级联样本分析仪及其进样控制装置、进样控制方法、介质与流程

文档序号:31994577发布日期:2022-11-02 01:36阅读:37来源:国知局
级联样本分析仪及其进样控制装置、进样控制方法、介质与流程

1.本发明涉及医疗器械技术领域,尤其是涉及一种级联样本分析仪及其进样 控制装置、进样控制方法、介质。


背景技术:

2.自动进样器是一种智能化、自动化的进样仪器,只需设置好进样参数、把 待检测样品放入试管中,传送带就可以把样品自动运输到检测仪器内,即可完 成自动进样过程。自动进样器可很大程度地减少人工操作,提高检测效率,在 医学检测领域,得到了广泛的应用。
3.针对测试样本量大的使用场景,单台检测仪器通常无法满足测试速度的要 求,而增加测试仪器的台数,需要考虑放置多台测试仪器的更大放置空间,且 成本较高。


技术实现要素:

4.为解决现有存在的技术问题,本发明提供一种能够优化进样方案以提高检 测效率的同时,减小占用空间、且成本更低的级联样本分析仪及其进样控制装 置、进样控制方法、介质。
5.为达到上述目的,本发明实施例的技术方案是这样实现的:
6.一种进样控制方法,包括:
7.样本架进给流程,包括:确定传送组件的进给轨道上是否已承载有样本架, 当已承载有样本架的情况下,获取所述样本架的当前位置,确定所述样本架的 当前位置满足指定位置要求时,控制所述进给轨道进行复位,并将装载有待测 样本的另一样本架载入所述进给轨道;
8.传送流程,包括:控制所述传送组件带动所述样本架进行同步运动;
9.扫描流程,包括:获取扫描组件对运行经过扫码位的所述样本架中的所述 待测样本进行扫描识别到的样本标识;
10.样本分配流程,包括:获取样本分配请求,根据所述样本分配请求对应的 采样点位置与当前已执行扫描识别到的所述样本标识,按照预设分配策略将目 标待测样本传送至对应的所述采样点位置。
11.其中,执行所述样本分配流程之前,还包括:
12.对所述扫码位当前对应的扫描地址进行记录;
13.执行所述样本分配流程之后,还包括:
14.确定多个所述样本架中所述待测样本的扫描是否完成;
15.若扫描未完成,执行扫描恢复流程,包括:控制所述传送组件回复运动至 所述扫描地址与所述扫码位对应,返回所述获取扫描组件对运行经过扫码位的 所述样本架中的所述待测样本进行扫描识别到的样本标识的步骤。
16.其中,所述执行扫描恢复流程之前,还包括:
17.确定当前是否存在新的样本分配请求;
18.若存在新的样本分配请求,则返回所述样本分配流程;
19.若不存在新的样本分配请求,则执行所述扫描恢复流程。
20.其中,所述扫描流程执行过程中,还包括:
21.获取样本架进给请求,根据所述样本架进给请求中断所述扫描流程,返回 所述样本架进给流程;
22.所述样本架进给流程完成后,执行所述扫描恢复流程。
23.其中,所述扫描流程执行过程中,还包括:
24.获取样本架卸载请求,根据所述样本架卸载请求中断所述扫描流程,执行 样本架卸载流程,包括:确定当前的待卸载样本架是否到达卸载位,若所述待 卸载样本架到达所述卸载位时,控制卸载组件将所述待待卸载样本架推出所述 进给轨道;若所述待卸载样本架未到达所述卸载位时,根据所述待卸载样本架 的当前位置控制所述传送组件将其运载到卸载位,控制所述卸载组件将所述待 待卸载样本架推出所述进给轨道;
25.所述样本架卸载流程完成后,执行所述扫描恢复流程。
26.其中,所述样本架进给流程,还包括:
27.当未承载有样本架的情况下,控制所述进给轨道进行复位,将承载有待测 样本的一样本架载入所述进给轨道。
28.其中,所述样本架进给流程还包括:
29.确定所述样本架的当前位置不满足指定位置要求时,根据所述样本架的当 前位置控制所述传送组件将其运载到指定位置。
30.其中,所述样本架进给流程之前,还包括:
31.获取样本进给触发信息,根据所述样本进给触发信息确定是否接收到样本 架进给请求;
32.其中,所述样本进给触发信息包括如下至少之一:装载区内包括装载有待 测样本的样本架的识别信号、进给轨道上在先样本架中剩余待测样本数量小于 或等于预设值、进给轨道上在先样本架中指定样本位上的待测样本处于传送至 对应的采样点位置时。
33.其中,所述扫描流程还包括:
34.判断是否成功获取到所述样本架中各个样本位上的所述待测样本的样本标 识;
35.当其中一样本位未获取到样本标识时,则所述样本位上无待测样本,确定 对应的样本标识为默认值,并判断下一样本位是否成功获取到待测样本的样本 标识;
36.建立获取到的所述样本标识与其所属的样本位地址信息的对应关系。
37.其中,在所述样本分配流程中,所述按照预设分配策略将目标待测样本传 送至对应的所述采样点位置包括:
38.当所述样本分配请求有多个的情况下,判断当前已执行扫描识别到的所述 样本标识是否满足当前的所述样本分配请求;
39.当满足时,按照样本分配请求发出的时间先后,依序将目标待测样本传送 到与所述样本分配请求对应的所述采样点位置;
40.当不满足时,将当前已执行扫描识别到的所述样本标识对应的所述目标待 测样本传送至相对较近的所述采样点位置。
41.其中,所述按照预设分配策略将目标待测样本传送至对应的所述采样点位 置,还包括:
42.判断所述样本分配请求是否为指定测定单元发出的指定样本类型的请求;
43.若是,则根据当前已执行扫描识别到的所述样本标识确定与所述指定样本 类型的请求匹配的目标待测样本,将所述目标待测样本传送至所述指定测定单 元对应的采样点位置。
44.其中,所述进样控制方法,还包括:
45.根据当前已执行扫描识别到的所述样本标识未查找到与所述指定样本类型 的请求匹配的待测样本时,形成待测样本未获取信息;
46.根据所述待测样本未获取信息,中断所述样本分配流程,执行扫描恢复流 程,包括:控制所述传送组件回复运动至所述扫描地址与所述扫码位对应,返 回所述获取扫描组件对运行经过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫 描识别到的样本标识的步骤。
47.其中,所述进样控制方法,还包括:
48.获取复检请求,判断当前是否存在空闲状态的测定单元;
