本实用新型涉及膜厚仪设备技术领域，具体来说涉及一种光学膜层厚度测量仪。
背景技术：
膜厚仪是通过光学方式对真空镀膜机进行镀膜厚度的厚度进行检测，而目前用于检测真空镀膜机的镀膜厚度的设备为外购2v表头装在膜厚仪上来显示厚度数据，其显示范围为0.0－199.9，在实际的使用过程中，发现现有的膜厚仪的显示范围不够，有些膜层与膜层间要不断的调节档位才能使显示数字在可用范围，因为在对镀膜厚度的厚度机械检测的时候数字变化要够明显，如果数字小了变化很小，分辨不出来变化量，太大了超过199.9又看不到。
可见，现阶段在实际使用过程中遇到问题，亟待解决。
技术实现要素：
鉴于现有技术存在的上述问题，本实用新型的一方面目的在于提供一种光学膜层厚度测量仪，数字变化的分为得到增加，便于在检测后对镀膜厚度变化量的展示。
为了实现上述目的，本实用新型提供的一种光学膜层厚度测量仪，包括：
一机体，所述机体的正面设置有控制面板；
一电路主板，所述电路主板位于所述机体的内部，且所述电路主板的两个支脚均与所述机体内侧底部固定安装的固定板相连接，并与所述控制面板电性连接。
作为优选，电路中设置的lm311电压比较器，且电路采用200v为电源，所述lm311电压比较器的引脚一连接有器保护作用的电阻r26，用于接收膜厚仪厚度信号，所述lm311电压比较器的引脚四设置有接地保护，所述lm311电压比较器的引脚七与所述引脚一之间并联有电容c13，还包括电路中与所述引脚七与所述引脚一并联的放大器，所述放大器一个引脚串联有电阻r45和电阻r2，另一个引脚连接有二极管d1，所述二极管d1的一个引脚连接有接地保护，所述电阻r45和电阻r2之间的引脚并联有电阻r37，所述电阻r37的一个引脚设置有接地保护，所述电阻r2的电缆头连接有控制电阻按预设规律变化的电位器rp1，所述lm311电压比较器的引脚三串联有保护电路的电阻r4和cpld数字逻辑处理芯片，所述lm311电压比较器的引脚二串联有电阻r1和可变电阻vr1，所述lm311电压比较器的引脚五连接有旁路电容pc1，所述旁路电容pc1的一个引脚接地保护，所述lm311电压比较器的引脚六与所述引脚五并联有分别设置了电阻r3、电阻r12、电阻r11，所述电阻r3、电阻r12、电阻r11为串联线路，且位于电阻r11的一个引脚上设置有接地保护。
作为优选，所述放大器两侧的引脚分别连接着12v直流电源的正极和12v直流电源的负极极，用于稳定电流。
作为优选，所述cpld数字逻辑处理芯片进行数字展示用的数码管。
有益效果
与现有技术相比较，本实用新型提供的一种光学膜层厚度测量仪，在作用的时候，电压信号从a1的引脚一输入，经lm311电压比较器的v/f变换，使得电压转换为0-1khz的频率信号，可变电阻vr1调节最低频率，电位器rp1调节最高频率。a1的引脚三输出的频率信号到cpld数字逻辑处理芯片与基准11mhz比对，形成膜厚数据，由4位数码管显示出0－999.9的数字显示。解决了现阶段膜厚仪在实际检使用过程中，由于显示范围值域的较小，而分辨不出变化量的大小，增加了显示范围的值域，便于装置对膜厚度进行检测的时候厚便于分辨变化量。
应当理解，前面的一般描述和以下详细描述都仅是示例性和说明性的，而不是用于限制本公开。
本申请文件提供本公开中描述的技术的各种实现或示例的概述，并不是所公开技术的全部范围或所有特征的全面公开。
附图说明
图1为本实用新型结构总体示意图；
图2为本实用新型结构电路图。
主要附图标记：
1、机体；2、电路主板；3、固定板；4、控制面板；5、lm311电压比较器；6、cpld数字逻辑处理芯片；7、数码管。
具体实施方式
为了使得本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，还可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了已知功能和已知部件的详细说明。
请参阅图1-2，一种光学膜层厚度测量仪，包括一机体1，一电路主板2。
如图1所示，在机体1的正面设置有控制面板4，并且电路主板2通过机机体1内侧底部固定安装的固定板3进行安装，并与控制面板4电性连接，通过控制面板4进行控制装置的启动和和对膜厚度范围的展示，而用于数值展示的晶码管位于控制面板4上(并未在附图中进行标注)，便于使用者直观的了解到膜厚度之的变化量。
而在目前市场的的膜厚仪都是通过外购2v表头安装在膜厚仪上用来显示镀膜之后膜厚度的变化量，其显示的范围在0.0-199.9这个值域。
本实用中提出的进一步的改进方案中，如图2所示，为电路主板2的电路连接，具体的在电路中设置的lm311电压比较器5，lm311电压比较器5的引脚一连接有器保护作用的电阻r26，用于接收膜厚仪厚度信号，lm311电压比较器5的引脚四设置有接地保护，lm311电压比较器5的引脚七与引脚一之间并联有电容c13，还包括电路中与引脚七与引脚一并联的放大器，放大器一个引脚串联有电阻r45和电阻r2，另一个引脚连接有二极管d1，二极管d1的一个引脚连接有接地保护，电阻r45和电阻r2之间的引脚并联有电阻r37，电阻r37的一个引脚设置有接地保护，电阻r2的电缆头连接有控制电阻按预设规律变化的电位器rp1，lm311电压比较器5的引脚三串联有保护电路的电阻r4和cpld数字逻辑处理芯片6，lm311电压比较器5的引脚二串联有电阻r1和可变电阻vr1，lm311电压比较器5的引脚五连接有旁路电容pc1，旁路电容pc1的一个引脚接地保护，lm311电压比较器5的引脚六与引脚五并联有分别设置了电阻r3、电阻r12、电阻r11，电阻r3、电阻r12、电阻r11为串联线路，且位于电阻r11的一个引脚上设置有接地保护，并且在放大器两侧的引脚分别连接着12v直流电源的正极和12v直流电源的负极极，用于稳定电流了，在电路中还包括用于cpld数字逻辑处理芯片6进行数字展示用的数码管7，因为电压信号从a1的引脚一输入，经电压比较器lm311的v/f变换，使得电压转换为0-1khz的频率信号，可变电阻vr1调节最低频率，电位器rp1调节最高频率，a1的引脚三输出的频率信号到cpld与基准11mhz比对，形成膜厚数据，由4位数码管显示出0－999.9的数字显示，从而增大了设备的反应膜厚度的值域范围，便于使用者分辨出变化量的大小。
再者，本实用提供的装置，可直接与市电及220v相连，作为设备的启动电源。
本领域技术人员可以理解的是，其他类似连接方式也可以实现本实用新型，例如焊接、粘接或者螺接等方式。
以上实施例仅为本实用的示例性实施例，不用于限制本实用，本实用的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本实用的实质和保护范围内，对本实用做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本实用的保护范围内。