[0001]
本发明涉及一种相控阵探头时间扫查工装，用于在时间扫查模式下固定探头扫查偏置零点与距离，准确测量扫查位置与缺陷尺寸。
背景技术：
[0002]
超声相控阵基于惠更斯原理，通过特定的延时法则可实现电子扫查与扇形扫查，其作为可记录超声的一种重要手段，在承压设备小径管焊接接头、平板焊接接头、异性结构等重要设备部件检测中发挥了重要作用。超声相控阵实现可记录检测可分为两种扫查模式：编码器扫查和时间扫查，编码器作为超声相控阵实现可记录检测的重要组成部件，其作用是稳定探头步进偏置、实现扫查距离与检测信息同步，但其弊端是购买与维修费用较为高昂，且在检测过程中需要熟悉设备的操作人员采用对比试块对其进行校准，严重影响超声相控阵的使用性与便携性。因此，在非正式检测或无编码器工况下，需采用超声相控阵设备的时间扫查模式，其优点是不局限于编码器的扫查方式，可在感兴趣的区域实现自由扫查，但其存在的问题是：(1)多为手动检测；(2)根据检测方案，难以保持相控阵探头步进偏置距离的稳定性；(3)对检测中发现的缺陷，多采用钢板尺或皮尺等工具对其位置、长度等信息进行测量，测量误差较大。
[0003]
因此，针对超声相控阵时间扫查的特点，采用根据受检部件特点进行扫查步进偏置对中，步进偏置距离稳定性高，且可精确测量扫查位置、缺陷大小的工装，可提高检测便携性、增强检测结果可信度。
技术实现要素：
[0004]
为解决上述问题，方便现场检测工作，规范超声检测标准横孔测量工作过程，本发明提供了一种超声检测用标准横孔测量尺。
[0005]
本发明采用如下技术方案来实现的：
[0006]
一种相控阵探头时间扫查工装，包括扫查定位尺、探头定位尺和探头定位块；其中，扫查定位尺和探头定位尺上均设置有刻度，探头定位尺与扫查定位尺垂直布置，且探头定位尺的一端与扫查定位尺活动连接，并能够沿着扫查定位尺轴向移动，探头定位尺的另一端为自由端，探头定位块设置在探头定位尺上，用于固定探头。
[0007]
本发明进一步的改进在于，扫查定位尺的一侧开设有滑动卡槽，探头定位尺的一端设置有与滑动卡槽相配合的滑块。
[0008]
本发明进一步的改进在于，探头定位块包括探头顶部定位块和探头尾部定位块，探头固定在探头顶部定位块和探头尾部定位块之间。
[0009]
本发明进一步的改进在于，探头顶部定位块和探头尾部定位块通过紧固螺栓与探头定位尺可拆卸连接。
[0010]
本发明进一步的改进在于，扫查定位尺的底部开设有凹槽，顶部设置有凸缘，两个扫查定位尺之间通过凹凸结构能够装配在一起。
[0011]
本发明进一步的改进在于，扫查定位尺的底部开设有卡槽，用来对受检部件的步进偏置零点进行固定。
[0012]
本发明至少具有如下有益的技术效果：
[0013]
本发明提供的相控阵时间扫查定位工装，可根据不同受检对象的结构特点装配扫查定位尺，固定步进偏置零点，减小步进偏置偏差对检测结果的影响。
[0014]
具体的，可根据需要选择不同尺寸的相控阵探头，并通过探头定位尺上的探头头尾部定位块对探头进行固定。
[0015]
进一步，可通过探头定位尺上的刻度，根据检测方案中步进偏置大小，旋紧紧固螺栓对探头及其步进偏置进行固定，滑动探头进行时间扫查，通过读取扫查定位尺上的刻度，测得扫查位置及缺陷尺寸等信息。
附图说明
[0016]
图1为相控阵探头时间扫查定位工装主视图；
[0017]
图2为相控阵探头时间扫查定位工装左视图；
[0018]
图3为相控阵探头时间扫查定位工装三维透视图。
[0019]
附图标记说明：
[0020]
1为扫查定位尺；2为探头定位尺；3为探头顶部定位块；4为探头尾部定位块；5为紧固螺栓；6为滑块。
具体实施方式
[0021]
以下结合附图对本发明做出进一步的说明。
[0022]
应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
[0023]
在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”通常是用图1中的方向为基准进行描述的；
[0024]
本发明中，并未固定扫查定位尺、探头定位尺等部件的数量、尺寸、刻度、材质等信息，使用时可参考工作需要合理规划；
[0025]
如图1所示，本发明提供的相控阵探头时间扫查定位工装，包括扫查定位尺1、探头定位尺2、探头顶部定位块3、探头尾部定位块4、紧固螺栓5和滑块6。
[0026]
如图1所示，针对相控阵检测平板、圆管或异性类对象的特点，扫查定位尺1底部设计有凹槽，顶部设计有凸缘，当受检部件为环形件时，可通过凹凸结构根据受检部件的形状特点对定位尺进行装配。
[0027]
如图1所示，扫查定位尺1一侧设计有滑动卡槽，并与探头定位尺2通过滑块6进行装配，在探头扫查过程中起到定位导向的作用。
[0028]
如图2所示，扫查定位尺1底部可根据受检部件结构设计卡槽，用来对受检部件的步进偏置零点进行固定。例如，当对平板类焊接接头进行相控阵检测时，将扫查定位尺1底部的焊缝卡槽骑于焊接接头上，保持探头步进偏置原点的稳定性；当对圆管类焊接接头进行相控阵检测时，将扫查定位尺1底部的焊缝卡槽骑于焊接接头上，通过扫查定位尺1顶部与尾部的凹凸结构进行装配，使扫查定位尺稳定装配与受检环形焊接接头上。
[0029]
如图1所示，探头定位尺2上设计有探头头部定位块3与探头尾部定位块4，头尾部定位块上有紧固螺栓5，用来固定探头和步进偏置的距离。
[0030]
如图1所示，将探头嵌于探头顶部与尾部限位块之间，通过探头定位尺2上的刻度，将探头放置于扫查方案中步进偏置距离处，旋紧紧固螺栓固定探头位置，在时间扫查过程中可始终保持探头步进偏置的稳定。
[0031]
如图3所示，当焊接接头采用相控阵时间扫查进行检测时，沿扫查定位尺1移动探头，通过读取扫查定位尺上的刻度测得检测位置及缺陷尺寸等信息。