一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置

1.本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种用于紧缩场测试中静区相 位恢复的方法及装置。


背景技术：

2.紧缩场测试方法是一种在狭小空间中利用光的反射原理获取平面波进而 对待测天线进行测试的天线测试方法。在紧缩场测试方法中，主要是基于静区 中光场的幅值和相位，获得待测天线的性能参数。其中，光场的幅值可以直接 用仪器测量得到，而光场的相位不能用仪器测量得到，为此需要通过相位恢复 方法对静区中光场的相位进行恢复。上述静区是指紧缩场中平面波所在的区域。
3.现有技术中，一般基于g
‑
s(gerchbera
‑
saxton)恢复静区中光场的相位。 这种情况下，通常将平面所在光场的初始相位预先设定为一固定值，然后在上 述初始相位的基础上，实现基于g
‑
s的静区中光场的相位恢复。
4.但是由于在紧缩场中，探针扫描支架的抖动会导致光场出现偏移，这样上 述初始相位实际上并非为固定不变的值，所以，应用上述现有技术恢复静区中 光场的相位时结果准确度低。


技术实现要素：

5.本发明实施例的目的在于提供一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法及装置，以提高恢复静区中光场的相位时结果的准确度。具体技术方案如 下：
6.第一方面，本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法，所述方法包括：
7.获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在 光场的第二幅值和第二光强，其中，所述第一垂轴面和第二垂轴面为：紧缩场 中静区内按照光的传播方向依次排列、且与光的传播方向垂直的面；
8.利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定 的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；
9.基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信 号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件，其中，所述待调整复振幅信 号的初始值为：相位为所述初始相位、且幅值为所述第一幅值的复振幅信号；
10.将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在 光场进行相位恢复后的相位。
11.本发明的一个实施例中，所述获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一 光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强，包括：
12.获取紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列的第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值；
13.根据光强与振幅之间的对应关系，获得所述第一垂轴面所在光场的第一光 强和第二垂轴面所在光场的第二光强。
14.本发明的一个实施例中，所述光强与振幅之间的对应关系为光强大小等于 振幅大小的平方。
15.本发明的一个实施例中，所述相位随光强的变化关系按照以下表达式表示：
[0016][0017][0018]
其中，λ表示波长，i表示光强，表示垂直于光的传播方向的平面的微 分算子，表示相位，分别表示在空间坐标系中沿x、y、z轴 方向上取偏微分操作，i、j、k分别表示x、y、z轴方向上的单位矢量。
[0019]
本发明的一个实施例中，所述基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值 约束条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件， 包括：
[0020]
对所述待调整复振幅信号进行傅里叶变换，得到第一复振幅信号；
[0021]
将所述第一复振幅信号的幅值替换为所述第二幅值，得到第二复振幅信号；
[0022]
对所述第二复振幅信号进行傅里叶逆变换，得到第三复振幅信号；
[0023]
将所述第三复振幅信号的幅值替换为所述第一幅值，得到第四复振幅信号；
[0024]
将所述待调整复振幅信号更新为所述第四复振幅信号，并返回所述对所述 待调整复振幅信号进行傅里叶变换的步骤，直至满足迭代结束条件。
[0025]
第二方面，本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的装 置，所述装置包括：
[0026]
信息获取模块，用于获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并 获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强，其中，所述第一垂轴面和第 二垂轴面为：紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列、且与光的传播方向 垂直的面；
[0027]
相位获得模块，用于利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随 光强的变化关系确定的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；
[0028]
幅值迭代模块，用于基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件， 对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件，其中，所 述待调整复振幅信号的初始值为：相位为所述初始相位、且幅值为所述第一幅 值的复振幅信号；
[0029]
相位恢复模块，用于将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所 述第一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。
[0030]
本发明的一个实施例中，所述信息获取模块，具体用于：
[0031]
获取紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列的第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值；
[0032]
根据光强与振幅之间的对应关系，获得所述第一垂轴面所在光场的第一光 强和第二垂轴面所在光场的第二光强。
[0033]
本发明的一个实施例中，所述光强与振幅之间的对应关系为光强大小等于 振幅
大小的平方。
[0034]
本发明的一个实施例中，所述相位随光强的变化关系按照以下表达式表示：
[0035][0036][0037]
其中，λ表示波长，i表示光强，表示垂直于光的传播方向的平面的微 分算子，表示相位，分别表示在空间坐标系中沿x、y、z轴 方向上取偏微分操作，i、j、k分别表示x、y、z轴方向上的单位矢量。
[0038]
本发明的一个实施例中，所述幅值迭代模块，具体用于：
[0039]
对所述待调整复振幅信号进行傅里叶变换，得到第一复振幅信号；
[0040]