49.当存在空闲状态的测定单元时,根据所述复检请求将待复检待测样本传送 至空闲状态的测定单元对应的采样点位置。
50.一种进样控制装置,包括处理器及存储器,所述存储器内存储有可被所述 处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现本技术任 一实施例所述的进样控制方法。
51.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序, 所述计算机程序在被处理器执行时,用以实现本技术任一实施例所述的进样控 制方法。
52.一种级联样本分析仪,包括并列设置的多个测定单元以及与多个所述测定 单元匹配的进样机构,每一所述测定单元包括用于抓取待测样本的采样点位置, 所述进样机构包括本技术任一实施例所述的进样控制装置。
53.其中,所述进样机构还包括装载区、卸载区、传送组件及用于对待测样本 进行识别的扫码组件,所述传送组件沿其传送方向上包括与所述装载区对应的 装载位、与所述采样点位置分别对应的多个取样位、与所述卸载区对应的卸载 位以及靠近所述装载区和/或所述卸载区设置的缓冲段。
54.其中,所述缓冲段包括靠近所述装载区设置的第一缓冲段,所述第一缓冲 段的末端与相邻的所述采样点位置之间的间隔大于或等于多个所述样本架的长 度之和;和/或,
55.所述缓冲段包括靠近所述卸载区设置的第二缓冲段,所述第二缓冲段的末 端与相邻的所述采样点位置之间的间隔大于或等于多个所述样本架的长度之 和。
56.上述实施例提供的级联样本分析仪及其进样控制装置、进样控制方法、计 算机可读存储介质,其中,执行样本架进给流程中,确定传送组件的进给轨道 上是否已承载有样本架,当已承载有样本架的情况下,获取所述样本架的当前 位置,确定所述样本架的当前位置满足指定位置要求时,控制所述进给轨道进 行复位,并将装载有待测样本的另一样本架载入所述进给轨道,可以连续进样多 个样本架并确保多个样本架载入进给轨道上可以相邻,实现对多个样本架进行 同步传送,从而方便同时适配级联样本分析仪的多个采样点
位置进行取样测试, 通过级联样本分析仪对待测样本完成并行测试时共用进样机构,不仅可以提高 测试效率,而且相对于设置多台独立的测试仪器而言可减小整体尺寸,降低成 本。
附图说明
57.图1为一实施例中进样控制方法的流程图;
58.图2为另一实施例中进样控制方法的流程图;
59.图3为又一实施例中进样控制方法的流程图;
60.图4为再一实施例中进样控制方法的流程图;
61.图5为为一可选的具体示例中进样控制方法的流程图;
62.图6为一实施例中进样控制装置的示意图;
63.图7为一实施例中级联样本分析仪的结构示意图;
64.图8为一实施例中级联样本分析仪的进样机构设置缓冲段的原理图;
65.图9为另一实施例中级联样本分析仪的进样机构设置缓冲段的原理图;图10为再一实施例中级联样本分析仪的进样机构设置缓冲段的原理图。
具体实施方式
66.以下结合说明书附图及具体实施例对本技术技术方案做进一步的详细阐 述。
67.除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术 领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术 语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明的实现方式。本 文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的 组合。
68.在以下的描述中,涉及到“一些实施例”的表述,其描述了可能实施例的 子集,但是应当理解,“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同 子集,并且可以在不冲突的情况下相互结合。
69.请参阅图1,本技术实施例提供一种进样控制方法,包括如下步骤:
70.s101,样本架进给流程,包括:确定传送组件的进给轨道上是否已承载有 样本架,当已承载有样本架的情况下,获取所述样本架的当前位置,确定所述 样本架的当前位置满足指定位置要求时,控制所述进给轨道进行复位,并将装 载有待测样本的另一样本架载入所述进给轨道。
71.其中,传送组件包括进给轨道及驱动进给轨道转动的电机。进给轨道可以 是单条传送带,用于在装载位接收样本架载入,电机转动驱动传送带转动,从 而运载样本架从装载位载入后跟随其运动依次进行扫码、分配、卸载以完成进 样流程。样本架是指用于装载待测样本的物品架,以待测样本为医疗检测分析 中所需的血液样本为例,血液样本通常盛装于试管内,样本架相应为可以依序 装载多个试管的试管架。进样控制装置在执行样本架进给流程的过程中,确定 传送组件的进给轨道上是否已承载有样本架,当已承载有样本架的情况下,获 取所述样本架的当前位置,确定在先载入的样本架的当前位置满足指定位置要 求时,控制所述进给轨道进行复位,并将装载有待测样本的另一样本架载入所 述进给轨道,使得可以连续进样多个样本架并确保多个样本架载入进给轨道上 可以相邻,实现对
多个样本架进行同步传送。
72.其中,控制所述进给轨道进行复位是指控制进给轨道的一组定位结构与装 载位对齐。进给轨道上设有分别与样本架对应的多组定位结构,定位结构的组 数大于位于进给轨道上跟随所述进给轨道运动而同步传送的样本架的数量。在 执行样本架进给流程的过程中,当进给轨道上包括有在先载入的样本架时,先 确定在先载入的样本架的当前位置满足指定位置要求,再控制进给轨道进行复 位,可以避免需要控制进给轨道反转传送,且避免先后载入的多个样本架之间 的相对位置不满足要求而无法支持多个样本架的同步传送,通过样本架进给流 程的优化,避免传送组件的往复运输,提高了进样效率,从而也可以提升级联 样本分析仪的整体检测效率。
73.其中,进样控制装置是指对级联样本分析仪进行控制的逻辑主体,进样控 制装置可以包括物理上分离设置的一个或多个处理器或控制器,如,级联样本 分析仪的进样机构包括控制传送组件带动样本架运动的第一控制器、控制装载 区完成样本架装载待测样本的第二控制器等,进样控制装置包括第一控制器和 第二控制器;又如,级联样本分析仪包括对进样机构中传送组件、装载区等进 行统一控制的控制台,进样控制装置为所述控制台。
