高低温反偏老化测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及一种电子设备测试装置，更具体地说，涉及一种高低温反偏老化测试系统。


背景技术：

2.目前，现有用于测试电子元器件的高低温反偏老化测试系统，多是先测试完物理性能测试，再来测试电性，这样无法知道器件是在什么环境中损坏，无法精准的判断器件损坏条件，导致需要多此进行试验，耗时较长。


技术实现要素：

3.本实用新型为了克服现有技术中存在的传统的电子元器件的高低温反偏老化测试系统测试时间较长的问题，现提供具有可同时检测电子元器件物理性能和电性能的一种高低温反偏老化测试系统。
4.本实用新型的一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体底部设有底座，所述的底座底部开有若干均布的缓冲槽，所述的缓冲槽内设有用于保护整机箱体的缓冲装置，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分别与计算机电性连接。
5.作为优选，所述的老化测试座包括电路板，所述的电路板上设有与待测器件相匹配的插座，所述的插座左侧设有电压采集模块，所述的插座右侧设有漏电流采集模块，所述的插座下方设有温度采集模块，所述的电压采集模块、漏电流采集模块和温度采集模块分别与计算机电性连接。
6.本实用新型的电压采集模块、漏电流采集模块和温度采集模块会将采集的数据实时传递给计算机，计算机会将待测器件的电特性参数进行分析，从而判断待测器件是否合格。本实用新型实现了器件的高低温在线测试，具有性能稳定，采集精度高，成本低，可靠性强等特点，能够保证准确测量器件模块在高低温环境下的电特性参数。
7.作为优选，所述的缓冲装置包括分别设置在缓冲槽顶部左右两侧的固定板，所述的固定板的下端装有弹簧销，所述的弹簧销下端设有缓冲板，所述的弹簧销上套有一号弹簧，所述的一号弹簧的上下端分别与弹簧销下端和缓冲板上端面相焊接。
8.作为优选，所述的缓冲板与固定板间设有长销杆，所述的长销杆的左右两端分别设有限位块，所述的限位块中心设有用于安装长销杆的销孔，所述的限位块底部与缓冲板上端面相焊接，所述的长销杆外围套有二号弹簧，所述的二号弹簧的左右两端分别焊接有压环，所述的压环的侧端焊接有推杆，所述的推杆另一端铰接有摇臂，所述的摇臂的另一端
与铰链块一端相铰接，所述的铰链块的另一端与固定板侧边相焊接。
9.由于整机箱体体积和质量都较大，整机箱体的底座与底面产生的作用力会挤压缓冲板，所述的缓冲板为弹性较好的橡胶板，在挤压过程中弹簧销会挤压一号弹簧，在一号弹簧形变过程中会吸收整机箱体带来的压力，在一号弹簧被压缩时，缓冲板会略微上升，在上升过程中摇臂会带动推杆和压环去挤压二号弹簧，通过一号弹簧和二号弹簧的形变实现本实用新型的多级缓冲功能，从而保护整机箱体和整机箱体底座，延长本实用新型的使用寿命。
10.本实用新型的老化测试座上的各个器件均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳的材料加工生产，老化测试座上的电路板采用三防处理使得被测器件在老化测试座上可以长时间在极端温下工作。
11.本实用新型的控制方法为：
12.1、先打开高低温实验箱的箱门，之后将待测器件插接于老化测试座的插座中，然后关闭高低温实验箱的箱门，接着按下整机电源开关让整机箱体启动。
13.2、整机箱体启动之后，在触摸屏处输入所需的20v测试电压值，计算机会控制老化电源输出所需的试验电压。
14.3、老化测试座获得试验电压后，老化测试座上的电压采集模块会实时采集待测器件的电压数据，老化测试座上的漏电流采集模块会实时采集待测器件的电流数据，老化测试座上的温度采集模块会实时采集高低温实验箱内的温度数据，计算机会将采集的各项数据分别计算与分析，并将计算结果反馈到触摸屏上。
15.4、当触摸屏出现采集到数据后，在实验箱操控台处输入75—90℃，此时开始高温测试试验，实验箱操控台会启动高低温实验箱内的加热器，加热器会对高低温实验箱进行加热直到高低温实验箱内温度达到75—90℃。
16.5、当高低温实验箱内温度达到75—90℃后，加热器会间断式对高低温实验箱加热，使高低温实验箱内的温度维持在75—90℃，维持为1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于10v时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于1a时，待测器件为不合格。
17.6、高温测试试验结束后，在实验箱操控台处输入15
‑
30℃，此时开始一次常温测试试验，此时实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到15
‑
