自动排号的光电耦合器测试系统的制作方法

本发明涉及光电耦合器测试领域，特别涉及一种自动排号的光电耦合器测试系统。

背景技术：

当前，光电耦合器电参数测试采用将单个光电耦合器产品放置在测试仪夹具上，点击按钮完成产品相关参数测试的方式。随着光电耦合器的广泛应用，光电耦合器产品朝着多品种、大批量的方向发展，要求光电耦合器的批量化电参数测试具有较高的准确性和测试效率。测试准确性一方面要求参数测试准确，另一方面则是要求产品的测试参数和产品的编号不交错、不漏记；测试高效率方面则是要求产品测试时每个批次能够以最少的时间完成。

对于上述要求，由于现有的光电耦合器测试仪单次只能测试一只光电耦合器，现有的批量化测试技术方案综合考虑测试准确性和效率，首先采用人工筛选的方式，将同一批次的产品先依次排好序存放在编号相应位置，例如在一张纸上打印多个产品编号，将光电耦合器与产品编号对应，逐个放在纸上的对应区域，测试时再按照排好的顺序一一测试，最后将产品编号和测试数据人工整合在一起。

随着单批次光电耦合器数量越来越大，上述方案在批量化测试时存在缺陷：一方面光电耦合器尺寸较小，人工排号的方式效率极低，且容易出现位置放错的情况；另一方面，在测试排好序的光电耦合器时，容易造成漏测、错测等情况，发生测试数据与编号错位等问题，导致测试准确率降低。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是提供了一种光电耦合器批量化测试时无需人工排号，可一键完成产品参数测试和编号记录的自动排号的光电耦合器测试系统，从而解决批量测试下人工排号效率低、易出错、占用空间大等问题，缩短光电耦合器整个生产周期。

本发明的技术方案如下：

一种自动排号的光电耦合器测试系统，包括光电耦合器测试仪,所述光电耦合器测试仪包括测试仪本体和控制终端，所述测试仪本体上固设有光学支架，所述光学支架的上部设有第一固定座，所述第一固定座上水平设有第一固定杆，所述第一固定杆的一端固设有相机单元，在所述相机单元的下方设有光源装置，在所述光源装置的下方还设有固设在测试仪本体上的夹具；

所述测试系统还包括图像识别模块，所述图像识别模块为封装有相机控制算法和图像识别处理算法的动态库，用于控制相机单元采集待测光电耦合器的图像信息，按照图像识别处理算法从图像信息中识别出待测光电耦合器的产品编号，并输出产品编号和对应的图像信息；所述控制终端用于调用所述动态库中的算法，以及控制测试仪本体对待测光电耦合器进行测试，所述控制终端还用于将待测光电耦合器的测试结果和动态库输出的产品编号及对应的图像信息打包进行存储。

进一步的，所述图像识别模块还用于设置产品的编号规则及编号范围，以及查询和调用计算机存储的图像信息和产品编号，所述图像识别模块还封装有编号校正算法，所述编号校正算法用于判断当前识别的产品编号是否满足设置的编号规则及编号范围要求，如果识别出的产品编号不满足编号规则或超出了编号范围，则展示待测光电耦合器的图像信息，根据图像信息人工判断并录入产品编号做为待测光电耦合器的产品编号；

如果识别出的产品编号满足编号规则且在编号范围内，则查询当前识别的产品编号是否与计算机中存储的产品编号重复，不重复则判定识别的编号正确，以当前识别的产品编号做为待测光电耦合器的产品编号；如果当前识别的产品编号与计算机中存储的某一产品编号重复，则展示待测光电耦合器的图像信息和已存储的编号重复的光电耦合器的图像信息，人工进行判断并录入正确的产品编号，做为待测光电耦合器的产品编号或已存储的编号重复的光电耦合器的产品编号。

进一步的，所述光源装置包括环形光源，所述光学支架上设有第二固定座，所述第二固定座上水平设有第二固定杆，所述第二固定杆位于第一固定杆和测试仪本体之间，所述环形光源固设在第二固定杆的一端；所述环形光源电连接有光源控制器，所述光源控制器用于调整环形光源的亮度。

