航空器涂层的面红外发射率测量方法及装置

1.本发明属于红外发射率检测技术领域，具体涉及一种航空器涂层的面红外发射率测量方法及装置。


背景技术：

2.红外低发射率涂层，又称红外隐身涂层，一般涂覆于高温物体表面进而减少物体红外辐射能量实现红外隐身，在使用的过程中容易出现老化、划痕、磨损、脱落等损伤。红外发射率是衡量红外低发射率涂层性能的重要性能参数，涂层的损伤导致其红外发射率发生变化，严重影响其红外隐身性能。通过测量涂层的红外发射率可以检测涂层损伤部位并知悉涂层损伤程度，对指导涂层的修复与更换工作有很重要的意义。
3.目前，针对红外低发射率涂层红外发射率的测量方法，以非接触式测量方法为主，具体测量方法主要有双波段法和环境辐射法。
4.公开号为us7186978b2发明专利，公开了一种紧凑型发射率与温度测量红外探测器，这种探测器采用了双波段法，通过综合物体表面在两个波段的红外辐射能量信息进而求解得到物体表面红外发射率及温度。其通过假设物体表面是灰体，灰体的发射率不随温度和波长的改变而改变，将物体表面两个波段的红外辐射能量表达式作比，消去未知的红外发射率求解物体表面温度，再将温度代入原式求解得到物体表面红外发射率。该方法能够实现非接触式测量并且测量的面积大，但是，在求解的过程中，为了能先消除物体表面未知红外发射率的影响，引入物体表面是灰体的假设，因此，从原理上分析，该方法在计算过程中存在误差，造成测量的准确度降低。
5.公开号为cn103063312a的发明专利，公开了一种测量物体发射率的测量系统及方法，这种方法是通过综合物体表面在两种环境下的红外辐射能量信息进而求解得到物体表面红外发射率的，故称为环境辐射法。其通过黑体辐射源模拟环境辐射，改变黑体温度进而使环境辐射发生改变，将物体表面在两种环境下的红外辐射能量表达式联立，消去物体表面未知温度的影响，进而求解得到物体表面红外发射率。该方法虽然能够实现非接触式测量，测量精确并且测量的面积较大，但是，由于其使用黑体辐射源模拟环境辐射，对设备和测量环境的要求高，不适用于外场实际应用。


技术实现要素：

6.为了克服航空器涂层红外发射率在外场测量中存在的不足，本发明提出了一种航空器涂层的面红外发射率测量方法及装置。
7.本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是：
8.航空器涂层的面红外发射率测量装置包括红外探测器、辐射器、平台、处理器和数据线；所述红外探测器和所述辐射器均固定在所述平台上，所述红外探测器和所述辐射器均通过所述数据线与所述处理器连接并传输数据信号。
9.上述面红外发射率测量装置，所述红外探测器的测量波段为δλ，δλ在3～5μm范
围内，帧像素为640
×
512，帧率为25hz，积分时间为4490μs，输出模式为红外辐射亮度。
10.上述面红外发射率测量装置，所述辐射器的比辐射率为0.93～0.98，辐射的方向和所述红外探测器面对的方向一致，均正对朝向待测的航空器涂层方向。
11.使用所述的航空器涂层的面红外发射率测量装置，实施航空器涂层的面红外发射率测量方法，包括如下步骤：
12.步骤一，设置校准板
13.将所述校准板与待测的航空器涂层区域放置在红外探测器的视场所范围内，所述校准板的上边与待测航空器涂层区域下部相邻，所述校准片正面与所述红外探测器和所述辐射器相向放置，所述校准片正面的法线方向正对所述红外探测器。
14.步骤二，布置面红外发射率测量装置
15.待测的航空器涂层区域位于所述红外探测器的采集视场和所述辐射器的辐射范围内。
16.航空器放置在外场自然环境条件下，所述红外探测器的镜头至待测的航空器涂层的距离为l2，l2＝1500～2500mm。
17.使待测航空器涂层区域与所述校准片正面同时出现在所述红外探测器视场中，所述校准片正面在所述红外探测器视场中的像素数为δs，δs＝484～900。
18.步骤三，采集自然环境条件下的红外辐射亮度值a
19.开启所述面红外发射率测量装置，此时，所述辐射器不产生辐射。
20.设定所述红外探测器采集区域，以所述校准片正面和待测的航空器涂层的区域为视场内。
21.所述红外探测器进入稳定工作状态，同时采集待测的航空器涂层区域与所述校准片正面各像素点处的红外辐射亮度，采集时间为t1，t1＝4～6s，并将采集到的航空器涂层区域与所述校准片正面各像素点处的红外辐射亮度通过数据线传输至处理器，得到自然环境条件下航空器涂层区域与校准片正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a。
22.所述温度传感器将测试得到的所述校准板的温度tc传输至所述处理器。
23.步骤四，采集辐射条件下的红外辐射亮度值b
24.开启辐射器，所述辐射器对待测航空器涂层区域和校准片正面区域同时施加辐射，比辐射率为0.93～0.98，辐射时间为t2，t2＝10～20s。
25.在所述辐射器发射辐射的同时，所述红外探测器采集待测的航空器涂层区域和所述校准片正面各像素点处的红外辐射亮度，采集时间为t3，t3＝4～6s，并将采集到的航空器涂层区域与所述校准片正面各像素点的红外辐射亮度通过所述数据线传输至所述处理器，得到辐射条件下航空器涂层区域和所述校准片正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b。
26.步骤五，求取自然环境条件下的平均环境红外辐射亮度
