1.一种使用脉冲光罩的液闪测量方法，其特征在于，所述的测量方法包括：
步骤一，电子学原始数据建立步骤，在液闪测量仪第一次使用时，将脉冲光源设置在样品承载单元内，所述的脉冲光罩为无底部的瓶状结构，包括光罩盖，和光罩主体，光罩盖可盖住光罩主体上部开口，将脉冲光罩罩住所述脉冲光源，控制脉冲光源在不同闪光频率下工作，通过光电倍增管获取多组该光电倍增管采集到的单位时间内的实际计数cpm与和三重-双重符合比值tdcr值，所述的脉冲光源为系统自带的脉冲光源，峰值闪光能力小于20焦耳，脉冲宽度为0.2-0.8s，闪光频率可调节范围约为60-100次/分钟；
步骤二，电子学数据监测步骤，在每次标准样品和待测样品测量前，均通过步骤一所述的脉冲光源进行电子学数据监测，具体步骤为，打开脉冲光源，设定闪光频率，与步骤一一样使用脉冲光罩罩住脉冲光源，记录当前的cpm和tdcr值，至少储存记录两组数据；
步骤三，计算步骤，将所述步骤一中的cpm和tdcr值进行数据拟合得到拟合曲线，计算步骤二中最后一次cpm值与倒数第二次cpm值的差值；
步骤四，逻辑判断步骤，如果步骤三中所述的差值为零或者在设定的阈值范围内，则直接将所述最后一次cpm值对应的tdcr值与倒数第二次cpm值对应的tdcr值进行比较得到tdcr值的差值；如果所述差值在设定的阈值范围外，则将所述最后一次cpm值代入所述拟合曲线进行对应tdcr值的计算，将计算得到的tdcr值与倒数第二次cpm值对应的tdcr值进行比较得到tdcr值的差值；两种所述的tdcr值的差值在设定的阈值范围内则表示电子学淬灭的影响不大可提示用户继续进行步骤六的样品测量，而如果所述tdcr值的差值在设定的阈值范围外则表示电子学淬灭的影响较大会引起较大测量误差，需要提示用户进行电子学器件和线路的检查并进行步骤五；
步骤五，电子学数据更新步骤，当修复电子学器件和线路后重复步骤四直到所述的tdcr值的差值在设定的阈值范围内，将所述的最后一次cpm值对应的tdcr值进行储存作为下一次逻辑判断的比较数据；
步骤六，进行常规的淬灭校正步骤和待测样品测量步骤。
2.如权利要求1所述的液闪测量方法，其特征在于：所述脉冲光罩的主体材质和形状，所述标准样品的容器的材质和形状以及所述待测样品的容器的材质和形状均相同。