将所述当前待检测发光面积小于所述发光面积标准的目标发光区域作为异常发光区域；

和/或，对各个目标发光区域的目标待检测灰度值进行遍历，将遍历到的当前待检测灰度值与所述灰度标准进行比较，将所述当前待检测灰度值小于所述灰度标准的目标发光区域作为异常发光区域；

相应地，所述在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述显示区域中的位置的步骤，具体包括：

在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述待测显示区域中的位置。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种显示设备背光灯板的显示设备背光灯板的检测装置，所述装置包括：

采集模块，用于获取待测显示设备的背光灯板的显示区域；

确定模块，用于确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域；

检测模块，用于获取各个发光区域的待检测发光参数；

获取模块，用于获取所述背光灯板的标准发光参数；

比较模块，用于对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；

输出模块，用于在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述显示区域中的位置。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种用于检测显示设备背光灯板的设备，所述设备包括摄像头、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示设备背光灯板的检测程序，所述摄像头用于对待测显示设备的背光灯板进行图像采集，所述显示设备背光灯板的检测程序配置为实现如上所述的显示设备背光灯板的检测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有显示设备背光灯板的检测程序，所述显示设备背光灯板的检测程序配置为实现如上所述的显示设备背光灯板的检测方法的步骤。

本发明首先获取待测显示设备的背光灯板的显示区域，并确定各个发光二极管在显示区域上对应的发光区域；然后获取各个发光区域的待检测发光参数；同时获取所述背光灯板的标准发光参数；最后对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与标准发光参数进行比较，将当前发光参数小于标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；在遍历结束时，确定各个异常发光区域在显示区域中的位置。通过本发明的检测方案能够实现当显示设备在生产过程中，检测设备能够自动检测显示设备的背光灯板的异常发光区域，进而代替人工的繁琐检测操作，提高了检测效率。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的一种显示设备背光灯板的显示设备背光灯板的检测设备的结构示意图；

图2为本发明一种显示设备背光灯板的检测的方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明一种显示设备背光灯板的检测的方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明一种显示设备背光灯板的检测装置的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的显示设备背光灯板的检测设备的结构示意图。

如图1所示，所述显示设备背光灯板的检测设备可以包括：处理器1001，例如cpu，通信总线1002、显示设备背光灯板接口1003，摄像头1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。显示设备背光灯板接口1003用于连接显示设备的背光灯板；摄像头1004用于对待测试的显示设备的背光灯板进行图像采集。所述显示设备至少可以包括电视机和电脑显示器。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的所述设备结构并不构成对所述显示设备背光灯板的检测设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，所述存储器1005中可以包括操作系统、显示设备背光灯板接口模块以及显示设备背光灯板的检测程序。所述设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的显示设备背光灯板的检测程序，并执行所述显示设备背光灯板的检测方法的步骤。

本实施例的检测设备首先获取待测显示设备的背光灯板的显示区域，并确定各个发光二极管在显示区域上对应的发光区域；然后获取各个发光区域的待检测发光参数；同时获取所述背光灯板的标准发光参数；最后对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与标准发光参数进行比较，将当前发光参数小于标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；在遍历结束时，确定各个异常发光区域在显示区域中的位置。本实施例的检检测设备能够应用到显示设备生产流水线，使用本实施例的检测设备能够代替流水线上的人工的繁琐检测操作，流水线上的相关工作人员使用本实施例的检测设备能够提高工作效率，不用一直盯着背光灯板，进而能够减少视觉疲劳感。

参照图2，图2为本发明一种显示设备背光灯板的检测的方法的第一实施例的流程示意图。

步骤s10：获取待测显示设备的背光灯板的显示区域。

需要说明的是，本实施例的方法的执行主体是上述设备(即用于检测显示设备背光灯板的设备)的处理器。

具体获取背光灯板的显示区域的方式为：

对待测显示设备的背光灯板进行图像采集，可以通过所述设备的摄像头对待测显示设备的背光灯板进行拍摄采样，当然工作人员也可以使用专用的高精度相机对背光灯板进行拍摄；

紧接着，所述设备对采集到的灯板图像进行滤波处理，具体采用图像中值滤波，由于中值滤波法对消除椒盐噪声非常有效，在光学测量条纹图象的相位分析处理方法中有特殊作用，因此本实施例通过图像中值滤波，将图像的显示区域以外的规则噪声滤除，减少图像检测的干扰；

