一种专用于AC220V欠压状态的检测电路的制作方法

文档序号:20880500发布日期:2020-05-26 17:04阅读:757来源:国知局
一种专用于AC220V欠压状态的检测电路的制作方法

本实用新型涉及一种专用于ac220v欠压状态的检测电路。



背景技术:

传统的ac220v电压检测方案,电路较复杂,需要元器件数量多,成本较高。比如传统的ac220v电压检测的一种方式,就是通过电阻将ac220v按比例分压后,传送给后端真有效值芯片将交流信号转换为直流真有效值后,再由adc采样,送给单片机处理后,判断当前交流电压是否欠压。此方式增加了电路的复杂性和元器件使用数量,大大增加了产品的成本。

因此,设计一种专用于ac220v欠压状态的检测电路,以使电路更加简单,同时减少电器元件的使用量,降低生产成本,成为所属技术领域技术人员亟待解决的技术问题。



技术实现要素:

本实用新型要解决的技术问题是:提供一种专用于ac220v欠压状态的检测电路,解决现有技术电路复杂,所需电气元件数量多从而增加生产成本的问题。

为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:

一种专用于ac220v欠压状态的检测电路,包括顺序连接的整流电路b,滤波电路c,tl431稳压电路d,光耦隔离电路e,以及内置ad采集电路的mcu处理控制单元,ac220v交流电与所述整流电路b连接;

所述整流电路b包括二极管d1、二极管d2、二极管d3和二极管d4,所述二极管d1的正极与所述二极管d3的负极相连,所述二极管d2的正极与所述二极管d4的负极相连,所述二极管d1的负极与所述二极管d2的负极相连,所述二极管d3的正极与所述二极管d4的正极相连,ac220v交流电的火线l连接于所述二极管d1的正极与所述二极管d3的负极之间,ac220v交流电的零线n连接于所述二极管d2的正极与所述二极管d4的负极之间;

所述滤波电路c包括电容c1和电解电容c3,所述电解电容c3的正极分别与所述二极管d1的负极和所述二极管d2的负极相连,所述电解电容c3的负极分别与所述二极管d3的正极和所述二极管d4的正极相连,所述电容c1的一端分别与所述二极管d1的负极和所述二极管d2的负极相连,所述电容c1的另一端分别与所述二极管d3的正极和所述二极管d4的正极相连;

所述tl431稳压电路d包括电阻r1、电阻r2、电阻r3、电阻r4、电阻r5、以及三级晶体闸流管q1,所述电阻r1的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电阻r1的另一端与所述电阻r5的一端连接,所述电阻r5的另一端分别与所述电解电容c3的正极和所述电容c1的一端连接,所述电阻r4的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电阻r4的另一端与所述电阻r3的一端连接,所述电阻r3的另一端分别与所述电解电容c3的正极和所述电容c1的一端连接,所述电阻r2的一端连接在所述电阻r4的另一端和所述电阻r3的一端之间,所述三级晶体闸流管q1的正极分别与所述电阻r1的一端和所述电阻r4的一端连接,所述三级晶体闸流管q1的正极控制引脚连接在所述电阻r1的另一端和所述电阻r5的一端之间;

所述光耦隔离电路e包括封装成一体的发光二极管和光敏三极管,所述电阻r2的另一端与所述发光二极管的正极输入引脚相连,所述三级晶体闸流管q1的负极与所述发光二极管的负极输入引脚相连,所述光敏三极管的两个输出引脚分别与所述ad采集电路的两个输入引脚相连。

进一步地,还包括电容c2,所述电容c2的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电容c2的另一端连接于所述电阻r1的另一端和所述电阻r5的一端之间。

具体地说,所述二极管d1、所述二极管d2、所述二极管d3和所述二极管d4均为20a二极管。

具体地说,所述电容c1为102/2kv瓷片电容,所述电容c2为1uf电容,所述电解电容c3为2.2uf/400v电解电容。

具体地说,所述电阻r1为5.1k/0.25w/1%电阻,所述电阻r2为2k/0.25w电阻,所述电阻r3为200k/1w电阻,所述电阻r4为20k/0.25w电阻,所述电阻r5为500k/0.5w/1%电阻。

具体地说,所述三级晶体闸流管q1为tl431型三级晶体闸流管。

具体地说,所述发光二极管的型号为tlp785gb。

与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:

本实用新型构思奇妙,结构简单可靠,使用方便,可以精准检测出ac220v交流电是否处于欠压状态,相比于传统ac220v电压检测电路,本检测电路更加简单,同时电器元件使用量也相应减少,可有效降低生产成本。

