光纤检测装置和光纤检测系统的制作方法

本实用新型实施例涉及光纤检测技术领域，尤其涉及一种光纤检测装置和光纤检测系统。

背景技术：

光纤通信具有传输容量大、抗干扰能力强、传输衰减小等优点，光纤作为一种优良的通信载体，已在通信网络中广泛使用。为了降低光纤因故障而带来的不良影响，一般会有多个备用光纤与正在使用的光纤敷设在一个区域。然而随着光纤数量的增加以及早期敷设的备用光纤的老化，备用光纤线路也逐渐产生损耗和故障的情况。

对于备用光纤损耗和故障的情况，一般是通过采用分散式、被动式的人工维护手段，在光缆铺设的各个区域配置人员进行逐个备用光纤的故障检测。这种通过人工检测的方式，检测效率低。

因此，目前的检测备用光纤的故障的方式，检测效率低。

技术实现要素：

本实用新型提供一种光纤检测装置和光纤检测系统，用以解决目前的检测备用光纤的故障的方式，检测效率低的问题。

第一方面，本实用新型提供一种光纤检测装置，测试信号发生单元、测试信号探测单元及控制单元；

所述控制单元分别与所述测试信号发生单元及所述测试信号探测单元连接；所述测试信号发生单元和所述测试信号探测单元分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接；

所述控制单元，用于若获取到光纤检测指令，则控制所述测试信号发生单元产生测试光脉冲；

所述测试信号发生单元，用于将所述测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤；

所述测试信号探测单元，用于接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号，并将各背向散射光信号转换为电压脉冲信号；