接着基于灰度划分算法从滤波处理后的灯板图像中获取所述背光灯板的显示区域；可理解的是，本实施例的灰度划分算法是将图像的灰度值划分成一系列用户预先指定的间隔，并将每一个灰度间隔范围内的不同的灰度值显示为相同的值。如果将一幅图像的灰度值分成八段，则输出图像上有八个灰度级。其输出图像有些类似等值线图。灰度级分割被广泛地用于显示热红外图像中不同的温度范围。

显示设备的灯板的显示区域与非显示区域直接存在较大的灰度差，因此通过灰度划分算法将灯板图像按照不同的灰度间隔范围进行灰度划分，能够将灯板图像的显示区域与非显示区域划分开，进而准确地得到待测显示设备的背光灯板的显示区域。

步骤s20：确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域。

具体的，获取所述发光二极管在所述显示区域上的位置，并在所述显示区域上获取每个所述发光二极管与其周侧所述发光二极管连线的中点；

将所述中点相连形成围绕所述发光二极管的区域为单个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域。

当发光二极管的周侧有显示区域的边沿时，则中点的连线与边沿形成的围绕发光二极管的区域为该单个发光二极管在显示区域对应的发光区域。单个发光二极管的发光区域的面积为显示区域面积与发光二极管数量的比值。

发光二极管照射到显示面板上，所述输出亮度为人眼主观亮度感受。由于人对自然界的刺激的感知是非线性的，外界以一定的比例加强刺激，对人来说，这个刺激是匀均增长的；同理，人眼对自然亮度感知是也非线性的，因此人眼感知的主观亮度和实际客观亮度并非完全相同。

因此，需要强调的是，本实施例用“灰度值”来表示显示设备的实际客观亮度，用“亮度值”来表示人的肉眼主观上的亮度感受。

需要说明的是，本实施例可在对显示设备的背光灯板进行图像采集之前，通过显示设备背光灯板的检测设备中预设的串口命令，控制灯板的输入电流，使灯板输出“高亮模式”或者“低亮模式”；从物理学的角度来说，流过背光灯板的电流越大，其输出的亮度值越大，即人的肉眼主观上的亮度感受越强；反之，若流过背光灯板的电流越小，其输出亮度值就越小，即人人的肉眼主观上的亮度感受越弱；由于背光灯板的输出亮度值和背光灯板的灰度值呈线性关系，因此电流的强弱同样会影响到显示设备背光灯板的灰度值，因此控制背光灯板的电流，能够更好的获取背光灯板的输出亮度值和灰度值。

步骤s30：获取各个发光区域的待检测发光参数。

在具体实现中，先确定不同的发光二极管照射在所述显示区域上的发光区域，并对所述发光区域的发光参数进行检测，具体会检测所述发光区域的发光面积以及所述发光区域的灰度值大小。其中，所述发光面积为所述发光二极管发光时，亮度值在预设值范围内的面积，这里的亮度值为人的肉眼主观上的亮度感受，输出的亮度值与发光区域的发光面积成正比，输出亮度值越大，人眼主观感知的这个发光面积就越大。而所述发光区域的灰度值大小表征显示设备的实际客观亮度。发光面积的大小和预设值范围有关，因此发光面积可以大于发光区域面积的大小，但是在现实的检测过程中，一般通过设定亮度值的预设值范围使得发光面积小于或等于发光区域的面积。

步骤s40：获取所述背光灯板的标准发光参数。

可理解的是，所述标准发光参数为所述背光灯板的每个发光区域的发光参数需要满足的条件，即led背光灯板高低亮度视觉检测结果的标准，只有满足这个条件的发光区域才是正常的，不满足这个条件的发光区域为背光灯板的异常发光区域；

具体地，所述标准发光参数可以是人为设定的，也可以是计算机系统自动生成的。

优选地，本实施例的所述标准发光参数是由检测设备在对显示设备的背光灯板检测过程中自动生成为例进行说明：

在所述获取所述背光灯板的标准发光参数的步骤之前，所述检测设备求取各个待检测发光参数的平均值，将各个待检测发光参数的平均值作为所述背光灯板的标准发光参数；将所述标准发光参数保存到预设存储区域。

