一种芯片外观视觉检测机构的制作方法

1.本实用新型涉及缺陷检测技术领域，尤其是指一种芯片外观视觉检测机构。


背景技术：

2.缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测，表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术，对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。芯片在出厂前需要对其外观进行检测，而现有的芯片检测设备大多只能对芯片的表面进行检测，而忽视了芯片的边角，导致不能对芯片进行全面检测，降低了检测效率。


技术实现要素：

3.为此，本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中大多数设备只能对芯片进行表面检测，而忽视了芯片的边角，导致不能对芯片进行全面检测而使得检测效率降低的问题。
4.为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种芯片外观视觉检测机构，包括安装座，其特征在于：所述安装座上设置有第一光源组、第二光源组、光源支架、相机和相机支架，所述第一光源组与产品位于同一平面以照亮产品边角，所述第一光源组与第二光源组通过光源支架与安装座相连，所述相机通过相机支架与安装座相连，所述第一光源组、第二光源组与相机同轴且依次设置。第一光源组为0度光源，对芯片边角进行打光，使得相机能够拍出特征明显的图片；第二光源为30度光源，对芯片的表面进行打光，使得相机能够拍出特征明显的图片，有效提高了芯片的检测效率。
5.在本实用新型的一个实施例中，所述第一光源组包括红光源，所述第二光源组包括蓝光源和白光源，所述蓝光源位于红光源与白光源之间；利用红光源照射出芯片边角的特征，利用白光源照射出芯片表面反光元器件的特征，利用蓝光源照射出芯片表面不反光元器件的特征，便于相机拍出特征明显的图片。
6.在本实用新型的一个实施例中，所述安装座上还设置有第一升降组件和第二升降组件，所述第一升降组件与所述光源支架连接，所述第二升降组件与所述相机支架连接。第一升降组件可对第一光源组和第二光源组的高度进行调节；第二升降组件可对相机的高度进行调节。
7.在本实用新型的一个实施例中，所述第一升降组件包括第一丝杆和第一丝杆螺母，所述第一丝杆设置于所述安装座上，所述第一丝杆螺母套设于第一丝杆，所述第一丝杆螺母与光源支架相连，所述第一丝杆底部设置有第一控制旋钮；通过转动第一控制旋钮来使得第一丝杆螺母移动，从而来调节第一光源组和第二光源组的高度。
8.在本实用新型的一个实施例中，所述第二升降组件包括第二丝杆和第二丝杆螺母，所述第二丝杆设置于所述安装座上，所述第二丝杆螺母套设于第二丝杆，所述第二丝杆螺母与相机支架相连，所述第二丝杆底部设置有第二控制旋钮；通过转动第二控制旋钮来使得第二丝杆螺母移动，从而来调节相机的高度。
9.在本实用新型的一个实施例中，所述安装座包括支撑板，所述支撑板开设有第一调节槽和第二调节槽；所述第一升降组件通过第一连接板与光源支架相连，所述第一连接板穿过第一调节槽；所述第二升降组件通过第二连接板与相机支架连接，所述第二连接板穿过第二调节槽。通过第一调节槽来对第一光源组和第二光源组高度的调节范围进行限制；通过第二调节槽来对相机高度的调节范围进行限制。
10.在本实用新型的一个实施例中，所述安装座上还设有竖直滑轨，所述竖直滑轨上设有第一滑动座，所述光源支架与所述第一滑动座连接，所述第一连接板连接所述第一滑动座；第一滑动座能够提高光源支架移动稳定性。
11.在本实用新型的一个实施例中，所述竖直滑轨上还设有第二滑动座，所述相机支架与第二滑动座连接，所述第二连接板连接所述第二滑动座；第二滑动座能够提高相机支架移动的稳定性。
12.在本实用新型的一个实施例中，所述第一光源组和第二光源组均为环状光源。环状光源可对芯片进行全面的检测，进一步提高了芯片检测的效率。
13.在本实用新型的一个实施例中，所述光源支架包括支撑柱，所述第一光源组与第二光源组通过支撑柱固定。支撑柱可提高第一光源组和第二光源组位置关系的稳定性。
14.本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
15.本实用新型所述的第一光源组为红光源，红光源为0度光源，能够照射出芯片边角的特征，第二光源组包括蓝光源和白光源，蓝光源与白光源为30度光，蓝光源能够照射出芯片表面反光元器件的特征，白光源能够照射出芯片表面不反光元器件的特征，便于相机拍出特征明显的图片；还可根据需要调节第一光源、第二光源、第三光源和相机的高度，操作方便，可以有效提高芯片的检测效率。
附图说明
16.为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中