将所述第一复振幅信号的幅值替换为所述第二幅值，得到第二复振幅信号；
[0041]
对所述第二复振幅信号进行傅里叶逆变换，得到第三复振幅信号；
[0042]
将所述第三复振幅信号的幅值替换为所述第一幅值，得到第四复振幅信号；
[0043]
将所述待调整复振幅信号更新为所述第四复振幅信号，并返回所述对所述 待调整复振幅信号进行傅里叶变换的步骤，直至满足迭代结束条件。
[0044]
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、 存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互 间的通信；
[0045]
存储器，用于存放计算机程序；
[0046]
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第一方面任一所述的方 法步骤。
[0047]
第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可 读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方 面任一所述的方法步骤。
[0048]
本发明实施例有益效果：
[0049]
应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复时，首先获取第 一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二 幅值和第二光强；利用第一光强和第二光强，获得按照相位随光强的变化关系 确定的相位，作为第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由第一幅值和第二幅 值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足 迭代结束条件；将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对第一垂轴面 所在光场进行相位恢复后的相位。由于光场中光强信息可以测量获得，相位和 光强之间存在对应关系，因此可利用第一光强和第二光强获得第一垂轴面所在 光场的初始相位，并且若静区中光场发生改变，测量所得到的光强信息也会发 生变化，进而能够调整第一垂轴面所在光场的初始相位，使得最终得到的相位 恢复后的相位更准确。因此，应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的 相位恢复，能提高相位恢复的准确度。
附图说明
[0050]
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施 例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述 中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付 出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0051]
图1为本发明实施例提供的第一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法的流程示意图；
[0052]
图2为本发明实施例提供的第二种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法的流程示意图；
[0053]
图3为本发明实施例提供的一种迭代调整方式的流程示意图；
[0054]
图4为本发明实施例提供的一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的装置 的结构示意图；
[0055]
图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0056]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清 楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是 全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员基于本发明所获 得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0057]
参见图1，提供了第一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法的流程示 意图，上述方法包括以下步骤s101
‑
s104。
[0058]
步骤s101：获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二 垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强。
[0059]
其中，第一垂轴面和第二垂轴面为：紧缩场中静区内按照光的传播方向依 次排列、且与光的传播方向垂直的面。
[0060]
一种实现方式下，光场的幅值信息和光强信息可以用仪器直接测量得到， 例如，可以使用频谱分析仪测量光场的幅值，还可以使用光度计测量光场的光 强。
[0061]
在测量第一垂轴面所在光场的第一幅值、第一光强和第二垂轴面所在光场 的的第二幅值和第二光强时，通过在紧缩场静区中的第一垂轴面所在位置和第 二垂轴面所在位置部署频谱分析仪和光度计，即可测量得到第一幅值、第一光 强、第二幅值和第二光强。
[0062]
另一种实现方式下，可以先测出第一垂轴面所在光场的第一幅值和第二垂 轴面所在光场的第二幅值，然后利用幅值与光强之间的对应关系，得出第一垂 轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在光场的第二光强。具体实现步骤在 后续实施例中进行说明，这里暂不详述。
[0063]
第一垂轴面和第二垂轴面为在静区中选取的间隔预设距离的两个垂直于 光的传播方向的面，并按照光的传播方向，指定第一个垂直于光的传播方向的 面为第一垂轴面，第二个面为第二垂轴面。
[0064]
上述预设距离可以为按照以往经验设置的距离，例如若紧缩场中反射面直 径为d，则该距离为d/100。
[0065]
步骤s102：利用第一光强和第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确 定的相位，作为第一垂轴面所在光场的初始相位。
[0066]
由于相位和光强之间存在变化关系，光强的变化可以通过一个光强变为另 一个光强的变化信息表示，因此，利用第一光强变为第二光强的变化信息，可 以获得依据上述变化关系确定的相位。
[0067]
一种情况下，相位随光强的变化关系可以按照以下表达式表示：
[0068][0069][0070]
其中，λ表示波长，i表示光强，表示垂直于光的传播方向的平面的微 分算子，表示相位，分别表示在空间坐标系中沿x、y、z轴 方向上取偏微分操作，i、j、k分别表示x、y、z轴方向上的单位矢量。
[0071]
上述依据变化关系确定的相位可以作为第一垂轴面所在光场的初始相位， 也可以作为第二垂轴面所在光场的初始相位。
[0072]
步骤s103：基于由第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复 振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件。
