一种滤波调试仪与滤波调试系统的制作方法

1.本实用新型涉及emi调试测试技术领域，具体而言，涉及一种滤波调试仪与滤波调试系统。


背景技术：

2.现有的空调电路中，是以交流电输入，通过滤波、整流、稳压最终输出直流电，其中滤波电路部分是以l型滤波、π型滤波为主，在emi(electromagnetic interference，电磁干扰)传导调试过程中也是以调整这两款滤波器件为侧重点。
3.目前在进行emi调试测试时，往往需对不同的电容器件进行重复拆卸焊接，耗时耗力，影响emi测试效率。
4.综上，现有技术中存在emi调试测试效率较低的问题。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种滤波调试仪与滤波调试系统，以解决现有技术中存在的emi调试测试效率较低的问题。
6.为解决上述问题，一方面，本技术实施例提供了一种滤波调试仪，所述滤波调试仪包括调试电路与多个调试区，所述调试电路中包括电感、输入端与输出端，所述输入端、电感以及所述输出端依次电连接，所述输入端至少与一个所述调试区电连接，所述输出端也至少与一个所述调试区电连接，其中，
7.所述调试区设置有开关与电容放置端口，所述开关与所述电容放置端口连接，所述电容放置端口用于可拆卸地放置待测电容；
8.当所述待测电容置于所述电容放置端口后，通过导通不同开关，使所述调试电路与所述调试区组成l型滤波电路或π型滤波电路。
9.由于本技术设置电容放置端口，因此当需要更换待测电容时，仅需直接取下即可，无需进行焊接与去除焊点的操作，提升了测试效率。
10.可选地，所述调试区包括第一调试区、第二调试区、第三调试区以及第四调试区，所述调试电路包括火线、零线以及地线；其中，所述第一调试区分别与所述输入端的火线与零线电连接，所述第二调试区分别与所述输出端的火线与零线电连接，所述第三调试区分别与所述输入端的火线与地线和/或所述零线与地线电连接，所述第四调试区分别与所述输出端的火线与地线和/或所述零线与地线电连接。
11.可选地，所述第三调试区与所述第四调试区均包括第一开关、第二开关、第一电容放置端口以及第二电容放置端口，所述第一开关与所述第一电容放置端口串联后分别与所述火线、所述地线电连接，所述第二开关与所述第二电容放置端口串联后分别与所述零线、所述地线电连接。
12.可选地，所述第三调试区的所述第一开关与所述第二开关集成于同一按钮，所述第四调试区的所述第一开关与所述第二开关也集成于同一按钮。
13.可选地，所述第一调试区、第二调试区、第三调试区以及第四调试区均设置于同一安装盒内，且所述第一调试区、第二调试区、第三调试区以及第四调试区的电容放置端口设置于所述安装盒的表面。
14.可选地，所述安装盒的形状为方形，所述第一调试区、第二调试区、第三调试区以及第四调试区分别设置于所述安装盒的四角。
15.可选地，所述第一调试区与所述第二调试区均用于放置x电容，所述第三调试区与所述第四调试区均用于放置y电容；其中，
16.当所述第一调试区与所述第三调试区的开关导通时，所述滤波调试仪组成l型滤波电路；
17.当所述第一调试区与所述第四调试区的开关导通时，所述滤波调试仪组成π型滤波电路；
18.当所述第二调试区与所述第三调试区的开关导通时，所述滤波调试仪组成π型滤波电路；
19.当所述第二调试区与所述第四调试区的开关导通时，所述滤波调试仪组成l滤波电路；
20.当所述第一调试区、所述第二调试区、所述第二调试区以及所述第四调试区的开关均导通时，所述滤波调试仪组成π滤波电路。
21.可选地，所述电感与所述输入端、所述输出端可拆卸连接。
22.可选地，所述滤波调试仪还包括至少一个预留区，所述预留区与所述调试电路的输入端和/或输出端电连接，且当所述预留区安装电容时，所述预留区与所述调试电路组成二级滤波或多级滤波电路。
23.另一方面，本技术还提供了一种滤波调试系统，所述滤波调试系统包括整流模块、稳压模块以及上述的滤波调试仪，所述滤波调试仪、所述整流模块、所述稳压模块依次电连接。
附图说明
24.图1为本技术实施例提供的第一种滤波调试仪的模块示意图。
25.图2为本技术实施例提供的第二种滤波调试仪的模块示意图。
26.图3为本技术实施例提供的调试区的一种分布示意图。
27.图4为本技术实施例提供的调试区的另一种分布示意图。
28.图5为本技术实施例提供的第三种滤波调试仪的模块示意图。
29.图6为本技术实施例提供的滤波调试系统的模块示意图。
30.附图标记说明：
31.100
‑
滤波调试仪；110
‑
调试电路；120
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第一调试区；130
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第二调试区；140
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第三调试区；150
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第四调试区；l
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电感；200
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滤波调试系统；210
