光谱仪用全反射装置的压样头的制作方法

本实用新型属于光谱分析领域，特别涉及一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置的压样头。

背景技术：

傅里叶变换红外光谱仪(ftir)一般在其干涉仪输出光与检测器之间会设置样品仓，通过在样品仓内放置适当的透射、反射等测试装置并将样品以适当固定，可实现样品的透射光谱、反射光谱测量。

衰减全反射装置(atr)作为一种高灵敏光信号测试技术，将样品放置在晶体的表面，引导光束透过晶体照射到样品表面，通过测量样品表面的反射信号来提取有效光谱信息，简化了样品的制作过程，同时也极大地拓展了光谱法的应用范围，已被广泛应用于纤维、塑料、涂料、橡胶、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。

atr与ftir光谱仪相结合，发挥二者的优势，就可以在更多场合取得应用、获取更好的光谱测试灵敏度、信噪比和样品材料性质。在实际应用中，样品需要手动放置在atr的晶体表面，且需要尽量放置在晶体的中心，通过移动压头后压紧样品，才可能获取到更好的带有样品信息的光谱图。有些样品是不规则的小颗粒，不容易拿住放置在晶体上，更不容易放置在晶体的中心处；一般的压头移动后压住样品时，可能将样品“压飞”，对样品测试带来很大的麻烦。

技术实现要素：

本实用新型提供一种光谱仪用全反射装置的压样头，以解决压头压住样品时的不方便的操作。该压样头有利于实现形状不规则、尺寸不统一的颗粒样品在光谱分析仪器上固定测试，而且操作简单方便。

本实用新型采用的技术解决方案如下：

一种光谱仪用全反射装置的压样头，其特点在于：包括压头杆、样品圈、压缩弹簧、弹簧罩和固定座；

所述的压样杆的上端与所述的固定座相连，下端即压样端呈内凹结构，所述的样品圈下端的内侧具有向外开口结构，所述的样品圈同轴地套在所述的压样杆外，所述的样品圈套在所述的弹簧罩中；该弹簧罩的上端与所述的固定座接触，在所述的样品圈和弹簧罩之间嵌入所述的压缩弹簧，所述的压头杆和样品圈之间可产生相对的上下移动。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型光谱仪用全反射装置的压样头，适用于单个颗粒样品或堆积的多个样品的光谱测试；当晶体上方堆积多个样品时，移动压样头的样品圈可抓取部分颗粒，继续向下移动压样头，其压样杆将压住抓取的一个或多个样品；样品圈和压样杆抓取和压紧颗粒样品后，样品不容易跑出压头而固定在晶体上方。本实用新型特别方便颗粒形状不规则、尺寸大小不统一的样品进行atr光谱测试。

附图说明

图1为本实用新型光谱仪用全反射装置的压样头的总体示意图；

图2为本实用新型未压样品、自由状态时的装置状态示意图；

图3为本实用新型压样杆的示意图；

图4为本实用新型样品圈的示意图；

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明，但不应以此限制本实用新型的保护范围。

先请参见图1，本实用新型光谱仪用全反射装置的压样头，包括压头杆1、样品圈2、压缩弹簧3、弹簧罩4和固定座5，

所述的压样杆1的上端与所述的固定座5相连，下端即压样端呈内凹结构101，所述的样品圈2下端的内侧具有向外开口结构201，所述的样品圈2同轴地套在所述的压样杆1外，所述的样品圈2套在所述的弹簧罩4中；该弹簧罩4的上端与所述的固定座5接触，在所述的样品圈2和弹簧罩4之间嵌入所述的压缩弹簧3，所述的压头杆1和样品圈2之间可产生相对的上下移动。

压样杆1的压样端有内凹结构101(如图3)。

样品圈2一端的内侧具有外开口结构(如图4)。

请参见图2，压样头未压样品的自由状态时，压样杆1的圆柱面103和样品圈2的内圆柱面203配合，两者可以沿圆柱面轴线相对移动。由于压缩弹簧3推力的作用，压样杆1的外台阶102和样品圈2的内台阶202紧密靠在一起。当有样品特别是多个样品放置到晶体上方时，固定座5带动整个压样头向晶体方向移动，样品圈2的外开口结构201将抓取到部分颗粒样品。压样头继续向下晶体方向移动时，外开口结构201触碰到晶体表面而不能移动，此时压样杆1可继续向下移动，其下端部内凹结构101将压住已经抓取的颗粒样品中的一个或多个，从而将样品固置在晶体表面。压样头移动可以紧紧地将样品压住在晶体的表面，样品不容易飞出压样头，此时能够测到更好的带有样品信息的光谱图。

本实用新型的光谱仪用全反射装置的压样头，能够方便实现颗粒类样品的压紧测试，结构简单、布局紧凑。

在以上叙述和说明中对本实用新型所进行的描述只是说明而非限定性的，且在不脱离如所附权利要求书所限定的本实用新型的前提下，可以对上述实施例进行各种改变、变形、或修正。

技术特征：

1.一种光谱仪用全反射装置的压样头，其特征在于：包括压样杆(1)、样品圈(2)、压缩弹簧(3)、弹簧罩(4)和固定座(5)；

所述的压样杆(1)的上端与所述的固定座(5)相连，下端即压样端呈内凹结构(101)，所述的样品圈(2)下端的内侧具有向外开口结构(201)，所述的样品圈(2)同轴地套在所述的压样杆(1)外，所述的样品圈(2)套在所述的弹簧罩(4)中；该弹簧罩(4)的上端与所述的固定座(5)接触，在所述的样品圈(2)和弹簧罩(4)之间嵌入所述的压缩弹簧(3)，所述的压样杆(1)和样品圈(2)之间可产生相对的上下移动。

技术总结
一种光谱仪用全反射装置的压样头，包括压样杆、样品圈、压缩弹簧、弹簧罩和固定座。本实用新型有利于实现形状不规则、尺寸不统一的颗粒样品在光谱分析仪器上固定测试，而且操作简单方便。

技术研发人员：郑留念;李纪华;黄磊
受保护的技术使用者：荧飒光学科技(上海)有限公司
技术研发日：2019.05.22
技术公布日：2020.05.05