测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及产品测试的技术领域，尤其涉及一种测试装置。


背景技术：

2.在现有的技术中，因为存储装置集成度较高，测量触点小而密集，需要通过导线将被测触点引出进行测试，操作困难；而且，不同型号的存储装置被测点位置不同，需要根据引出导线的位置进行测量。


技术实现要素：

3.本实用新型的主要目的在于提供一种测试装置，旨在解决存储装置的测量操作困难，测试板利用率低的技术问题。
4.为实现上述目的，本实用新型提供一种测试装置，用于测试存储装置，所述存储装置通过所述测试装置连接于主机，所述测试装置包括：
5.测试电路、主机接口和存储装置接口；
6.所述主机接口用于连接测试主机，所述存储装置接口用于连接存储装置，所述测试电路的一端连接所述主机接口以使所述测试电路连接所述测试主机的电源接点，另一端连接所述存储装置接口以使所述测试电路连接所述存储装置的电源接点，所述测试电路用于检测所述存储装置的电源接点以获取所述存储装置的电流数据。
7.进一步地，在一实施方式中，所述测试电路包括电流测量模块，所述电流测量模块用于检测所述存储装置的电源接点以获取所述存储装置的电流数据。
8.进一步地，在一实施方式中，所述测试电路还包括控制模块，所述控制模块与所述电流测量模块电连接，用于控制测试电路的通断。
9.进一步地，在一实施方式中，所述电流测量模块和控制模块串联；
10.所述电流测量模块的一端连接于所述主机接口，另一端连接于所述控制模块；
11.所述控制模块的一端连接于所述电流测量模块，另一端连接于所述存储装置接口。
12.进一步地，在一实施方式中，所述测试装置还包括：第一连接线，所述第一连接线的一端与测试电路连接，另一端与主机接口连接。
13.进一步地，在一实施方式中，所述测试装置还包括：第二连接线，所述第二连接线的一端与测试电路连接，另一端与存储装置接口连接。
14.进一步地，在一实施方式中，所述测试装置还包括显示模块，所述显示模块用于显示所述存储装置的电流数据值。
15.进一步地，在一实施方式中，所述电流测量模块包括电阻组件和计量组件，所述电阻组件和所述计量组件并联。
16.进一步地，在一实施方式中，所述电阻组件包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和选择开关，所述第一电阻、所述第二电阻和所述第三电阻并联，所述选择开关分别连接于所
述第一电阻、所述第二电阻和所述第三电阻的一端，用于选择连通所述第一电阻、所述第二电阻或所述第三电阻。
17.进一步地，在一实施方式中，所述电阻组件为可调电阻。
18.进一步地，在一实施方式中，所述计量组件包括灵敏电流计。
19.进一步地，在一实施方式中，所述控制模块包括按压开关。
20.进一步地，在一实施方式中，所述控制模块包括熔断模块或阈值判断模块，用于在电流数据超过阈值时，断开所述测试电路。
21.进一步地，在一实施方式中，所述测试装置还包括：数据交互电路，所述数据交互电路的一端连接所述主机接口以使所述数据交互电路可连接所述测试主机的数据接点，另一端连接存储装置接口以使所述数据交互电路可连接所述存储装置的数据接点，所述数据交互电路用于实现所述测试主机与所述存储装置的数据交互。
22.进一步地，在一实施方式中，所述主机接口包括tf、sd、nm、usb、sata、 m.2、u.2和pcie公头中的一种或多种，所述公头包括至少一个电源接点用于连接测试主机的电源接点。
23.进一步地，在一实施方式中，所述存储装置接口包括tf、sd、nm、usb、 sata、m.2、u.2和pcie母座中的一种或多种，所述母座包括至少一个电源接点用于连接存储装置的电源接点。
24.本实用新型提供的技术方案中，通过在测试电路的两端分别接一个主机接口和存储装置接口，来使存储装置与测试主机接通，通过测试电路来监测测试主机和存储装置之间的电流情况；通过此测试装置，直接将存储装置与存储装置接口连接即可进行测试，使得对存储装置的电流测试操作简单，提高测试效率。
附图说明
25.一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
26.图1为本实用新型的一个实施例的测试装置的结构示意图；
27.图2为本实用新型的一个实施例的测试装置与测试主机和存储装置连接的结构示意图；
28.图3为本实用新型的一个实施例的存储装置的结构示意图；
29.图4为本实用新型的一个实施例的电流测量模块的结构示意图；
30.图5为本实用新型的另一个实施例的电流测量模块的结构示意图；
31.图6为本实用新型的一个实施例的u盘的结构示意图。
32.其中，100、测试装置；111、测试电路；112、电流测量模块；113、第一电阻；114、第二电阻；115、第三电阻；116、可调电阻；117、计量组件； 118、控制模块；119、数据交互电路；120、选择开关；130、主机接口；140、存储装置接口；200、存储装置；200a、u盘；210、控制器；220、储存芯片； 300、测试主机。
具体实施方式
33.为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“内”、“外”以及类似的表述只是为了说明的目的。在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
