信号测试方法、装置、设备及可读存储介质与流程

1.本发明涉及芯片信号质量测试技术领域，具体涉及一种信号测试方法、装置、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.目前服务器主流都是适用ddr4内存，为了保证数据的安全性和可靠性，ddr4链路的信号一致性测试对服务器的平稳运行以及服务器内存的完好使用有着至关重要的影响。通常服务器中ddr4内存的信号一致性测试主要是验证主控芯片的写信号质量，而在主控芯片接收端测试具有较大的局限性，而如果用探棒点测则可能会受芯片内部走线的影响，导致信号反射和信号时延，无法确保信号的一致性。因此，现有的信号一致性测试在主控芯片接收端测试局限性较大，难以验证芯片接收端的信号质量，从而难以满足信号的完整性测试。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明实施例提供了一种信号测试方法、装置、设备及可读存储介质，以解决主控芯片接收端的信号质量难以验证，从而难以满足信号的完整性测试的问题。
4.根据第一方面，本发明实施例提供了一种信号测试方法，包括：获取待测主控芯片的信号采样参数；调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号；测试所述接收端信号对应的信号误码率；基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。
5.本发明实施例提供的信号测试方法，通过调整信号采样参数以确定待测主控芯片的接收端信号，实时测量接收端信号对应的信号误码率，且接收端信号能够直接表征待测主控芯片的内部信号，由此摆脱了依靠外部设备获取待测主控芯片内部信号的局限性，从而避免了内部信号获取受限于芯片内部走线的影响。通过信号误码率与误码率阈值之间的关系评估待测主控芯片接收端的信号质量，由此实现了待测主控芯片的接收端信号质量的验证，从而满足了待测主控芯片的信号完整性测试。
6.结合第一方面，在第一方面的第一实施方式中，基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量，包括：基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，确定所述信号采样参数的目标变化范围；基于所述目标变化范围的值，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。
7.结合第一方面第一实施方式，在第一方面的第二实施方式中，所述基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，确定所述信号采样参数的目标变化范围，包括：判断所述信号误码率是否超过所述误码率阈值；当所述信号误码率超过所述误码率阈值时，确定所述信号误码率对应的采样参数最小值以及采样参数最大值；将所述采样参数最小值以及采样参数最大值对应的区间确定为所述信号采样参数的目标变化范围。
8.本发明实施例提供的信号测试方法，通过信号误码率与误码率阈值的关系，确定
出信号采样参数的目标变化范围，并基于目标变化范围所对应的值确定接收端信号质量良好与否，提高了接收端信号质量的测试可靠性与测试效率。
9.结合第一方面，在第一方面的第三实施方式中，所述调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号，包括：获取所述信号采样参数的初始值以及调整顺序；基于所述调整顺序对所述信号采样参数的初始值进行依次调整，得到调整所述信号采样参数对应的接收端信号。
10.结合第一方面第三实施方式，在第一方面的第四实施方式中，所述调整顺序为：在所述信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止增大；重新在所述信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止减小。
11.结合第一方面第三实施方式，在第一方面的第五实施方式中，所述调整顺序为：在所述信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止减小；重新在所述信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止增大。
12.本发明实施例提供的信号测试方法，通过获取信号采样参数的初始值以及调整顺序，基于该调整顺序对信号采样参数的初始值进行依次调整，以得到调整信号采样参数对应的接收端信号，继而对接收端信号进行测试，以便实现接收端信号的全面测试，提高了接收端信号的测试效率以及测试效果。
13.结合第一方面或第一方面第一实施方式至第五实施方式中的任一实施方式，在第一方面的第六实施方式中，所述采样参数包括采样电平和采样时刻。