[0073]
复振幅信号可以表征光信号，复振幅信号中包含了光信号的幅值信息和相 位信息，例如，其中，f1表示复振幅信号，|f1|表示复振幅信号 的幅值，也就是，光信号的幅值，表示复振幅信号的相位，也就是，光信号 的相位。
[0074]
其中，待调整复振幅信号的初始值为：相位为上述初始相位、且幅值为第 一幅值的复振幅信号。
[0075]
对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，也就是，在对待调整复振幅信 号进行处理的过程中，对待调整复振幅信号的幅值反复调整。
[0076]
例如，在对待调整复振幅信号进行傅里叶变换及傅里叶反变换的过程中， 先对待调整复振幅信号进行傅里叶变换，再对傅里叶变换后的待调整复振幅信 号的幅值进行调整，然后对幅值调整后的待调整复振幅信号进行傅里叶反变换， 对傅里叶反变换后的待调整复振幅信号的幅值再次进行调整，再对幅值调整后 的待调整复振幅信号进行傅里叶变换，对傅里叶变换后的待调整复振幅信号的 幅值再次进行调整，如此往复，对待调整复振幅信号的幅值进行一次又一次的 调整，实现对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整。
[0077]
上述幅值约束条件可以是在对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整时 将待调整复振幅信号的幅值替换为第一幅值或第二幅值。
[0078]
上述迭代结束条件可以是对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整的次 数达到预设次数，也可以是根据待调整复振幅信号的相位的收敛度达到预设收 敛度。
[0079]
一种情况下，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整的迭代过程可以包 括如下步骤a
‑
步骤e。
[0080]
步骤a：对待调整复振幅信号进行傅里叶变换，得到第一复振幅信号。
[0081]
步骤b：将第一复振幅信号的幅值替换为第二幅值，得到第二复振幅信号。
[0082]
步骤c：对第二复振幅信号进行傅里叶逆变换，得到第三复振幅信号。
[0083]
步骤d：将第三复振幅信号的幅值替换为第一幅值，得到第四复振幅信号。
[0084]
步骤e：将待调整复振幅信号更新为第四复振幅信号，并返回步骤a，直至 满足迭代结束条件。
[0085]
参见图3，示出了一种对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整的流程示 意图。图3中，待调整复振幅信号的初始值为其中，|f|表示第一 垂轴面所在光场的第一幅值，表示初始相位。
[0086]
如上述步骤a中对待调整复振幅信号的初始值进行fft(fast fouriertransformation，傅里叶变换)，得到第一复振幅信号其中，|f
k
| 表示第一复振幅信号的幅值，表示第一复振幅信号的相位。
[0087]
如上述步骤b中将第一复振幅信号的幅值替换为第二幅值，也就是，将|f
k
| 替换为|f|，其中，|f|为第二垂轴面所在光场的第二幅值，得到第二复振幅信号
[0088]
如上述步骤c中对第二复振幅信号进行ifft(inverse fast fouriertransformation，傅里叶反变换)，得到第三复振幅信号其中，|f
k+1
|表示第三复振幅信号的幅值，表示第三复振幅信号的相位。
[0089]
如上述步骤d中将第三复振幅信号的幅值替换为第一幅值，也就是，将 |f
k+1
|替换为|f|，得到第四复振幅信号
[0090]
如上述步骤e中将待调整复振幅信号更新为第四复振幅信号，并返回步骤a， 也就是，将待调整复振幅信号更新为再对更新后的复振幅信 号进行傅里叶变换，直至满足迭代结束条件。
[0091]
当满足迭代结束条件，即满足收敛条件时，将所得到的第四复振幅信号作 为迭代调整后的待调整复振幅信号。
[0092]
步骤s104：将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对第一垂轴面 所在光场进行相位恢复后的相位。
[0093]
上述步骤s103是对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，在迭代过程中 待调整复振幅信号的相位是不断收敛的，并且最终趋于稳定，因此在满足迭代 结束条件后，可将所得到的迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对第 一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。
[0094]
由于在紧缩场测试过程中，对静区进行分析是分析静区中所选取的截面所 在光场的信息，因此，对静区中第一垂轴面所在光场进行相位恢复也就是对静 区中光场进行了相位恢复，确定第一垂轴面所在光场的相位信息也就确定了静 区中光场的相位信息。
[0095]
由以上可见，本发明实施例提供的方案中，首先获取第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强； 利用第一光强和第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定的相位，作为 第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由第一幅值和第二幅值确定的幅值约束 条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭
代调整，直至满足迭代结束条件；将 迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对第一垂轴面所在光场进行相 位恢复后的相位。由于光场中光强信息可以测量获得，相位和光强之间存在对 应关系，因此可利用第一光强和第二光强获得第一垂轴面所在光场的初始相位， 并且若静区中光场发生改变，测量所得到的光强信息也会发生变化，进而能够 调整第一垂轴面所在光场的初始相位，使得最终得到的相位恢复后的相位更准 确。因此，应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复，能提高 相位恢复的准确度。
[0096]
本发明的一个实施例中，参见图2，提供了第二种用于紧缩场测试中静区 相位恢复的方法的流程示意图，与前述图1所示实施例相比，本实施例中，上 述步骤s101获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴 面所在光场的第二幅值和第二光强，包括以下步骤s101a
‑
s101b。
[0097]
步骤s101a：获取紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列的第一垂轴 面所在光场的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值。
[0098]
利用光信号幅值测量仪器可直接测量出光信号的幅值信息。
[0099]
在静区中第一垂轴面和第二垂轴面所在位置分别利用光信号幅值测量仪 器进行幅值测量，可测量得到第一垂轴面所在光场的第一幅值和第二垂轴面所 在光场的第二幅值。
[0100]
步骤s101b：根据光强与振幅之间的对应关系，获得第一垂轴面所在光场 的第一光强和第二垂轴面所在光场的第二光强。
[0101]