34.此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
35.此外，下面所描述的本实用新型不同实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
36.如图1和2所示，本实用新型实施例公开了一种测试装置100，用于测试存储装置200，所述存储装置200可以通过所述测试装置100连接于测试主机 300。测试装置100包括：测试电路111、主机接口130和存储装置接口140；其中主机接口130可用于连接测试主机300，存储装置接口140可用于连接存储装置200，其中，测试电路111的一端可连接主机接口130，以使的测试电路111可通过该主机接口130连接测试主机300的电源接点，而测试电路的另一端则可以连接存储装置接口140以使得测试电路111可连接存储装置200 的电源接点，在主机接口连接测试主机，存储装置接口连接存储装置后，测试电路则可以通过检测存储装置200的电源接点，以获取当前存储装置200 的电流数据。
37.通过上述测试装置，可简化存储装置的电流测试操作流程，提高对存储装置的测试效率。
38.所述测试装置100还可以包括测试电路111、数据交互电路119、主机接口130和存储装置接口140，所述主机接口130可连接于所述测试电路111的一端和数据交互电路119的一端，通过主机接口130，测试电路111分别连接于所述测试主机300的电源接点，数据交互电路119可连接测试主机300的数据接点。而所述存储装置接口140则可连接于所述测试电路111的另一端和数据交互电路119的另一端，通过该存储装置接口140，测试电路111可连接所述存储装置200的电源接点，数据交互电路119可连接测试主机的数据接点；所述测试电路111的一端通过所述主机接口130连接于所述测试主机 300的电源接点，所述测试电路111另一端通过所述存储装置接口140连接于所述存储装置200的电源接点；其中，所述测试电路111包括电流测量模块 112和控制模块118，所述电流测量模块112用于检测电流数据，
所述控制模块118用于控制测试电路111的通断；所述数据交互电路119的一端通过所述主机接口130连接于所述测试主机300的数据接点，所述数据交互电路119 的另一端通过所述存储装置接口140连接于所述存储装置200的数据接点。
39.在本实施例中，将测试电路111和数据交互电路119通过主机接口130 和存储装置接口140别分与测试主机300和存储装置200连接，通过测试主机300对被测的存储装置200进行操作，以电流测量模块112来监测测试主机300和存储装置200之间的电流情况(包括开关电流、读写电流和错误电流等)，从而确定存储装置200的状态；对于存储装置200的测试是多次的，并通过控制模块118控制测试装置100内电路的通断，可以避免存储装置200 在多次测试中反复拔插，导致存储装置200损坏；通过此测试装置100，直接将存储装置200与存储装置接口140连接即可进行测试，由于测试装置100 内部已经有走线，无需再对存储装置200进行引线操作，使得对存储装置200 的测试操作简单，并且，测试装置100内可以预置对应不同型号的存储设备的走线，可以测试不同型号的存储装置200，提高测试装置100的利用率。
40.在一实施例中，所述测试装置还可以包括：第一连接线，所述第一连接线的一端与测试电路111连接，另一端与主机接口130连接，该第一连接线用于延长该主机接口，用于方便连接测试主机300。所述测试装置还可以包括：第二连接线，所述第二连接线的一端与测试电路111连接，另一端与存储装置接口140连接，该第二连接线用于延长该存储装置接口，用于方便连接存储装置200。此外，该测试装置还包括显示模块，所述显示模块用于显示测试电路111所获得的当前存储装置的电流数据值。
41.在一实施例中，所述电流测量模块112和控制模块118串联；所述电流测量模块112的一端连接于所述测试主机300的电源输出接点，所述电流测量模块112的另一端连接于所述控制模块118，所述控制模块118的一端连接于所述电流测量模块112，所述控制模块118的另一端连接于所述存储装置 200的电源输出接点。通过串联，控制模块118可以直接简单的切断电路，电路结构简单，控制简单快捷。
42.具体的，如图3所示，所述存储装置200包括控制器210和储存芯片220，所述控制器210连接于所述储存芯片220，通过所述控制器210控制所述储存芯片220所执行操作；所述存储装置接口140的一端连接于所述控制器210。控制器210作为存储装置200的控制中心，直接将测试装置100连接到存储装置200的控制器210上，通过控制器210来控制存储装置200执行操作，期间通过测试装置100监测通信过程中电路的电流情况，判断存储装置200 中的电流情况是否正常，从而简化电路结构。