所述控制单元，还用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障。

进一步地，如上所述的装置，还包括：通信模块，所述通信模块与所述控制单元连接；

所述通信模块，用于接收电子设备的光纤检测指令，并将所述光纤检测指令发送给所述控制单元，所述光纤检测指令是用户通过电子设备触发的。

进一步地，如上所述的装置，还包括：开关单元，开关单元包括多个光开关；

各光开关分别与所述控制单元，所述测试信号发生单元，测试信号探测单元及对应的待测备用光纤连接；

所述控制单元，还用于若获取到光纤检测指令，则控制各光开关开启。

进一步地，如上所述的装置，还包括：耦合器；

各光开关通过耦合器与所述测试信号发生单元及所述测试信号探测单元连接；

所述耦合器，用于将各所述测试光脉冲进行分配后，通过对应的光开关输入至对应的待测备用光纤中；

所述耦合器，还用于接收各个待测备用光纤通过所述对应的光开关发送的背向散射光信号，并将各所述背向散射光信号传递至所述测试信号探测单元。

进一步地，如上所述的装置，还包括：前置放大器；

所述前置放大器分别与所述测试信号探测单元和所述控制单元连接；

所述前置放大器，用于将各所述电压脉冲信号进行放大，并将各放大后的电压脉冲信号传输至所述控制单元。

进一步地，如上所述的装置，所述前置放大器为agc放大器。

进一步地，如上所述的装置，所述测试信号发生单元包括半导体激光二极管和驱动电路；所述驱动电路分别与所述控制单元及所述半导体激光二极管连接；

所述控制单元，在控制所述测试信号发生单元产生测试光脉冲时，具体用于：向所述驱动电路发送控制指令；

所述驱动电路，用于根据所述控制指令控制半导体激光二极管发射测试激光脉冲。

进一步地，如上所述的装置，所述测试信号探测单元包括雪崩光电二极管及转换电路；

所述雪崩光电二极管，用于接收各背向散射光信号，将各所述背向散射光信号转换为对应的回波光脉冲电信号，并将各所述回波光脉冲电信号发送至转换电路；

所述转换电路用于将各所述回波光脉冲电信号转换成对应的电压脉冲信号，并将各所述电压脉冲信号输入至所述控制单元。

进一步地，如上所述的装置，所述控制单元包括相互连接的数模转换器和控制器；所述数模转换器与所述测试信号探测单元连接；

所述数模转换器，用于将所述电压脉冲信号转换为数字脉冲信号，并将所述数字脉冲信号发送至所述控制器；

所述控制器用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障。

第二方面，本实用新型提供一种光纤检测系统，包括：电子设备和如第一方面任一所述的光纤检测装置；

所述电子设备与所述光纤检测装置进行通信连接；

所述电子设备，用于接收用户触发的光纤检测指令，并将所述光纤检测指令发送给所述光纤检测装置；

所述光纤检测装置，用于对多个待测备用光纤进行检测。

本实用新型实施例提供的一种光纤检测装置和光纤检测系统，该装置包括：测试信号发生单元、测试信号探测单元及控制单元；所述控制单元分别与所述测试信号发生单元及所述测试信号探测单元连接；所述测试信号发生单元和所述测试信号探测单元分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接；所述控制单元，用于若获取到光纤检测指令，则控制所述测试信号发生单元产生测试光脉冲；所述测试信号发生单元，用于将所述测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤；所述测试信号探测单元，用于接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号，并将各背向散射光信号转换为电压脉冲信号；所述控制单元，还用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障。本实用新型实施例提供的光纤检测装置通过将测试信号发生单元和测试信号探测单元分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接。在进行故障检测时，控制单元在接收到光纤检测指令后，控制所述测试信号发生单元将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。同时，控制单元通过测试信号探测单元接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号。最后，控制单元根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障，从而可以判断多个待测备用光纤中是否存在故障的待测备用光纤，实现对多个待测备用光纤的高效率检测。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1为本实用新型第一实施例提供的光纤检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置的结构示意图；

图3为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中测试信号发生单元的结构示意图；

图4为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中测试信号探测单元的结构示意图；

图5为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中控制单元的结构示意图；

图6为本实用新型第三实施例提供的光纤检测系统的结构示意图。

符号说明：

110-控制单元；111-控制器；113-数模转换器；120-测试信号发生单元；121-驱动电路；123-半导体激光二极管；130-测试信号探测单元；131-转换电路；133-雪崩光电二极管；140-通信模块；150-开关单元；160-耦合器；170-前置放大器；180-待测备用光纤；210-电子设备；220-光纤检测装置。

通过上述附图，已示出本公开明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

为了更清楚理解本申请的技术方案，下面对现有技术的方案进行详细介绍。光纤通信具有传输容量大、抗干扰能力强、传输衰减小等优点，因而应用也十分广泛。然而随着光纤数量的增加以及早期敷设的备用光纤的老化，备用光纤线路也逐渐产生损耗和故障的情况。

对于备用光纤损耗和故障的情况，一般是通过采用分散式、被动式的人工维护手段，在光缆铺设的各个区域配置人员使用检测设备，在各个区域中对各个备用光纤，进行逐个的检测。比如首先使用检测设备检测备用光纤a，然后将检测设备拆下来检测备用光纤b，直到该区域中所有的备用光纤都检测完成。这种通过人工检测的方式，检测繁琐，且效率低。

所以针对现有技术中人工检测的方式效率低的技术问题，发明人在研究中发现，可以将测试信号发生单元和测试信号探测单元设置在多个备用光纤的相同的端口处，通过控制单元来控制测试信号发生单元和测试信号探测单元以发射测试光脉冲和接收备用光纤反馈对应的背向散射光信号的方式实现对多个备用光纤进行自动化故障检测。如果备用光纤发生了故障，则可以通过距离计算公式来计算故障点与测量信号发送点之间的距离。

光纤故障点与测量信号发送点之间的距离l可以表示为：

l＝c·t/2n

其中c为激光在大气中的传播速度，t为激光在待测距离l上的往返时间，n为光纤芯群折射率。

因此只要测量出t便可以得到备用光纤故障点与测量信号发送点之间的距离。进一步的还可以通过计算公式计算得出光纤的损耗α：

α＝a/2l＝p1-p2/2l

其中，a为光信号的总衰耗，p1为入射光信号的功率强度，p2为散射光信号的功率强度。

因此，发明人认为在进行故障检测时，控制单元可以在接收到光纤检测指令后，控制测试信号发生单元将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。同时，控制单元通过测试信号探测单元接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号。最后，控制单元根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障，从而可以判断多个待测备用光纤中是否存在故障的待测备用光纤，实现对多个待测备用光纤的高效率检测。

发明人基于上述的创造性发现，提出了本申请的技术方案。

下面以具体地实施例对本实用新型的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本实用新型的实施例进行描述。

图1为本实用新型第一实施例提供的光纤检测装置的结构示意图，如图1所示，本实施例中，光纤检测装置包括：测试信号发生单元120、测试信号探测单元130及控制单元110。