一种情况下，上述光强与振幅之间的对应关系为光强大小等于振幅大小的 平方。这样根据所获得的第一垂轴面所在光场的第一幅值和第二垂轴面所在光 场的第二幅值，可计算得出第一垂轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在 光场的第二光强。
[0102]
由以上可见，本发明实施例提供的方案中，利用所获取的第一垂轴面所在 光场的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值，根据光强与振幅之间的 对应关系，得出第一垂轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在光场的光强。 由于测量光场中幅值信息和光强信息往往需要通过部署仪器测量获得，本实施 例中通过利用光强和幅值之间的对应关系，只需利用仪器测量出第一垂轴面所 在光场的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值，即可通过计算得出第一 垂轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在光场的第二光强，减少了测量仪 器的使用，降低了测量仪器对静区中光场的干扰。
[0103]
与上述用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法相对应，本发明实施例还提 供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的装置。
[0104]
参见图4，提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的装置的结构示意 图，所述装置包括：
[0105]
信息获取模块401，用于获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强， 并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强，其中，所述第一垂轴面和 第二垂轴面为：紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列、且与光的传播方 向垂直的面。
[0106]
相位获得模块402，用于利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相 位随光强的变化关系确定的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位。
[0107]
幅值迭代模块403，用于基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束 条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件，其 中，所述待调整复
振幅信号的初始值为：相位为所述初始相位、且幅值为所述 第一幅值的复振幅信号。
[0108]
相位恢复模块404，用于将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为 对所述第一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。
[0109]
由以上可见，本发明实施例提供的方案中，首先获取第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强； 利用第一光强和第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定的相位，作为 第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由第一幅值和第二幅值确定的幅值约束 条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件；将 迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对第一垂轴面所在光场进行相 位恢复后的相位。由于光场中光强信息可以测量获得，相位和光强之间存在对 应关系，因此可利用第一光强和第二光强获得第一垂轴面所在光场的初始相位， 并且若静区中光场发生改变，测量所得到的光强信息也会发生变化，进而能够 调整第一垂轴面所在光场的初始相位，使得最终得到的相位恢复后的相位更准 确。因此，应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复，能提高 相位恢复的准确度。
[0110]
本发明的一个实施例中，上述信息获取模块401，具体用于：
[0111]
获取紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列的第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值。
[0112]
根据光强与振幅之间的对应关系，获得所述第一垂轴面所在光场的第一光 强和第二垂轴面所在光场的第二光强。
[0113]
由以上可见，本发明实施例提供的方案中，利用所获取的第一垂轴面所在 光场的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值，根据光强与振幅之间的 对应关系，得出第一垂轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在光场的光强。 由于测量光场中幅值信息和光强信息往往需要通过部署仪器测量获得，本实施 例中通过利用光强和幅值之间的对应关系，只需利用仪器测量出第一垂轴面所 在光场的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值，即可通过计算得出第一 垂轴面所在光场的第一光强和第二垂轴面所在光场的第二光强，减少了测量仪 器的使用，降低了测量仪器对静区中光场的干扰。
[0114]
本发明的一个实施例中，上述光强与振幅之间的对应关系为光强大小等于 振幅大小的平方。
[0115]
本发明的一个实施例中，上述相位随光强的变化关系按照以下表达式表示：
[0116][0117][0118]
其中，λ表示波长，i表示光强，表示垂直于光的传播方向的平面的微 分算子，表示相位，分别表示在空间坐标系中沿x、y、z轴 方向上取偏微分操作，i、j、k分别表示x、y、z轴方向上的单位矢量。
[0119]
本发明的一个实施例中，上述幅值迭代模块403，具体用于：
[0120]
对所述待调整复振幅信号进行傅里叶变换，得到第一复振幅信号；
[0121]
将所述第一复振幅信号的幅值替换为所述第二幅值，得到第二复振幅信号；
[0122]
对所述第二复振幅信号进行傅里叶逆变换，得到第三复振幅信号；
[0123]
将所述第三复振幅信号的幅值替换为所述第一幅值，得到第四复振幅信号；
[0124]
将所述待调整复振幅信号更新为所述第四复振幅信号，并返回所述对所述 待调整复振幅信号进行傅里叶变换的步骤，直至满足迭代结束条件。
[0125]
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图5所示，包括处理器501、通信 接口502、存储器503和通信总线504，其中，处理器501，通信接口502，存储 器503通过通信总线504完成相互间的通信，
[0126]
存储器503，用于存放计算机程序；
[0127]
处理器501，用于执行存储器503上所存放的程序时，实现如下步骤：
[0128]
