1.一种用于双能x射线检测的复合探测器，包括顺次连接的低能探测器(8)、第一胶粘剂层(10)、滤波片(7)、第二胶粘剂层(11)和高能探测器(9)，其特征在于，所述的低能探测器(8)采用铽掺杂硫氧化钆薄膜光电二极管阵列的光电转换器件，或者，采用如下的光电转换器件，所述的光电转换器件中针状或者柱状csi:tl单晶构成的多晶薄膜(3)（以下简称多晶薄膜(3)）的厚度不小于10微米，不大于500微米；所述的高能探测器(9)使用如下的光电转换器件，所述的光电转换器件的多晶薄膜(3)的厚度不小于100微米，不大于5毫米；所述的光电转换器件包括线阵基板(1)和附着在线阵基板(1)上的光电二极管线阵(2)，多晶薄膜(3)，背板(4)，胶粘剂层(5)；多晶薄膜(3)的第一表面和背板(4)连接，多晶薄膜(3)第二表面与光电二极管线阵(2)连接，线阵基板(1)、光电二极管线阵(2)、多晶薄膜(3)和背板(4)的周围通过胶粘剂形成的胶粘剂层(5)粘接。
2.如权利要求1所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的光电转换器件的背板(4)与多晶薄膜(3)连接的表面的光反射率大于90%，或者背板(4)的表面材料的光折射指数大于多晶薄膜(3)的光折射指数。
3.如权利要求1或2所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，在所述的光电转换器件的光电二极管线阵(2)和多晶薄膜(3)之间有透明胶粘剂层(6)，所述的胶粘剂层(5)和透明胶粘剂层(6)为同一种材料或不同材料。
4.如权利要求1或2所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的滤波片(7)的厚度不小于0.1毫米，不大于5毫米。
5.如权利要求3所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的滤波片(7)的厚度不小于0.1毫米，不大于5毫米。
6.如权利要求1或2所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于x射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。
7.如权利要求3所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于x射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。
8.如权利要求4所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于x射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。
9.如权利要求5所述的一种用于双能x射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于x射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。