控制单元110分别与测试信号发生单元120及测试信号探测单元130连接。测试信号发生单元120和测试信号探测单元130分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接。

其中，控制单元110，用于若获取到光纤检测指令，则控制测试信号发生单元120产生测试光脉冲。

测试信号发生单元120，用于将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。

测试信号探测单元130，用于接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号，并将各背向散射光信号转换为电压脉冲信号。

同时，控制单元110，还用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障。

本实施例中，测试信号发生单元120指可以产生测试光脉冲的单元，其可以包含发光器件。由于待测备用光纤的长度不一，测试光脉冲的强度可以根据待测备用光纤的长度进行对应的调整。

本实施例中，测试信号探测单元130指可以接收待测备用光纤根据测试光脉冲反馈的背向散射光信号，并可以将背向散射光信号转换为电压脉冲信号的单元。例如可以为光电探测器。

本实施例中，控制单元110可以包括控制器，比如stm32微控制器、单片机、计算机等，本实施例对此不作限定。

本实施例中，测试信号发生单元120和测试信号探测单元130可以有多个，从而可以给每个待测备用光纤针对性的进行故障检测。测试信号发生单元120和测试信号探测单元130设置在待测备用光纤的同一侧，从而方便发射测试光脉冲和接收背向散射光信号。

本实施例中，控制单元110获取到光纤检测指令可以是通过维护人员直接输入光纤检测指令或者是通过另外的电子设备发送光纤检测指令以使控制单元110接收到光纤检测指令，对于控制单元110如何获取光纤检测指令，本实施例对此不作限定。

本实施例中，为了使所有的待测备用光纤都能在互不干扰的情况下完成故障检测，因而将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。由于从向对应的待测备用光纤发射测试光脉冲至接收对应的待测备用光纤反馈的背向散射光信号需要一定的时间，每条待测备用光纤长度又可能不一样，预设时间间隔可以按照实际的需求进行设置，本实施例对此不作限定。

本实施例中，控制单元110根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值通过计算公式确定各待测备用光纤是否故障以及故障的地方离测试光脉冲发射处的距离。

待测备用光纤故障点与测试光脉冲发射处之间的距离l可以表示为：

l＝c·t/2n

其中c为激光在大气中的传播速度，t为激光在待测距离l上的往返时间，n为光纤芯群折射率。

因此，只要测量出t便可以得到待测备用光纤故障点与测试光脉冲发射处之间的距离。

进一步的，还可以通过计算公式计算得出待测备用光纤的损耗α：

α＝a/2l＝p1-p2/2l

其中，a为光信号的总衰耗，p1为入射光信号的功率强度，p2为散射光信号的功率强度。

本实用新型实施例提供一种光纤检测装置，该装置包括：测试信号发生单元120、测试信号探测单元130及控制单元110。控制单元110分别与测试信号发生单元120及测试信号探测单元130连接。测试信号发生单元120和测试信号探测单元130分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接。控制单元110，用于若获取到光纤检测指令，则控制测试信号发生单元120产生测试光脉冲。测试信号发生单元120，用于将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。测试信号探测单元130，用于接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号，并将各背向散射光信号转换为电压脉冲信号。控制单元110，还用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障。本实用新型实施例提供的光纤检测装置通过将测试信号发生单元120和测试信号探测单元130分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接。在进行故障检测时，控制单元110在接收到光纤检测指令后，控制测试信号发生单元120将测试光脉冲按照预设时间间隔分别输入至对应的待测备用光纤。同时，控制单元110通过测试信号探测单元130接收各待测备用光纤根据测试光脉冲生成的背向散射光信号。最后，控制单元110根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤是否故障，从而可以判断多个待测备用光纤中是否存在故障的待测备用光纤，实现对多个待测备用光纤的高效率检测。

图2为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置的结构示意图，图2所示，本实施例提供的光纤检测装置，在上一实施例提供的光纤检测装置的基础上，对各个部件进行了进一步地细化，则本实施例提供的光纤检测装置还包括以下技术方案。

可选的，本实施例中，还包括：通信模块140，通信模块140与控制单元110连接。

其中，通信模块140，用于接收电子设备的光纤检测指令，并将光纤检测指令发送给控制单元110，其光纤检测指令是用户通过电子设备触发的。

本实施例中，通过设置通信模块140可以使电子设备通过通信连接通信模块140，从而将电子设备的光纤检测指令从远程传递至控制单元110，以实现远程操控故障检测流程，进而可以进一步的提高待测备用光纤180的故障检测效率。