具体地，检测设备会计算各个发光二极管照射在所述显示区域上的发光区域的发光面积、以及发光区域的灰度值大小；然后将得到的显示区域上的各个发光区域的发光面积的平均值、以及各个发光区域的灰度值的平均值，用这两个平均值表征所述标准发光参数。

步骤s50：对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；

步骤s60：在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述显示区域中的位置。

在具体实现中，检测设备会将每个发光区域的发光面积与各个发光区域的发光面积的平均值进行比较，筛选出面积小于发光面积平均值的异常发光区域；同时，还会将每个发光区域的灰度与各个发光区域的灰度值平均值进行比较，筛选出灰度小于灰度值平均值的异常发光区域；

如果面积不小于发光面积平均值则说明该发光区域工作正常，如果灰度大于灰度值平均值则说明该发光区域工作正常。

最后，所述检测设备会输出面积小于发光面积平均值的异常发光区域，以及灰度小于灰度值平均值的异常发光区域。

本实施例首先获取待测显示设备的背光灯板的显示区域，并确定各个发光二极管在显示区域上对应的发光区域；然后获取各个发光区域的待检测发光参数；同时获取所述背光灯板的标准发光参数；最后对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与标准发光参数进行比较，将当前发光参数小于标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；在遍历结束时，确定各个异常发光区域在显示区域中的位置。通过本实施例的检测方案能够实现显示设备在生产过程中，检测设备能够自动检测显示设备的背光灯板的异常发光区域，能够代替人工的繁琐检测操作，提高了检测效率。

进一步地，如图3所示，基于本发明方法第一实施例提出本发明一种显示设备背光灯板的检测方法的第二实施例，本实施例的所述标准发光参数是由检测设备在对显示设备的背光灯板进行检测的过程中自动生成的，所述待检测发光参数为发光区域的发光面积和灰度值：

在本实施例中，首先会对待测显示设备的背光灯板进行图像处理以确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域，即首先执行与上述第一实施例相同的步骤s10和步骤s20，然后再执行步骤s30，所述步骤s30具体为：

步骤s30`：分别对各个发光区域的发光面积进行量测，得到各个发光区域对应的目标面积；分别对各个发光区域的灰度值进行量测，得到各个发光区域对应的目标灰度值；

进一步地，在步骤s30`之后，执行步骤s40，所述步骤s40具体为：

步骤s40`：求取各个目标面积的面积平均值，将所述面积平均值作为所述背光灯板的发光面积标准；求取各个目标灰度值的灰度平均值，将所述灰度平均值作为所述背光灯板的灰度标准。

本实施例在步骤s40`之后，会执行以下步骤，具体为：

步骤s10`：对待测显示设备的背光灯板进行图像采集，对采集到的灯板图像进行滤波处理，将滤波处理后的灯板图像作为待测灯板图像；从待测灯板图像中获取所述背光灯板的待测显示区域；

具体地，步骤s10`表征为再次执行与所述步骤s10相似的流程，基于灰度划分算法从滤波处理后的灯板图像中获取所述背光灯板的显示区域。

步骤s20`：获取所述待测显示区域上的每个发光二极管对应的目标发光区域；

具体地，步骤s20`表征为再次执行与所述步骤s20相似的流程，具体的，获取所述发光二极管在所述显示区域上的位置，并在所述显示区域上获取每个所述发光二极管与其周侧所述发光二极管连线的中点；

将所述中点相连形成围绕所述发光二极管的区域为单个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域。

当发光二极管的周侧有显示区域的边沿时，则中点的连线与边沿形成的围绕发光二极管的区域为该单个发光二极管在显示区域对应的发光区域。单个发光二极管的发光区域的面积为显示区域面积与发光二极管数量的比值。

具体地，分别对各个发光二极管在所述待测显示区域的输出亮度值进行量测，将大于预设亮度阈值的输出亮度值的作为单个发光二极管在所述待测显示区域上对应的发光区域；

步骤s30``：分别对各个目标发光区域的发光面积进行量测，得到各个目标发光区域对应的目标待检测面积；分别对各个目标发光区域的灰度值进行量测，得到各个目标发光区域对应的目标待检测灰度值；

