基于STIL技术的芯片自动测试方法、系统及装置与流程

基于stil技术的芯片自动测试方法、系统及装置
技术领域
1.本发明涉及芯片测试技术领域，具体地涉及一种基于stil技术的芯片自动测试方法、系统及装置。


背景技术：

2.芯片测试系统的方式涵盖vcd、evcd、wgl、pat等多种格式，各个格式的描述标准与特定厂家绑定紧密，并不完全对外开放或兼容，且无法完全涵盖芯片测试可能用到的数字、模拟、串行、射频、dps等通用测试资源，因此最终发展出了基于ieee std 1450(stil)系列标准体系的新一代先进芯片自动测试交互方式。无论是哪种方式的芯片自动测试系统，其内部都需要一套完善的测试运行管理机制来支持、维护。测试运行管理模块用于实现stil文件解析、测试程序定义与开发、测试程序执行、分析硬件链路、控制硬件资源、获取结果数据等，是芯片测试系统执行的核心。目前大部分芯片测试系统以兼容国外设备或文件格式为目的，不能脱离特定厂商的技术生态，随着芯片测试系统的自主研发与工程化应用要求，对标准化的芯片自动测试系统的测试运行服务提出了要求。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种开放式的、可通用的基于stil技术的芯片自动测试方法、系统及装置。
4.为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种基于stil技术的芯片自动测试方法，所述方法包括：
5.若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于stil标准的第一测试数据；
6.对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；
7.若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；
8.若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第三测试数据。
9.为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种基于stil技术的芯片自动测试系统，所述系统包括交互管理模块、文件解析服务模块、测试执行模块、数据分析服务模块、stil标准引擎模块、资源调用引擎模块、stdf标准引擎模块和硬件资源模块。
10.交互管理模块，用于进行人机交互。
11.文件解析服务模块，所述文件解析服务模块与所述交互管理模块连接，所述文件解析服务模块用于生成基于stil标准的第一测试数据。
12.stil标准引擎模块，所述标准引擎模块与所述文件解析服务模块和测试执行模块连接，所述标准引擎模块用于对文件解析服务模块生成的的stil标准测试数据进行进一步解析。
13.测试执行模块，所述测试执行模块与所述交互管理模块、stil标准引擎模块和资源调用模块连接，所述测试执行服务模块用于将经过进一步解析的stil标准测试数据传输至资源调用引擎模块。
14.资源调用引擎模块，所述资源调用引擎模块还与所述数据分析服务模块和硬件资源模块连接，所述资源调用模块用于将经过进一步解析的stil标准测试数据分配至硬件资源模块。
15.硬件资源模块，所述硬件资源模块与所述资源调用引擎模块连接，所述硬件资源模块接收所述资源调用模块传输来的stil标准测试数据并执行相应的测试，并将测试得到的测试结果反馈给资源调用引擎模块。
16.数据分析服务模块，所述数据分析服务模块与所述交互管理模块、资源调用引擎模块连接，所述数据分析服务模块对资源调用引擎模块反馈的测试结果进行分析并存储。
17.stdf标准引擎模块，所述stdf标准引擎模块与所述数据分析服务模块连接，所述数据分析服务模块可基于数据分析服务模块传输来的测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第二测试数据。
18.为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种基于stil技术的芯片自动测试装置，其特征在于，包括用于执行如上所述的基于stil技术的芯片自动测试方法的单元。
19.为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器之间通过通信总线完成相互间的通信。
20.存储器，用于存放计算机程序。
21.处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如上所述的基于stil技术的芯片自动测试方法的步骤。
22.为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理执行时实现如上所述的基于stil技术的芯片自动测试方法的步骤。
