水晶头检测装置的制作方法

文档序号:28012376发布日期:2021-12-15 10:46阅读:167来源:国知局
水晶头检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及网线检测技术领域,尤其涉及一种水晶头检测装置。


背景技术:

2.网线包括八根芯线和固定于芯线端部的两水晶头。一般地,操作工人使用水晶钳将八根芯线按照顺序固定于水晶头的八块金属触片上后,需要使用网线测试仪进行质量测试,具体的测试步骤如下:
3.①
将一水晶头插入网线测试仪的主机中,将另一水晶头插入网线测试仪的副机中;
4.②
点击开始按钮,主机面板上的八个主指示灯会轮流亮起,相应地,副机面板上的八个副指示灯也会轮流亮起,且主机上亮灯的序号和副机是一致的;例如,当主机亮起1号主灯,副机也亮起1号副灯,主机亮起2号主灯,副机也亮起2号副灯
……
当主机上的八个主指示灯依次亮起,且均能与副机上的八个副指示灯对应上时,说明两端的水晶头上得金属触片均与芯线接触良好,且各芯线的次序正确;若主机和副机的八组指示灯虽然都亮了,但没有按照次序依次亮起,例如当主机上5号主灯亮起时,副机上的6号灯亮起,则说明芯线的次序错了;若主机和副机上有一组指示灯没亮,则说明有一根芯线和对应的金属触片之间出现接触不良。
5.实际生产过程中,由于芯线的次序可用肉眼观察,故操作工人更多需要执行的是接触不良检测,传统的网线测试仪虽能对芯线次序和接触不良等两种情况均进行有效检测,但每次检测都需要等八组指示灯依次亮起,用时较长,严重影响了生产效率。
6.因此,需要研发一种专门用于执行水晶头与芯线之间的接触不良检测的水晶头检测装置,以解决使用传统网线测试仪测试时间过长导致生产效率下降的问题。
7.本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解,且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。


技术实现要素:

8.本实用新型的一个目的在于,提供一种水晶头检测装置,能对水晶头处的金属触片与芯线是否接触不良进行快速检测,从而提高生产效率。
9.为达以上目的,本实用新型提供一种水晶头检测装置,包括:
10.网口插座,所述网口插座包括用于与水晶头插接的插座本体和固设于所述插座本体上的若干插座触片;每一所述插座触片对应电连接所述水晶头上的一金属触片,每一所述金属触片对应连接一芯线;
11.若干检测电路,所述检测电路包括指示灯;每一所述插座触片连接一所述检测电路,所述检测电路用于根据所述芯线与金属触片的导通情况控制所述指示灯的工作状态。
12.可选的,所述检测电路还包括:
13.检测回路,所述检测回路设有检测点a和检测点b;所述插座触片与所述检测点a电
连接,使得所述金属触片和芯线之间的导通情况对所述检测点b处的电压值构成影响;
14.单片机,所述单片机包括用于向所述检测点a输入电信号第一i/o引脚和用于获取所述检测点b处的电信号的检测引脚。
15.可选的,所述检测回路还包括位于所述检测点a和检测点b之间的整流滤波电路。
16.可选的,所述整流滤波电路包括:
17.第一电阻r1,所述第一电阻r1的一端与所述检测点a电连接,另一端与所述检测点b电连接;
18.第一电容c1,所述第一电容c1的一端与所述检测点b电连接,另一端接地;
19.二极管d1,所述二极管d1的正极接地,负极与所述检测点a电连接。
20.可选的,所述检测点a与所述第一i/o引脚之间设有第二电容c2。
21.可选的,所述单片机还包括与所述指示灯电连接的第二i/o引脚。
22.可选的,所述检测电路的数量为八组。
23.可选的,还包括壳体,八组所述检测电路的指示灯均固定于所述壳体上,且对应于各所述芯线的次序排列。
24.可选的,所述壳体上还设有电源开关。
25.本实用新型的有益效果在于:提供一种水晶头检测装置,每一插座触片均连接有一组金属触片和芯线,若金属触片和芯线无接触不良的情况,应该能正常导通,即,芯线可依次通过金属触片和插座触片接入检测电路,对应的指示灯亮起或者显示绿色;若金属触片和芯线接触不良,则金属触片与芯线之间不能导通,即,芯线无法接入检测电路,对应的指示灯熄灭或者显示红色。八组检测电路同时工作,即可同时对八组芯线与金属触片之间的导通情况进行检测,简单快捷,无需等待,有利于提升检测效率和生产效率。
附图说明
26.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
27.图1为实施例提供的水晶头检测装置的外部结构示意图;
28.图2为实施例提供的检测电路的结构示意图。
29.图中:
30.1、壳体;
31.2、电源开关;
32.3、网口插座;301、插座本体;302、插座触片;
33.4、检测电路;401、指示灯;402、单片机;4021、第一i/o引脚;4022、检测引脚;4023、第二i/o引脚.
具体实施方式
34.为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下
面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
35.在本实用新型的描述中,需要理解的是,当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
36.此外,术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系,仅是为了便于描述本实用新型,而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作,以此不能理解为本实用新型的限制。
37.下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。
38.本实施例提供一种水晶头检测装置,适用于检测水晶头中的金属触片是否与对应的芯线接触不良的应用场景,能同时对八根芯线与对应的金属触片之间的导通情况进行检测,检测效率较高。
39.参见图1,所述水晶头检测装置包括壳体1,壳体1上设有电源开关2和呈直线排列的八个灯孔,壳体1的侧面设有一用于与水晶头插接的网口插座3。本实施例中,所述水晶头内固设有八块间隔设置的金属触片,每一金属触片对应连接着一根芯线,理论上,各芯线应该与对应的金属触片电导通,而实际上,由于操作失误等因素,总有部分芯线未能与对应的金属触片电导通,也就出现了接触不良的情况,本实施例提供的水晶头检测装置就是用于对各芯线与对应的金属触片之间的导通情况进行检测。
40.所述网口插座3包括用于与水晶头插接的插座本体301和固设于所述插座本体301上的若干插座触片302。具体地,每一所述插座触片302对应电连接所述水晶头上的一金属触片,即,插座触片302的数量与水晶头的芯线数量相同,均为八块。当将水晶头插入网口插座3后,插座触片302即可通过金属触片与芯线导通。
41.每一所述插座触片302连接一检测电路4,所有检测电路4均位于壳体1内。每一所述检测电路4包括一指示灯401,所述检测电路4用于根据所述芯线与金属触片的导通情况控制所述指示灯401的工作状态,八个指示灯401按照水晶头中芯线的次序排列,并分别固定于壳体1上对应的灯孔中。
42.需要说明的是,每一插座触片302均连接有一组金属触片和芯线,若金属触片和芯线无接触不良的情况,应该能正常导通,即,芯线可依次通过金属触片和插座触片302接入检测电路4,对应的指示灯401亮起或者显示绿色;若金属触片和芯线接触不良,则金属触片与芯线之间不能导通,即,芯线无法接入检测电路4,对应的指示灯401熄灭或者显示红色。八组检测电路4同时工作,即可同时对八组芯线与金属触片之间的导通情况进行检测,简单快捷,无需等待,有利于提升检测效率和生产效率。
43.本实施例中,参见图2,所述检测电路4还包括检测回路和单片机402。需要说明的是,图2只展示了其中一个插座触片302对应的检测电路4的电路图,其它插座触片302对应的检测电路4与之相同,故图中不进行展示。
44.所述检测回路设有检测点a、检测点b以及位于检测点a和检测点b之间的整流滤波电路;所述插座触片302与所述检测点a电连接,使得所述金属触片和芯线之间的导通情况
对所述检测点b处的电压值构成影响。所述单片机402包括用于向所述检测点a输入100khz方波电信号的第一i/o引脚4021、用于获取所述检测点b处的电信号的检测引脚4022以及电连接所述指示灯401的第二i/o引脚4023。
45.本实施例中,所述整流滤波电路包括第一电阻r1、第一电容c1和二极管d1。所述第一电阻r1的一端与所述检测点a电连接,另一端与所述检测点b电连接;所述第一电容c1的一端与所述检测点b电连接,另一端接地;所述二极管d1的正极接地,负极与所述检测点a电连接。
46.进一步地,所述检测点a与第一i/o引脚4021之间还设有第二电容c2,所述指示灯401还连接有第二电阻r2。
47.以下为检测电路4的原理说明:
48.①
单片机402的第一i/o引脚4021通过定时器产生一个100khz的方波,通过第二电容c2耦合到检测点a;
49.②
检测点a连接到网口插座3的一插座触片302,同时检测点a的100khz的方波经过二极管d1整流、第一电阻r1和第一电容c1滤波到检测点b;
50.③
检测点b处的电压信息被单片机402的检测引脚4022获取。
51.以下为检测电路4的工作场景说明:
52.①
当水晶头未插入网口插座3时,单片机402的检测引脚4022检测到一个电压值,这个电压值是初始化值,单片机402程序记录该初始化值;
53.②
当水晶头插入网口插座3后,芯线相当于一个电容通过金属触片和插座触片302并入电路中;具体地,当芯线与金属触片完全不导通时,相当于电容值为零;当芯线与金属触片正常导通时,就可以产生电容值,而且,随着芯线长度越长,所产生的电容值就越大。即,检测点a的100khz的方波被芯线的电容所分压,检测点b的电压值会降低,而且,芯线与金属触片之间接触不良的情况越严重,对应的电容值越小,检测点b的电压值就越大。此时单片机402的检测引脚4022检测到的电压值也会越大。本实施例中,可以设置电压阈值:若检测引脚4022处检测到的电压值大于该阈值,即可判定芯线与金属触片之间接触不良,进而控制对应的指示灯401熄灭或者亮起红色;若检测引脚4022处检测到的电压值小于该阈值,即可判定芯线与金属触片之间接触良好,进而控制对应的指示灯401亮起或者显示绿色。
54.网口插座3的其它7个金属触片检测原理相同,故打开电源开关2后,只要将带有芯线的水晶头插入网口插座3中,即可同时对八根芯线与对应的金属触片之间的导通情况进行检测并显示检测结果,本实施例不作赘述。
55.需要说明的是,一般而言,除非水晶头出现严重变形或者金属触片出现严重偏位,否则,将水晶头插入网口插座3后,金属触片和插座触片302之间应该是导通的,所以,如果检测出水晶头侧的电容值较低,则可以直接认定为芯线与金属触片之间接触不良。
56.本实施例通过电路设计,可以快速的检测水晶头内的金属触片和芯线是否接触良好,0.5秒之内可以完成水晶头的8个脚测试,并通过指示灯显示接通状态,高效快捷,有利于提高生产效率,具有较大的推广价值。
57.以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前
述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
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