27.对步骤三得到的自然环境条件下所述校准片正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a的数据进行处理，得到自然环境条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)。
28.利用自然环境条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)，通过求解，得到自然环境条件下的所述校准片正面区域红外辐射亮度的平均值，即平均
环境红外辐射亮度
29.步骤六，求取主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度
30.对步骤四得到的主动辐射条件下所述校准片正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b的数据进行处理，得到主动辐射条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)。
31.利用主动辐射条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)，求解，得到主动辐射条件下的所述校准片正面区域红外辐射亮度的平均值，即在主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度
32.步骤七，求取自然环境条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)
33.对步骤三得到的自然环境条件下待测航空器涂层区域各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a的数据进行处理，得到自然环境条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)。
34.步骤八，求取主动辐射条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)
35.对步骤四得到的主动辐射条件下待测航空器涂层区域各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b的数据进行处理，得到主动辐射条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)。
36.步骤九，求取待测航空器涂层区域在δλ波段的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)
37.利用步骤七得到的待测航空器涂层区域各像素点处的自然环境条件下平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)、步骤八得到的主动辐射条件下平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)、以及步骤五得到的校准片正面区域自然环境条件下平均环境红外辐射亮度和步骤六得到的所述校准片正面区域主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度按式(3)联立方程组进行化简，消去未知项，得到待测航空器涂层区域各像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)的表达式(4)。
[0038][0039][0040]
式(3)、(4)中，l
a(x,y)
(δλ)为待测航空器涂层区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，l’a(x,y)
(δλ)为施加主动辐射条件下待测航空器涂层(x,y)像素点处在δ
λ波段的平均红外辐射亮度，lb(t
a(x,y)
,δλ)为t
a(x,y)
温度下黑体在δλ波段的红外辐射亮度，t
a(x,y)
为待测航空器涂层区域(x,y)像素点处温度。
[0041]
式(4)等号右边为测量值或已知量，通过计算即可得到待测航空器涂层区域各像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)。
[0042]
步骤十，绘制航空器涂层的面红外发射率图
[0043]
面红外发射率是红外发射率在物体表面各位置处的分布，根据第九步得到的待测航空器涂层区域对应的每一个像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)，将每一个像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)的数值以色彩的方式对应地绘制在平面坐标系中，得到待测航空器涂层区域在各像素点处红外发射率的分布图，即待测航空器涂层区域的面红外发射率图。
[0044]
上述面红外发射率测量方法，所述校准板包括温度传感器和校准片，所述校准片为正方形，长度与宽度均为l1，l1＝25～40mm；所述校准片为正面附有均匀红外发射涂层的钛合金金属片，该涂层在波长为3～5μm范围内的红外发射率为εc(δλ)，εc(δλ)＝0.398～0.505。所述温度传感器为贴片式热电阻温度传感器，使用导热硅脂将温度传感器紧密粘贴于所述校准片的背面；所述温度传感器通过所述数据线与所述处理器相连，并将测量得到的所述校准板的温度传输至所述处理器。
[0045]
上述面红外发射率测量方法，所述校准片正面区域s1，其中s1的取值可以是，s1＝30mm
×
30mm、25mm
×
25mm、40mm
×
