技术总结
本实用新型公开了一种浮动微调干燥测头装置，属于测试设备技术领域，包括基座；多组安装于基座上的测针；套于多组测针上的测针护盖；及将基座连接到夹具上实现浮动测头插接状态的浮动微调结构；所述基座和测针护盖具有相连通的沟槽结构，测针护盖与基座紧密配合保护测针的针尖的同时形成气路通道，所述气路通道由基座外通向内部的测针。本实用新型采用测针护盖预导向，有效保护测针，同时在浮动微调结构的作用下，测试过程中有效保护测头组成不受硬性撞击，产品对接过程时，实现顺畅插接动作，防止插接时出现不对正状况，影响产品测试效果。采用沟槽设计，与测针护盖配合形成完整气路，走向贯穿测针部分，持续进风可有效将测针干燥，占用空间小。
技术研发人员：杜亮
受保护的技术使用者：长春工大检测技术有限责任公司
技术研发日：2019.07.15
技术公布日：2020.01.14