一种ICT测试辅助治具的制作方法

本实用新型涉及ict测试治具的技术领域，具体为一种ict测试辅助治具。

背景技术：

ict测试治具是在线检测、测试治具，是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。

目前，ict测试治具在长时间不使用后，测试针容易出现灰尘，影响测试结果，且电路板试件的表面凹凸不平，现有的测试治具的下压柱不具备收缩功能，在下压的过程中，容易对电路板试件造成毁坏，故针对上述问题，提出一种便于清灰且对电路板试件具有保护功能ict测试辅助治具。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种ict测试辅助治具，以解决现有ict测试治具下压柱不能收缩且测试针灰尘难以清理的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种ict测试辅助治具，包括基板，所述基板的表面固定连接有支架，所述支架的顶端固定安装有气缸，所述气缸活塞杆的一端贯穿支架的顶端，所述气缸活塞杆的一端固定连接有压板，所述压板的底端固定连接有压柱，所述基板的表面设置有测试针板，所述测试针板的表面固定连接有连杆，所述连杆的表面滑动连接有承接板，所述承接板的底端设置有第一弹簧，所述第一弹簧的表面绕设与连杆的四周，所述第一弹簧的另一端与测试针板的表面固定连接，所述承接板的顶端固定连接有圆筒，所述圆筒的表面设置有螺纹，所述圆筒的表面螺纹连接有螺帽，所述连杆的表面在圆筒的内壁滑动。

优选的，所述测试针板的表面固定安装有测试针，所述承接板的表面开设有凹槽，所述凹槽的底端开设有插孔。

优选的，所述连杆的顶端贯穿压板的顶端，所述支架的顶端开设有通孔，所述通孔的个数为四个。

优选的，所述压柱的内部开设有空腔，所述空腔的内壁固定安装有第二弹簧，所述第二弹簧的一端固定连接有滑块，所述滑块的表面在空腔的内壁滑动，所述滑块的底端固定连接有立柱。

优选的，所述立柱的一端贯穿压柱的底端，所述立柱的底端固定安装有橡胶。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过设置有空腔、第二弹簧和橡胶，达到对电路板试件保护的目的，防止在下压的过程，破坏电路板试件的内部结构；

2、通过设置有圆筒、螺帽和连杆，螺帽将承接板与压板固定一起，通过气缸，达到抬升承接板的目的，便于清理测试针表面及测试针板表面的灰尘，利于测试。

附图说明

图1、为本实用新型的整体结构示意图；

图2、为本实用新型的压柱剖面图；

图3、为本实用新型的气缸电路图。

图中：1、基板；2、支架；3、第一弹簧；4、承接板；5、立柱；6、压板；7、通孔；8、气缸；9、螺帽；10、圆筒；11、压柱；12、橡胶；13、连杆；14、测试针板；15、凹槽；16、测试针；17、插孔；18、空腔；19、滑块；20、第二弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种ict测试辅助治具，包括基板1，基板1的表面固定连接有支架2，支架2为u形，支架2的顶端固定安装有气缸8，气缸8活塞杆的一端贯穿支架2的顶端，气缸8活塞杆的一端固定连接有压板6，压板6的形状为方形板，压板6的底端固定连接有压柱11，基板1的表面设置有测试针板14，测试针板14的表面固定连接有连杆13，连杆13的个数为四个，连杆13的表面滑动连接有承接板4，承接板4的底端设置有第一弹簧3，通过设置有第一弹簧3，达到使承接板4归位的目的，第一弹簧3的表面绕设与连杆13的四周，第一弹簧3的另一端与测试针板14的表面固定连接，承接板4的顶端固定连接有圆筒10，圆筒10的个数为四个，圆筒10的表面设置有螺纹，圆筒10的表面螺纹连接有螺帽9，连杆13的表面在圆筒10的内壁滑动。

参阅图1，测试针板14的表面固定安装有测试针16，承接板4的表面开设有凹槽15，凹槽15的底端开设有插孔17。

参阅图1，连杆13的顶端贯穿压板6的顶端，圆筒10的顶端贯穿压板6的顶端，支架2的顶端开设有通孔7，通孔7的个数为四个，通过设置有通孔7，便于圆筒10的运动。

参阅图1和图2，压柱11的内部开设有空腔18，空腔18的内壁固定安装有第二弹簧20，第二弹簧20的一端固定连接有滑块19，滑块19的表面在空腔18的内壁滑动，滑块19的底端固定连接有立柱5。