43.如图4所示，在一实施例中，所述电流测量模块112包括电阻组件和计量组件117，所述电阻组件和所述计量组件117并联；其中，所述电阻组件包括第一电阻113、第二电阻114、第三电阻115和选择开关120，所述第一电阻113、所述第二电阻114和所述第三电阻115并联，所述选择开关120分别连接于所述第一电阻113、所述第二电阻114和所述第三电阻115的一端，用于选择连通所述第一电阻113、所述第二电阻114或所述第三电阻115。
44.具体的，所述计量组件117为灵敏电流计，灵敏电流计包括线圈、指针和弹簧。当线圈中通有电流时，在磁场的作用下电磁力推动线圈偏转，由此可以带动指针进行电流大小的测量，而断电后因为线圈偏转而变形的弹簧回复，由此指针重新归零。
45.在本实施例中，通过将计量组件117与三个电阻并联，通过选择开关120 来切换接
通不同阻值的电阻，来选择不同的测量量程；灵敏电流计是一种高灵敏度的磁电式仪表，可以测量10-7
a～10-12
a的微小电流，由于测试主机300 与存储装置200之间形成的电流也并不大，因此使用灵敏电流计作为计量组件117可以提高测试的精度。
46.如图5所示，在另一实施例中，所述电流测量模块112包括电阻组件和计量组件117，所述电阻组件和所述计量组件117并联；其中，所述电阻组件为可调电阻116。可直接通过调节可调电阻116的阻值来实现不同的测量量程，使得电路更为简单，操作更为方便。
47.在一实施例中，所述主机接口130包括usb、sata、m.2、u.2和pcie公头中的一种或多种，所述公头包括至少一个电源接点用于连接测试主机的电源接点。以提高测试装置100的普适性。
48.所述存储装置接口140包括usb、sata、m.2、u.2和pcie母座中的一种或多种，所述母座包括至少一个电源接点用于连接存储装置的电源接点。测试装置100对应设置不同类型的插入口，以适配不同类型的存储装置200，从而提高测试装置100的普适性。
49.所述控制模块118为按压开关，在测试完成或需要停止测试之时，测试员只需要按一下按压开关即可断开电路，需要开启时再按一下按压开关，操作简单方便快捷，而且按压开关的结构简单，安装和维护简单；或者在出现短路的情况下，可以快速切断电路，保护线路。
50.在一实施例中，以u盘进行读操作为例，参见图6，测试主机300利用数据交互电路119发送读指令，u盘中的控制器210响应此读指令，闪存芯片在控制器210的控制下将数据读出并通过数据交互电路119传输至测试主机 300。正常情况下u盘中控制器210和闪存芯片都处于回路中，其通断都会影响到整体电流的大小，因此可以利用读写操作时整体电流的变化判断内部部件是否正常。
51.将电流测量模块112和控制模块118可以串联在vcc电源线中，因此电流测量模块112可以在vcc电源线上测量出流经u盘的整体电流大小，而控制模块118可以控制vcc电源线的通断，相当于控制了u盘与测试主机300 的连接。
52.u盘在正常读写时，在整体回路同时存在有控制器210和闪存芯片，读操作时其vcc电源线上的电流为a1，写操作时为a2，a1是小于a2的。而测试主机300无法对u盘进行读写的情况下，表示u盘中控制器210与闪存芯片之间的连接出现错误，此时闪存芯片无法进入回路中，其vcc电源线上的电流为a3，或者主控和闪存芯片都无法进入电路中，其vcc电源线上的电流为 a4。而a1、a2、a3、a4的数值大小不同，其中读电流a1大于写电流a2，错误电流a3小于正常电流(a1与a2),而在a4情况下则可能为断路或短路，因此a4为0或极大。不同u盘(但是相同型号)上测得的a1、a2、a3和a4 是基本相同的，因此可预先测得该类产品在各状态下的电流数值，通过对比电流测试模块中测得的数值，判断u盘的当前状态。对于u盘的测试是多次的，因此需要设置一个控制模块118，避免在多次测试中反复插拔，损坏u盘或者对应的usb接口。而且可以在上述出现短路的情况下，快速切断电路，保护线路。该控制模块118可以带有熔断模块或阈值判断模块，熔断模块用于在电流超过一定大小自动断开电路，阈值判断模块用于在电流数据超过阈值时，断开所述测试电路。
53.具体的，如图6所示，u盘200a包括usb2.0和usb3.0的插头，它们都包括电源针脚vcc、地针脚gnd、数据正极信号针脚data+和数据负极信号针脚data-，对应的，测试装置100的usb接口和usb插头也对应设置电源针脚 vcc、地针脚gnd、数据正极信号针脚data+和数
据负极信号针脚data-，相应的，测试主机300上的usb接口也包括有对应的针脚，电流从主机的电源针脚vcc流出，依次通过到测试装置100的电流测量模块和控制模块再从u盘 200a的电源针脚vcc流入到u盘200a中，通过电流测量模块可以检测电流数据，通过控制模块可以控制测试电路的通断，主机的地针脚gnd通过测试装置100与u盘200a的地针脚gnd接通；测试主机300的数据正极信号针脚data+ 和数据负极信号针脚data-分别通过测试装置100的数据交互电路连接到u盘 200a的数据正极信号针脚data+和数据负极信号针脚data-，测试主机300和 u盘200a之间通过数据交互电路进行信号的传输。其它如：tf、sd、nm、usb、 sata、m.2、u.2和pcie类型的插头和接口同理。
54.以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。