一种显微透过率检测仪的制作方法

本实用新型涉及透过率测试技术领域，尤其是指一种显微透过率检测仪。

背景技术：

显微透过率测试仪是在传统光谱分析基础上发展起来的一种采集空间微米区域光信号的分析装置。对于许多产品，透过率是判别是否合格的重要指标，像手机盖板ir(infraredradiation，红外线)孔、遥控器等产品，对光线的透过率要求非常严格。对于这种小孔径或者异形小材料的透过率测试，由于尺寸较小，通常采用显微透过率测试仪进行测量。

但是，现有的显微透过率测试仪在外界环境中检测中会经常受到杂散光的影响，从而导致检测数据会与真实值有偏差，最终影响产品的使用质量。该缺陷十分明显，亟需一种有效的解决方案。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足提供一种结构简单紧凑，使用简便，在检测中能够有效消除杂散光，减少外部光的干扰，提高检测数据的准确性的微透过率检测仪。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型提供的一种显微透过率检测仪，其包括自上至下依次设置的物镜、消光装置以及光接收件，所述物镜用于对外界的发光源所发出的检测光线进行聚焦并照射到外界的待检测样品，所述消光装置用于对透过外界的待检测样品后的检测光的杂散光以及对透过外界的待检测样品的外界光进行消除，所述光接收件用于接收经过消光装置处理后的检测光线。

其中的，所述消光装置包括设置于光接收件的上方的消光腔室及设置消光腔室的消光光阑，所述消光光阑与消光腔室的顶部连通，所述消光腔室的底部与光接收件连通。

进一步的，所述消光腔室的内壁为经过消光处理的消光腔壁，所述光接收件与消光腔室连通的表面设置有用于将外界经由消光光阑进入消光腔室的杂散光反射至消光腔室的消光腔壁的反射结构。

进一步的，所述反射结构为凹凸状的反射面。

进一步的，所述反射面的凹凸状为菱形或者锯齿形结构。

其中的，所述光接收件为积分球，所述积分球的顶部设有与消光腔室连通的收光孔，所述收光孔位于消光光阑的下方。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供的一种显微透过率检测仪，在实际应用中，将外界的待检测样品放置在物镜与消光装置之间，在与物镜同一光轴的发光源发出检测光线，检测光线先经过物镜进行聚焦并打到待检测的样品上，检测光穿过样品后进入消光装置，此时消光装置便对检测光自身带有的杂散光以及对穿过样品的外界光进行消除，以避免外界光和杂散光对检测光造成干扰；经过消光装置处理后的检测光便被光接收件接收，并由外界的与光接收件连接的检测仪器对光接收件所接收的检测光进行检测。本实用新型通过消光装置的设置，可以有效地对检测光以外的杂散光和外界光进行消除，只允许检测光进入光接收件，由此大大地减少外部环境对检测光的干扰，从而提高本实用新型的检测数据的准确性；同时，本实用新型可以代替传统的暗箱测试，由此提高检测效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

附图标记说明

1-物镜；2-消光装置；21-消光腔室；22-消光光阑；23-消光腔壁；3-光接收件；31-反射结构；32-收光孔；01-待检测样品。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1所示，本实用新型提供的一种显微透过率检测仪，其包括自上至下依次设置的物镜1、消光装置2以及光接收件3，所述物镜1用于对外界的发光源所发出的检测光线进行聚焦并照射到外界的待检测样品，所述消光装置2用于对透过外界的待检测样品后的检测光的杂散光以及对透过外界的待检测样品的外界光进行消除，所述光接收件3用于接收经过消光装置2处理后的检测光线。

在实际应用中，将外界的待检测样品放置在物镜1与消光装置2之间，在与物镜1同一光轴的发光源发出检测光线，检测光线先经过物镜1进行聚焦并打到待检测的样品上，检测光穿过样品后进入消光装置2，此时消光装置2便对检测光自身带有的杂散光以及对穿过该样品的外界光进行消除，以避免外界光和杂散光对检测光造成干扰；经过消光装置2处理后的检测光便被光接收件3接收，并由外界的与光接收件3连接的检测仪器对光接收件3所接收的检测光进行检测。本实用新型通过消光装置2的设置，可以有效地对检测光以外的杂散光和外界光进行消除，只允许检测光进入光接收件3，由此大大地减少外部环境对检测光的干扰，从而提高本实用新型的检测数据的准确性；同时，本实用新型可以代替传统的暗箱测试，由此提高检测效率。