进一步的，所述相机单元包括工业相机和工业镜头，所述工业镜头的中心点、环形光源的中心点和夹具上所固定的待测光电耦合器的中心点均在同一垂直线上。

进一步的，所述相机控制算法用于使图像识别模块连接或断开工业相机、控制工业相机实时初始化以及进行图像采集，所述图像识别算法用于从图像信息中快速识别出产品编号。

进一步的，所述环形光源的下端面所在平面与夹具的上端面所在平面之间的间距大于或等于15cm。

有益效果：本发明中，采用动态库封装图像识别算法，图像识别算法可采用c++语言编写，从而更方便地实现从图像信息中识别出产品编号的功能；测试仪与图像识别模块相互独立，测试仪开发平台可采用delphi、c++或c#等不同的程序平台，均可与图像识别模块兼容，编写测试仪的控制程序时无需考虑图像识别模块的算法，编程形式更加灵活。

附图说明

图1为本发明实施例的结构框图；

图2为动态库的调用逻辑示意图；

图3为动态库的工作流程图；

图4为编号校正算法的流程图。

图中，1.测试仪本体，2.光学支架，4.夹具，6.待测光电耦合器，10.控制终端，21.第一固定座，22.第二固定座，31.工业相机，32.工业镜头，51.环形光源，52.光源控制器，211.第一固定杆，221.第二固定杆。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明实施例中的技术方案，并使本发明实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明实施例中的技术方案作进一步详细的说明。

在本发明的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

如图1所示，本发明的实施例包括光电耦合器测试仪,所述光电耦合器测试仪包括测试仪本体1和控制终端10，其特征在于，所述测试仪本体1上固设有光学支架2，所述光学支架2的上部设有第一固定座21，所述第一固定座21上水平设有第一固定杆211，所述第一固定杆211的一端固设有相机单元，所述相机单元包括高清的工业相机31和工业镜头32；所述光学支架2上还设有设有第二固定座22，所述第二固定座22上水平设有第二固定杆221，所述第二固定杆221位于第一固定杆221和测试仪本体1之间，所述第一固定座21和第二固定座22能够在光学支架2上沿竖直方向上下滑动，所述第一固定杆211能够在第一固定座21上水平移动，所述第二固定杆221能够在第二固定座22上水平移动。所述光源装置包括固设在第二固定杆221一端的环形光源51，所述环形光源51电连接有光源控制器52，所述光源控制器52固设在测试仪本体1上，用于调整环形光源51的亮度；在所述环形光源51的下方还设有固设在测试仪本体1上的夹具4，所述环形光源51的下端面所在平面与夹具4的上端面所在平面之间的间距大于或等于15cm，且工业镜头32的中心点、环形光源51的中心点和夹具4上所固定的待测光电耦合器6的中心点均在同一垂直线上。

所述控制终端10优选为使用计算机，当然，也可使用笔记本电脑或平板电脑等设备，所述计算机安装有测试仪本体1的控制程序，用于控制测试仪本体1对待测光电耦合器6进行测试，所述工业相机31通过网线与控制终端10电连接，所述测试仪本体1通过gpib连接线与控制终端10电连接。所述测试系统还包括图像识别模块，所述图像识别模块为封装有相机控制算法、图像识别处理算法和编号校正算法的动态库，用于控制工业相机31采集待测光电耦合器6的图像信息，从图像信息中识别出待测光电耦合器6的产品编号，并对产品编号进行校正，以及输出产品编号和对应的图像信息；其中，所述相机控制算法用于使图像识别模块连接或断开工业相机31、控制工业相机31实时初始化以及进行图像采集，所述图像识别算法用于从图像信息中快速识别出产品编号，所述图像识别算法采用c++语言编写，能够使图像识别时间<0.3s；所述编号校正算法用于对产品编号进行校正，以确保产品编号识别的正确率；所述动态库优选为安装在控制终端10中，以便于控制终端10调用动态库中的算法，所述控制终端10还用于将待测光电耦合器6的测试结果和动态库输出的产品编号及对应的图像信息打包进行存储。