74.s103,传送流程,包括:控制所述传送组件带动所述样本架进行同步运动。
75.样本架从装载位载入进给轨道后,进样控制装置控制电机驱动所述进给轨 道运动,相应带动承载于所述进给轨道上的样本架同步运动。通过样本架进给 流程完成多个样本架的连续载入后,电机驱动进给轨道运动,相应带动先后载 入其上的多个样本架同步运动。本实施例中,在先载入的样本架载入进给轨道 后,电机驱动进给轨道向前运动,使得进给轨道带动在先载入的所述样本架共 同向扫码位的方向运动,在此过程中,当确定需要将下一样本架载入进给轨道 时,确定在先载入的样本架的当前位置是否满足指定位置要求,其中,满足指 定位置要求是指,此时进给轨道可以保持当前位置而处于复位状态,或此时控 制进给轨道携带在先载入的样本向前移动一定距离即可使得进给轨道处于复位 状态,且在该复位状态下将装载有待测样本的另一样本架载入进给轨道时,后 载入的所述另一样本架与在先载入的所述样本架之间的相对位置符合设定的间 隔要求,以确保多个所述样本架在进给轨道带动下可保持同步运动。
76.s105,扫描流程,包括:获取扫描组件对运行经过扫码位的所述样本架中 的所述待测样本进行扫描识别到的样本标识。
77.进样控制装置控制进给轨道带动所述样本架进行同步运动的过程中,样本 架从装载位向前运动而首先经过扫码位。扫描组件对经过扫码位的样本架进行 扫描,获取装载于样本架的各个样本位上的待测样本的样本标识,并将样本标 识及其对应的样本位地址上报给进样控制装置。
78.s107,样本分配流程,包括:获取样本分配请求,根据所述样本分配请求 对应的采样点位置与当前已执行扫描识别到的所述样本标识,按照预设分配策 略将目标待测样本传送至对应的所述采样点位置。
79.样本分配请求由测定单元发出,级联样本分析仪中包括多个并列设置的测 定单元,各个测定单元根据自身工作状态,当处于空闲状态时可以上报样本分 配请求给样本控制装置。所述测定单元可以为对所述待测样本完成相同检测流 程的相同测定单元,或,也
可以为对所述待测样本完成不同检测流程的不同测 定单元。多个测定单元共用一个进样机构,进样机构通过传送组件对多个样本 架进行同步传送以同时满足多个测定单元的进样需求,可以有效减小级联样本 分析仪的整体尺寸,也方便根据测试样本量大小的不同使用场景而方便的增减 测定单元的数量,通过共用的进样机构可方便地满足不同使用场景下级联样本 分析仪的进样效率需求。其中,多个测定单元为对所述待测样本完成相同检测 流程的相同测定单元可以是:多个测定单元分别相同,且分别包括一个相同的 检测流程;或多个测定单元相同,包括一个以上的相同检测流程,且在某些应 用场景下均选取相同的检测流程完成对待测样本的检测。多个测定单元为对所 述待测样本完成不同检测流程的不同测定单元可以是指:多个测定单元分别不 同,分别包括不同的检测流程;或多个测定单元分别相同,包括一个以上的相 同检测流程,且在某些应用场景下两个测定单元分别选取不同的检测流程完成 对待测样本的检测。
80.预设分配策略可以是指预先设置将待测样本分配至级联样本分析仪样本的 多个采样点位置中对应的某一个采样点位置的分配策略,确定分配策略考虑的 条件可以包括:级联样本分析仪中测定单元的检测模式、待测样本的类型、标 识、数量、级联样本分析仪中多个采样点位置当前的工作状态、当前待分配的 待测样本与多个采样点位置之间的距离等,样本控制装置接收到测定单元发送 的样本分配请求后,根据所述样本分配请求对应的采样点位置与当前已执行扫 描识别到的所述样本标识,从当前已执行扫描识别到的所述样本标识确定与当 前样本分配请求匹配的目标待测样本,并将其传送至对应的采样点位置。
81.上述实施例提供的进样控制方法,样本控制装置执行样本架进给流程的过 程中,确定传送组件的进给轨道上是否已承载有样本架,当已承载有样本架的 情况下,获取所述样本架的当前位置,确定所述样本架的当前位置满足指定位 置要求时,控制所述进给轨道进行复位,并将装载有待测样本的另一样本架载 入所述进给轨道,可以连续进样多个样本架并确保多个样本架载入进给轨道上 可以相邻,实现对多个样本架进行同步传送,从而方便同时适配级联样本分析 仪的多个采样点位置进行取样测试,通过级联样本分析仪对待测样本完成并行 测试时共用进样机构,不仅可以提高测试效率,而且相对于设置多台独立的测 试仪器而言可减小整体尺寸,降低成本。
82.在一些可选的实施例中,请参阅图2,执行所述样本分配流程之前,还包 括:
83.s106,对所述扫码位当前对应的扫描地址进行记录;
84.执行所述样本分配流程之后,还包括:
85.s1081,确定多个所述样本架中所述待测样本的扫描是否完成;
86.若扫描未完成,s1083,执行扫描恢复流程,包括:控制所述传送组件回复 运动至所述扫描地址与所述扫码位对应,返回所述获取扫描组件对运行经过扫 码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫描识别到的样本标识的步骤。
87.若确定扫描已完成,等待下一样本分配请求,并根据下一样本分配请求返 回执行样本分配流程。
88.扫码位当前对应的扫描地址是指样本架中与扫码位正对的样本位。样本控 制装置在接收到样本分配请求后,根据样本分配请求将目标待测样本传送至对 应的采样点位置之前,对当前处于扫码位的样本架上的样本位进行记录,以样 本架中从左至右依序包括
第1、2、

n个样本位为例,假如样本控制装置根据 样本分配请求确定第1样本位的待测样本为目标待测样本,此时第3样本位处 于扫码位,则样本控制装置控制传送组件将第1样本位的目标待测样本传送至 对应的采样点位置之前,对第3样本位进行记录。
89.样本控制装置根据样本分配请求执行完样本分配流程之后,判断多个样本 架中待测样本的扫描是否全部完成,若扫描未完成,则控制传送组件执行扫描 恢复流程,根据在先记录的扫描地址回复运动到将目标待测样本传送至对应的 采样点位置之前所处的位置,以继续执行扫描组件对运行经过扫码位的所述样 本架中的所述待测样本进行扫描识别的步骤。