14.本发明实施例提供的信号测试方法，通过采样电平和采样时刻作为采样参数，由此能够从两个维度共同对待测主控芯片接收端的信号质量予以评估，进一步提高了接收端信号的测试可靠性。
15.根据第二方面，本发明实施例提供了一种信号测试装置，包括：获取模块，用于获取待测主控芯片的信号采样参数；调整模块，用于调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号；测试模块，用于测试所述接收端信号对应的信号误码率；评估模块，用于基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。
16.本发明实施例提供的信号测试装置，通过调整信号采样参数以确定待测主控芯片的接收端信号，实时测量接收端信号对应的信号误码率，且接收端信号能够直接表征待测主控芯片的内部信号，由此摆脱了依靠外部设备获取待测主控芯片内部信号的局限性，从而避免了内部信号获取受限于芯片内部走线的影响。通过信号误码率与误码率阈值之间的关系评估待测主控芯片接收端的信号质量，由此实现了待测主控芯片的接收端信号质量的验证，从而满足了待测主控芯片的信号完整性测试。
17.根据第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行第一方面或第一方面任一实施方式所述的信号测试方法。
18.根据第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读
存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行第一方面或第一方面任一实施方式所述的信号测试方法。
19.需要说明的是，本发明实施例提供的电子设备及计算机可读存储介质的相应有益效果，请参见信号测试方法中相应内容的描述，在此不再赘述。
附图说明
20.为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1是根据本发明实施例的信号测试方法的流程图；
22.图2是根据本发明实施例的信号测试方法的另一流程图；
23.图3是根据本发明实施例的信号测试方法的另一流程图；
24.图4是根据本发明实施例的信号测试装置的结构框图；
25.图5是本发明实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
26.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
27.通常服务器中ddr4内存的信号一致性测试主要是验证主控芯片的写信号质量，而在主控芯片接收端测试具有较大的局限性，而如果用探棒点测则可能会受芯片内部走线的影响，导致信号反射和信号时延，无法确保信号的一致性。因此，现有的信号一致性测试在主控芯片接收端测试局限性较大，难以验证芯片接收端的信号质量，从而难以满足信号的完整性测试。
28.基于此，本发明技术方案通过主控芯片的信号采样参数进行调整，以实时获取主控芯片接收端信号，并对接收端信号的信号误码率进行测量，从而实现了接收端信号质量的验证，满足了待测主控芯片的信号完整性测试。
29.根据本发明实施例，提供了一种信号测试方法的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
30.在本实施例中提供了一种信号测试方法，可用于电子设备，如手机、平板电脑、电脑等，待测主控芯片的调试接口可以通过信号调试线接入电子设备，信号调试线可以为jtag信号连接线。图1是根据本发明实施例的信号测试方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：
31.s11，获取待测主控芯片的信号采样参数。
32.信号采样参数能够表征待测主控芯片的接收端信号的调试状态。信号采样参数为
预先置入电子设备的调试参数。待测主控芯片通过jtag信号连接线接入电子设备后，电子设备可以调用对应于该待测主控芯片的信号采样参数。
33.s12，调整待测主控芯片的信号采样参数，获取信号采样参数调整后的接收端信号。
34.电子设备可以基于信号采样参数生成芯片调试指令，并将该调试指令发送至待测主控芯片以采集待测主控芯片的接收端信号。电子设备可以根据一定的顺序调整信号采样参数，以实时采集信号采样参数经过调整后的接收端信号。
35.s13，测试接收端信号对应的信号误码率。
36.信号误码率是衡量待测主控芯片数据在规定时间内数据传输精确性的指标，信号误码率＝数据传输中的误码/所传输的总码数。电子设备可以依次对其采集到的接收端信号进行信号误码率的计算，从而依次得到经信号采集参数调整后的接收端信号所对应的信号误码率。
37.s14，基于信号误码率与误码率阈值的关系，评估待测主控芯片的接收端信号质量。
