技术特征：
1.一种近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，包括：复合靶板、分划投影仪、近红外激光测距仪、红外热像仪、摄像装置和上位机，所述近红外激光测距仪的轴线与所述复合靶板的表面垂直，所述分划投影仪和所述摄像装置分别位于所述近红外激光测距仪的两侧，且所述分划投影仪的轴线与所述摄像装置的轴线垂直，所述红外热像仪与所述摄像装置的两个光轴平行，所述红外热像仪和所述摄像装置均与所述上位机通信连接；所述分划投影仪能够将十字分划投影到所述复合靶板上，且所述十字分划能够分别位于所述摄像装置和所述红外热像仪的像面中心；所述近红外激光测距仪能够通过瞄准所述十字分划向所述复合靶板发射近红外激光；所述复合靶板能够形成激光光斑并吸收所述近红外激光；所述摄像装置能够采集所述复合靶板上的十字分划的图像，并将所述十字分划的图像发送至所述上位机；所述红外热像仪能够采集所述复合靶板上的激光光斑的图像，并将所述激光光斑的图像发送至所述上位机；所述上位机能够根据所述十字分划的图像和所述激光光斑的图像进行图像分析后得到近红外激光测距仪光轴一致性的检测结果。2.根据权利要求1所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述复合靶板包括：靶面层、中间层和背面层，所述中间层位于所述靶面层和所述背面层之间，所述靶面层朝向所述近红外激光测距仪，所述靶面层包括红外吸收剂涂料，所述中间层包括近红外激光吸收层，所述背面层包括导热层。3.根据权利要求2所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述近红外激光吸收层的吸收系数不小于5.0
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‑3（1/cm）。4.根据权利要求2所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述导热层的导热系数不大于0.05 w/（m*k）。5.根据权利要求1所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述近红外激光测距仪光轴一致性检测装置还包括导轨，所述近红外激光测距仪位于所述导轨上，所述近红外激光测距仪能够在所述导轨的轨道上沿垂直于所述复合靶板的方向移动。6.根据权利要求1所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述摄像装置包括cmos摄像机。7.根据权利要求1所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述红外热像仪包括凝视型红外热像仪。8.根据权利要求1所述的近红外激光测距仪光轴一致性检测装置，其特征在于，所述上位机包括以色列ci公司的dlt&npt红外测试系统。