一种键帽透光检测治具及方法与流程

1.本发明涉及键盘制造技术领域，特别是涉及一种键帽透光检测治具及方法。


背景技术：

2.计算机键盘的制造通常会采用注塑/喷漆/镭雕/组装等多个复杂的工艺流程。而经过喷漆工艺的键帽通常会因颗粒毛屑/膜厚异常/碰划伤等多种因素导致喷漆完成的键帽出现漏光不良，通常会采用led灯珠对应分布在每个键帽的位置点亮进行键帽漏光检测，但此方式成本较高，且led灯珠易损坏，不但维修麻烦，也严重影响生产；另，led打出的光比较分散，降低检出能力，容易漏检，导致客诉。
3.前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种能提高检测质量与效率的键帽透光检测治具及方法。
5.本发明提供一种键帽透光检测治具，包括透光板以及设置于所述透光板上的多个导光柱；所述透光板用以使光透过到达多个所述导光柱，其包括透明导光材质的透光板主体，所述透光板主体表面的非透光区域设有第一漆层；每一所述导光柱用以引导光至放置于其上的键帽待检测产品来实现对所述待检测产品的透光检测。
6.进一步地，所述第一漆层包括用于遮光的黑色底漆与用于同待检测产品颜色形成反差以增加对比度的白色表漆。
7.进一步地，每一所述导光柱包括透明导光材质的导光柱主体以及设置于所述导光柱主体四周的第二漆层。
8.进一步地，所述第二漆层包括用以增加光线强度的白色底漆与用于减少光源漫射的黑色表漆。
9.进一步地，所述第二漆层底端与所述透光板的第一漆层相接，所述第二漆层顶端与所述导光柱顶端具有距离使光能照射到待检测产品侧边，实现待检测产品侧边的透光检测。
10.进一步地，所述透光板主体与多个所述导光柱主体为一体形成。
11.进一步地，多个所述导光柱的排列位置与所检测键盘上的键帽位置一致。
12.本发明还提供一种键帽透光检测治具，包括透光板以及设置于所述透光板上的多个导光柱，多个所述导光柱的排列位置与所检测键盘上的键帽位置一致；所述透光板用以使光透过到达多个所述导光柱，其包括透明导光材质的透光板主体，所述透光板主体表面的非透光区域设有第一漆层；每一所述导光柱用以引导光至放置于其上的键帽待检测产品来实现对所述待检测产品的透光检测，每一所述导光柱包括透明导光材质的导光柱主体以及设置于所述导光柱主体四周的第二漆层，多个所述导光柱主体与所述透光板主体为一体形成，所述第二漆层底端与所述透光板的第一漆层相接，所述第二漆层顶端与所述导光柱顶端具有距离使光能照射到待检测产品侧边，实现待检测产品侧边的透光检测。
13.进一步地，所述第一漆层包括用于遮光的黑色底漆与用于同待检测产品颜色形成反差以增加对比度的白色表漆，所述第二漆层包括用以增加光线强度的白色底漆与用于减少光源漫射的黑色表漆。
14.本发明另提供一种键帽透光检测方法，包括：提供如权利要求1至9中任一所述的键帽透光检测治具；提供光源，使光源发出的光线透过所述透光板从所述导光柱发出；将待检测产品分别放置于所述导光柱上；检测所述待检测产品是否漏光。
15.本发明提供的键帽透光检测治具及方法，通过设置透光板以及设置于透光板上的多个导光柱，利用透光板接收光源照射，利用多个导光柱来将光引导至放置于其上的待检测产品，实现对所述待检测产品的透光检测，从而无需每个键帽对应光源，可显著减少成本，提高检测效率，提升检测质量。
附图说明
16.图1为本发明实施例键帽透光检测治具的示意图。
17.图2为图1所示键帽透光检测治具沿a-a线的剖视图。
18.图3为图1所示键帽透光检测治具沿b-b线的剖视图。
19.图4为图1所示键帽透光检测治具与待检测产品的剖视图。
20.图5为图1所示键帽透光检测治具的使用状态示意图。
21.图6为本发明实施例键帽透光检测方法的示意图。
具体实施方式
22.下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
23.如图1至图5所示，本实施例中，键帽透光检测治具包括透光板1以及设置于透光板1上的多个导光柱2。本实施例中，多个导光柱2的排列位置与所检测键盘上的键帽位置一致(如图1所示)，从而可一次检测键盘上的所有键帽。当然，在其它实施例中，多个导光柱2的排列位置也可以不与所检测键盘上的键帽位置一致，如采用矩阵式排列，检测时将键帽分别放置于各导光柱上。
24.透光板1用以使光源3发出的光透过到达多个导光柱2，其包括透明导光材质的透光板主体11，透光板主体11表面的非透光区域设有第一漆层12。
25.本实施例中，第一漆层12包括用于遮光的黑色底漆与用于同待检测产品4(键帽一般为黑色)颜色形成反差以增加对比度的白色表漆。当然，在其它实施例中，也可以只包括用于遮光的黑色底漆。
26.每一导光柱2用以引导光至放置于其上的待检测产品4，来实现对待检测产品4的透光检测。每一导光柱2包括透明导光材质的导光柱主体21以及设置于导光柱主体21四周的第二漆层22。每一导光柱2顶端中部设有用以避让待检测产品凸出结构的避让凹槽23。
27.本实施例中，这些导光柱主体21与透光板主体11为一体形成，从而结构稳定，透光性好。当然在其它实施例中，也可不一体形成，而是分别形成后安装在一起。
28.本实施例中，第二漆层22底端与第一漆层12相接，以避免光从两者之间透出。第二漆层22顶端与导光柱2顶端具有一定距离使光能照射到待检测产品4侧边，实现待检测产品
4侧边的透光检测(如图4所示，虚线表示光线，光线从导光柱2顶端侧边第二漆层22上方区域照射到待检测产品4侧边)。
29.本实施例中，第二漆层22包括用以增加光线强度的白色底漆与用于减少光源漫射的黑色表漆。
30.如图5所示，本实施例键帽透光检测治具通过设置透光板1以及设置于透光板1上的多个导光柱2，利用透光板接收光源3照射，利用多个导光柱2来将光(虚线表示)引导至放置于其上的待检测产品，来实现对待检测产品的透光检测，从而无需每个键帽对应光源，可显著减少成本，提高检测效率，提升检测质量。
31.如图6所示，本实施例还提供一种键帽透光检测方法，包括：s1，提供如上所述的键帽透光检测治具以及光源；s2，将键帽透光检测治具与光源安装在一起，且打开光源，使光源发出的光线透过透光板从导光柱发出；s3，将待检测产品分别放置于多个导光柱上进行检测，检测待检测产品是否漏光，若ok(不漏光)，则将ok品进行下道工序，若ng(漏光，即待检测产品透光，有光穿过待检测产品透出)，则将ng品报废。
32.通过上述描述可知，本实施例提供的键帽透光检测治具及方法无需每个键帽对应光源，以达到减少成本并提高检出能力，合理的制程管控，降低不良率及围堵不良品流入客户端，使得现场生产顺畅，客户满意。
33.在本文中，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了表达技术方案的清楚及描述方便，因此不能理解为对本发明的限制。
34.在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。
35.以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。