38.误码率阈值为待测主控芯片存在数据传输错误的误码率，当信号误码率超过误码率阈值时，表征待测主控芯片的接收端信号受到严重影响，其信号质量较差。电子设备可以将其计算得到的信号误码率与误码率阈值进行比较，以确定信号误码率是否超过误码率阈值，进而通过该信号误码率确定待测主控芯片的接收端信号质量是否良好。
39.本实施例提供的信号测试方法，通过调整信号采样参数以确定待测主控芯片的接收端信号，实时测量接收端信号对应的信号误码率，且接收端信号能够直接表征待测主控芯片的内部信号，由此摆脱了依靠外部设备获取待测主控芯片内部信号的局限性，从而避免了内部信号获取受限于芯片内部走线的影响。通过信号误码率与误码率阈值之间的关系评估待测主控芯片接收端的信号质量，由此实现了待测主控芯片的接收端信号质量的验证，从而满足了待测主控芯片的信号完整性测试。
40.在本实施例中提供了一种信号测试方法，可用于电子设备，如手机、平板电脑、电脑等，图2是根据本发明实施例的信号测试方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：
41.s21，获取待测主控芯片的信号采样参数。详细说明参见上述实施例对应步骤s11的相关描述，此处不再赘述。
42.s22，调整待测主控芯片的信号采样参数，获取信号采样参数调整后的接收端信号。详细说明参见上述实施例对应步骤s12的相关描述，此处不再赘述。
43.s23，测试接收端信号对应的信号误码率。详细说明参见上述实施例对应步骤s13的相关描述，此处不再赘述。
44.s24，基于信号误码率与误码率阈值的关系，评估待测主控芯片的接收端信号质量。
45.具体地，上述步骤s24可以包括：
46.s241，基于信号误码率与误码率阈值的关系，确定信号采样参数的目标变化范围。
47.目标变化范围为信号采样参数所处的变化范围，电子设备根据目标变化范围内的信号采样参数所收集到的接收端信号的信号误码率均小于误码率阈值。电子设备可以通过
调整信号采样参数确定出达到误码率阈值的采样参数最小值和采样参数最大值，得到目标变化范围。
48.具体地，上述步骤s241可以包括：
49.(1)判断信号误码率是否超过误码率阈值。
50.电子设备将其测量得到的接收端信号的信号误码率与误码率阈值进行比较，以确定信号误码率是否超过误码率阈值。当信号误码率超过误码率阈值时，执行步骤(2)，否则继续调节信号采样，收集接收端信号并测量其信号误码率。
51.(2)确定信号误码率对应的采样参数最小值以及采样参数最大值。
52.当信号误码率超过误码率阈值时，停止信号采样参数的调节，并确定出当前信号采样参数对应的值，由此电子设备按照依次增大或依次减小的顺序调节信号采样参数的值，得到满足误码率阈值的采样参数最小值和采样参数最大值。
53.(3)将采样参数最小值以及采样参数最大值对应的区间确定为信号采样参数的目标变化范围。
54.当电子设备以采样参数最小值收集接收端信号时，其信号误码率处于误码率阈值的边界，此时信号采样参数的值继续减小，其信号误码率将会超过误码率阈值；当电子设备以采样参数最大值收集接收端信号时，其信号误码率同样处于误码率阈值的边界，此时信号采样参数的值继续增大，其信号误码率同样会超过误码率阈值。由此，电子设备可以采样参数最小值以及采样参数最大值对应的区间确定为信号采样参数的目标变化范围。
55.s242，基于目标变化范围的值，评估待测主控芯片的接收端信号质量。
56.电子设备在确定出目标变化范围时，可以基于该目标变化范围确定接收端信号质量是否良好。具体地，目标变化范围所覆盖区间越大，表示待测主控芯片的接收端信号质量越好，目标变化范围所覆盖区间越小，表示待测主控芯片的接收端信号质量越差。
57.本实施例提供的信号测试方法，通过信号误码率与误码率阈值的关系，确定出信号采样参数的目标变化范围，并基于目标变化范围所对应的值确定接收端信号质量良好与否，提高了接收端信号质量的测试可靠性与测试效率。
58.在本实施例中提供了一种信号测试方法，可用于电子设备，如手机、平板电脑、电脑等，图3是根据本发明实施例的信号测试方法的流程图，如图3所示，该流程包括如下步骤：
59.s31，获取待测主控芯片的信号采样参数。详细说明参见上述实施例对应步骤s11的相关描述，此处不再赘述。
60.s32，调整待测主控芯片的信号采样参数，获取信号采样参数调整后的接收端信号。
61.具体地，上述步骤s32可以包括：
62.s321，获取所述信号采样参数的初始值以及调整顺序。
63.信号采样参数可以包括采样电平和采样时刻，调整顺序为信号采样参数的增大顺序或减小顺序。信号采样参数的初始值为电子设备开启待测主控芯片测试时所设置的起始值。
64.其中，调整顺序可以为：在信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至信号误码率超过误码率阈值停止增大；重新在信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至信
号误码率超过误码率阈值停止减小。