参阅图1和图2，立柱5的一端贯穿压柱11的底端，立柱5的底端固定安装有橡胶12，通过设置有橡胶12，便于保护电路板试件。

参阅图3，气缸8的型号为sc100，通过电路串联到控制开关和工作电源上。

本实用新型在具体实施时：使用前先观察，若测试针板14和测试针16的表面有灰尘的情况下，先转动螺帽9，将螺帽9转动到压板6的表面，在通过气缸8，抬升压板6，压板6带动螺帽9、圆筒10和承接板4沿着连杆13向上运动，运动一定距离后，清理测试针16及测试针板14表面灰尘，清理完成后，重复上述操作归位，将电路板试件放置到承接板4内的凹槽15中，通过气缸8下压压板6，压板6在圆筒10的作用下，将竖直向下运动，当橡胶12接触到电路板试件后，由于电路板试件表面凹凸不平，立柱5受电路板试件影响，将滑入空腔18内，第二弹簧20将被拉伸，受到第二弹簧20的反作用力，使得橡胶12紧贴电路板试件，通过上述设置，达到保护电路板试件的目的，橡胶12将带动承接板4向下运动，通过连杆13的作用下，承接板4将竖直向下运动，直到测试针16通过插孔17与电路板试件相连，然后对电路板进行测试工作。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种ict测试辅助治具，包括基板(1)，其特征在于：所述基板(1)的表面固定连接有支架(2)，所述支架(2)的顶端固定安装有气缸(8)，所述气缸(8)活塞杆的一端贯穿支架(2)的顶端，所述气缸(8)活塞杆的一端固定连接有压板(6)，所述压板(6)的底端固定连接有压柱(11)，所述基板(1)的表面设置有测试针板(14)，所述测试针板(14)的表面固定连接有连杆(13)，所述连杆(13)的表面滑动连接有承接板(4)，所述承接板(4)的底端设置有第一弹簧(3)，所述第一弹簧(3)的表面绕设与连杆(13)的四周，所述第一弹簧(3)的另一端与测试针板(14)的表面固定连接，所述承接板(4)的顶端固定连接有圆筒(10)，所述圆筒(10)的表面设置有螺纹，所述圆筒(10)的表面螺纹连接有螺帽(9)，所述连杆(13)的表面在圆筒(10)的内壁滑动。

2.根据权利要求1所述的一种ict测试辅助治具，其特征在于：所述测试针板(14)的表面固定安装有测试针(16)，所述承接板(4)的表面开设有凹槽(15)，所述凹槽(15)的底端开设有插孔(17)。

3.根据权利要求1所述的一种ict测试辅助治具，其特征在于：所述连杆(13)的顶端贯穿压板(6)的顶端，所述支架(2)的顶端开设有通孔(7)，所述通孔(7)的个数为四个。

4.根据权利要求1所述的一种ict测试辅助治具，其特征在于：所述压柱(11)的内部开设有空腔(18)，所述空腔(18)的内壁固定安装有第二弹簧(20)，所述第二弹簧(20)的一端固定连接有滑块(19)，所述滑块(19)的表面在空腔(18)的内壁滑动，所述滑块(19)的底端固定连接有立柱(5)。

5.根据权利要求4所述的一种ict测试辅助治具，其特征在于：所述立柱(5)的一端贯穿压柱(11)的底端，所述立柱(5)的底端固定安装有橡胶(12)。

技术总结
本实用新型公开了一种ICT测试辅助治具，包括基板，基板的表面固定连接有支架，支架的顶端固定安装有气缸，气缸活塞杆的一端贯穿支架的顶端，气缸活塞杆的一端固定连接有压板，压板的底端固定连接有压柱，基板的表面设置有测试针板，测试针板的表面固定连接有连杆，连杆的表面滑动连接有承接板，承接板的底端设置有第一弹簧，第一弹簧的表面绕设与连杆的四周，第一弹簧的另一端与测试针板的表面固定连接，承接板的顶端固定连接有圆筒，通过设置有空腔、第二弹簧和橡胶，达到对电路板试件保护的目的，防止在下压的过程，破坏电路板试件的内部结构。

技术研发人员：廖楚弟
受保护的技术使用者：深圳市强鑫远电子有限公司
技术研发日：2019.09.12
技术公布日：2020.08.11