17.图1是本实用新型的整体结构示意图；
18.图2是本实用新型一种芯片外观视觉检测机构的后视图；
19.图3是本实用新型竖直滑轨与支撑板位置关系的结构示意图。
20.说明书附图标记说明：1、安装座；11、第一升降组件；111、第一丝杆；1111、第一控制旋钮；112、第一丝杆螺母；1121、第一连接板；12、第二升降组件；121、第二丝杆；1211、第二控制旋钮；122、第二丝杆螺母；1221、第二连接板；13、支撑板；131、第一调节槽；132、第二调节槽；14、竖直滑轨；21、第一光源组；22、第二光源组；221、蓝光源；222、白光源；23、支撑柱；3、相机。
具体实施方式
21.下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
22.参照图1，本实用新型的一种芯片外观视觉检测机构，包括安装座1，所述安装座1上设置有第一光源组21、第二光源组22、光源支架、相机3和相机支架，所述第一光源组21与
产品位于同一平面以照亮产品边角，所述第一光源组21与第二光源组22通过光源支架与安装座1相连，所述相机3通过相机支架与安装座1相连，所述第一光源组21、第二光源组22与相机3同轴且依次设置。所述第一光源组21和第二光源组22均为环状光源。在本实施例中，所述第一光源组21包括红光源，所述第二光源组22包括蓝光源221和白光源222，所述蓝光源221位于红光源与白光源222之间；当然，在其它实施例中，还可以根据实际使用需要选择其它光源。红光源为0度光源，能够照射出芯片边角的特征，蓝光源221与白光源222为30度光，蓝光源221能够照射出芯片表面反光元器件的特征，白光源222能够照射出芯片表面不反光元器件的特征，便于相机3拍出特征明显的图片，在本实施例中，相机3采用黑白相机，当然，在其它实施例中，还可以根据实际使用需要选择其它相机3，黑白相机锐度高，精度更高，有效提高了芯片的检测效率。
23.参照图1，所述光源支架包括支撑柱23，所述第一光源组21和第二光源组22通过支撑柱23固定。支撑柱23可提高第一光源组21和第二光源组22位置关系的稳定性。
24.参照图1和图2，所述安装座1上还设置有第一升降组件11和第二升降组件12，所述第一升降组件11与所述光源支架连接，所述第二升降组件12与所述相机3支架连接。所述第一升降组件11包括第一丝杆111和第一丝杆111螺母，所述第一丝杆111设置于所述安装座1上，所述第一丝杆111螺母套设于第一丝杆111，所述第一丝杆111螺母与光源支架相连，所述第一丝杆111底部设置有第一控制旋钮1111。所述第二升降组件12包括第二丝杆121和第二丝杆121螺母，所述第二丝杆121设置于所述安装座1上，所述第二丝杆121螺母套设于第二丝杆121，所述第二丝杆121螺母与相机3支架相连，所述第二丝杆121底部设置有第二控制旋钮1211。转动第一控制旋钮1111，第一丝杆111螺母开始移动，从而带动光源支架移动，能够实现对第一光源组21和第二光源组22高度的调节；转动第二控制旋钮1211，第二丝杆121螺母开始移动，从而带动相机3支架移动，能够实现对相机3高度的调节。
25.参照图1和图2，所述安装座1包括支撑板13，所述支撑板13开设有第一调节槽131和第二调节槽132；所述第一升降组件11通过第一连接板1121与光源支架相连，所述第一连接板1121穿过第一调节槽131；所述第二升降组件12通过第二连接板1221与相机3支架连接，所述第二连接板1221穿过第二调节槽132。第一连接板1121在第一调节槽131内滑动，可限制第一光源组21和第二光源组22高度调节的范围；第二连接板1221在第二调节槽132内滑动，可限制相机3高度调节的范围。
26.参照图1和图3，所述安装座1上还设有竖直滑轨14，所述竖直滑轨14上设有第一滑动座，所述光源支架与所述第一滑动座连接，所述第一连接板1121连接所述第一滑动座。所述竖直滑轨14上还设有第二滑动座，所述相机3支架与第二滑动座连接，所述第二连接板1221连接所述第二滑动座。转动第一控制旋钮1111，第一丝杆111螺母开始移动，带动第一滑动座移动，从而能够对第一光源组21和第二光源组22的高度进行调节，第一滑动座能够提高光源支架移动稳定性；转动第二控制旋钮1211，第二丝杆121螺母开始移动，带动第二滑动座移动，从而能够对相机3的高度进行调节，第二滑动座能够提高相机3支架移动的稳定性。
27.该芯片外观视觉检测机构的工作原理：将芯片置于第一光源组21中部，转动第一控制旋钮1111与第二控制旋钮1211，使得第一光源组21、第二光源组22和相机33调节到合适的位置，打开光源的开关，第二光源组22可对芯片表面的缺陷进行检测，第一光源组21能
够对芯片的边角进行检测，提高了芯片的检测效率。
28.显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。