90.上述实施例中,样本分配流程的优先级高于扫描流程,通过扫描组件对运 行经过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫描获得样本标识后,对有 样本检测需求的测定单元进行样本分配,如果分配样本时,样本架上的待测样 本未扫描完,控制进样机构暂停扫描流程,优先响应样本分配,待样本分配完 成后,则控制进样机构返回到响应样本分配请求之前的位置,进样机构继续扫 描完剩下未扫描的待测样本,如此,可以提升一个进样机构满足级联样本分析 仪中多个测定单元的进样需求的流程紧凑性,可以充分利用多个测定单元的工 作时间,简化控制流程,提高检测效率。
91.在一些实施例中,请参阅图3,所述s1083,执行扫描恢复流程之前,还包 括:
92.所述s1082,确定当前是否存在新的样本分配请求;
93.若存在新的样本分配请求,则返回所述s107,样本分配流程;
94.若不存在新的样本分配请求,则执行所述s1083,扫描恢复流程。
95.样本控制装置响应一个或者多个样本分配请求分别执行完样本分配流程之 后,再根据多个样本架中待测样本的扫描未完成的情况,控制传送组件执行扫 描恢复流程,根据在先记录的扫描地址回复运动到将目标待测样本传送至对应 的采样点位置之前所处的位置,以继续执行扫描组件对运行经过扫码位的所述 样本架中的所述待测样本进行扫描识别的步骤。其中,样本控制装置在执行扫 描恢复流程之前,确定当前是否存在新的样本分配请求,若存在未响应的新的 样本分配请求,则响应新的样本分配请求执行样本分配流程,若不存在未响应 的新的样本分配请求,再执行扫描恢复流程。新的样本分配请求可以是指,在 根据在先的样本分配请求中断扫描流程作为起始时间,到响应该在先的样本分 配请求执行完样本分配流程后确定回复运动到中断扫描流程时所处的位置作为 结束时间,在对应的所述起始时间和结束时间之间的时间段内所形成的样本分 配请求。
96.上述实施例中,样本分配流程的优先级高于扫描流程,通过扫描组件对运 行经过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫描获得样本标识后,对有 样本检测需求的测定单元进行样本分配,如果分配样本时,样本架上的待测样 本未扫描完,控制进样机构中断扫描流程,优先响应样本分配,待样本分配完 成后,再次判断是否存在新的样本检测需求,若存在,则再次优先进行样本分 配,若没有,则控制进样机构返回到响应样本分配请求之前的位置,进样机构 继续扫描完剩下未扫描的待测样本,如此,可以提升一个进样机构满足级联样 本分析仪中多个测定单元的进样需求的流程紧凑性,可以充分利用多个测定单 元的工作时间,简化控制流程,提高检测效率。
97.在一些实施例中,所述扫描流程执行过程中,还包括:
98.获取样本架进给请求,根据所述样本架进给请求中断所述扫描流程,返回 所述样
本架进给流程;
99.所述样本架进给流程完成后,执行所述扫描恢复流程。
100.其中,样本架进给请求是指,进样机构在启动自动进样后,根据预设的一 个或多个条件所确定的需要将装载有待测样本的新的样本架载入进给机构的请 求。可选的,样本架进给请求发出的条件可以包括如下至少之一:在先载入的 样本架中剩余待测样本的数量小于或等于预设值时、进给机构上当前承载的样 本架数量小于承载阈值时、进给机构上当前承载的样本架数量小于承载阈值且 装载区包括装载有待测样本的样本架时。
101.上述实施例中,样本架进给流程的优先级高于扫描流程,样本架载入进给 轨道后,通过进给轨道的传送从装载位朝扫码位运动,通过扫描组件对运行经 过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫描获得样本标识,当接收到新 的样本架进给请求时,如果样本架上的待测样本未扫描完,控制进样机构中断 扫描流程,优先响应样本架进样请求,待样本架载入完成后,再控制进样机构 直接回到响应样本架进样请求之前的位置,进样机构继续扫描完剩下未扫描的 待测样本,如此,可以提升一个进样机构满足级联样本分析仪中多个测定单元 的进样需求的流程紧凑性,确保样本架进样的及时性、连续性,且可以充分利 用多个测定单元的工作时间,简化控制流程,提高检测效率。
102.在一些实施例中,所述扫描流程执行过程中,还包括:
103.获取样本架卸载请求,根据所述样本架卸载请求中断所述扫描流程,执行 样本架卸载流程,包括:确定当前的待卸载样本架是否到达卸载位,若所述待 卸载样本架到达所述卸载位时,控制卸载组件将所述待待卸载样本架推出所述 进给轨道;若所述待卸载样本架未到达所述卸载位时,根据所述待卸载样本架 的当前位置控制所述传送组件将其运载到卸载位,控制所述卸载组件将所述待 待卸载样本架推出所述进给轨道;
104.所述样本架卸载流程完成后,执行所述扫描恢复流程。
105.其中,样本架卸载请求是指,进样机构在启动自动进样后,将满足卸载条 件的样本架移出进给轨道的请求。可选的,样本架卸载请求发出的条件可以包 括如下至少之一:样本架中待测样本均已执行完取样分配、指定样本架的待测 样本与测定单元的样本分配请求不匹配、指定样本架根据当前检测需求需要被 更换。样本架卸载是将满足卸载条件的样本架移出进给轨道,可以包括两部分 动作,第一个是将需要卸载的样本架移动到卸载位,这一部分需要进给轨道的 配合。第二部分,就是将样本架推出进给轨道。当有多排样本架在进给轨道上 时,如果有样本架在执行扫描,而其中有样本架满足了卸载条件,那么,样本 架卸载流程也会打断扫描。卸载完成后再继续完成扫描。卸载区可以设有用于 检测卸载区是否满的光耦,如果卸载区满,可以上报信号给样本控制装置,不 允许卸载动作执行。
106.上述实施例中,样本架卸载流程的优先级高于扫描流程,样本架载入进给 轨道后,通过进给轨道的传送从装载位朝扫码位运动,通过扫描组件对运行经 过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫描获得样本标识,并根据样本 分配请求将识别后的待测样本分别分配到指定的采样点位置,当接收到对多个 样本架中一个样本架的卸载请求时,另一样本架上的待测样本未扫描完,则可 以控制进样机构中断扫描流程,优先响应样本架卸载请求,待样本架卸载完成 后,再控制进样机构直接回到响应样本架进样请求之前的位置,进样机构继续 扫描完剩下未扫描的待测样本,如此,及时将满足卸载条件的样本架移出进样 机构,以便于能及时提供后续样本架载入进给轨道的空间,可以提升一个进样 机
