1.本发明涉及高压测试领域，具体涉及一种耐压测试装置及耐压测试方法。
背景技术：2.在电子产品的生产过程中，电子产品需要需执行绝缘耐压测试，以测试电子产品的绝缘耐受电压能力。现有技术通常通过人工将高压线连接到电子产品上，对电子产品进行耐压测试，测试完后再将高压线拔掉，导致对电子产品进行耐压测试的效率低下。
技术实现要素：3.本技术提供一种耐压测试装置及耐压测试方法，以解决现有技术通过人工对电子产品进行耐压测试的效率低下的问题。
4.一方面，本技术提供一种耐压测试装置，包括：输送线、承载板及测试件；
5.所述承载板包括与所述输送线滑动连接的板体，及与所述板体连接且相互绝缘的第一连接端子和第二连接端子；
6.所述板体用于承载电子产品，所述第一连接端子和所述第二连接端子均与所述电子产品电连接；
7.所述测试件包括高压仪、与所述输送线连接的驱动件，及与所述驱动件连接的探针，所述探针与所述高压仪的第一电极电连接，所述第一连接端子与所述高压仪的第二电极电连接；
8.所述驱动件用于在所述板体位于预设测试位置时，驱动所述探针沿靠近所述板体的方向运动，以使所述探针与所述第二连接端子抵接。
9.在一些可能的实现方式中，所述驱动件包括与所述输送线连接的缸体，及与所述缸体活动连接的活塞杆，所述活塞杆与所述探针连接。
10.在一些可能的实现方式中，所述活塞杆的运动方向垂直于所述板体的运动方向。
11.在一些可能的实现方式中，所述探针的轴向延伸方向垂直于所述第二连接端子的长度延伸方向，所述第二连接端子的长度延伸方向与所述板体的运动方向相同。
12.在一些可能的实现方式中，所述输送线上具有与所述第二电极电连接的导电轮，所述导电轮与所述第一连接端子抵接。
13.在一些可能的实现方式中，所述板体上具有与所述第一连接端子连接的插座，所述电子产品的电源插头与所述插座连接。
14.在一些可能的实现方式中，所述承载板还包括与所述第二连接端子连接的usb转接线，所述usb转接线与所述电子产品连接。
15.在一些可能的实现方式中，所述输送线上具有位于预设测试位置的到位传感器，及与所述到位传感器电连接的活动阻挡件。
16.在一些可能的实现方式中，耐压测试装置还包括与所述输送线连接的扫描器，所述扫描器用于扫描所述板体上的条码，将所述板体与所述电子产品进行信息绑定。
17.另一方面，本技术还提供一种耐压测试方法，应用于上述的耐压测试装置，所述方法包括：
18.所述板体运动至预设测试位置，所述驱动件驱动所述探针沿靠近所述板体的方向运动，以使所述探针与所述第二连接端子抵接；
19.所述高压仪对所述电子产品进行耐压测试。
20.本技术提供的耐压测试装置包括：输送线、承载板及测试件。承载板包括与输送线滑动连接的板体，及与板体连接且相互绝缘的第一连接端子和第二连接端子，板体用于承载电子产品，第一连接端子和第二连接端子均与电子产品电连接，测试件包括高压仪、与输送线连接的驱动件，及与驱动件连接的探针，探针与高压仪的第一电极电连接，第一连接端子与高压仪的第二电极电连接。在板体位于预设测试位置时，驱动件驱动探针沿靠近板体的方向运动，以使探针与第二连接端子抵接，即可使电子产品电连接第一电极和第二电极，以构成测试回路，高压仪输出高压对电子产品进行耐压测试，无需通过人工对电子产品进行耐压测试，可以提高测试效率，并降低人工成本。
附图说明
21.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1是本技术一实施例提供的耐压测试装置的第一视角示意图；
23.图2是本技术一实施例提供的耐压测试装置的第二视角示意图；
24.图3是本技术一实施例提供的耐压测试装置的高压仪的连接示意图；
25.图4是本技术一实施例提供的耐压测试装置的输送线的示意图；
26.图5是本技术一实施例提供的耐压测试装置的承载板底面的示意图；
27.图6是本技术一实施例提供的耐压测试方法的流程图。
具体实施方式
28.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
29.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
30.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
31.本技术的耐压测试装置可以应用于生产线上，电子产品在生产线上被组装好后，板体可以承载电子产品并运动至预设测试位置，驱动件驱动探针沿靠近板体的方向运动，以使探针与第二连接端子抵接，即可使电子产品电连接第一电极和第二电极，以构成测试回路，高压仪输出高压对电子产品进行耐压测试，无需通过人工对电子产品进行耐压测试，可以提高测试效率，并降低人工成本。
32.请参阅图1至图5，本技术实施例中提供一种耐压测试装置，包括：输送线1、承载板2及测试件3；
33.承载板2包括与输送线1滑动连接的板体21，及与板体21连接且相互绝缘的第一连接端子22和第二连接端子23；