本实施例中，电子设备上可以设置开始故障检测按钮、结束故障检测按钮、周期性故障检测按钮等，以供用户进行对应的故障检测操作。或者电子设备中装载触发光纤检测装置进行检测及停止检测的应用程序客户端或网页，用户可通过客户端或网页中的开始故障检测图标、结束故障检测图标、周期性故障检测图标等，以供用户进行对应的故障检测操作。

其中，电子设备可以为计算器，服务器或服务器集群等设备。

可选地，本实施例中，还包括：开关单元150，开关单元150包括多个光开关。

其中，各光开关分别与控制单元110，测试信号发生单元120，测试信号探测单元130及对应的待测备用光纤180连接。

控制单元110，还用于若获取到光纤检测指令，则控制各光开关开启。

本实施例中，可以预先将待测备用光纤180进行编号，同时将待测备用光纤180对应的光开关也相应的设置对应编号。光纤检测指令中可以包括故障检测的顺序和检测的待测备用光纤编号，从而使控制单元110在获取到光纤检测指令后，可以根据故障检测的顺序和检测的待测备用光纤编号控制各个光开关的开启。

本实施例中，控制单元110还可以根据故障检测的顺序和检测的待测备用光纤编号控制当前需要检测的待测备用光纤180对应的光开关开启，而控制其他的待测备用光纤180对应的光开关关闭，从而降低故障检测时待测备用光纤180之间的干扰。

可选的，本实施例中，还包括：耦合器160。

各光开关通过耦合器160与测试信号发生单元120及测试信号探测单元130连接。

其中，耦合器160，用于将各测试光脉冲进行分配后，通过对应的光开关输入至对应的待测备用光纤180中。

耦合器160，还用于接收各个待测备用光纤180通过对应的光开关发送的背向散射光信号，并将各背向散射光信号传递至测试信号探测单元130。

本实施例中，由于各个待测备用光纤180需要的测试光脉冲的强度是不同的，因而可以通过耦合器160将测试光脉冲进行分配后，通过对应的光开关输入至对应的待测备用光纤180中，从而使测试光脉冲的强度与待测备用光纤180之间匹配度更高。同时，耦合器160还可以用于接收各个待测备用光纤180通过对应的光开关发送的背向散射光信号，并将各背向散射光信号传递至测试信号探测单元130。

可选的，本实施例中，还包括：前置放大器170。

其中，前置放大器170分别与测试信号探测单元130和控制单元110连接。

前置放大器170，用于将各电压脉冲信号进行放大，并将各放大后的电压脉冲信号传输至控制单元110。

本实施例中，由于测试信号探测单元130转换后得到的电压脉冲信号比较小，通过前置放大器170可以将各电压脉冲信号进行放大，以使控制单元110可以更好的识别电压脉冲信号。

可选的，本实施例中，前置放大器170为agc放大器。

本实施例中，agc放大器即自动增益控制放大器，由于待测备用光纤180的长度不同，故障所在区域的距离的远近不同，导致测试信号探测单元130输出的电压脉冲信号变化的幅度较大，容易影响故障检测的精确度，通过agc放大器可以得到一个幅值变化较小的电压脉冲信号，从而提高待测备用光纤故障检测的精确度。

如图3所示，图3为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中测试信号发生单元的结构示意图。

可选的，本实施例中，测试信号发生单元120包括半导体激光二极管123和驱动电路121。驱动电路121分别与控制单元110及半导体激光二极管123连接。

其中，控制单元110，在控制测试信号发生单元120产生测试光脉冲时，具体用于：向驱动电路121发送控制指令。

驱动电路121，用于根据控制指令控制半导体激光二极管123发射测试激光脉冲。

本实施例中，半导体激光二极管123用于产生测试用激光脉冲，半导体激光二极管123由于体积小、寿命长并可以采用简单的电流注入的方式来泵浦，从而可以减小测试信号发生单元120的大小，提高故障检测的便携性。同时，通过，半导体激光二极管123也可以增加测试信号发生单元120产生测试光脉冲的稳定性。半导体激光二极管123工作原理和其他激光器一样，都是基于受激发射。通常脉冲激光的峰值功率和测量距离密切相关，峰值功率越大，越有利于增加测量距离。一般情况下，当半导体激光二极管123正向偏置有注入电流时就有光输出，一开始输出光功率随着注入电流的增加而线性增加，但发光效率很低，当电流超过阈值电流后，半导体激光二极管123的输出功率随电流的增加而急剧上升。驱动电路121用于驱动控制半导体激光二极管123发射对应强度的测试激光脉冲。