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整流模块；220
‑
稳压模块。
具体实施方式
32.为使本技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。
33.正如背景技术中所述，目前的空调电路中，需要对emi传导进行调试测试，以确定出最佳状态的滤波电路。同时，滤波电路部分是以l型滤波、π型滤波为主，因此主要对l型滤波电路与π型滤波电路进行调试测试。
34.目前一般采用重复焊接电容的方式，实现emi调试测试。例如，首先焊接电容，使整个滤波电路组成l型滤波电路的形式，并获取滤波后的参数，例如电压、电流等。然后再更换取下电容，更换另一型号的电容，并再次获取滤波后的参数，并重复该操作，直至所有型号的电容均调试完全。然后再重新焊接电容，使整个滤波电路组成π型滤波电路的形式，并再依次重复更换电容的操作，直至获取所有滤波的参数后，再从中选取效果最佳参数对应的滤波电路作为最终的滤波电路。
35.可以理解地，由于目前采用焊接的进行电容的连接，因此在每一次测试后，需要去除焊点，并同时重新焊接不同型号的电容，即采用反复手动焊接拆卸的方式，严重影响了emi调试效率。
36.有鉴于此，为了解决上述问题，本技术提供了一种滤波调试仪100，通过设置电容放置端口的方式，实现可拆卸式的放置待测电容，进而提升emi调试效率。
37.下面对本技术提供的滤波调试仪100进行示例性说明：
38.作为一种可选的实现方式，请参阅图1，该滤波调试仪100包括调试电路110与多个调试区，调试电路110中包括电感l、输入端与输出端，输入端、电感l以及输出端依次电连接，输入端至少与一个调试区电连接，输出端也至少与一个调试区电连接，其中，调试区设置有开关与电容放置端口，开关与电容放置端口连接，电容放置端口用于可拆卸地放置待测电容；当待测电容置于电容放置端口后，通过导通不同开关，使调试电路110与调试区组成l型滤波电路或π型滤波电路。
39.其中，本技术并不对调试区的数量进行限定，通过每个调试区设置的电容放置端口，使得在进行调试时，直接将待测电容安装于该电容方式端口即可。同时，听过导通不同开关的方式，可以使整个调试电路110与调试区组组成l型滤波电路或π型滤波电路，进而可以对同一型号的电容，在无需拆卸的情况下分别进行l型滤波电路与π型滤波电路的滤波效果测试，提升测试效率。并且，在进行某一型号的电容测试后，当需要根据另一型号的电容时，则可将电容直接取出，无需焊接步骤，进一步提升了emi调试效率。
40.需要说明的是，电容放置端口可以为一放置孔的形式(图未示)，在一中可选的实现方式中，为了实现电容的固定，还可在电容放置端口的位置设置螺钉等，等过螺钉实现电容的固定。用户在操作时，只需将待测电容放置于电容放置端口，并通过螺钉固定即可。
41.还需要说明的是，l型滤波电路是由电感l与电容组合而成的电路，电容设置于电感l的一侧，即设置于输入端或输出端，它综合了电容滤波电路与电感l滤波电路的优点，因此有较好的滤波效果。π型滤波电路包括两个电容和一个电感l，两个电容分别设置于电感l的输入端与输出端，因此其输入和输出都呈低阻抗。
42.在一种可选的实现方式，请继续参阅图1，调试区包括第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150，调试电路110包括火线、零线以及地线；其中，第一调试区120分别与输入端的火线与零线电连接，第二调试区130分别与输出端的火线与零线电连接，第三调试区140分别与输入端的火线与地线和/或零线与地线电连接，第四调试区150分别与输出端的火线与地线和/或零线与地线电连接。
43.在实际应用中，一般采用x电容与y电容进行滤波测试，其中，x电容y电容都是安规电容，区别是x电容接在输入线两端用来消除差模干扰，y电容接在输入线和地线之间，用来消除共模干扰。
44.在此基础上，通过设置4个调试区的方式，可以包含x电容、y电容设置的所有情况。可以理解地，4个调试区内均包括开关与电容，因此，可在四个调试区内分别连接不同的电容，然后通过导通不同的开关方式，进而可以使不同电容与电感l组合，以组成l型滤波电路或π型滤波电路，进而实现测试。
45.可选的，如图2所示，第三调试区140与第四调试区150均包括第一开关、第二开关、第一电容放置端口以及第二电容放置端口，第一开关与第一电容放置端口串联后分别与火线、地线电连接，第二开关与第二电容放置端口串联后分别与零线、地线电连接。
46.可以理解地，第一调试区120与第二调试区130均用于放置x电容，第三调试区140与第四调试区150均用于放置y电容。其中，通过设置第一电容放置端口以及第二电容放置端口，可实现在第三调试区140与第四调试区150中安装两个y电容，进而使测试更加完善。当然地，用户在实际测试过程中，也可根据实际选择是否安装两个y电容。
47.例如，虽然设置了四个调试区，但在实际测试中，用户也可仅在第三调试区140与第四调试区150放置电容，或者在第三调试区140或第四调试区150中仅放置一个电容，在此不做限定。
48.可选地，为了便于控制，第三调试区140的第一开关与第二开关集成于同一按钮，第四调试区150的第一开关与第二开关也集成于同一按钮。进而当用户按下按钮时，第一开关与第二开关能够同时闭合。当然地，在其它的一些实施例中，第一开关与第二开关也可独立控制。
49.下面以图2为例，对本技术提供的滤波调试仪100的工作原理进行具体说明：
