一种多通道阻抗测试控制系统及多通道阻抗测试系统的制作方法

文档序号:25932758发布日期:2021-07-20 16:16阅读:258来源:国知局
一种多通道阻抗测试控制系统及多通道阻抗测试系统的制作方法

本实用新型涉及电子电路技术领域,特别涉及一种多通道阻抗测试控制系统及多通道阻抗测试系统。



背景技术:

阻抗测试在电子制造业中的应用非常广泛,主要用于测试未带电情况下电子连接器开短路以及sensor(触摸屏传感器)各pin脚之间具有的阻抗值。

传统的阻抗测试控制系统,多集成在一块控制卡上,使用信号继电器进行测试点位切换,存在控制通道数量有限,使用不灵活,同时点位切换稳定间隔时间长,导致整体测试时间长,效率低下。



技术实现要素:

本实用新型的目的是提供一种多通道阻抗测试控制系统及多通道阻抗测试系统,以解决现有的阻抗测试控制系统效率低的问题。

本实用新型提供了一种多通道阻抗测试控制系统,包括卡槽主板,包括一个主控制卡接口和六个信号切换卡接口;主控制卡,包括两个电机驱动电路、两个串口通讯接口、十二个输出接口和十六个输入接口;信号切换卡,所述信号切换卡设有六个,每一所述信号切换卡均包括三十二个信号切换点位,所述信号切换卡内设有磁簧继电器;所述信号切换卡和所述主控制卡分别设于所述卡槽主板上的信号切换卡接口和主控制卡接口处。

上述多通道阻抗测试控制系统,采用卡槽插卡的设计方式,最大支持插六张信号切换卡,每张信号切换卡支持三十二个测试点位,因此该系统最大支持192个测试点位间任意两个点位的阻抗测试,同时信号切换卡采用动作时间更短的磁簧继电器做信号切换,使得本系统具有使用灵活、切换间隔短、测试效率高的显著特点。

本实用新型还提供了一种多通道阻抗测试系统,包括一体机、与所述一体机连接的电阻测试仪,以及与所述电阻测试仪连接的四根测试探针,还包括上述的多通道阻抗测试控制系统,所述一体机和所述电阻测试仪均与所述多通道阻抗测试控制系统连接。

进一步地,所述电阻测试仪为四线电阻测试仪。

进一步地,所述电阻测试仪包括切换控制电路板和与所述切换控制电路板连接的探针针板。

进一步地,所述电阻测试仪通过第一串口通讯线与所述一体机连接。

进一步地,所述多通道阻抗测试控制系统通过第二串口通讯线与所述一体机连接。

进一步地,所述第一串口通讯线为rs-232串口通讯线。

附图说明

图1为本实用新型第一实施例中的多通道阻抗测试控制系统的模块结构示意图;

图2为本实用新型第一实施例中的多通道阻抗测试系统的模块结构示意图。

主要元件符号说明:

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的若干个实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1,本实用新型第一实施例提供的一种多通道阻抗测试控制系统100,包括卡槽主板10、主控制卡20以及六个信号切换卡30,其中,卡槽主板10包括一个主控制卡接口11和六个信号切换卡接口12;主控制卡20包括两个电机驱动电路(图未示出)、两个串口通讯接口(图未示出)、十二个输出接口(图未示出)和十六个输入接口(图未示出);所述信号切换卡30设有六个,每一所述信号切换卡30均包括三十二个信号切换点位,所述信号切换卡30内设有磁簧继电器(图未示出);所述信号切换卡30和所述主控制卡20分别设于所述卡槽主板10上的信号切换卡接口11和主控制卡接口12处。

上述多通道阻抗测试控制系统100,采用卡槽插卡的设计方式,最大支持插六张信号切换卡30,每张信号切换卡支持三十二个测试点位,因此该系统最大支持192个测试点位间任意两个点位的阻抗测试,同时信号切换卡30采用动作时间更短的磁簧继电器做信号切换,使得本系统具有使用灵活、切换间隔短、测试效率高的显著特点。

请参阅图2,本实用新型实施例还提供了一种多通道阻抗测试系统,包括一体机40、与所述一体机40连接的电阻测试仪50,以及与所述电阻测试仪50连接的四根测试探针60,还包括上述的多通道阻抗测试控制系统,所述一体机40和所述电阻测试仪50均与所述多通道阻抗测试控制系统100连接,其中,所述电阻测试仪50通过第一串口通讯线53与所述一体机40连接。所述多通道阻抗测试控制系统通过第二串口通讯线41与所述一体机40连接。

上述多通道阻抗测试系统,多通道阻抗测试控制系统100提供测试切换控制功能,电阻测试仪50提供高精度电阻测试功能,测试探针60用于将需要进行阻抗测试的点位信号转接到多通道阻抗测试控制系统100上,一体机40控制整个测试过程,从而达到测试产品测试点位间阻抗值的检测功能。

具体的,在本实施例中,所述电阻测试仪50为四线电阻测试仪,所述电阻测试仪50包括切换控制电路板51和与所述切换控制电路板51连接的探针针板52,四线电阻测试仪提供高精度电阻测试功能,测试探针70及探针针板62用于将需要进行阻抗测试的点位信号转接到多通道阻抗测试控制系统100。

需要说明的是,使用双针四线电阻测试仪50,可消除切换测量回路电阻和探针接触的电阻,使得测量到的阻值为真实的壳体线路阻值。

具体的,在本实施例中,所述第一串口通讯线53和第二串口通讯线41均为rs-232串口通讯线,以实现串口通讯功能,其中通过第一串口通讯线53和第二串口通讯线41与主控制卡20上的两个串口通讯接口。

具体的,本多通道阻抗测试系统的操作流程如下:

1.多通道阻抗测试控制系统100连通电源、第一串口通讯线53和第二串口通讯线41以及任意四线电阻测试仪50上电;

2.多通道阻抗测试控制系统100控制两路电机运动,提供自动回原点指令,配合原点感应器即可,提供正转反转指令,支持加减速运动,运动速度和距离可调;

3.多通道阻抗测试控制系统100控制信号切换卡30切换,以将任意两个需要做阻抗测试的点位导通,实现多通道阻抗测试。

需要说明的是,本申请中的卡槽主板10、主控制卡20、信号切换卡30以及探针针板52均为电路板,其上设有相应的功能电脑,以实现相应的连接功能。

具体的,本申请中,一体机40用于在测试过程中显示每个测量点的实际测试量和结果,测试后显示最终测量结果和不良测试点位。其可以为一体式台式电脑。

多通道阻抗测试控制系统100与电阻测试仪50连接,并将检测数据传输给一体机40显示。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

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