技术特征：
1.一种表面污染测量探头装置，其特征在于，包括双晶体探头、数据处理装置、数据存储装置、探头工作电压控制装置、探头工作温度控制装置、探头窗光照控制装置；所述数据处理装置、探头工作电压控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作电压；所述数据处理装置、探头工作温度控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作温度；所述数据处理装置、探头窗光照控制装置，用于实时控制双晶体探头的探头窗光照强度；所述数据处理装置与所述数据存储装置连接，用于存储双晶体探头在正常工作状态下的输出信号误差阈值范围；所述双晶体探头与所述数据处理装置连接，用于获取表面污染测量的实时输出信号；若所述实时输出信号超出所述输出信号误差阈值范围时，所述数据处理装置认为所述双晶体探头的表面污染测量异常；还包括探头工作电压采集装置、探头工作温度采集装置、探头窗光照强度采集装置，且所述探头工作电压采集装置、探头工作温度采集装置、探头窗光照强度采集装置均处于关闭状态，当所述数据处理装置认为所述双晶体探头的表面污染测量异常时，所述数据处理装置启动所述探头工作电压采集装置、探头工作温度采集装置、探头窗光照强度采集装置。2.如权利要求1所述的一种表面污染测量探头装置，其特征在于，所述数据存储装置中还存储有工作电压阈值范围；当所述工作电压采集装置采集的探头实时工作电压超出所述工作电压阈值范围时，所述数据处理装置认为探头工作电压控制环节异常；还包括备用探头工作电压控制装置，所述备用探头工作电压控制装置处于关闭状态，且所述备用探头工作电压控制装置与所述探头工作电压控制装置在未故障的情况下能效相同；当所述数据处理装置认为探头工作电压控制环节异常时，所述数据处理装置关闭所述探头工作电压控制装置，并启动所述备用探头工作电压控制装置；若此时所述工作电压采集装置采集的探头实时工作电压未超出所述工作电压阈值范围，则所述数据处理装置认为所述探头工作电压控制装置异常；若此时所述工作电压采集装置采集的探头实时工作电压仍超出所述工作电压阈值范围，则所述数据处理装置认为所述双晶体探头与数据处理装置环节异常。3.如权利要求1所述的一种表面污染测量探头装置，其特征在于，所述数据存储装置中还存储有工作温度阈值范围；当所述工作温度采集装置采集的探头实时工作温度超出所述工作温度阈值范围时，所述数据处理装置认为探头工作温度控制环节异常；还包括备用探头工作温度控制装置，所述备用探头工作温度控制装置处于关闭状态，且所述备用探头工作温度控制装置与所述探头工作温度控制装置在未故障的情况下能效相同；当所述数据处理装置认为探头工作温度控制环节异常时，所述数据处理装置关闭所述探头工作温度控制装置，并启动所述备用探头工作温度控制装置；若此时所述工作温度采集装置采集的探头实时工作温度未超出所述工作温度阈值范围，则所述数据处理装置认为所述探头工作温度控制装置异常；若此时所述工作温度采集装置采集的探头实时工作温度仍超出所述工作温度阈值范围，则所述数据处理装置认为所述双晶体探头与数据处理装置环节异常。
4.如权利要求1所述的一种表面污染测量探头装置，其特征在于，所述数据存储装置中还存储有探头窗光照强度阈值范围；当所述探头窗光照强度采集装置采集的实时探头窗光照强度超出所述探头窗光照强度阈值范围时，所述数据处理装置认为探头窗光照强度控制环节异常；还包括备用探头窗光照强度控制装置，所述备用探头窗光照强度控制装置处于关闭状态，且所述备用探头窗光照强度控制装置与所述探头窗光照强度控制装置在未故障的情况下能效相同；当所述数据处理装置认为探头窗光照强度控制环节异常时，所述数据处理装置关闭所述探头窗光照强度控制装置，并启动所述备用探头窗光照强度控制装置；若此时所述探头窗光照强度采集装置采集的实时探头窗光照强度未超出所述探头窗光照强度阈值范围，则所述数据处理装置认为所述探头窗光照强度控制装置异常；若此时所述探头窗光照强度采集装置采集的实时探头窗光照强度仍超出所述探头窗光照强度阈值范围，则所述数据处理装置认为所述双晶体探头与数据处理装置环节异常。5.如权利要求2-4任一项所述的一种表面污染测量探头装置，其特征在于，还包括探头输出信号检测装置和探头输入信号检测装置；所述探头输出信号检测装置和探头输入信号检测装置分别与所述数据处理装置连接，且所述探头输出信号检测装置和探头输入信号检测装置处于关闭状态；所述探头输出信号检测装置用于检测识别所述双晶体探头的输出端的探头输出信号是否满足其对应的历史输出信号阈值范围；所述探头输入信号检测装置用于检测识别所述数据处理装置的输入端的探头输入信号是否满足其对应的历史输入信号阈值范围；当所述数据处理装置认为所述双晶体探头与数据处理装置环节异常时，所述数据处理装置启动所述探头输出信号检测装置和探头输入信号检测装置。6.如权利要求5所述的一种表面污染测量探头装置，其特征在于，还包括异常警示装置，所述异常警示装置与所述数据处理装置连接；若所述探头输出信号检测装置检测识别到所述双晶体探头的输出端的探头输出信号不满足其对应的历史输出信号阈值范围，则所述数据处理装置认为所述双晶体探头故障，且启动所述异常警示装置进行异常警示；若所述探头输出信号检测装置检测识别到所述双晶体探头的输出端的探头输出信号满足其对应的历史输出信号阈值范围，所述探头输入信号检测装置检测识别到所述数据处理装置的输入端的探头输入信号不满足其对应的历史输入信号阈值范围，则所述数据处理装置认为所述双晶体探头与所述数据处理装置之间的信号传输故障，且启动所述异常警示装置进行异常警示；若所述探头输出信号检测装置检测识别到所述双晶体探头的输出端的探头输出信号满足其对应的历史输出信号阈值范围，所述探头输入信号检测装置检测识别到所述数据处理装置的输入端的探头输入信号满足其对应的历史输入信号阈值范围，则所述数据处理装置故障，且启动所述异常警示装置进行异常警示。7.一种表面污染测量探头系统，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的一种表面污染测量探头装置，还包括无线通信装置、移动监控终端，所述数据处理装置通过所述无
线通信装置与所述移动监控终端网络通信。8.一种表面污染测量探头方法，其特征在于，采用如权利要求1-7任一项所述的一种表面污染测量探头装置进行环境级γ智能测量。
技术总结
本发明涉及一种表面污染测量探头装置、系统及方法，属于核辐射测量技术领域；包括双晶体探头、数据处理装置、数据存储装置、探头工作电压控制装置、探头工作温度控制装置、探头窗光照控制装置；所述数据处理装置、探头工作电压控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作电压；所述数据处理装置、探头工作温度控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作温度等。本方案当出现双晶体探头的表面污染测量异常时；对探测器工作电压的控制、工作温度的控制、探测窗光照强度的控制进行针对性异常故障检测，从而进一步将异常故障进行定位确认，有助于提升双晶体探头的表面污染测量结果的准确度。晶体探头的表面污染测量结果的准确度。晶体探头的表面污染测量结果的准确度。
技术研发人员：蒋聪明 常瑞敏 陈平 吴冠银 黄坡 穆龙
受保护的技术使用者：中国工程物理研究院核物理与化学研究所
技术研发日：2021.12.06
技术公布日：2022/3/22