如图4所示，图4为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中测试信号探测单元的结构示意图。

可选的，本实施例中，测试信号探测单元130包括雪崩光电二极管133及转换电路131。

其中，雪崩光电二极管133，用于接收各背向散射光信号，将各背向散射光信号转换为对应的回波光脉冲电信号，并将各回波光脉冲电信号发送至转换电路131。

转换电路131用于将各回波光脉冲电信号转换成对应的电压脉冲信号，并将各电压脉冲信号输入至控制单元110。

本实施例中，雪崩光电二极管133工作需要160v的高压电压，可以由其他电路或者电源提供。测试信号探测单元130通过雪崩光电二极管133接收各背向散射光信号，从而将各背向散射光信号转换为对应的回波光脉冲电信号，通过转换电路131把接收到的回波光脉冲信号转换为电压脉冲信号。

如图5所示，图5为本实用新型第二实施例提供的光纤检测装置中控制单元的结构示意图。

可选的，本实施例中，控制单元110包括相互连接的数模转换器113和控制器111。数模转换器113与测试信号探测单元130连接。

其中，数模转换器113，用于将电压脉冲信号转换为数字脉冲信号，并将数字脉冲信号发送至控制器111。

控制器111用于根据各测试光脉冲输入到对应的待测备用光纤180的时间，及对应的电压脉冲信号的接收时间之间的时间差值确定各待测备用光纤180是否故障。

本实施例中，控制器111可以是stm32微控制器、单片机或计算机等，本实施例对此不作限定。由于电压脉冲信号是模拟信号，而控制器111只能处理数字信号，所以通过数模转换器113可以将电压脉冲信号转换为数字脉冲信号，以实现控制器111对待测备用光纤180是否故障进行判断。

本实用新型实施例提供的光纤检测装置在进行故障检测时，由于装置设置在待测备用光纤180的端口区域，因而检测时不会对光纤本身造成破坏。同时，通过通信模块140，可以实现远程操控故障检测流程的目的，从而能够代替传统的人工巡检，直接从远程端进行待测备用光纤180的故障检测。通过耦合器160和开关单元150结合，可以在进行待测备用光纤180的故障检测时，按照预设的顺序，控制单元110控制光开关进行对应的开启和关闭，然后通过耦合器160分配对应强度的测试光脉冲，从而可以在互不干扰的情况下，更精确的检测各个待测备用光纤180是否发生故障，以及查找到故障的区域。

图6为本实用新型第三实施例提供的光纤检测系统的结构示意图，如图6所示，本实施例中，提供一种光纤检测系统，包括：电子设备210和如实施例一或实施例二的光纤检测装置220。

其中，电子设备210与光纤检测装置220进行通信连接。

同时，电子设备210，用于接收用户触发的光纤检测指令，并将光纤检测指令发送给光纤检测装置220。

光纤检测装置220，用于对多个待测备用光纤进行检测。

本实施例中，电子设备210可以有多个，同时，电子设备210可以作为服务器。比如在每个光纤敷设区域都设置有区域对应的服务器，而在多个光纤敷设区域设置总服务器，从而可以实现多面积多待测备用光纤的故障检测以及进行对应的故障检测数据统计。

同时，电子设备可以为计算器，服务器或服务器集群等设备。

本实施例提供的光纤检测系统中，光纤检测装置的结构与功能与本实用新型上述实施例一或实施例二提供的光纤检测装置的结构和功能类似，在此不再一一赘述。

本实施例的光纤检测系统，通过将光纤检测装置220分别与多个待测备用光纤通过相同的端口连接。在进行故障检测时，光纤检测装置220在接收到电子设备210发送的光纤检测指令后，进行待测备用光纤的故障检测，并可以将故障检测结果反馈给电子设备210，从而可以以远程操作的方式判断多个待测备用光纤中是否存在故障的待测备用光纤，实现对多个待测备用光纤的高效率检测。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的实用新型后，将容易想到本公开的其它实施方案。本实用新型旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求书来限制。