技术总结
本发明公开了一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置，包括竖直设置的保温套筒，所述保温套筒包括竖直设置的样品放置筒，所述样品放置筒的内部区域为加热腔，所述样品放置筒采用导热绝缘材料制成，所述样品放置筒内表面中部设有晶体固定机构，所述样品放置筒外表面均匀布置有加热丝，形成加热层。本发明还公开了上述实验装置的实验方法。本发明通过在样品放置筒的正上方设置光电探测器对加热后的样品晶体的闪烁衰减时间进行检测，发现其闪烁衰减时间从原来的36‑42ns变成了8‑12ns；克服了本领域技术人员认为LYSO晶体闪烁不能用于高重频实验的技术偏见。
技术研发人员：张小丁;江孝国;丁栋舟;侯伟;李一丁;龙全红;魏涛;杨国君
受保护的技术使用者：中国工程物理研究院流体物理研究所
技术研发日：2019.10.31
技术公布日：2020.01.03