40mm；待测的航空器涂层的区域为s2，其中s2的取值可以是，s2＝300mm
×
300mm、250mm
×
250mm、400mm
×
400mm。
[0046]
上述面红外发射率测量方法，选取步骤三得到的稳态的连续n1帧校准片正面各像素点处的红外辐射亮度值a，连续帧数n1＝100～150帧，求取平均值，得到自然环境条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)。
[0047]
利用自然环境条件下校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)，按式(1)求解，得到平均环境红外辐射亮度
[0048][0049]
式(1)中δλ代表3～5μm波段，l
s(x,y)
(δλ)为所述校准片正面区域(x,y)像素点处δλ波段的环境红外辐射亮度，l
c(x,y)
(δλ)为所述校准片正面区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，lb(tc,δλ)为tc温度下理想黑体在δλ波段的红外辐射亮度，tc为温度传感器测量的校准板的温度，εc(δλ)为所述校准片正面区域在δλ波段的红外发射率，ρc(δλ)为所述校准片正面区域在δλ波段的红外反射率，ρc(δλ)＝1-εc(δλ)，τ(δλ)为δλ波段的大气透过率，τ(δλ)＝1，δs为所述校准片正面区域的像素数，δs＝484～900。
[0050]
上述面红外发射率测量方法，选取步骤四得到的稳态的连续n2帧校准片正面各像素点处的红外辐射亮度值b，连续帧数n2＝100～150帧，求取平均值，得到主动辐射条件下所述校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)。
[0051]
利用主动辐射条件下校准片正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)，
按式(2)求解，得到平均环境红外辐射亮度
[0052][0053]
式(2)中l’s(x,y)
(δλ)为施加主动辐射时校准片正面区域(x,y)像素点处δλ波段的等效环境红外辐射亮度，l’c(x,y)
(δλ)为施加主动辐射时校准片正面区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，δs为校准片正面区域的像素数，δs＝484～900。
[0054]
上述面红外发射率测量方法，选取步骤三得到的稳态的连续n3帧待测航空器涂层区域各像素点的红外辐射亮度值a，连接帧数n3＝100～150帧，求取平均值，得到自然环境条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)。
[0055]
上述面红外发射率测量方法，选取步骤四得到的稳态的连续n4帧待测航空器涂层区域各像素点处的红外辐射亮度值b，连接帧数n4＝100～150帧，求取平均值，得到主动辐射条件下待测航空器涂层区域各像素点处的平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)。
[0056]
本发明的有益效果是：
[0057]
本发明航空器涂层的面红外发射率测量方法及装置，使用红外探测器，能够实现非接触式大面积测量，一次测量流程即能生成红外探测器视场范围内目标物体表面的面红外发射率图，便于识别涂层损伤以及测量损伤程度，如图5所示，测试得到的航空器涂层的面红外发射率图，由图5可直观地识别涂层损伤情况。
[0058]
航空器涂层的面红外发射率测量方法，基于红外物理相关定律与公式的推导，没有引入灰体假设，消除了误差，提高了目标物体表面红外发射率的测量精度。采用本测量方法，对航空器发动机红外低发射率涂层进行了10次测量，其红外低发射率涂层的真实平均发射率为0.396，测量结果显示：平均绝对误差为0.0090，最大绝对误差为0.0153。
[0059]
使用校准片求解环境辐射，不需要使用标准黑体辐射源，且不需要在红外暗室中进行测量，对现场环境的要求低，装置布置操作方便，适于航空器在外场停放时使用；
[0060]
在采集红外幅射亮度时，不需要测量待测涂层的温度，便于实际操作，且能够避免在测量过程中对涂层带来额外的损伤和污染。
附图说明
[0061]
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0062]
图1为面红外发射率测量装置示意图；
[0063]
图2为校准板正面示意图；
[0064]
图3为校准板背面示意图；
[0065]
图4为面红外发射率测量装置布置示意图；
[0066]
图5为航空器涂层的面发射率图。
[0067]
图中：1.红外探测器，2.辐射器，3.平台，4.数据线，5.处理器，6.航空器涂层，7.校准板，8.温度传感器，9.校准片，10.涂层损伤区域。
具体实施方式
[0068]
实施例
[0069]
航空器涂层的面红外发射率测量装置包括红外探测器1、辐射器2、平台3、处理器5和数据线4，如图1所示。
[0070]
如图1所示，红外探测器1位于辐射器2之上，红外探测器1和辐射器2均固定在平台3上，红外探测器1和辐射器2均通过数据线4与处理器5连接并传输数据信号。
[0071]
红外探测器1的测量波段为δλ，δλ在3～5μm范围内，帧像素为640
×
512，帧率为25hz，积分时间为4490μs，输出模式为红外辐射亮度。
[0072]