23.本发明提供的基于stil技术的芯片自动测试方法、系统及装置，其方法包括：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于stil标准的第一测试数据；对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据；若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第三测试数据。本发明基于stil技术，构建了开放式的、可通用的芯片自动测试框架，将待测数据解析生成为统一标准的stil标准的第一测试数据，可实现统一的自动测试运行服务，然后通过对标准统一的第一测试数据进行进一步解析，得到所需的第二测试数据，从而进行测试得到测试结果，最后生成所需的stdf标准的第三测试数据，对芯片自动测试的运行服务过程实现全覆盖。
附图说明
24.为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对发明中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限
定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
25.图1是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的流程示意图。
26.图2是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
27.图3是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
28.图4是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
29.图5是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
30.图6是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
31.图7是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试系统的模块示意图。
32.图8是本发明一实施例的电子设备的模块结构示意图。
33.图9是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试装置的模块结构示意图。
具体实施方式
34.下面将结合本发明实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
35.应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
36.还应当理解，在此本发明实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明实施例。如在本发明实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
37.请参考图1，图1是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的流程示意图。
38.本发明提供了一种基于stil技术的芯片自动测试方法，所述方法包括：
39.s101：若接收到数据加载指令，获取待测数据并解析，生成基于stil标准的第一测试数据。
40.可理解地，用户通过交互管理模块10输入进行测试的指令，交互管理模块10输出数据加载指令至文件解析服务模块20，文件解析服务模块20接收到数据加载指令后开始加载接收待测数据。
41.s102：对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据。
42.可理解地，文件解析服务模块20加载获取到待测数据后，对待测数据进行解析处理，基于stil标准生成本发明可以识别的第一测试数据。具体地，文件解析服务模块20为stil仿真设计模块，其可生成用于识别stil标准的测试程序策略文件，文件解析服务模块20基于stil测试需求分析，通过对待测数据的测试资源和测试方法进行描述，生成基于stil的测试激励数据，相应配置测试资源参数，编译、链接生成测试程序策略文件，主要包含设计与测试数据双向交互、测试矢量自动生成和测试程序生成。
43.s103：若接收到测试执行指令，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果。
44.可理解地，文件解析服务模块20生成的基于stil标准的第一测试数据传输至stil标准引擎模块30，由stil标准引擎模块30生成对应的第二测试数据，第二测试数据可用作后续进行测试。其中，stil标准引擎模块30可根据实际需求设置多种类型引擎组合，不同类型的引擎模块生成的数据不同，具体地，如针对信号、向量、时序、波形设置不同的引擎模块，从而后续可对信号、向量、时序、波形进行不同的测试。
