一种晶振高温老炼设备的制作方法

本实用新型属于晶体振荡器测试技术领域，尤其涉及一种晶振高温老炼设备。

背景技术：

老炼实验设备是工程上常用来剔除早期失效产品，提高系统可靠性的方法。通常生产厂商生产出一批产品后，由于各种不确定因素，会导致同一批产品中各个元器件的可靠性不同。为了保证提交到用户手中的产品的质量，生产厂商会在产品包装出厂前对元器件进行老炼，即在一定时间内对元器件施加一定的应力，如电流、电压、温度等，从而剔除一些有缺陷的产品，保证出厂的产品质。其中晶振试验时其中一个步骤便是高温老炼，如图1所示，传统的老炼方式中，晶振老炼板放置烘箱内，导线从烘箱内引出，当老炼板数量多时，烘箱门无法关闭，温度无法保证，且传统的老炼方式操作复杂。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种晶振高温老炼设备。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念，以此作为后面的详细说明的序言。

本实用新型采用如下技术方案：一种晶振高温老炼设备，包括：测试烘箱、器件承载架及若干晶振输送装置，所述器件承载架设置在所述测试烘箱的内部，所述测试烘箱的封闭门上开设若干与所述晶振输送装置对应的输送槽；

所述晶振输送装置包括：装载底板、测试工位、线束存储底座及翻转封板，所述装载底板的上表面开设若干等距设置的定位槽，所述测试工位嵌置在所述定位槽内，所述线束存储底座设置在所述装载底板的下表面且所述线束存储底座内开设束线槽，所述定位槽底部开设与所述束线槽连通的线孔，所述翻转封板与所述装载底板的前端铰接；

所述器件承载架包括：平行设置的若干支撑板，所述支撑板的首端与所述输送槽连接，且所述支撑板的首端高于尾端。

在一些可选的实施例中，所述器件承载架还包括：悬挂桁架及导轨；所述悬挂桁架与所述导轨的运动件连接，所述导轨的乘导件与所述测试烘箱的顶壁连接。

在一些可选的实施例中，所述支撑板的尾端设置与所述支撑板垂直的挡板，所述挡板上设置弹簧组件，所述支撑板的上表面设置若干滚轮。

在一些可选的实施例中，所述翻转封板包括：本体、密封圈、限位板及线管；所述本体与所述装载底板铰接，所述密封圈套设在所述本体上，所述限位板设置在所述本体上，所述线管穿过所述本体。

在一些可选的实施例中，所述的装载底板的侧面设置温度传感器。

本实用新型所带来的有益效果：本实用新型利用晶振输送装置将待测晶振成组的放置在测试烘箱内，而且线束经线束存储底座引出，在测试烘箱的封闭门上设计输送槽并由翻转封板进行封闭，无需频繁打开测试烘箱，保证测试烘箱内的环境的稳定性；本实用新型结构简单、易操作，晶振器插装完成后将晶振输送装置塞入测试烘箱内即可，纷乱的线束得到整理的同时且不会影响测试烘箱的密闭性；本实用新型结构稳定，重复性大。

附图说明

图1是现有技术老炼设备原理图；

图2是本实用新型测试烘箱的外部示意图；

图3是本实用新型一种晶振高温老炼设备的内部结构示意图；

图4是本实用新型晶振输送装置的结构示意图。

具体实施方式

以下描述和附图充分地示出本发明的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施方案可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施方案的部分和特征可以被包括在或替换其他实施方案的部分和特征。

如图2至4所示，在一些说明性的实施例中，提供一种晶振高温老炼设备，包括：测试烘箱1、器件承载架2、若干晶振输送装置3、封闭门4、输送槽5。

测试烘箱1内部设置加热装置，加热装置为测试烘箱1提供高温的内部环境，器件承载架2设置在测试烘箱1的内部，插入测试烘箱1内的晶振输送装置3均由器件承载架2进行支撑。测试烘箱1上设置一个封闭门4，封闭门4上开设若干与晶振输送装置3对应的输送槽5，晶振输送装置3通过输送槽5进入测试烘箱1。

晶振输送装置3包括：装载底板301、测试工位302、线束存储底座303、翻转封板304、束线槽305、线孔306、温度传感器307。

装载底板301的上表面开设若干等距设置的定位槽，测试工位302嵌置在定位槽内，测试工位302与定位槽为过盈配合，或者测试工位302利用螺钉固定在定位槽内，待测晶振器插接在测试工位302上。

线束存储底座303设置在装载底板301的下表面，线束存储底座303内开设束线槽305，定位槽底部开设与束线槽305连通的线孔306，测试工位302引出的连接线经线孔306进入束线槽305。束线槽305的出线端靠近装载底板301的前端，翻转封板304与装载底板301的前端铰接，从而可以调整翻转封板304与装载底板301之间的角度。翻转封板304与输送槽5适配，当装载底板301进入测试烘箱1后，翻转封板304将输送槽5封闭。

翻转封板304包括：本体6、密封圈7、限位板8及线管9。

本体6与装载底板301铰接，密封圈7套设在本体6上，密封圈7用于提升翻转封板304与输送槽5的密闭性及紧固性。

限位板8设置在本体6上，限位板8的长度和宽度均大于输送槽5，限位板8可以避免翻转封板304掉入测试烘箱1内，同时可以提升翻转封板304与输送槽5的密闭性。

线管9穿过本体6，自束线槽305引出的线束通过线管9到达测试烘箱1外并与测试主机连接，线管9两端可以设置密封塞，保证测试烘箱1的密闭性，维持内部环境稳定。

装载底板301的侧面设置温度传感器307，实时检测测试烘箱1内部各个位置的温度，温度测试位置靠近测试工位302，使得检测温度更加贴近于晶振器所承载的温度。

器件承载架2包括：滚轮206、弹簧组件205、挡板204、悬挂桁架202、导轨203、平行设置的若干支撑板201。

支撑板201的首端与输送槽5活动连接，例如可采用卡扣连接。且支撑板201的首端高于尾端，即支撑板201是倾斜设置在测试烘箱1内部的，使得进入测试烘箱1内的器件承载架2由于重力自动滑入支撑板201的尾端。

悬挂桁架202与导轨203的运动件连接，导轨203的乘导件与测试烘箱1的顶壁连接，从而使得可以将器件承载架2整体自测试烘箱1内抽出，便于维修。

支撑板201的尾端设置与支撑板201垂直的挡板204，挡板204上设置弹簧组件205，当晶振输送装置3全部进入测试烘箱1中，且翻转封板304将输送槽5完全封闭时，弹簧组件205处于压缩状态，因此当打开翻转封板304时，晶振输送装置3由于弹簧组件205的作用向外弹出一部分，便于抽取，操作简便。

支撑板201的上表面设置若干滚轮206，便于晶振输送装置3滑动进入，即减少支撑板201与晶振输送装置3底部的摩擦。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所做的改变，修饰，替代，组合，简化，均应为等效的置换方式，都应包含在本实用新型的保护范围内。