构满足级联样本分析仪中多个测定单元的进样需求的流程紧凑性,确保样本 架进样的及时性、连续性,且可以充分利用多个测定单元的工作时间,简化控 制流程,提高检测效率。
107.在一些实施例中,请参阅图4,s101,样本架进给流程,还包括:
108.s1012,当未承载有样本架的情况下,控制所述进给轨道进行复位,将承载 有待测样本的一样本架载入所述进给轨道。
109.当进给轨道上未承载有样本架的情况下,可以视为首次装载。样本架进给 流程中,首次装载时,控制所述进给轨道进行复位,通过进给轨道复位使得一 组定位机构与装载位对齐,此时,装载区装载有待测样本的样本架可以推送至 装载位,使得可以顺利将装载有待测样本的样本架载入所述进给轨道。在一个 可选的具体示例中,装载区有装载电机、装载回拨电机,样本架有无识别光耦、 装载到位识别光耦。首次装载时,样本架有无识别光耦识别到装载区有样本架, 就可以启动装载,装载时需要先对进给轨道进行复位,进给轨道刚好有一个等 分段对齐装载区,并且装载回拨电机处于对装载推进无干扰状态,如果装载区 中装载到位识别光耦被触发,可以确认装载成功,装载回拨电机启动,将进给 轨道外的其他样本架剥离进给轨道,避免干涉进给运动。
110.上述实施例中,进样机构启动自动进样后,进行首次装载时,首先将进给 轨道进行复位,通过设置控制进给轨道复位的复位操作,确保可以高效、准确 地完成样本架的装载,保持进样连续性。
111.可选的,所述样本架进给流程还包括:
112.确定所述样本架的当前位置不满足指定位置要求时,根据所述样本架的当 前位置控制所述传送组件将其运载到指定位置。
113.其中,当进给轨道上已承载有样本架的情况下,样本架进给流程中,将确 定在先载入的样本架的当前位置满足指定位置要求作为判断载入下一样本架的 时机是否合理的条件,当确定在先载入的样本架的当前位置不满足指定位置要 求时,根据在先载入的样本架的当前位置控制所述传送组件将其运载到指定位 置,再控制进给轨道进行复位,将下一样本架载入到进给轨道。在一个可选的 具体示例中,可以在第一排样本架中待测样本的数量小于等于1个时,启动第 二排样本架的装载,以实现样本架的衔接,以及样本检测的连续性。启动第二 排样本架载入的时机点也可以提前。同理,第二排样本架装载动作前,需要对 传送组件进行复位,使进给轨道上的一个定位机构对准装载区。但由于启动装 载时,第一排样本架停留位置的不确定性,直接复位进给轨道,可能会导致装 载后的两排样本架的相对位置不相邻,或导致第一排样本架复位到与装载位对 齐。因此,通过获取第一排样本架的当前位置,根据当前位置选择直接复位, 或是,先将第一排样本架移动到指定位置,再执行复位,如此可以确保装载的 两排样本架在进给轨道上相邻,以支持跟随进给轨道完成后续进样流程的过程 中能够始终保持同步运动而不受干涉。
114.上述实施例中,进样机构启动自动进样后,进行多个样本架中在后载入的 样本架装载时,首先根据在先载入的样本架的当前位置控制传送组件将其运载 到指定位置,再控制进给轨道进行复位,通过将确定在先载入的样本架的当前 位置满足指定位置要求作为判断载入下一样本架的时机是否合理的条件,以确 保装载的两排样本架在进给轨道上相邻,以支持跟随进给轨道完成后续进样流 程的过程中能够始终保持同步运动而不受干涉,确保可以高效、准确地完成样 本架的装载,保持进样的连续性。
115.在一些实施例中,所述样本架进给流程之前,还包括:
116.获取样本进给触发信息,根据所述样本进给触发信息确定是否接收到样本 架进给请求;
117.其中,所述样本进给触发信息包括如下至少之一:装载区内包括装载有待 测样本的样本架的识别信号、进给轨道上在先样本架中剩余待测样本数量小于 或等于预设值、进给轨道上在先样本架中指定样本位上的待测样本处于传送至 对应的采样点位置时。
118.样本进给触发信息是指用于确定当前是否存在将装载有待测样本的新的样 本架载入进给机构的请求的一个或多个条件。当获取到装载区内包括装载有待 测样本的样本架的识别信号时,可以表征装载区内已准备好可载入进给轨道的 样本架。当进给轨道上在先样本架中剩余待测样本数量小于或等于预设值,可 以表征已载入进给轨道的样本架中待测样本数量在接下来的预设时间内不能满 足测定单元的样本分配需求,需要及时补充以满足进样持续性的需求。当进给 轨道上在先样本架中指定样本位上的待测样本处于传送至对应的采样点位置 时,可以表征当前进给轨道上已承载的样本架数量小于承载阈值,且此时进给 轨道的一组定位机构与装载位对齐,方便直接载入下一样本架。
119.上述实施例中,进样控制装置实时获取样本进给触发信息,根据样本进给 触发信息来判断当前是否存在将装载有待测样本的新的样本架载入进给机构的 请求,以确保自动进样的连续性,如此,可以提升一个进样机构满足级联样本 分析仪中多个测定单元的进样需求的流程的紧凑性,确保样本架自动进样的及 时性、连续性,且可以充分利用多个测定单元的工作时间,简化控制流程,提 高检测效率。
120.在一些实施例中,所述扫描流程,还包括:
121.判断是否成功获取到所述样本架中各个样本位上的所述待测样本的样本标 识;
122.当其中一样本位未获取到样本标识时,则所述样本位上无待测样本,确定 对应的样本标识为默认值,并判断下一样本位是否成功获取到待测样本的样本 标识;
123.建立获取到的所述样本标识与其所属的样本位地址信息的对应关系。
124.样本架载入进给轨道后,跟随进给轨道运动而移动到扫码位进行扫描,通 过扫描组件识别样本架中各个样本位上待测样本的样本标识,根据是否成功识 别到各个样本位上待测样本的样本标识,可以确定各个样本位上待测样本的有 无、待测样本的类别、以各待测样本在样本架中的所属样本位地址信息等。通 过判断是否成功获取到所述样本架中各个样本位上的所述待测样本的样本标 识,当其中一样本位未获取到样本标识时,可以确定对应所述样本位上无待测 样本,确定对应的样本标识为默认值,通过赋值默认值表征对应所述样本位上 无待测样本,以便于进样控制装置执行样本分配流程,避免样本分配流程中出 现错误。当成功获取到各个样本位上的待测样本的样本标识时,建立获取到的 所述样本标识与其所属的样本位地址信息的对应关系,以便于进样控制装置执 行样本分配流程时,根据当前的进样分配请求快速地从正确的样本位地址信息 获取待测样本并将其精准地传送至对应的采样点位置,提高进样控制的效率和 准确性。