获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在 光场的第二幅值和第二光强，其中，所述第一垂轴面和第二垂轴面为：紧缩场 中静区内按照光的传播方向依次排列、且与光的传播方向垂直的面；
[0129]
利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定 的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；
[0130]
基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信 号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件，其中，所述待调整复振幅信 号的初始值为：相位为所述初始相位、且幅值为所述第一幅值的复振幅信号；
[0131]
将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在 光场进行相位恢复后的相位。
[0132]
上述处理器501执行存储器503上所存放的程序而实现用于紧缩场测试中 静区相位恢复的其他方案，与前述方法实施例中提及的方案相同，这里不再赘 述。
[0133]
上述电子设备提到的通信总线可以是外设部件互连标准(peripheralcomponent interconnect，pci)总线或扩展工业标准结构(extended industrystandard architecture，eisa)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总 线、控制总线等。为便于表示，图中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根 总线或一种类型的总线。
[0134]
通信接口用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
[0135]
存储器可以包括随机存取存储器(random access memory，ram)，也可 以包括非易失性存储器(non
‑
volatile memory，nvm)，例如至少一个磁盘存 储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
[0136]
上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(central processing unit， cpu)、网络处理器(network processor，np)等；还可以是数字信号处理器(digitalsignal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit， asic)、现场可编程门阵列(field
‑
programmable gate array，fpga)或者其他可 编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
[0137]
在本发明提供的又一实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计 算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现 上述任一用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法的步骤。
[0138]
在本发明提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品， 当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中任一用于紧缩场测试中 静区相位恢复
的方法。
[0139]
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组 合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实 现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行 所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功 能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编 程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算 机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可 以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光 纤、数字用户线(dsl))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网 站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以 是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服 务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、 硬盘、磁带)、光介质(例如，dvd)、或者半导体介质(例如固态硬盘solid statedisk(ssd))等。
[0140]
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将 一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些 实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包 含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素 的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的 其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在 没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所 述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0141]
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相 似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。 尤其，对于装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品实施例而 言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法 实施例的部分说明即可。
[0142]
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用于限定本发明的保护范围。凡 在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本 发明的保护范围内。