1.本实用新型涉及一种利用处理器和探针卡得知集成电路是否满足转态条件及其修调位阶的集成电路量测系统。
背景技术：
2.目前而言，集成电路的修调位阶的量测方式为下：(1)在集成电路的输入端逐渐微等量的增加或减少电压准位，再由另一个精准量测单元(precision measurement unit，pmu)去量测集成电路的输出端是否满足转态条件，进而取得修调位阶(trim level)。(2)在集成电路的输入端输入斜坡电压(ramp voltage)，接着于输出端记录输出波形，再从探针卡读回所记录的数据，找出输出波形的反折点，由处理器推算修调位阶。
3.因为精准量测单元的精度在愈高电压而愈难要求，特别是有些集成电路需要在高电压小范围内去寻找修调位阶，此时精准量测单元的精度难以满足需求，因此，第一种量测方式仍存在缺失。由于输出端的反折点有不稳定的情形，反折点在短时间内来回振荡，处理器难以处理此现象，因此，第二种量测方式仍存在缺失。
4.综观前所述，本实用新型提供了一种集成电路量测系统，以对现有技术的不足加以改善，进而更利于产业上的应用。
技术实现要素：
5.鉴于上述已知的问题，本实用新型的目的在于提供一种集成电路量测系统，用以解决现有技术中所面临的问题。
6.基于上述目的，本实用新型提供了一种集成电路量测系统，其包括处理器和探针卡。探针卡耦接处理器并具有输入端和输出端，探针卡于输入端输入输入电压至集成电路，输出端测量集成电路的输出电压，探针卡根据输出电压和参考电压而取得反应时间，处理器根据反应时间推算修调位阶。
7.可选地，探针卡具有测量电路和推算电路，测量电路耦接于输入端和处理器之间，推算电路耦接输出端和处理器之间。
8.可选地，测量电路根据处理器的驱动讯号发出输入电压，推算电路比较输出电压和参考电压而取得数字讯号。
9.可选地，当输入电压于输入端输入至集成电路时，处理器发出启动讯号至推算电路，当输出电压小于参考电压时，推算电路被触发而停止运作，推算电路根据接收启动讯号的时间点和停止运作的时间点估算反应时间。
10.可选地，测量电路和推算电路为彼此分离设置。
11.可选地，本创作进一步包括多个继电器，多个继电器分别设置于测量电路和输入端之间以及推算电路和输出端之间。
12.承上所述，本实用新型提供的一种集成电路量测系统，利用探针卡和处理器的搭配，得知集成电路是否满足转态的条件，以取得集成电路的修调位阶。
附图说明
13.图1为本实用新型的集成电路量测系统的配置图。
14.符号说明：
15.10：处理器，20：探针卡，21：测量电路；22：推算电路，ds：驱动讯号，ic：集成电路，in：输入端，out：输出端，rt：反应时间，vin：输入电压，vout：输出电压
具体实施方式
16.为方便贵审查员了解本实用新型的技术特征、内容与优点及其所能达成的功效，现将本实用新型配合附图，并以实施例的表达形式详细说明如下，而其中所使用的图式，其主旨仅为示意及辅助说明，未必为本实用新型实施后的真实比例与精准配置，故不应就所附的图式的比例与配置关系解读、局限本实用新型的实际实施上的权利范围，故在此提前说明。
17.应当理解的是，尽管术语“第一”、“第二”等在本创作中可用于描述各种组件、部件、区域、层及/或部分，但是这些组件、部件、区域、层及/或部分不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个组件、部件、区域、层及/或部分与另一个组件、部件、区域、层及/或部分区分开。因此，下文讨论的“第一组件”、“第一部件”、“第一区域”、“第一层”及/或“第一部分”可以被称为“第二组件”、“第二部件”、“第二区域”、“第二层”及/或“第二部分”，而不悖离本创作的精神和教示。
18.另外，术语“包括“及/或“包含”指所述特征、区域、整体、步骤、操作、组件及/或部件的存在，但不排除一个或多个其他特征、区域、整体、步骤、操作、组件、部件及/或其组合的存在或添加。
19.除非另有定义，本实用新型所使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本创作所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。将进一步理解的是，诸如在通常使用的字典中定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术和本创作的上下文中的含义一致的定义，并且将不被解释为理想化或过度正式的意义，除非本文中明确地这样定义。
20.请参阅附图1，其为本实用新型的集成电路量测系统的配置图。如图1所示，本创作集成电路量测系统，其包括处理器10和探针卡20。探针卡20耦接处理器10并具有输入端in和输出端out，在本实施例中，探针卡20具有配合64pin(接脚)的连接端口(其具有64孔)，探针卡20利用64pin的扁平电缆与集成电路ic耦接，连接端口的64孔之其一为输入端in，连接端口的64孔之另一个为输出端out；在另一实施例中，输入端in和输出端out分别连接集成电路ic的不同接脚。探针卡20包括测量电路21和推算电路22，测量电路21耦接于输入端in和处理器10之间，推算电路22耦接于输出端out和处理器10之间，测量电路21和推算电路22为彼此分离设置，即，测量电路21和推算电路22的讯号传递不会互相干扰。
21.处理器10传送驱动讯号ds至测量电路21，测量电路21根据驱动讯号ds发出输入电压vin至输入端in，输入电压vin则被传输至集成电路ic，此时处理器10发送启动讯号使推算电路22启动，接着在输出端out测量出集成电路ic的输出电压vout，输出电压vout则被传输至推算电路22，推算电路22比较输出电压vout和参考电压而取得数字讯号，当输出电压vout小于参考电压时，推算电路22被触发而停止运作，推算电路22根据接收启动讯号的时
间点和停止运作的时间点估算反应时间rt，处理器10根据反应时间rt推算修调位阶。
22.本实施例中，本创作进一步包括多个继电器，多个继电器分别设置于测量电路21和输入端in之间以及推算电路22和输出端out之间，有效地调整输入电压vin和输出电压vout。
23.本实施例中，推算电路22根据输入电压vin的高电压和低电压而具有第一推算单元和第二推算单元(举例来说，高电压为3v，低电压为1v，高电压和低电压为相对电压，高电压和低电压的数值可能根据实际状况而有所调整，于此不加以限定高电压和低电压的数值)，第一推算单元为对应输入电压vin为高电压时而具备第一参考电压，第二推算单元为对应输入电压vin为低电压时而具备第二参考电压。
24.举例来说，当测量电路21从输入端in输出高电压至集成电路ic时，处理器10发出启动讯号至第一推算单元，于输出端out测量集成电路ic的第一电压，第一推算单元根据第一电压输出第一数字讯号，当第一电压小于第一参考电压时，第一推算单元被触发而停止运作，第一推算单元根据接收启动讯号的时间点和停止运作的时间点估算第一反应时间，处理器10根据第一反应时间推算第一修调位阶。当测量电路21从输入端in输出低电压至集成电路ic时，于输出端out测量集成电路ic的第二电压，处理器10发出启动讯号至第二推算单元，第二推算单元根据第二电压输出第二数字讯号，当第二电压小于第二参考电压时，第二推算单元被触发而停止运作，第二推算单元根据接收启动讯号的时间点和停止运作的时间点估算第二反应时间，处理器10根据第二反应时间推算第二修调位阶。
25.综上所述，本实用新型提供的一种集成电路量测系统，利用探针卡20和处理器10的搭配，得知集成电路ic是否满足转态的条件，以取得集成电路ic的修调位阶。
26.以上所述仅为举例性，而不应被认为是对本实用新型的限制。任何未脱离本实用新型的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于权利要求书中。