125.上述实施例中,样本架架装载完成后,可以移动到扫描区域进行扫描,扫 描组件可以识别待测样本的有无,待测样本的类别。通过对待测样本以及和样 本架架的条码扫描,先扫描样本架,扫描完样本架之后又再进行待测样本的扫 描。对识别到有待测样本的样本位进行条码扫描,没识别到待测样本时则跳过 当前样本位,进行下一样本位上待测样
本有无判断。无论是样本架还是待测样 本,如果扫描失败,会自动分配默认值,当扫描到的待测样本信息时,则上报 给进样控制装置,由进样控制装置收到样本标识后,对有样本检测需求的测定 单元进行样本分配,提高进样控制的效率和准确性。
126.在一些实施例中,在所述样本分配流程中,所述按照预设分配策略将目标 待测样本传送至对应的所述采样点位置包括:
127.当所述样本分配请求有多个的情况下,判断当前已执行扫描识别到的所述 样本标识是否满足当前的所述样本分配请求;
128.当满足时,按照样本分配请求发出的时间先后,依序将目标待测样本传送 到与所述样本分配请求对应的所述采样点位置;
129.当不满足时,将当前已执行扫描识别到的所述样本标识对应的所述目标待 测样本传送至相对较近的所述采样点位置。
130.级联样本分析仪中包括并列设置的一个或多个测定单元,样本分配请求可 根据级联样本分析仪的检测任务以及测定单元是否处于空闲状态形成。在一个 时刻或一个响应时段内,样本分配请求可能包括多个。将待测样本根据样本分 配请求分配给对应的测定单元进行检测的样本分配流程中,预设分配策略可以 是指,当所述样本分配请求有多个的情况下,判断当前已执行扫描识别到的所 述样本标识是否满足当前的所述样本分配请求,当满足时,按照样本分配请求 发出的时间先后,依序将目标待测样本传送到与所述样本分配请求对应的所述 采样点位置;当不满足时,将当前已执行扫描识别到的所述样本标识对应的所 述目标待测样本传送至相对较近的所述采样点位置。
131.如,级联样本分析仪包括第一测定单元和第二测定单元,在一个响应时段 内,第一测定单元和第二测定单元分别发出了样本分配请求,根据当前已执行 扫描识别到的所述样本标识,判断目前执行完扫描的待测样本的数量大于样本 分配请求的数量时,也即可供分配的待测样本的数量满足样本分配请求的数量 时,则可以将按照样本分配请求发出的时间先后依序将待测样本传送到对应采 样点位置。如样本架中从左至右依序包括第1、2、

n个待测样本,根据当前 已执行扫描识别到的样本标识,判断目前执行完扫描的待测样本包括第1、2 个待测样本,则将第1、2个待测样本分别传送至第一测定单元和第二测定单元 对应的采样点位置。根据当前已执行扫描识别到的样本标识,判断目前执行完 扫描的待测样本仅包括第1个待测样本,则将第1个待测样本传送至与第1个 待测样本当前所在位置最近的采样点位置。
132.上述实施例中,进行样本分配时,样本控制装置根据预设分配策略将目标 待测样本传送至对应的采样点位置,通过优化预设分配策略,使得级联样本分 析仪可支持多台测定单元的样本测试。如对于样本的请求分配,存在一定的分 配规则。对于已有扫描的样本,可同时支持级联样本分析仪中多个测定单元的 分配时,采取先请求先分配的原则。在没有扫描获取样本信息的情况下,多个 测定单元都提出了样本分配请求,那么采取就近原则,先给离当前样本架位置 较近的测定单元分配待测样本,提高进样控制的效率。
133.其中,所述按照预设分配策略将目标待测样本传送至对应的所述采样点位 置,还包括:
134.判断所述样本分配请求是否为指定测定单元发出的指定样本类型的请求;
135.若是,则根据当前已执行扫描识别到的所述样本标识确定与所述指定样本 类型
的请求匹配的目标待测样本,将所述目标待测样本传送至所述指定测定单 元对应的采样点位置。
136.级联样本分析仪中包括并列设置的多个测定单元,多个测定单元可以为对 所述待测样本完成相同检测流程的相同测定单元,或,也可以为对所述待测样 本完成不同检测流程的不同测定单元。当测定单元为对所述待测样本完成不同 检测流程的不同测定单元时,不同测定单元发出的样本分配请求所需的待测样 本类型不同,在接收到样本分配请求后,根据样本分配请求携带的测定单元的 标识信息,判断所述样本分配请求对应的指定样本类型,以根据当前已执行扫 描识别到的所述样本标识查找到与其匹配的目标待测样本完成分配。如此,级 联样本分析仪可以根据检测需要组配完成相同检测流程的多个测定单元,也可 以根据检测需要组配完成不同检测流程的多个测定单元,以能够满足更多使用 场景下样本检测需求。
137.上述实施例中,级联样本分析仪可以根据不同检测任务需求组配相同检测 流程的多个测定单元,进样机构可以相应运载相同类型待测样本的多个样本架 进行同步运动,或级联样本分析仪可以根据不同检测任务需求组配不同检测流 程的多个测定单元,进样机构可以相应运载不同类型待测样本的多个样本架进 行同步运动,以能够满足更多使用场景下样本检测需求。
138.在一些实施例中,所述进样控制方法还包括:
139.根据当前已执行扫描识别到的所述样本标识未查找到与所述指定样本类型 的请求匹配的待测样本时,形成待测样本未获取信息;
140.根据所述待测样本未获取信息,中断所述样本分配流程,执行扫描恢复流 程,包括:控制所述传送组件回复运动至所述扫描地址与所述扫码位对应,返 回所述获取扫描组件对运行经过扫码位的所述样本架中的所述待测样本进行扫 描识别到的样本标识的步骤。