34.板体21用于承载电子产品100，第一连接端子22和第二连接端子23均与电子产品100电连接；
35.测试件3包括高压仪31、与输送线1连接的驱动件32，及与驱动件32连接的探针33，探针33与高压仪31的第一电极电连接，第一连接端子22与高压仪31的第二电极电连接；
36.驱动件32用于在板体21位于预设测试位置时，驱动探针33沿靠近板体21的方向运动，以使探针33与第二连接端子23抵接。
37.需要说明的是，电子产品100可以为电视机或电脑等产品。输送线1指的是生产线上用于运输的结构。高压仪31可以安装于生产线上不会阻碍板体21运动的位置。板体21可以在输送线1上滑动，以带动电子产品100运动至预设测试位置，该预设测试位置可以为生产线上的耐压测试工位，并在测试完后可以带动电子产品100运动至下一工位。在板体21位于预设测试位置时，驱动件32驱动探针33沿靠近板体21的方向运动，以使探针33与第二连接端子23抵接，即可使电子产品100电连接第一电极和第二电极，以构成测试回路，高压仪31输出高压对电子产品100进行耐压测试，无需通过人工对电子产品100进行耐压测试，可以提高测试效率，并降低人工成本，并且还能减少人工对电子产品100进行耐压测试存在的触点风险。
38.此外，由于电子产品100只与板体21的第一连接端子22和第二连接端子23连接，电子产品100不与探针33直接接触，因此，无需在电子产品100上设置测试端子，即本技术的耐压测试装置可以针对没有测试端子的电子产品100进行耐压测试，适用性强。并且可以固定第二连接端子23在板体21上的位置，探针33只与第二连接端子23抵接，电子产品100不与探针33直接接触，使耐压测试装置还能够针对各种规格的电子产品100进行耐压测试，兼容各种规格的电子产品100。
39.在该实施例中，承载板2的数量可以为多个，每个承载板2上均承载一个电子产品100，多个承载板2依次运动至预设测试位置，实现依次对多个电子产品100进行耐压测试，可以提高测试效率。
40.在一些实施例中，第一电极可以为高压正极和高压负极中的一种，第二电极可以
为高压正极和高压负极中不同于第一电极的一种。例如，第一电极为高压正极，第二电极为高压负极。
41.在一些实施例中，板体21可以为工装板，工装板的表面可以包覆绝缘层，例如绝缘橡胶，第一连接端子22和第二连接端子23均设置在绝缘层上，且互不接触。
42.在该实施例中，第一连接端子22和第二连接端子23可以均为金属导电材料，例如铜或铜合金。
43.在一些实施例中，输送线1可以包括两条相对设置的导轨11，板体21与两条导轨11滑动连接，以在两条导轨11上运动。驱动件32可以固定安装于导轨11的侧面。
44.在一些实施例中，请参阅图1和图2，电子产品100位于板体21的上表面，驱动件32和探针33可以位于板体21的侧面，第二连接端子23设置于板体21靠近探针33的一面，有利于缩短探针33与第二连接端子23之间的距离。
45.在一些实施例中，请参阅图1和图2，驱动件32包括与输送线1连接的缸体321，及与缸体321活动连接的活塞杆322，活塞杆322与探针33连接。该缸体321可以驱动活塞杆322伸缩，在板体21位于预设测试位置时，缸体321驱动活塞杆322沿靠近板体21的方向运动，以使探针33与第二连接端子23抵接，以构成测试回路，无需通过人工对电子产品100进行耐压测试，可以提高测试效率，并降低人工成本。
46.在该实施例中，缸体321可以为气缸或液压缸。
47.在该实施例中，活塞杆322的运动方向垂直于板体21的运动方向，以便于活塞杆322带动探针33以最短距离抵接第二连接端子23，提高测试效率。
48.在该实施例中，探针33的轴向延伸方向垂直于第二连接端子23的长度延伸方向，第二连接端子23的长度延伸方向与板体21的运动方向相同，从而可以使第二连接端子23以最大面积的一面与探针33面对，保证探针33能够准确抵接第二连接端子23，提高测试准确率及效率。
49.在该实施例中，第二连接端子23的形状可以为矩形。
50.在一些实施例中，请参阅图1至图5，输送线1上具有与第二电极电连接的导电轮12，导电轮12与第一连接端子22抵接。该导电轮12为可以导电的滚轮，导电轮12可以位于预设测试位置并位于板体21的下方，该第一连接端子22可以设置于板体21的下表面(即底面)，板体21在输送线1上运动时，第一连接端子22与导电轮12抵接，可以带动导电轮12转动，导电轮12不会影响板体21的运动，并且第一连接端子22可以通过导电轮12与第二电极电连接，从而可以提高测试效率。
51.在该实施例中，可以通过高压线连接第二电极和导电轮12，由于导电轮12的安装位置是固定于预设测试位置，不会跟随板体21的运动而运动，因此，板体21运动时也不会带动高压线移动，从而避免高压线断线或阻挡板体21运动，进而提高测试效率。