在执行完步骤s10`至步骤s30``之后，再执行步骤s50，本实施例中，所述步骤s50具体为：

步骤s50`：对各个目标发光区域的目标待检测发光面积进行遍历，将遍历到的当前待检测发光面积与所述发光面积标准进行比较，将所述当前待检测发光面积小于所述发光面积标准的目标发光区域作为异常发光区域；

对各个目标发光区域的目标待检测灰度值进行遍历，将遍历到的当前待检测灰度值与所述灰度标准进行比较，将所述当前待检测灰度值小于所述灰度标准的目标发光区域作为异常发光区域。

最后执行所述步骤s60，本实施例中，所述步骤s60具体为：

s60`：在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述待测显示区域中的位置。

可理解的是，本实施例会对待测显示设备的背光灯板进行两次图像处理操作，第一个图像处理阶段是用于自动生成衡量背光灯板高低亮度视觉检测结果的标准，即在确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域后，立刻去获取各个发光区域的发光面积和灰度值，然后通过获取到的发光面积生成发光面积标准、以及通过获取到的灰度值来生成灰度标准；

而第二个图像处理阶段则是用于对异常发光区域进行检测，即重新对待测显示设备的背光灯板进行图像采集以获得各个目标发光区域的当前待检测发光面积和当前待检测灰度值，将当前待检测发光面积和当前待检测灰度值与第一个图像处理阶段中生成的标准平均值(发光面积标准、灰度标准)进行比较，进而能够准确地检测led背光灯板的异常发光区域。

进一步地，本发明还提出一种显示设备背光灯板的检测装置实施例，参照图4，图4为本发明显示设备背光灯板的显示设备背光灯板的检测装置实施例的结构框图。

如图4所示，本发明实施例还提出的测试用例的展示装置包括：采集模块10，确定模块20，检测模块30，获取模块40，比较模块50，输出模块60；

本实施例中，所述显示设备背光灯板的检测装置可以是部署在上述检测设备中，所述检测设备也可以表征上述显示设备背光灯板的检测程序；其中：

采集模块10,用于获取待测显示设备的背光灯板的显示区域；

具体地，通过所述设备的摄像头对待测显示设备的背光灯板进行拍摄采样。

确定模块20，用于确定各个发光二极管在所述显示区域上对应的发光区域；

具体地，可通过图像中值滤波，将图像的显示区域以外的规则噪声滤除，减少图像检测的干扰；然后基于灰度划分算法从滤波处理后的灯板图像中获取所述背光灯板的显示区域。

检测模块30，用于获取各个发光区域的待检测发光参数；

具体地，确定发光二极管照射在所述显示区域上的发光区域，并对所述发光区域的发光参数进行检测，具体会检测所述发光区域的发光面积大小以及所述发光区域的灰度值大小。

获取模块40，用于获取所述背光灯板的标准发光参数；

具体地，会计算各个发光二极管照射在所述显示区域上的发光区域的发光面积以及发光区域的灰度值大小；然后将得到的显示区域上的各个发光区域的发光面积的平均值、以及各个发光区域的灰度值的平均值，用这两个平均值表征所述标准发光参数。

比较模块50，用于对各个发光区域的待检测发光参数进行遍历，将遍历到的当前发光参数与所述标准发光参数进行比较，将所述当前发光参数小于所述标准发光参数的发光区域作为异常发光区域；

具体地，将每个发光区域的发光面积与各个发光区域的发光面积的平均值进行比较，筛选出面积小于发光面积平均值的异常发光区域；同时，还会将每个发光区域的灰度与各个发光区域的灰度值平均值进行比较，筛选出灰度小于灰度值平均值的异常发光区域；

如果面积不小于发光面积平均值则说明该发光区域工作正常，如果灰度大于灰度值平均值则说明该发光区域工作正常。

输出模块60，用于在遍历结束时，确定各个异常发光区域在所述显示区域中的位置；即输出面积小于发光面积平均值的异常发光区域，以及灰度小于灰度值平均值的异常发光区域。

本实施例的显示设备背光灯板的显示设备背光灯板的检测装置具体实施方式详解上述显示设备背光灯板的检测方法实施例，本实施例不加以赘述。

进一步地，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有显示设备背光灯板的检测程序，所述显示设备背光灯板的检测程序配置为实现如上所述的显示设备背光灯板的检测方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。