141.预设分配策略可以是指预先设置将待测样本分配至级联样本分析仪样本的 多个采样点位置中对应的某一个采样点位置的分配策略。在执行样本分配流程 时,接收到样本分配请求后,当根据当前已执行扫描识别到的所述样本标识未 查找到与所述指定样本类型的请求匹配的待测样本时,表明当前能够用于分配 的待测样本不与样本分配请求匹配或不能满足样本分配请求,从而形成待测样 本未获取信息,根据所述待测样本未获取信息中断所述样本分配流程,执行扫 描恢复流程,以通过扫描恢复流程继续扫描样本架中剩余待测样本,以补充能 够用于分配的待测样本后以进行样本分配。
142.上述实施例中,进样控制装置在接收到样本分配请求后,当根据当前已执 行扫描识别到的所述样本标识未查找到与所述指定样本类型的请求匹配的待测 样本时,表明当前能够用于分配的待测样本不与样本分配请求匹配或不能满足 样本分配请求,此时中断比扫描流程优先级更高的样本分配流程,执行扫描恢 复流程以继续扫描样本架中剩余待测样本,补充能够用于分配的待测样本后以 进行样本分配,确保自动进样流程的可持续性和连续性,并最大程度满足进样 效率。
143.在一些实施例中,所述进样控制方法还包括:
144.获取复检请求,判断当前是否存在空闲状态的测定单元;
145.当存在空闲状态的测定单元时,根据所述复检请求将待复检待测样本传送 至空
闲状态的测定单元对应的采样点位置。
146.其中,复检请求可以是根据测定单元取样、检测后,确定某个待测样本的 检测结果存在错误的情况下形成。在将样本架卸载移出样本架之前,可以判断 当前是否存在复检请求,并判断是否存在处于空闲状态的测定单元,当存在空 闲状态的测定单元时,根据所述复检请求将待复检待测样本传送至空闲状态的 测定单元对应的采样点位置,完成相应待测样本的复检。
147.上述实施例中,对于需要复检的待测样本,当有支持待测样本复检的任一 测定单元空闲的时候,可将待测样本分配给该测定单元进行复检,确保自动进 样和检测的准确性,并最大程度满足进样效率。
148.为了能够对本技术实施例提供的进样控制方法有更加整体的了解,请参阅 图5,下面以待测样本为血液样本,样本架为试管架为例,对本技术实施例的 进样控制方法进行示例性说明,所述进样控制方法包括如下步骤:
149.s11,启动自动进样;
150.s12,判断装载区是否有装载有待测样本的试管架;若有,执行s13,若没 有,返回执行s12;
151.s13,判断进给轨道上是否有试管架;若是,执行s131,s132,若否,执 行s14;
152.s131,获取进给轨道上在先载入的试管架的当前位置,判断先载入的试管 架的当前位置是否处于指定位置;
153.s132,若不是,根据所述当前位置移动在先载入的试管架到指定位置;
154.s14,对进给轨道进行复位,将下一试管架载入进给轨道;其中,将试管架 载入进给轨道包括控制装载回拨电机下降、启动试管架装载,当试管架装载到 位时,控制装载回拨电机回到初始位;
155.s15,进给轨道运载多个试管架同步运动,当试管架的各个试管位经过扫码 位时,扫描组件扫描识别试管标识;
156.s16,根据扫描识别到的试管标识,判断对应的各个试管位上是否存在待测 样本,若否,指定s161;若有,执行s162;
157.s161,将判断结果为没有待测样本的试管位的扫描结果赋值默认值,并继 续判断下一试管位上是否存在待测样本;
158.s162,将判断结果为成功获得试管标识的,将获得的试管标识进行上报;
159.s17,是否有样本分配请求;若否,执行s175~s177;若是,中断当前的扫 描流程,执行s171~s174;
160.s171,是否存在多个样本分配请求;
161.s172,当前已执行完扫描的待测样本是否满足当前的多个样本分配请求;
162.s173,当不能满足当前的多个样本分配请求时,执行扫描恢复流程;
163.s174,当能够满足当前的多个样本分配请求时,按照先请求先分配、或就 近原则将待测样本分配到对应的样本分配请求对应的采样点位置;
164.s175,是否为第m台测定单元请求第n号试管的请求,且当前执行完扫描 的待测样本是否大于或等于n;若是,执行s176;若否,执行s177;
165.s176,将第n号试管运载到对应的采样点位置,以供第m台测定单元完成 取样、测
试;
166.s177,样本分配流程执行完成后,判断是否存在未扫描完的待测样本;若 是,返回s15;
167.s18,是否有样本架进给请求;若是,中断当前的扫描流程,返回执行 s13~s14;
168.s19,是否有样本架卸载请求,若是,中断当前的扫描流程,执行s191;
169.s191,确定当前的待卸载样本架是否到达卸载位,若所述待卸载样本架到 达所述卸载位时,控制卸载组件将所述待待卸载样本架推出所述进给轨道;若 所述待卸载样本架未到达所述卸载位时,根据所述待卸载样本架的当前位置控 制所述传送组件将其运载到卸载位,控制所述卸载组件将所述待待卸载样本架 推出所述进给轨道。
170.s20,执行完样本架的载入、全部试管的扫描、分配、取样和检测,样本架 的卸载,结束。
171.本技术实施例另一方面,请参阅图6,还提供一种进样控制装置,包括处 理器201及存储器202,所述存储器202内存储有可被所述处理器201执行的 计算机程序,所述计算机程序被所述处理器201执行时实现本技术任一实施例 所述的进样控制方法。另外,上述实施例提供的进样控制装置与进样控制方法 实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
172.本技术实施例另一方面,还提供一种计算机可读存储介质,例如包括可执 行程序的存储器,上述可执行程序由处理器执行,以完成本技术任一实施例所 述的进样控制方法的步骤,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再 赘述。其中,所述的计算机可读存储介质,如只读存储器(read-onlymemory, 简称rom)、随机存取存储器(randomaccessmemory,简称ram)、磁碟或者光盘 等