附图说明

图1为本实用新型检测电路的结构示意图。

图2为本实用新型检测电路的电路原理图。

具体实施方式

下面结合附图说明和实施例对本实用新型作进一步说明,本实用新型的方式包括但不仅限于以下实施例。

如图1和2所示,本实用新型提供的一种专用于ac220v欠压状态的检测电路,包括顺序连接的整流电路b,滤波电路c,tl431稳压电路d,光耦隔离电路e,以及内置ad采集电路的mcu处理控制单元,ac220v交流电与所述整流电路b连接,所述滤波电路c和所述tl431稳压电路d之间设有电容量为1uf的电容c2。本实用新型整流电路b和滤波电路c用以将ac220v交流电转换为直流,tl431稳压电路d用以控制光耦的导通电压,光耦隔离电路e用于当欠压时用以输出信号给后级mcu处理控制单元。

本实用新型所述整流电路b包括二极管d1、二极管d2、二极管d3和二极管d4,所述二极管d1、所述二极管d2、所述二极管d3和所述二极管d4均为20a二极管。所述二极管d1的正极与所述二极管d3的负极相连,所述二极管d2的正极与所述二极管d4的负极相连,所述二极管d1的负极与所述二极管d2的负极相连,所述二极管d3的正极与所述二极管d4的正极相连,ac220v交流电的火线l连接于所述二极管d1的正极与所述二极管d3的负极之间,ac220v交流电的零线n连接于所述二极管d2的正极与所述二极管d4的负极之间。

本实用新型所述滤波电路c包括电容c1和电解电容c3,所述电容c1为102/2kv瓷片电容,所述电解电容c3为2.2uf/400v电解电容。所述电解电容c3的正极分别与所述二极管d1的负极和所述二极管d2的负极相连,所述电解电容c3的负极分别与所述二极管d3的正极和所述二极管d4的正极相连,所述电容c1的一端分别与所述二极管d1的负极和所述二极管d2的负极相连,所述电容c1的另一端分别与所述二极管d3的正极和所述二极管d4的正极相连。

本实用新型所述tl431稳压电路d包括参数为5.1k/0.25w/1%的电阻r1、参数为2k/0.25w的电阻r2、参数为200k/1w的电阻r3、参数为20k/0.25w的电阻r4、参数为500k/0.5w/1%的电阻r5、以及型号为tl431型的三级晶体闸流管q1,所述电阻r1的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电阻r1的另一端与所述电阻r5的一端连接,所述电阻r5的另一端分别与所述电解电容c3的正极和所述电容c1的一端连接,所述电阻r4的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电阻r4的另一端与所述电阻r3的一端连接,所述电阻r3的另一端分别与所述电解电容c3的正极和所述电容c1的一端连接,所述电阻r2的一端连接在所述电阻r4的另一端和所述电阻r3的一端之间,所述三级晶体闸流管q1的正极分别与所述电阻r1的一端和所述电阻r4的一端连接,所述三级晶体闸流管q1的正极控制引脚连接在所述电阻r1的另一端和所述电阻r5的一端之间;所述电容c2的一端分别与所述电解电容c3的负极和所述电容c1的另一端连接,所述电容c2的另一端连接于所述电阻r1的另一端和所述电阻r5的一端之间。

本实用新型所述光耦隔离电路e包括封装成一体的发光二极管和光敏三极管,发光二极管的型号优选tlp785gb,所述电阻r2的另一端与所述发光二极管的正极输入引脚相连,所述三级晶体闸流管q1的负极与所述发光二极管的负极输入引脚相连,所述光敏三极管的两个输出引脚分别与所述ad采集电路的两个输入引脚相连。

本实用新型的基本工作原理:本检测电路设置的欠压检测点为ac170v,当连接在整流电路b上的交流电低于ac170v的时候,本检测电路将会报主电故障。ac220v整流滤波电路部分(整流电路b和滤波电路c),将ac220v经过整流滤波转化为直流后传输给稳压电路。tl431稳压电路d,用以控制光耦的导通,当输入电压大于ac170v时,光耦导通,低于ac170v时,光耦处于截止状态。光耦将高压和低压进行隔离,并将信号传输给mcu进行处理,以此判断主电源是否欠压。本实用新型所用内置ad采集电路的mcu处理控制单元为现有电气设备,其结构和电路均为现有技术,因此关于其结构和电路在此不赘述。

如图2所示,ac220v交流电a为设备提供供电电源,经过整流电路b整流后,将全波信号转变为半波信号,半波信号经过滤波电路c处理后转变为直流信号,该直流信号经过电阻分压为tl431稳压电路d提供参考电压,通过tl431稳压电路d稳压后控制光耦隔离电路e是否导通,当工作电压大于ac170v时,光耦隔离电路e导通,ad采样y1对光耦隔离电路e输出端进行ad采样后,送给mcu处理控制单元f判断当前处于正常电压状态,当工作电压低于ac170v时,光耦隔离电路e截止,ad采样y1对光耦隔离电路e输出端进行ad采样后,送给mcu处理控制单元f判断当前处于欠压压状态,从而完成整个ac220v电压是否欠压的检测过程。

上述实施例仅为本实用新型的优选实施方式之一,不应当用于限制本实用新型的保护范围,但凡在本实用新型的主体设计思想和精神上作出的毫无实质意义的改动或润色,其所解决的技术问题仍然与本实用新型一致的,均应当包含在本实用新型的保护范围之内。

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