1.一种测距装置，包括：
发光部，其发出照射光；
受光部，其接收由所述照射光在目标对象上的反射而产生的反射光；
计算部，其基于从所述照射光的发出到所述反射光的接收的时间来计算距所述目标对象的距离；和
发光控制部，其控制所述发光部，
其中所述发光控制部通过在预定的帧内切换第一发光模式和不同于第一发光模式的第二发光模式来控制所述发光部的发光。
2.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述发光控制部随机地切换第一发光模式和第二发光模式。
3.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述预定的帧具有第一子帧和第二子帧，和
所述发光控制部在第一子帧中适用第一发光模式并且在第二子帧中适用第二发光模式。
4.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述发光部发出脉冲光，和
第一发光模式和第二发光模式在所述脉冲光的相位方面不同。
5.根据权利要求4所述的测距装置，其中
所述相位被离散地或连续地设定。
6.根据权利要求4所述的测距装置，其中
所述相位是0度、90度、180度和270度中的任何一个。
7.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述发光部发出脉冲光，和
第一发光模式和第二发光模式在所述脉冲光的开始发出的时机方面不同。
8.根据权利要求3所述的测距装置，其中
第一子帧和第二子帧的期间长度不同。
9.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述发光控制部基于所存储的关于发光模式的顺序的信息来切换第一发光模式和第二发光模式。
10.根据权利要求1所述的测距装置，其中
在所述预定的帧中，所述测距装置将通过由所述受光部接收所述反射光而产生的电荷分配到第一抽头和第二抽头，并且根据在第一抽头中累积的电荷来检测第一检测信号和根据在第二抽头中累积的电荷来检测第二检测信号；
在所述预定的帧接着的帧中，所述测距装置将通过由所述受光部接收所述反射光而产生的电荷分配到第一抽头和第二抽头，并且根据在第一抽头中累积的电荷来检测第三检测信号和根据在第二抽头中累积的电荷来检测第四检测信号；和
所述计算部使用第一至第四检测信号来计算距所述目标对象的距离。
11.根据权利要求1所述的测距装置，其中
在所述预定的帧中，所述测距装置将通过由所述受光部接收所述反射光而产生的电荷分配到第一至第四抽头，并且根据在第一抽头中累积的电荷来检测第一检测信号、根据在第二抽头中累积的电荷来检测第二检测信号、根据在第三抽头中累积的电荷来检测第三检测信号和根据在第四抽头中累积的电荷来检测第四检测信号，和
所述计算部使用第一至第四检测信号来计算距所述目标对象的距离。
12.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述测距装置是间接型飞行时间(tof)传感器。
13.根据权利要求1所述的测距装置，其中
所述测距装置是直接型飞行时间(tof)传感器。
14.根据权利要求1所述的测距装置，
其中所述发光控制部通过在所述预定的帧内切换第一发光模式、第二发光模式、不同于第一和第二发光模式的第三发光模式以及不同于第一至第三发光模式的第四发光模式来控制所述发光部的发光。
15.根据权利要求14所述的测距装置，其中
第二发光模式与第一发光模式在相位上相差90度，
第三发光模式与第一发光模式在相位上相差180度，和
第四发光模式与第一发光模式在相位上相差270度。
16.一种测距方法，包括由执行距离测量处理的测距装置实施的以下步骤：
发出照射光；
接收由所述照射光在目标对象上的反射而产生的反射光；
基于从所述照射光的发出到所述反射光的接收的时间来计算距所述目标对象的距离；和
控制所述照射光的发出，
其中在所述的发出控制中，在预定的帧内切换第一发光模式和不同于第一发光模式的第二发光模式以控制发光。
17.一种使执行距离测量处理的测距装置的计算机实施处理的程序，包括：
发出照射光；
接收由所述照射光在目标对象上的反射而产生的反射光；
基于从所述照射光的发出到所述反射光的接收的时间来计算距所述目标对象的距离；和
控制所述照射光的发出，
所述处理包括在所述的发出控制期间，在预定的帧内切换第一发光模式和不同于第一发光模式的第二发光模式以控制发光。