具体地，物镜1与待检测样品的距离可根据实际情况进行调节，以确保检测光的焦点能够打到样品的表面。

在本技术方案中，所述消光装置2包括设置于光接收件3的上方的消光腔室21及设置消光腔室21的消光光阑22，所述消光光阑22与消光腔室21的顶部连通，所述消光腔室21的底部与光接收件3连通。在实际应用中，透过样品后的检测光会经由消光光阑22进入消光腔室21再进入光接收件3，此时消光光阑22会对检测光的同一光轴以外的杂散光进行阻挡，以避免杂散光进入消光腔室21内且被光接收件3接收。该结构的设计简单紧凑，有效地消除杂散光，进而提高检测数据的准确性。

作为优选的，所述消光腔室21的内壁为经过消光处理的消光腔壁23，所述光接收件3与消光腔室21连通的表面设置有用于将外界经由消光光阑22进入消光腔室21的杂散光反射至消光腔室21的消光腔壁23的反射结构31。在实际应用中，除了检测光会经由消光光阑22进入消光腔室21内之外，部分的外界光也会经由消光光阑22进入消光腔室21内，此时当外界光进入消光腔室21内并打到反射结构31，此时反射结构31便将外界光反射至消光腔室21的消光腔壁23，由此通过消光腔壁23对反射光线进行消除。

具体地，所述反射结构31为凹凸状的反射面。所述反射面的凹凸状为菱形或者锯齿形结构。该结构设计简单，有利于提高光线的反射。

在本技术方案中，所述光接收件3为积分球，所述积分球的顶部设有与消光腔室21连通的收光孔32，所述收光孔32位于消光光阑22的下方。具体地，可以在积分球的收光孔32周围的表面设置凹凸状的反射面。在实际应用中，收光孔32的大小可以根据实际使用情况而设定，进而确保检测光线能够透过收光孔32进入积分球内。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型以较佳实施例公开如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围内。

技术特征：

1.一种显微透过率检测仪，其特征在于：包括自上至下依次设置的物镜、消光装置以及光接收件，所述物镜用于对外界的发光源所发出的检测光线进行聚焦并照射到外界的待检测样品，所述消光装置用于对透过外界的待检测样品后的检测光的杂散光以及对透过外界的待检测样品的外界光进行消除，所述光接收件用于接收经过消光装置处理后的检测光线。

2.根据权利要求1所述的一种显微透过率检测仪，其特征在于：所述消光装置包括设置于光接收件的上方的消光腔室及设置消光腔室的消光光阑，所述消光光阑与消光腔室的顶部连通，所述消光腔室的底部与光接收件连通。

3.根据权利要求2所述的一种显微透过率检测仪，其特征在于：所述消光腔室的内壁为经过消光处理的消光腔壁，所述光接收件与消光腔室连通的表面设置有用于将外界经由消光光阑进入消光腔室的杂散光反射至消光腔室的消光腔壁的反射结构。

4.根据权利要求3所述的一种显微透过率检测仪，其特征在于：所述反射结构为凹凸状的反射面。

5.根据权利要求4所述的一种显微透过率检测仪，其特征在于：所述反射面的凹凸状为菱形或者锯齿形结构。

6.根据权利要求2所述的一种显微透过率检测仪，其特征在于：所述光接收件为积分球，所述积分球的顶部设有与消光腔室连通的收光孔，所述收光孔位于消光光阑的下方。

技术总结
本实用新型涉及透过率测试技术领域，尤其是指一种显微透过率检测仪，包括自上至下依次设置的物镜、消光装置以及光接收件，所述物镜用于对外界的发光源所发出的检测光线进行聚焦并照射到外界的待检测样品，所述消光装置用于对透过外界的待检测样品后的检测光的杂散光以及对透过外界的待检测样品的外界光进行消除，所述光接收件用于接收经过消光装置处理后的检测光线。本实用新型通过消光装置的设置，可以有效地对检测光以外的杂散光和外界光进行消除，只允许检测光进入光接收件，由此大大地减少外部环境对检测光的干扰，从而提高本实用新型的检测数据的准确性；同时，本实用新型可以代替传统的暗箱测试，由此提高检测效率。

技术研发人员：刘烈敏
受保护的技术使用者：东莞市捷扬光电科技有限公司
技术研发日：2019.06.27
技术公布日：2020.04.14