本实施例的工作原理如下：

由于图像识别模块采用封装有相机控制算法和图像识别处理算法的动态库，从而将测试系统分为开发应用层(测试仪开发平台)、接口层(动态库)和识别模块层(相机单元)，解除了对测试仪开发平台的限制，使测试仪本体1的控制程序可采用delphi、c++或c#等不同的程序平台进行编写，即图像识别模块可与不同的光电耦合器测试仪兼容，具有很好的通用性。如图2所示，动态库的调用逻辑为测试仪本体1的控制程序通过动态库提供的接口调用动态库中的算法，从而对工业相机31进行控制；实现了测试仪本体1的控制程序与图像识别算法的分离，测试仪本体1的控制程序中只需要实现对测试仪本体1的控制，以及对动态库的调用即可，由于动态库被调用后能够自动执行相机控制算法和图像识别处理算法，因此测试仪本体1的控制程序中无需编写图像识别的相关程序。

如图3所示，测试前，人工在图像识别模块设置产品的编号规则及编号范围。测试时，测试仪本体1的控制程序先调用一次动态库，使动态库运行相机控制算法对工业相机31进行初始化；之后，按下测试开关，测试仪本体1的控制程序再次对动态库进行调用，动态库先运行相机控制算法，控制工业相机31采集待测光电耦合器6的图像信息，然后，动态库自动运行图像识别处理算法，识别出待测光电耦合器6的产品编号，并对产品编号进行校正，在校正完成后输出待测光电耦合器的产品编号。测试仪本体1的控制程序在收到图像识别模块输出的产品编号后，控制测试仪本体1对待测光电耦合器6进行测试，并将测试结果与产品编号打包进行存储，从而完成对待测光电耦合器6的自动测试。每按下一次测试开关，测试系统进行一次测试，从而能够大大简化测试的操作步骤，达到一键完成测试的要求。

如图4所示，产品编号的校正算法包括以下步骤：

步骤s1、图像识别模块判断当前识别的产品编号是否满足设置的编号规则及编号范围要求，如果识别出的产品编号满足编号规则且在编号范围内，则执行步骤s3，否则，执行步骤s2；

步骤s2、图像识别模块通过弹窗展示待测光电耦合器的图像信息，根据图像信息人工判断并录入产品编号，执行步骤s9；

步骤s3、图像识别模块查询当前识别的产品编号是否与计算机中存储的产品编号重复，如果当前识别的产品编号与计算机中存储的某一产品编号重复，则执行步骤s4，否则，执行步骤s8；

步骤s4、图像识别模块从计算机中调出编号重复的光电耦合器的图像信息，并通过弹窗展示待测光电耦合器的图像信息和已存储的编号重复的光电耦合器的图像信息；

步骤s5、根据待测光电耦合器的图像信息人工判断当前识别的产品编号是否正确，如果正确则执行步骤s7，否则，执行步骤s6；

步骤s6、人工判断并录入待测光电耦合器的产品编号，执行步骤s9；

步骤s7、人工判断并录入已存储的编号重复的光电耦合器的产品编号，并将该光电耦合器的产品编号替换为人工录入的产品编号，执行步骤s8；

步骤s8、以当前识别的产品编号做为待测光电耦合器的产品编号；

步骤s9、以人工录入的产品编号做为待测光电耦合器的产品编号。

描述于本发明实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现，所描述的单元也可以设置在处理器中。其中，这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。

第一固定座21和第二固定座22在光学支架2上沿竖直方向上下滑动的结构、第一固定杆211在第一固定座21上水平移动的结构，以及第二固定杆221在第二固定座22上水平移动的结构均为现有技术中常用的结构，在此不做赘述，本发明未描述部分与现有技术一致，在此不做赘述。

以上仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本发明的专利保护范围之内。