辐射器2的比辐射率为0.93～0.98，辐射的方向和红外探测器1面对的方向一致，均正对朝向待测的航空器涂层6方向。
[0073]
平台3可在地面水平移动，其上的红外探测器1和辐射器2均可以上下调整高度。
[0074]
使用航空器涂层的面红外发射率测量装置，实施航空器涂层的面红外发射率测量方法，包括如下步骤：
[0075]
步骤一，设置校准板7
[0076]
如图2、图3所示，校准板7包括温度传感器8和校准片9，校准片9为正方形，长度与宽度均为l1，l1＝25～40mm；校准片9为正面附有均匀红外发射涂层的钛合金金属片，该涂层在波长为3～5μm范围内的红外发射率为εc(δλ)，εc(δλ)＝0.398～0.505。温度传感器8为贴片式热电阻温度传感器，使用导热硅脂将温度传感器8紧密粘贴于校准片9的背面。温度传感器8通过数据线4与处理器5相连，并将测量得到的校准板7的温度传输至处理器5。
[0077]
将校准板7与待测的航空器涂层6区域放置在红外探测器1的视场所范围内，校准板7的上边与待测航空器涂层6区域下部相邻，校准片9正面与红外探测器1和辐射器2相向放置，校准片9正面的法线方向正对红外探测器1。
[0078]
步骤二，布置面红外发射率测量装置。
[0079]
如图4所示，待测的航空器涂层6区域位于红外探测器1的采集视场和辐射器2的辐射范围内。
[0080]
航空器放置在外场自然环境条件下，红外探测器1的镜头至待测的航空器涂层6的距离为l2，l2＝1500～2500mm。
[0081]
使待测航空器涂层6区域与校准片9正面同时出现在红外探测器1视场中，校准片9正面在红外探测器1视场中的像素数为δs，δs＝484～900。
[0082]
步骤三，采集自然环境条件下的红外辐射亮度值a
[0083]
开启面红外发射率测量装置，在该步骤期间，辐射器2不产生辐射。
[0084]
设定红外探测器1采集区域，以校准片9正面和待测的航空器涂层6的区域为视场内，校准片9正面区域为s1，待测的航空器涂层6的区域为s2。
[0085]
红外探测器1进入稳定工作状态，同时采集待测的航空器涂层6区域与校准片9正面各像素点处的红外辐射亮度，采集时间为t1，t1＝4～6s，并将采集到的航空器涂层6区域与校准片9正面各像素点处的红外辐射亮度通过数据线4传输至处理器5，得到自然环境条件下航空器涂层6区域与校准片9正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a。
[0086]
温度传感器8将测试得到的校准板7的温度tc传输至处理器5。
[0087]
步骤四，采集辐射条件下的红外辐射亮度值b
[0088]
开启辐射器2，辐射器2对待测航空器涂层6区域和校准片9正面区域同时施加辐射，比辐射率为0.93～0.98，辐射时间为t2，t2＝10～20s。
[0089]
在辐射器2发射辐射的同时，红外探测器1采集待测的航空器涂层6区域和校准片9正面各像素点处的红外辐射亮度，采集时间为t3，t3＝4～6s，并将采集到的航空器涂层6区域与校准片9正面各像素点的红外辐射亮度通过数据线4传输至处理器5，得到辐射条件下航空器涂层6区域和校准片9正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b。
[0090]
步骤五，求取自然环境条件下的平均环境红外辐射亮度
[0091]
对步骤三得到的自然环境条件下校准片9正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a的数据进行处理，具体方法是：
[0092]
选取步骤三得到的稳态的连续n1帧校准片9正面各像素点处的红外辐射亮度值a，连续帧数n1＝100～150帧，求取平均值，得到自然环境条件下校准片9正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)。
[0093]
利用自然环境条件下校准片9正面各像素点处的平均红外辐射亮度l
c(x,y)
(δλ)，按式(1)求解，得到平均环境红外辐射亮度
[0094][0095]
式中δλ代表3～5μm波段，l
s(x,y)
(δλ)为校准片9正面区域(x,y)像素点处δλ波段的环境红外辐射亮度，l
c(x,y)
(δλ)为校准片9正面区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，lb(tc,δλ)为tc温度下理想黑体在δλ波段的红外辐射亮度，tc为温度传感器8测量的校准板7的温度，εc(δλ)为校准片9正面区域在δλ波段的红外发射率，ρc(δλ)为校准片9正面区域在δλ波段的红外反射率，ρc(δλ)＝1-εc(δλ)，τ(δλ)为δλ波段的大气透过率，τ(δλ)＝1，δs为校准片9正面区域的像素数，δs＝484～900。
[0096]
至此，得到自然环境条件下的校准片9正面区域红外辐射亮度的平均值，即平均环境红外辐射亮度
[0097]
步骤六，求取主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度
[0098]
对步骤四得到的主动辐射条件下校准片9正面各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b的数据进行处理，具体方法是：
[0099]
选取步骤四得到的稳态的连续n2帧校准片9正面各像素点处的红外辐射亮度值b，连续帧数n2＝100～150帧，求取平均值，得到主动辐射条件下校准片9正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)。