65.以调整采样电平为例，电子设备获取待测主控芯片接收端信号对应采样电平voltage的初始值，保持采样时刻不变，将其慢慢增大，依次测量采样电平增大过程中各个采样电平所对应的信号误码率，并对其予以保存，待信号误码率高于误码率阈值时停止增加，并记录此时的采样电平为采样电平最大值；重新将采样电平调整至初始值，保持采样时刻不变，将其慢慢减小，依次测量采样电平减小过程中各个采样电平所对应的信号误码率，并对其予以保存，待信号误码率高于误码率阈值时停止增加，并记录此时的采样电平为采样电平最小值。
66.对应采样时刻的调整，则保持采样电平不变，具体调整方式与采样电平的调整方式相同，此处不再赘述。
67.调整顺序还可以为：在信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至信号误码率超过误码率阈值停止减小；重新在信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至信号误码率超过误码率阈值停止增大。
68.以调整采样时刻为例，电子设备获取待测主控芯片接收端信号对应采样时刻timing的初始值，保持采样电平不变，将其慢慢减小，依次测量采样时刻增大过程中各个采样时刻所对应的信号误码率，并对其予以保存，待信号误码率高于误码率阈值时停止增加，并记录此时的采样时刻为采样时刻最大值；重新将采样时刻调整至初始值，保持采样电平不变，将其慢慢减小，依次测量采样时刻减小过程中各个采样时刻所对应的信号误码率，并对其予以保存，待信号误码率高于误码率阈值时停止增加，并记录此时的采样时刻为采样时刻最小值。
69.对应采样电平的调整，则保持采样时刻不变，具体调整方式与采样时刻的调整方式相同，此处不再赘述。
70.s322，基于调整顺序对信号采样参数的初始值进行依次调整，得到调整信号采样参数对应的接收端信号。
71.电子设备按照调整顺序依次对采样电平和采用时刻进行调整，并分别对采样电平和采样时刻调整后的接收端信号进行直接采集，由此无需通过示波器和探头进行接收端信号的采集，摆脱了示波器和探头的局限性。
72.s33，测试接收端信号对应的信号误码率。详细说明参见上述实施例对应步骤s13的相关描述，此处不再赘述。
73.s34，基于信号误码率与误码率阈值的关系，评估待测主控芯片的接收端信号质量。详细说明参见上述实施例对应步骤s14的相关描述，此处不再赘述。
74.本实施例提供的信号测试方法，通过获取信号采样参数的初始值以及调整顺序，基于该调整顺序对信号采样参数的初始值进行依次调整，以得到调整信号采样参数对应的接收端信号，继而对接收端信号进行测试，以便实现接收端信号的全面测试，提高了接收端信号的测试效率以及测试效果。通过采样电平和采样时刻作为采样参数，由此能够从两个维度共同对待测主控芯片接收端的信号质量予以评估，进一步提高了接收端信号的测试可靠性。
75.在本实施例中还提供了一种信号测试装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软
drive，缩写：hdd)或固态硬盘(英文：solid-state drive，缩写：ssd)；存储器504还可以包括上述种类存储器的组合。
88.其中，处理器501可以是中央处理器(英文：central processing unit，缩写：cpu)，网络处理器(英文：network processor，缩写：np)或者cpu和np的组合。
89.其中，处理器501还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(英文：application-specific integrated circuit，缩写：asic)，可编程逻辑器件(英文：programmable logic device，缩写：pld)或其组合。上述pld可以是复杂可编程逻辑器件(英文：complex programmable logic device，缩写：cpld)，现场可编程逻辑门阵列(英文：field-programmable gate array，缩写：fpga)，通用阵列逻辑(英文：generic array logic,缩写：gal)或其任意组合。
90.可选地，存储器504还用于存储程序指令。处理器501可以调用程序指令，实现如本技术图1至图3实施例中所示的信号测试方法。
91.本发明实施例还提供了一种非暂态计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的信号测试方法的处理方法。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(random access memory，ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
92.虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。