30℃，之后关闭冷却器，此时待测器件处于正常工作温度中，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于5v时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.5a时，待测器件为不合格。
18.7、一次常温测试试验结束后，在实验箱操控台处输入
‑
15
‑
0℃，此时开始低温测试试验，实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到
‑
15
‑
0℃，当高低温实验箱内温度达到
‑
15
‑
0℃后，冷却器会间断式对高低温实验箱降温，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于1v时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.2 a时，待测器件为不合格。
19.8、低温测试试验结束后，再次在实验箱操控台处输入15
‑
30℃，此时开始二次常温
测试试验，此时实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到15
‑
30℃，之后关闭冷却器，此时待测器件处于正常工作温度中，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于5v时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.5a时，待测器件为不合格。
20.本实用新型具有以下有益效果：可在测试待测器件物理性能过程中，同时采集其电性能数据；测量准确性高，测量步骤简单，测试速度快。
附图说明
21.附图1为本实用新型的结构示意图。
22.附图2为本实用新型的老化测试座的结构示意图。
23.附图3为本实用新型的缓冲装置的结构示意图。
24.整机箱体1，高低温实验箱2，实验箱操控台3，主控台4，触摸屏5，整机电源开关6，老化电源7，电路板8，插座9，电压采集模块10，漏电流采集模块11，温度采集模块12，底座13，缓冲槽14，固定板15，弹簧销16，缓冲板17，一号弹簧18，长销杆19，限位块20，二号弹簧21，压环22，推杆23，摇臂24，铰链块25。
具体实施方式
25.下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
26.实施例：根据附图1、附图2和附图3进行进一步说明，本例的一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体1，所述的整机箱体1底部设有底座13，所述的底座13底部开有若干均布的缓冲槽14，所述的缓冲槽14内设有用于保护整机箱体1的缓冲装置，所述的整机箱体1上设有高低温实验箱2，所述的老化测试座固定与高低温实验箱2内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱2右侧设有实验箱操控台3，所述的实验箱操控台3右侧设有主控台4，所述的主控台4内设有计算机，所述的主控台4正面设有触摸屏5，所述的触摸屏5上方设有整机电源开关6，所述的触摸屏5下方设有老化电源7，所述的高低温实验箱2的控制端与实验箱操控台3电性连接，所述的老化电源7的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏5的操控端分别与计算机电性连接。
27.所述的老化测试座包括电路板8，所述的电路板8上设有与待测器件相匹配的插座9，所述的插座9左侧设有电压采集模块10，所述的插座9右侧设有漏电流采集模块11，所述的插座9下方设有温度采集模块12，所述的电压采集模块10、漏电流采集模块11和温度采集模块12分别与计算机电性连接。
28.所述的缓冲装置包括分别设置在缓冲槽14顶部左右两侧的固定板15，所述的固定板15的下端装有弹簧销16，所述的弹簧销16下端设有缓冲板17，所述的弹簧销16上套有一号弹簧18，所述的一号弹簧18的上下端分别与弹簧销16下端和缓冲板17上端面相焊接。
29.所述的缓冲板17与固定板15间设有长销杆19，所述的长销杆19的左右两端分别设有限位块20，所述的限位块20中心设有用于安装长销杆19的销孔，所述的限位块20底部与缓冲板17上端面相焊接，所述的长销杆19外围套有二号弹簧21，所述的二号弹簧21的左右两端分别焊接有压环22，所述的压环22的侧端焊接有推杆23，所述的推杆23另一端铰接有
摇臂24，所述的摇臂24的另一端与铰链块25一端相铰接，所述的铰链块25的另一端与固定板15侧边相焊接。
30.以上所述仅为本实用新型的具体实施例，但本实用新型的结构特征并不局限于此，任何本领域的技术人员在本实用新型的领域内，所作的变化或修饰皆涵盖在本实用新型的专利范围之中。