全自动石英晶片外观挑选机的制作方法

本发明涉及一种外观挑选机,特别涉及一种全自动石英晶片外观挑选机。

背景技术：

石英晶体是硅石的一种，是目前世界上用量最大的晶体。利用石英晶体本身的物理特性制作的电子元件，具有很高的频率稳定性，广泛用于数字电路、计算机、通讯等领域。它的作用就是在电子线路中作为频率源或频率基准。随着通讯、电子技术的发展，对石英晶片的需求量也相应大幅度上升。天然的和人工制造的石英晶体都是六角锥形，具有各向异性的物理特性。晶振中的各种晶片，就是按照与各轴不同角度，切割成正方形、长方形、圆形的薄片，不同切型的晶片性能有所不同。石英晶片在晶片分频后需要进行外观的检测，外观检测的目的是剔除崩边、亮点、表面污染等影响晶体电性能的缺陷。传统的外观测试采用人工放大镜方式肉眼观察，检测速度慢、判断有误差，工作效率低，因此目前需要研发出一种检测效率高的全自动石英晶片外观挑选机。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种检测效率高的全自动石英晶片外观挑选机。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括机台，所述机台上设置有旋转电机、振动上料盘、晶片正面检测机构、晶片反面检测机构、第一下料吹气机构、第二下料吹气机构、良品下料盘及不良品下料盘，所述旋转电机上配合设置有转盘，所述振动上料盘、所述晶片正面检测机构、所述晶片反面检测机构、所述良品下料盘及所述不良品下料盘依次配合设置在所述转盘的外部，所述第一下料吹气机构、第二下料吹气机构均位于所述转盘的上方，且分别与所述良品下料盘及所述不良品下料盘配合。

进一步，所述晶片正面检测机构包括第一检测支座，所述第一检测支座上设置有第一相机及第一光源座，所述第一相机位于在所述转盘的下方，所述第一光源座位于所述转盘的上端面上，且位于所述第一相机的正上方，所述第一光源座中内嵌有第一光源。

进一步，所述晶片反面检测机构包括第二检测支座，所述第二检测支座上设置有第二相机及第二光源座，所述第二相机位于在所述转盘的上方，所述第二光源座位于所述转盘的下端面上，且位于所述第二相机的正下方，所述第二光源座中内嵌有第二光源。

进一步，所述机台上还设置有吹气机构支撑架，所述第一下料吹气机构及所述第二下料吹气机构均设置在所述吹气机构支撑架上。

进一步，所述的全自动石英晶片外观挑选机还包括晶片外观显示屏及温度显示器，所述晶片正面检测机构及所述晶片反面检测机构均与所述晶片外观显示屏相配合，所述温度显示器设置在所述转盘上端面的中部。

进一步，所述转盘上的圆周方向上开有晶片运输槽，所述晶片运输槽与所述振动上料盘配对接。

本发明的有益效果是：相对于传统技术通过人工进行检测而存在工作效率低的状况，在本发明实施例中，所述振动上料盘配置于对石英晶片进行上料，所述转盘配置于将所述振动上料盘的石英晶片进行运输，所述晶片正面检测机构配置于对所述转盘上的石英晶片的正面进行外观检测，所述晶片反面检测机构配置于对所述转盘上的石英晶片的反面进行外观检测，所述第一下料吹气机构配置于将外观检测合格的石英晶片吹到所述良品下料盘中，所述第二下料吹气机构配置于将外观检测不合格的石英晶片吹到所述不良品下料盘中，所述转盘、所述振动上料盘、所述晶片正面检测机构、所述晶片反面检测机构、所述第一下料吹气机构、第二下料吹气机构、所述良品下料盘及所述不良品下料盘的设置使得本发明具有检测效率高的优点，所以，本发明具有检测效率高的优点。

附图说明

图1是本发明的平面结构示意图；

图2是晶片正面检测机构的平面结构示意图；

图3是晶片反面检测机构的平面结构示意图。

具体实施方式

如图1至图3所示，在本实施例中，本发明包括机台1，所述机台1上设置有旋转电机2、振动上料盘3、晶片正面检测机构4、晶片反面检测机构5、第一下料吹气机构6、第二下料吹气机构7、良品下料盘8及不良品下料盘9，所述旋转电机2上配合设置有转盘10，所述振动上料盘3、所述晶片正面检测机构4、所述晶片反面检测机构5、所述良品下料盘8及所述不良品下料盘9依次配合设置在所述转盘10的外部，所述第一下料吹气机构6、第二下料吹气机构7均位于所述转盘10的上方，且分别与所述良品下料盘8及所述不良品下料盘9配合。所述转盘10为玻璃转盘，相对于传统技术通过人工进行检测而存在工作效率低的状况，在本发明实施例中，所述振动上料盘3配置于对石英晶片进行上料，所述转盘10配置于将所述振动上料盘3的石英晶片进行运输，所述晶片正面检测机构4配置于对所述转盘10上的石英晶片的正面进行外观检测，所述晶片反面检测机构5配置于对所述转盘10上的石英晶片的反面进行外观检测，所述第一下料吹气机构6配置于将外观检测合格的石英晶片吹到所述良品下料盘8中，所述第二下料吹气机构7配置于将外观检测不合格的石英晶片吹到所述不良品下料盘9中，所述转盘10、所述振动上料盘3、所述晶片正面检测机构4、所述晶片反面检测机构5、所述第一下料吹气机构6、第二下料吹气机构7、所述良品下料盘8及所述不良品下料盘9的设置使得本发明具有检测效率高的优点。

在本实施例中，所述晶片正面检测机构4包括第一检测支座401，所述第一检测支座401上设置有第一相机402及第一光源座403，所述第一相机402位于在所述转盘10的下方，所述第一光源座403位于所述转盘10的上端面上，且位于所述第一相机402的正上方，所述第一光源座403中内嵌有第一光源。所述第一相机402配置于对石英晶片的一面进行外观检测。

在本实施例中，所述晶片反面检测机构5包括第二检测支座501，所述第二检测支座501上设置有第二相机502及第二光源座503，所述第二相机502位于在所述转盘10的上方，所述第二光源座503位于所述转盘10的下端面上，且位于所述第二相机502的正下方，所述第二光源座503中内嵌有第二光源。所述第二相机502配置于对石英晶片的另一面进行外观检测。

在本实施例中，所述机台1上还设置有吹气机构支撑架11，所述第一下料吹气机构6及所述第二下料吹气机构7均设置在所述吹气机构支撑架11上。

在本实施例中，所述的全自动石英晶片外观挑选机还包括晶片外观显示屏及温度显示器12，所述晶片正面检测机构4及所述晶片反面检测机构5均与所述晶片外观显示屏相配合，所述温度显示器12设置在所述转盘10上端面的中部。所述晶片外观显示屏配置于显示检测时所拍摄的石英晶片，使得使用者能够直观的观察到检测过程，所述温度显示器12配置于显示检测时所处的环境温度。

在本实施例中，所述转盘10上的圆周方向上开有晶片运输槽13，所述晶片运输槽13与所述振动上料盘3配对接。

虽然本发明的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本发明含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。