1.一种太赫兹光谱测量样品架，用于太赫兹光谱测量系统，其特征在于，包括样品固定座(1)和升降伸缩台(2)，所述样品固定座(1)通过三根螺杆(5)分别与该升降伸缩台(2)的三个臂(21)相连，该升降伸缩台(2)与一步进电机(3)电连接；其中，所述升降伸缩台(2)为三维升降台。
2.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述步进电机(3)上设有用于切换升降伸缩台(2)的移动方向和步长的控制开关(31)。
3.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品固定座(1)包括一槽状的底座(11)以及设置于底座(11)中的样品放置皿(12)。
4.根据权利要求3所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品放置皿(12)的中央位置处具有一样品腔(121)。
5.根据权利要求4所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品腔(121)的四周设有标尺(6)。
6.根据权利要求4所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品腔(121)位于所述太赫兹光谱测量系统的光路的光轴上。
7.根据权利要求3所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述底座(11)采用不锈钢板、铝合金或者铜板制成。
8.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述升降伸缩台(2)的移动方向包括相对于所述太赫兹光谱测量系统的光路的光轴的左右、上下、前后移动。
9.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述升降伸缩台(2)通过一连接线(4)与所述步进电机(3)电连接。