52.在该实施例中，第一连接端子22的数量可以为多个，多个第一连接端子22相互电连接且呈直线或阵列排布，以保证第一连接端子22与导电轮12能够抵接。此外，导电轮12的数量和排列方式可以根据第一连接端子22的数量和排列方式对应设置，例如，多个导电轮12相互电连接且呈直线或阵列排布。
53.在一些实施例中，板体21上具有与第一连接端子22连接的插座，电子产品100的电源插头与插座连接，无需在电子产品100上设置额外的连接线来连接第一连接端子22，只需
要通过电子产品100自带的电源插头即可实现连接第一连接端子22，以便于对电子产品100进行耐压测试，并且可适用各种类型的电子产品100。
54.在一些实施例中，请参阅图1和图2，承载板2还包括与第二连接端子23连接的usb转接线24，usb转接线24与电子产品100连接，该usb转接线24耐高压。由于各种类型的电子产品100中均具有usb接口，通过usb转接线24可以与电子产品100的usb接口连接，从而便于各种类型的电子产品100连接第二连接端子23，实现对各种类型的电子产品100进行耐压测试，提高耐压测试装置的适用性。
55.在一些实施例中，请参阅图1、图2和图4，输送线1上具有位于预设测试位置的到位传感器13，及与到位传感器13电连接的活动阻挡件14。当板体21运动至预设测试位置时，到位传感器13可以感应到板体21而被触发，发送阻挡信号给活动阻挡件14，活动阻挡件14运动至预设阻挡位置，该预设阻挡位置指的是板体21的运动路线中的一个位置，以挡住板体21，保证板体21位于预设测试位置，从而保证探针33能够与第二连接端抵接，以进一步提高测试效率。
56.在该实施例中，活动阻挡件14包括动力件141及与动力件141连接的挡块142，动力件141用于驱动挡块142沿竖直方向升降或旋转，从而可以驱动挡块142运动至预设阻挡位置。该动力件141可以为气缸或液压缸，当然也可以为其他结构，例如电机，本技术在此不做限制。
57.在该实施例中，到位传感器13可以位于板体21的上方、下方或侧面，只要是能够感应到板体21的位置即可。该到位传感器13可以为光电传感器、超声波传感器或激光传感器。
58.在该实施例中，板体21上可以设有卡槽，当活动阻挡件14运动至预设阻挡位置，阻挡住板体21时，挡块142可以位于卡槽中与板体21抵接，以提高限位效果。
59.在一些实施例中，请参阅图1和图2，耐压测试装置还包括与输送线1连接的扫描器4，扫描器4用于扫描板体21上的条码，将板体21与电子产品100进行信息绑定，例如，将板体21的编号与板体21上电子产品100进行绑定，电子产品100完成耐压测试后，测试结果可以与板体21的编号绑定，通过板体21的编号可以快速找到完成耐压测试后的电子产品100，并且还能得到测试结果，以进一步提高测试效率。
60.在该实施例中，扫描器4可以为相机或红外扫码器。
61.在一些实施例中，耐压测试装置还包括主控系统，例如mes系统(制造执行系统)，上述的测试件3、板体21、到位传感器13、活动阻挡件14和扫描器4都与主控系统连接，由主控系统控制测试件3、板体21、到位传感器13、活动阻挡件14和扫描器4的工作。
62.此外，耐压测试装置还包括与高压仪31电连接的报警器，当电子产品100的测试结构不合格时，报警器可以进行报警，以提醒工作人员。
63.以下说明本技术的耐压测试装置的工作流程：
64.主控系统控制板体21运动至预设测试位置，扫描器4扫描板体21上的条码，将板体21与电子产品100进行信息绑定并发送至主控系统，同时到位传感器13被板体21触发，发送阻挡信号给主控系统，主控系统控制活动阻挡件14运动至预设阻挡位置，以挡住板体21；
65.主控系统控制驱动件32驱动探针33沿靠近板体21的方向运动，以使探针33与第二连接端子23抵接；
66.主控系统控制高压仪31电子产品100进行耐压测试，若测试结果为合格，则主控系
统保存测试结果和测试数据，并控制板体21运动至下一工位，若测试结果为不合格，则主控系统保存测试结果和测试数据，并控制报警器报警。
67.请参阅图6，基于上述的分拣系统，本技术还提供一种耐压测试方法，应用于上述的耐压测试装置，耐压测试方法包括：
68.步骤s1、板体21运动至预设测试位置，驱动件32驱动探针33沿靠近板体21的方向运动，以使探针33与第二连接端子23抵接；
69.步骤s2、高压仪31对电子产品100进行耐压测试。
70.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
71.具体实施时，以上各个组件或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个组件或结构的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。
72.以上对本发明实施例所提供的一种耐压测试装置及耐压测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。