45.可理解地，stil标准引擎模块30将生成的第二测试数据会传输至测试执行模块40，待到交互管理模块10发送测试执行指令给测试执行模块40，测试执行模块40会将第二测试数据发送至资源调用引擎模块50，由资源调用引擎模块50分配至硬件资源模块60。硬件资源模块60接收到第二测试数据后，硬件资源模块60的不同硬件会根据资源调用引擎模块50的不同分配对相应的数据进行相应的测试，并且会将测试结果反馈给资源调用引擎模块50，从而使得资源调用引擎模块50将获取到的测试结果反馈给数据分析服务模块70。
46.s104：若接收到数据分析指令，对所述测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第三测试数据。
47.可理解地，当数据分析服务模块70接收到交互管理模块10发送来的数据分析指令后，数据分析服务模块70会对测试结果进行分析，具体包括测试数据分析、数据库与数据管理、失效分析和失效趋势分析，实现对测试结果的总体分析和存储。stdf标准引擎模块80会将经过数据分析服务模块70分析的测试结果进行转换，从而生成stdf标准的第三测试数据，然后进行存储和输出。
48.本发明基于stil技术，构建了开放式的、可通用的芯片自动测试框架，将待测数据解析生成为统一标准的stil标准的第一测试数据，可实现统一的自动测试运行服务，然后通过对标准统一的第一测试数据进行进一步解析，得到所需的第二测试数据，从而进行测试得到测试结果，最后生成所需的stdf标准的第三测试数据，对芯片自动测试的运行服务过程实现全覆盖。
49.请参考图2，图2是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
50.进一步地，所述对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据包括：
51.s201：对所述待测数据进行信号、向量、时序、波形的分解和解析，生成基于stil标准的信号信息、向量信息、时序信息和波形信息；
52.s202：将生成的信号信息、向量信息、时序信息和波形信息作为所述第一测试数据。
53.请参考图3，图3是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
54.进一步地，所述对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据包括：
55.s301：获取信号信息；
56.s302：基于所述信号信息，对信号信息进行名称、类型、输入输出、连接关系的解析，生成标准信号信息；
57.s303：将所述标准信号信息作为所述第二测试数据。
58.请参考图4，图4是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程
示意图。
59.进一步地，所述对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据包括：
60.s401：获取标准信号信息和第一测试数据，
61.s402：基于所述标准信号信息和第一测试数据，确定用于测试的逻辑数据、基于周期信号格式的输入输出数据和具体信号的定义，生成标准向量信息；
62.s403：将所述标准向量信息作为所述第二测试数据。
63.请参考图5，图5是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
64.进一步地，所述对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据包括：
65.s501：获取标准向量信息和第一测试数据；
66.s502：基于所述标准向量信息和第一测试数据，确定各个具体信号在每个时间周期的值以及向量的前后时序关系定义，生成标准时序信息；
67.s503：将所述标准时序信息作为所述第二测试数据。
68.请参考图6，图6是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试方法的子流程示意图。
69.进一步地，所述对所述第一测试数据进行解析，生成第二测试数据包括：
70.s601：获取标准时序信息和第一测试数据；
71.s602：基于所述标准时序信息和第一测试数据，确定各个信号在各自向量对应的时序中的信号波形信息、波形块数量以及波形深度，生成标准波形信息；
72.s603：将所述标准波形信息作为所述第二测试数据。
73.请参考图7，图7是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试系统的模块示意图。
74.本发明提供了一种基于stil技术的芯片自动测试系统，所述系统可执行上述的基于stil技术的芯片自动测试方法，所述系统包括交互管理模块10、文件解析服务模块20、测试执行模块40、数据分析服务模块70、stil标准引擎模块30、资源调用引擎模块50、stdf标准引擎模块80和硬件资源模块60。
75.交互管理模块10，用于进行人机交互。
76.文件解析服务模块20，所述文件解析服务模块20与所述交互管理模块10连接，所述文件解析服务模块20用于生成基于stil标准的第一测试数据。
77.stil标准引擎模块30，所述标准引擎模块与所述文件解析服务模块20和测试执行模块40连接，所述标准引擎模块用于对文件解析服务模块20生成的的stil标准测试数据进行进一步解析。