173.本技术实施例另一方面,还提供一种级联样本分析仪,请结合参阅图7至 图10,包括并列设置的多个测定单元以及与多个所述测定单元匹配的进样机构 20,每一所述测定单元包括用于抓取待测样本的采样点位置,所述进样机构20 包括本技术任一实施例所述的进样控制装置。其中,级联样本分析仪由多个测 定单元,同一进样机构20可同时适配级联样本分析仪中多个测定单元的多个采 样点位置进行取样测试,如测定单元由第一测定单元11和第二测定单元12组 成,第一测定单元11对应包括第一采样点位置110,第二测定单元12对应包 括第二采样点位置120,通过级联样本分析仪对待测样本完成并行测试时共用 进样机构20,进样机构20同步运载第一样本架31和第二样本架32,不仅可以 提高测试效率,而且相对于设置多台独立的测试仪器而言可减小整体尺寸,降 低成本。
174.可选的,所述进样机构20还包括装载区21、卸载区22、传送组件及用于 对待测样本进行识别的扫码组件24,所述传送组件沿其传送方向上包括与所述 装载区21对应的装载位、与所述采样点位置分别对应的多个取样位、与所述卸 载区22对应的卸载位、以及靠近所述装载区21和/或所述卸载区22设置的缓 冲段23。其中,同一进样机构20可同时适配级联样本分析仪的多个采样点位 置进行取样测试,通过级联样本分析仪对待测样本完成并行测试时共用进样机 构20,不仅可以提高测试效率,而且相对于设置多台独立的测试仪器而言可以 减小整体尺寸,降低成本;进样机构20的传送组件沿其传送方向上包括与所述 装载区21对应的装载位、与级联样本分析仪的多个采样点位置分别对应的多个 取样位、与所述卸载区22对应的卸载位以及靠近所述装载区21和/或所述卸载 区22设置的缓冲段23,
由于缓冲段23的设置,样本架在所述装载位载入所述 传送组件时无需控制传送组件反转传送,且传送组件可以对多个样本架进行同 步传送,通过对结构优化简化了对进样机构20的控制策略,避免传送组件的往 复运输以实现多个样本架的连续载入,提高了进样效率,从而可以提升级联样 本分析仪的整体检测效率。
175.可选的,所述缓冲段23包括靠近装载区21设置的第一缓冲段231,所述 第一缓冲段231的末端与相邻的所述采样点位置之间的间隔大于或等于多个所 述样本架的长度之和;和/或,所述缓冲段23包括靠近所述卸载区22设置的第 二缓冲段232,所述第二缓冲段232的末端与相邻的所述采样点位置之间的间 隔大于或等于多个所述样本架的长度之和。
176.上述实施例中,所述缓冲段23凸伸出所述测定单元沿其排列方向的外侧。 缓冲段23可以仅包括靠近装载区21设置的第一缓冲段231,或仅包括靠近卸 载区22设置的第二缓冲段232,也可以是同时包括分别靠近装载区21设置的 第一缓冲段231和靠近卸载区22设置的第二缓冲段232。缓冲段23用于提供 多个所述样本架当一末端的所述待测样本运动至对应侧的所述取样位时其另一 末端的容纳空间。其中,第一缓冲段231的设置,在装载区21中装载有所述待 测样本的样本架被推送到传送组件的装载位,首先载入传送组件的样本架跟随 传送组件运动的过程中,由于靠近装载区21的一端的缓冲段23的设置,缓冲 段23可以提供样本架的容纳空间,从而在首先载入传送组件的样本架向前移动 时通过缓冲段23更快地提供下一样本架载入传送组件的空间,实现传送组件可 以对多个样本架进行同步传送,通过多个样本架上的更多待测样本为级联样本 分析仪的多个样本点位置提供样本。由于第二缓冲段232的设置,可以增加传 送组件的整体长度,并提供样本架的容纳空间,从而在首先载入传送组件的样 本架向朝向卸载区22的第二缓冲段232移动超过下一个样本架的长度的距离 时,可以将下一样本架载入传送组件,并通过传送组件对多个样本架进行同步 传送,通过多个样本架上的更多待测样本为级联样本分析仪的多个样本点位置 提供样本。
177.需要说明的是,本实施例中,级联样本分析仪通过于传送组件的两端分别 增加缓冲段23,第一缓冲段231和第二缓冲段232可以分别增加传送组件两端 的宽度,当多个样本架在进给轨道上同步运动至任意末端的所述待测样本运动 至对应侧的所述取样位时,第一缓冲段231和第二缓冲段232分别提供容纳其 另一末端的容纳空间,以支持通过多个样本架上任意位置上的待测样本分配至 对应的取样位时不会被干涉,以进一步能够确保进样的连续性。
178.需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意 在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装 置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为 这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由 语句“包括
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或 者装置中还存在另外的相同要素。
179.通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实 施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬 件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方 案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以采用软件产品的形式体现出 来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中,包 括若干指令用以使得一台终端(可以是计算机,服务
器,分析仪,进样机构,或 者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
180.以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于 此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围之内,可轻易想 到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围 应以权利要求的保护范围为准。
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