一种四线测试微针模组的制作方法

1.实用新型涉及测试治具技术领域，特别涉及一种四线测试微针模组。


背景技术：

2.作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽，柔性线路板已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。由于柔性线路板高密度的发展趋势以及无铅与无卤的环保要求，越来越多的产品在制程中出现了微开、微短路不良等各种失效问题。
3.所以需要设置一种四线测试模组针对上述柔性线路板进行更为严格的检测。


技术实现要素：

4.为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供一种四线测试微针模组，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.本实用新型解决现有技术中的问题所采用的技术方案为：一种四线测试微针模组，包括栽板、针板、基座板、底板和若干测试针；所述栽板上设置有用于放置和定位产品的容置槽，所述栽板设置在所述针板上，并且所述栽板与针板之间设置有弹力柱，所述针板设置在所述基座板上，所述基座板与所述底板之间通过调节支撑柱活动连接；若干所述测试针固定在所述针板上，并且所述测试针的一端延伸至所述栽板上用于与产品接触，另一端延伸至所述底板上并用于与转接pcb板接触；其中，
6.所述转接pcb板包括第一转接pcb板和第二转接pcb板，所述第一转接pcb板和第二转接pcb板层叠在一起，并且所述第一转接pcb板和第二转接pcb板之间设置有绝缘层，若干所述测试针的一部分与所述第一转接pcb板接触，若干所述测试针的另一部分穿过所述第一转接pcb板与所述第二转接pcb板接触。
7.作为本实用新型优选方案，所述针板与基座板之间通过定位螺栓连接。
8.作为本实用新型优选方案，所述栽板与所述针板之间还设置有定位销。
9.作为本实用新型优选方案，所述调节支撑柱包括第一调节支撑件和第二调节支撑件，所述第一调节支撑件和第二调节支撑件之间通过螺牙可调节连接。
10.作为本实用新型优选方案，所述基座板上设置有让位凹槽，所述让位凹槽便于所述测试针延伸至所述栽板和底板上。
11.作为本实用新型优选方案，所述栽板上位于所述测试针与产品接触的区域设置有第一容置孔。
12.作为本实用新型优选方案，所述底板上位于所述测试针与所述转接pcb板接触的区域设置有第二容置孔。
13.作为本实用新型优选方案，所述第一转接pcb板上设置有便于所述测试针穿过的通孔，并且所述测试针不与所述第一转接pcb板接触。
14.作为本实用新型优选方案，所述通孔涂有绝缘材料。
15.与现有技术相比，本实用新型具有以下技术效果：
16.本技术的一种四线测试微针模组，通过将测试针分别与层叠在一起的第一转接pcb板和第二转接pcb板接触，即分别在第一转接pcb板和第二转接pcb板上值针，实现四线测试的要求。
附图说明
17.图1是本实用新型一种四线测试微针模组的爆炸示意图；
18.图2是本实用新型一种四线测试微针模组的结构示意图；
19.图3是本实用新型一种四线测试微针模组中调节支撑柱的结构示意图；
20.图4是本实用新型一种四线测试微针模组中测试针与转接pcb板接触示意图之一；
21.图5是图4一种四线测试微针模组中a处的局部放大图；
22.图6是本实用新型一种四线测试微针模组中测试针与转接pcb板接触示意图之二。
23.图中标号：
24.1、栽板；2、针板；3、基座板；4、底板；5、测试针；6、容置槽；7、弹力柱；8、调节支撑柱；9、转接pcb板；10、定位螺栓；11、定位销；12、让位凹槽；13、第一容置孔；14、第二容置孔；81、第一调节支撑件；82、第二调节支撑件；91、第一转接pcb板；92、第二转接pcb板；93、通孔。
具体实施方式
25.下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明，在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本实用新型，但并不构成对本实用新型的限定。
26.此外，下面所描述的本实用新型实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
27.如附图1～3所示：一种四线测试微针模组，包括栽板1、针板2、基座板3、底板4和若干测试针5；所述栽板1上设置有用于放置和定位产品的容置槽6，将被测产品放入该容置槽6后，可以保证产品在特定的位置不动；所述栽板1设置在所述针板2上，并且所述栽板1与针板2之间设置有弹力柱7，该弹力柱7向栽板1提供浮动弹力，使栽板1能够相对于针板2移动，以保证产品能够与测试针5完全的接触；所述针板2设置在所述基座板3上，所述基座板3与所述底板4之间通过调节支撑柱8活动连接，通过对调节支撑柱8的高度进行调节，进而实现根据对测试针5测试行程调节针板2与底板4之间的行程；若干所述测试针5固定在所述针板2上，并且所述测试针5的一端延伸至所述栽板1上用于与产品接触，另一端延伸至所述底板4上并用于与转接pcb板9接触；其中，
28.参阅图4和图6所示，所述转接pcb板9包括第一转接pcb板91和第二转接pcb板92，所述第一转接pcb板91和第二转接pcb板92层叠在一起，并且所述第一转接pcb板91和第二转接pcb板92之间设置有绝缘层，若干所述测试针5的一部分与所述第一转接pcb板91接触，若干所述测试针5的另一部分穿过所述第一转接pcb板91与所述第二转接pcb板92接触。
29.需要说明的是，转接pcb板9是将测试针5转换成常见的排线的结构，以实现测试针55与测试装置的连接。
30.作为本实用新型优选方案，所述针板2与基座板3之间通过定位螺栓10连接。设置
定位螺栓10一方面便于针板2与基板座之间的安装和拆卸，另一方面便于针板2与基板座之间的定位。
31.作为本实用新型优选方案，所述栽板1与所述针板2之间还设置有定位销11。由于栽板1能够相对于针板2弹性移动，所述设置定位销11能够使栽板1的移动更加顺畅，同时在栽板1移动的过程中起到定位的作用。
32.作为本实用新型优选方案，所述调节支撑柱8包括第一调节支撑件81和第二调节支撑件82，所述第一调节支撑件81和第二调节支撑件82之间通过螺牙可调节连接，进而可实现调节第一调节支撑件8181和第二调节支撑件8282之间的相对高度。
33.作为本实用新型优选方案，所述基座板3上设置有让位凹槽12，所述让位凹槽12便于所述测试针5延伸至所述栽板1和底板4上。
34.作为本实用新型优选方案，所述栽板1上位于所述测试针5与产品接触的区域设置有第一容置孔13；固定设置在针板2的测试针5可通过该第一容置孔13与产品接触。
35.作为本实用新型优选方案，所述底板4上位于所述测试针5与所述转接pcb板9接触的区域设置有第二容置孔14；固定设置在针板2的测试针5可通过该第二容置孔14与转接pcb板9接触。
36.参阅图5所示，作为本实用新型优选方案，所述第一转接pcb板91上设置有便于所述测试针5穿过的通孔93，并且所述测试针5不与所述第一转接pcb板91接触。
37.作为本实用新型优选方案，所述通孔93涂有绝缘材料，防止与第二转接pcb板92接触的测试针5与所述第一转接pcb接触。
38.与现有技术相比，本实用新型具有以下技术效果：
39.本技术的一种四线测试微针模组，通过将测试针5分别与层叠在一起的第一转接pcb板91和第二转接pcb板92接触，即分别在第一转接pcb板91和第二转接pcb板92上值针，实现四线测试的要求。
40.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。