[0100]
利用主动辐射条件下校准片9正面各像素点处的平均红外辐射亮度l’c(x,y)
(δλ)，按式(2)求解，得到平均环境红外辐射亮度
[0101][0102]
式(2)中l’s(x,y)
(δλ)为施加主动辐射时校准片9正面区域(x,y)像素点处δλ波段的等效环境红外辐射亮度，l’c(x,y)
(δλ)为施加主动辐射时校准片9正面区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，δs为校准片9正面区域的像素数，δs＝484～900。
[0103]
至此，得到主动辐射条件下的校准片9正面区域红外辐射亮度的平均值，即在主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度
[0104]
步骤七，求取自然环境条件下待测航空器涂层6区域各像素点处的平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)。
[0105]
对步骤三得到的自然环境条件下待测航空器涂层6区域各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值a的数据进行处理，具体方法是：
[0106]
选取步骤三得到的稳态的连续n3帧待测航空器涂层6区域各像素点的红外辐射亮度值a，连接帧数n3＝100～150帧，求取平均值，得到自然环境条件下待测航空器涂层6区域各像素点处的平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)。
[0107]
步骤八，求取主动辐射条件下待测航空器涂层6区域各像素点处的平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)。
[0108]
对步骤四得到的主动辐射条件下待测航空器涂层6区域各像素点处在波长为3～5μm的红外辐射亮度值b的数据进行处理，具体方法是：
[0109]
选取步骤四得到的稳态的连续n4帧待测航空器涂层6区域各像素点处的红外辐射亮度值b，连接帧数n4＝100～150帧，求取平均值，得到主动辐射条件下待测航空器涂层6区域各像素点处的平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)。
[0110]
步骤九，求取待测航空器涂层6区域在δλ波段的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)。
[0111]
利用步骤七得到的待测航空器涂层6区域各像素点处的自然环境条件下平均红外辐射亮度l
a(x,y)
(δλ)、步骤八得到的主动辐射条件下平均红外辐射亮度l’a(x,y)
(δλ)、以及步骤五得到的校准片9正面区域自然环境条件下平均环境红外辐射亮度和步骤六得到的校准片9正面区域主动辐射条件下的平均等效环境红外辐射亮度按式(3)联立方程组进行化简，消去未知项，得到待测航空器涂层6区域各像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)的表达式(4)。
[0112]
[0113][0114]
式(3)、(4)中，l
a(x,y)
(δλ)为待测航空器涂层6区域(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，l’a(x,y)
(δλ)为施加主动辐射条件下待测航空器涂层6(x,y)像素点处在δλ波段的平均红外辐射亮度，lb(t
a(x,y)
,δλ)为t
a(x,y)
温度下黑体在δλ波段的红外辐射亮度，t
a(x,y)
为待测航空器涂层6区域(x,y)像素点处温度。
[0115]
式(4)等号右边为测量值或已知量，通过计算即可得到待测航空器涂层6区域各像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)。
[0116]
至此，得到待测航空器涂层6区域各像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)。
[0117]
步骤十，绘制航空器涂层6区域的面红外发射率图。
[0118]
面红外发射率是指红外发射率在物体表面各位置处的分布，根据第九步得到的待测航空器涂层6区域对应的每一个像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)，将每一个像素点处的红外发射率ε
a(x,y)
(δλ)的数值以色彩的方式对应地绘制在平面坐标系中，得到待测航空器涂层6区域在各像素点处红外发射率的分布图，即待测航空器涂层6区域的面红外发射率图。
[0119]
至此，得到待测航空器涂层6区域的面红外发射率图。
[0120]
表1
[0121] 实施例1实施例2实施例3l1/mm302540εc(δλ)0.4440.5050.398l2/mm200015002500δs625900484s130mm
×
30mm25mm
×
25mm40mm
×
40mms2300mm
×
300mm250mm
×
250mm400mm
×
400mmt14s5s6s比辐射率0.980.930.96t215s10s20st34s5s6sn1100帧120帧150帧n2100帧120帧150帧n3100帧120帧150帧n4100帧120帧150帧