78.测试执行模块40，所述测试执行模块40与所述交互管理模块10、stil标准引擎模块30和资源调用模块连接，所述测试执行服务模块用于将经过进一步解析的stil标准测试数据传输至资源调用引擎模块50。
79.资源调用引擎模块50，所述资源调用引擎模块50还与所述数据分析服务模块70和硬件资源模块60连接，所述资源调用模块用于将经过进一步解析的stil标准测试数据分配至硬件资源模块60。
80.硬件资源模块60，所述硬件资源模块60与所述资源调用引擎模块50连接，所述硬
件资源模块60接收所述资源调用模块传输来的stil标准测试数据并执行相应的测试，并将测试得到的测试结果反馈给资源调用引擎模块50。
81.数据分析服务模块70，所述数据分析服务模块70与所述交互管理模块10、资源调用引擎模块50连接，所述数据分析服务模块70对资源调用引擎模块50反馈的测试结果进行分析并存储。
82.stdf标准引擎模块80，所述stdf标准引擎模块80与所述数据分析服务模块70连接，所述数据分析服务模块70可基于数据分析服务模块70传输来的测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第二测试数据。
83.进一步地，所述stil标准引擎模块30包括但不限于stil标准信号引擎31、stil标准向量引擎32、stil标准时序引擎33、stil标准波形引擎34。
84.进一步地，硬件资源模块60包括但不限于数字、模拟、射频、串行、dps、pmu等通用stil测试硬件。
85.需要说明的是，测试执行模块40的核心功能是将stil文件解析服务生成的程序文件下载到测试头硬件资源的存储器中，并具体执行flows，控制系统仪器设备完成对被测dut的测试过程，主要包含测试程序执行、虚拟仿真验证和设计与测试数据比较验证，属于测试执行的实体，实现对待测芯片的参数测试和具体功能测试；数据分析服务模块70：是基于可视化stil及stdf数据分析工具和数据库存储分析技术，对测试执行过程输出的结果数据进行分析，主要包括测试数据分析、数据库与数据管理、失效分析和失效趋势分析，实现对测试结果数据的总体分析与存储。
86.交互管理模块10发送测试执行指令给测试执行模块40，测试执行模块40将标准信号信息、标准向量信息、标准时序信息、标准波形信息加载至资源调用引擎模块50，基于stil标准信息确定各个信号、向量、时序、波形所对应的硬件资源，并在系统目前接管的硬件资源中寻找匹配的执行硬件单元，并发送控制指令使用于测试的硬件执行操作，获取执行结果信息并生成符合标准要求的测试结果内容信息，并将该测试结果内容信息发送至数据分析服务模块70。
87.交互管理模块10发送数据分析指令给数据分析服务模块70，数据分析服务模块70将获取的符合标准要求的测试结果即测试结果内容信息加载至stdf标准引擎模块80，基于stdf标准测试结果信息，并依照stil标准中确定各个信号、向量、时序、波形形成设计与测试对比信息，并生成符合stil和stdf标准要求的测试数据，并将该测试数据发送至数据分析服务模块70，数据分析服务模块70将测试结果数据保存至标准stdf格式文件并返回至交互管理模块10以支持数据交互。
88.本发明构建了基于stil标准的信号、向量、时序、波形、资源、数据六大引擎，具体包括：
89.stil标准信号引擎：用于实现基于stil定义的标准信号解析，包括信号的输入输出测试消息，测试信号组合定义，测试信号组合与信号关联关系，信号状态管理功能，同时定义信号与资源的对应关系，传递测试资源的匹配信息至可互换标准资源引擎，基于通道资源与向量数据的匹配关系，将所有的数据信息统一融合到测试流程文件标准信号中。
90.stil标准向量引擎：用于实现向量的解析与执行，基于stil标准向量及转换后的节拍文件，应用于被测芯片管脚的进行测试或者操作的逻辑1和逻辑0数据以及基于周期信
号格式的输入输出数据和具体信号值定义。
91.stil标准时序引擎：用于提供基于节拍的时序信息，包括基于stil标准的待测芯片输入输出数据、向量的时序信息，各个具体信号在每个时间周期的值，向量的前后时序关系定义。
92.stil标准波形引擎：用于提供与信号、向量、时序对应的波形信息，波形信息包括了各个信号在各自向量对应的时序中的信号波形信息，波形块数量与时序定义一致，波形深度根据芯片stil描述文件定义。
93.资源调用引擎模块50：用于信号、向量、时序、波形定义的测试信息，依照硬件资源模块60的不同硬件进行资源匹配，资源涵盖数字、模拟、射频、串行、dps、pmu通用stil测试资源，并支持对资源进行扩展，将满足信号、向量、时序、波形定义的测试信息发送至测试执行模块40，同时输出控制信息驱动测试数据执行对应的硬件动作，获得测试值或执行状态，并将执行完成的测试数据发送至测试执行模块40；引擎通过定义不同操作系统下的标准编译宏，确定在不同操作系统下的可执行文件，可以同时支持国产化、windows操作系统，仪器设备可跨操作系统平台操作。