50.其中，第一调试区120包括开关l1与电容x1，第二调试区130包括开关l2与待测电容x2，第三调试区140包括电容y1、y2以及开关s1、s2，第四调试区150包括电容y3、y4以及开关s3、s4，并且，开关l1由按钮1控制，开关l2由按钮2控制，开关s1、s2同时由按钮3控制，开关s3、s4同时由按钮4控制。其中，x1、x2均为x电容，y1、y2、y3以及y4均为y电容。
51.并且，本技术提供的电感l为共模电感l，其分别接于l线、n线间，可根据传导摸底测试的超标点来选择共模电感l磁芯的材质(一般分为非晶、镍锌铁氧体、锰锌铁氧体等)、线径、绕制圈数，根据需求进行选择。
52.在此情况下，当第一调试区120与第三调试区140的开关导通时，即用户按下按钮1与按钮3时，开关l1、开关s1、s2均闭合，此时电容x1、y1、y2均接通，仪器内部滤波电路内部呈现为l型滤波，干扰源通过前级x电容、y电容
→
共模电感l进行滤波。
53.当第一调试区120与第三调试区140的开关导通时，即用户按下按钮1与按钮4时，开关l1、开关s3、s4均闭合，此时电容x1、y3、y4均接通，此时仪器内部滤波电路呈现为π型滤波，干扰源通过前级x电容
→
共模电感l
→
后级y电容进行滤波。
54.当第二调试区130与第三调试区140的开关导通时，即用户按下按钮2与按钮3时，开关l2、开关s1、s2均闭合，此时电容x2、y1、y2均接通，仪器内部滤波电路内部呈现为π型滤波，干扰源通过前级y电容
→
共模电感l
→
后级x电容进行滤波。
55.当第二调试区130与第四调试区150的开关导通时，即用户按下按钮2与按钮4时，
开关l2、开关s3、s4均闭合，此时电容x2、y3、y4均接通，仪器内部滤波电路内部呈现为l型滤波，干扰源通过前级共模电感l
→
后级xy电容进行滤波。
56.当第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150的开关同时导通时，即用户同时按下按钮1、按钮2、按钮3以及按钮4时，所有开关均闭合，此时所有电容均接通，滤波模块内部呈现为π型滤波，干扰源通过前级xy电容
→
共模电感l
→
后级xy电容进行滤波。
57.当然地，还可以采用其它的组合方式，例如同时按下按钮1与按钮2，在此不做限定。
58.此外，为了便于安装，第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150均设置于同一安装盒内，该安装盒即为外壳，且第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150的电容放置端口设置于安装盒的表面。可以理解的，调试电路110也设置与该安装盒内。
59.作为一种可选的实现方式，请参阅图3，安装盒的形状为方形，例如长方形或者正方形，第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150分别设置于安装盒的四角。通过该实现方式，使得第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150之间的举例能够达到最远，彼此之间的影响最小。当然地，请参阅图4，安装盒也可以设置为圆形，此时第一调试区120、第二调试区130、第三调试区140以及第四调试区150分别设置于其上、下、左、右四侧，换言之，无论安盒设置为何种形状，只要四个调试区按照距离最远的设置方式即可。
60.需要说明的是，在实际测试过程中，不仅电容能够拆卸，其它器件也可以拆卸，例如，电感l与输入端、输出端可拆卸连接。通过拆卸电感l的方式，可以实现电感l的更换，例如更换不同匝数的电感l。
61.此外，滤波调试仪100还包括至少一个预留区，预留区与调试电路110的输入端和/或输出端电连接，且当预留区安装电容时，预留区与调试电路110组成二级滤波或多级滤波电路。例如，如图5所示，按钮1与按钮3组成了预留区，按钮6与按钮8组成另一预留区。
62.在上述实现方式的基础上，本技术还提供了一种滤波调试系统200，请参阅图6，该滤波调试系统200包括整流模块210、稳压模块220以及上述的滤波调试仪100，滤波调试仪100、整流模块210、稳压模块220依次电连接。
63.综上所述，本技术提供了一种滤波调试仪与滤波调试系统，该滤波调试仪包括调试电路与多个调试区，调试电路中包括电感、输入端与输出端，输入端、电感以及输出端依次电连接，输入端至少与一个调试区电连接，输出端也至少与一个调试区电连接，其中，调试区设置有开关与电容放置端口，开关与电容放置端口连接，电容放置端口用于可拆卸地放置待测电容；当待测电容置于电容放置端口后，通过导通不同开关，使调试电路与调试区组成l型滤波电路或π型滤波电路。本技术提供的滤波调试仪与滤波调试系统具有调试效率高的优点。由于本技术设置电容放置端口，因此当需要更换待测电容时，仅需直接取下即可，无需进行焊接与去除焊点的操作，提升了测试效率。
64.虽然本技术披露如上，但本技术并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本技术的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本技术的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。