94.stdf标准引擎模块80：用于将执行完成的测试数据生成符合stdf标准的测试数据，直接输出测试数据，同时返回测试数据至数据分析服务模块70，以显示测试结果，基于stil和stdf标准，实现仿真设计数据与测试数据的双向交互转换，在转换过程中输出stil标准格式描述文件作为转换过程的中间件并进行对比，验证芯片测试结果。
95.本发明为基于stil标准的芯片自动测试软件测试程序的执行提供了运行服务，能够实现测试程序的执行功能，突破封闭技术生态，全面提供基于stil开放式、可通用的芯片测试架构。为基于stil标准的芯片测试描述的执行提供了标准的运行服务，构建了统一的接口，符合stil标准的自动测试软件均可调用本服务进行测试描述的执行，实现统一的基于stil标准的芯片自动测试流程的执行服务。在运行服务中构建了信号、向量、时序、波形、资源、数据六大引擎，将基于stil标准的运行服务划分为六个部分，每个部分各司其事，形成界限分明的测试执行逻辑，应对标准的扩展和升级，仅需要修改特定的引擎模块。通过可互换标准资源引擎，可以同时支持国产化、windows操作系统，仪器设备可跨操作系统平台操作。本发明针对开放式的芯片测试自动测试需求，提供了基于stil体系框架的芯片自动测试系统的测试运行接口和调用服务接口，实现测试过程中信号角色解析、信号动作解析、信号状态管理、测试资源的匹配调度、信号冲突解决、信号驱动控制、信号消息与进程调度、测试数据处理等功能，从而实现基于stil的芯片自动测试系统上的测试执行全过程。
96.请参考图8，图8是本发明一实施例的电子设备的模块结构示意图。
97.本发明还提供了一种电子设备，包括处理器801、通信接口802、存储器803和通信总线804，其中，处理器801、通信接口802和存储器803之间通过通信总线804完成相互间的通信。
98.存储器803，用于存放计算机程序。
99.处理器801，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如上所述的文本风格迁移方法的步骤。
100.请参考图9，图9是本发明一实施例的基于stil技术的芯片自动测试装置的模块结构示意图。
101.本发明还提供了一种基于stil技术的芯片自动测试装置900，包括用于执行如上所述的基于stil技术的芯片自动测试方法的单元，所述装置包括：
102.第一获取单元901，获取数据加载指令；
103.第一解析单元902，获取待测数据并解析，生成基于stil标准的第一测试数据；
104.第二解析单元903，对所述第一测试数据进行进一步解析，生成第二测试数据；
105.第二获取单元904，获取测试执行指令；
106.测试单元905，根据所述第二测试数据进行测试，得到测试结果；
107.第三获取单元906，获取数据分析指令；
108.处理单元907，根据所述测试结果进行处理，生成基于stdf标准的第三测试数据。
109.在一实施例中，所述获取待测数据并解析，生成基于stil标准的第一测试数据包括：
110.获取待测数据；
111.对所述待测数据进行信号、向量、时序、波形的分解和解析，生成基于stil标准的信号信息、向量信息、时序信息和波形信息；
112.将生成的信号信息、向量信息、时序信息和波形信息作为所述第一测试数据。
113.在一实施例中，所述对所述第一测试数据进行进一步解析，生成第二测试数据包括：
114.获取信号信息；
115.基于所述信号信息，对信号信息进行名称、类型、输入输出、连接关系的解析，生成标准信号信息；
116.将所述标准信号信息作为所述第二测试数据。
117.在一实施例中，所述对所述第一测试数据进行进一步解析，生成第二测试数据还包括：
118.获取标准信号信息和第一测试数据，
119.基于所述标准信号信息和第一测试数据，确定用于测试的逻辑数据、基于周期信号格式的输入输出数据和具体信号的定义，生成标准向量信息；
120.将所述标准向量信息作为所述第二测试数据。
121.在一实施例中，所述对所述第一测试数据进行进一步解析，生成第二测试数据还包括：
122.获取标准向量信息和第一测试数据；
123.基于所述标准向量信息和第一测试数据，确定各个具体信号在每个时间周期的值以及向量的前后时序关系定义，生成标准时序信息；
124.将所述标准时序信息作为所述第二测试数据。
125.在一实施例中，所述对所述第一测试数据进行进一步解析，生成第二测试数据还包括：
126.获取标准时序信息和第一测试数据；
127.基于所述标准时序信息和第一测试数据，确定各个信号在各自向量对应的时序中的信号波形信息、波形块数量以及波形深度，生成标准波形信息；
128.将所述标准波形信息作为所述第二测试数据。
129.本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理执行时实现如上所述的基于stil技术的芯片自动测试方法的步骤。
130.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
131.以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。