C型磁粉检测试片的制作方法

c型磁粉检测试片
技术领域
1.本实用新型涉及一种磁粉检测试片，尤其涉及一种c型磁粉检测试片。


背景技术：

2.目前使用的c型磁粉检测试片，只能用于灵敏度验证。在进行磁粉检测灵敏度验证时，目前使用的c型磁粉检测试片由于只有沿长度方向的人工缺陷槽，不能有效验证沿长度方向缺陷槽之外的其它角度缺陷是否可以检出。


技术实现要素：

3.本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种用于磁粉检测且实现多角度缺陷验证的c型磁粉检测试片。
4.本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种c型磁粉检测试片，包括呈长方形且具有相对的第一表面和第二表面的片材、设置在所述片材的第一表面上的若干分割线组、第一人工缺陷槽以及若干人工缺陷槽组；
5.若干所述分割线组沿所述片材的长度方向在所述第一表面上间隔分布，将所述第一表面分成若干区间；所述第一人工缺陷槽在所述第一表面上平行所述片材的长度方向直线延伸；若干所述人工缺陷槽组分别对应在若干所述区间内，每一所述人工缺陷槽组与所述第一人工缺陷槽之间夹角相交。
6.优选地，所述人工缺陷槽组包括至少一第二人工缺陷槽；所述第二人工缺陷槽与所述第一人工缺陷槽相交且交点位于所述第一人工缺陷槽上。
7.优选地，相邻的所述第二人工缺陷槽与第一人工缺陷槽之间的夹角、和/或相邻的两个所述第二人工缺陷槽之间的夹角为0
°‑
90
°
，且不为0
°
。
8.优选地，所述人工缺陷槽组还包括以所述交点为圆心的圆形的第三人工缺陷槽；所述第二人工缺陷槽远离所述第一人工缺陷槽的端部与所述第三人工缺陷槽相交。
9.优选地，所述第三人工缺陷槽的直径≤所述区间的宽度。
10.优选地，所述人工缺陷槽组包括至少两个第二人工缺陷槽；所述第二人工缺陷槽分布在所述第一人工缺陷槽的两侧且与所述第一人工缺陷槽形成有夹角；所述第二人工缺陷槽的延长线相交于一点且位于所述第一人工缺陷槽上。
11.优选地，相邻的所述第二人工缺陷槽与第一人工缺陷槽之间的夹角、和/或相邻的两个所述第二人工缺陷槽之间的夹角为0
°‑
90
°
，且不为0
°
。
12.优选地，所述第二人工缺陷槽呈放射性均布在所述第一人工缺陷槽的两侧。
13.优选地，所述人工缺陷槽组还包括圆形的第三人工缺陷槽，所述第三人工缺陷槽的圆心位于所述第二人工缺陷槽的交点上；所述第二人工缺陷槽远离所述第一人工缺陷槽的端部与所述第三人工缺陷槽相交。
14.优选地，每一所述分割线组包括分别与所述片材的两个长边垂直相交的两个分割线；两个所述分割线间隔相对且处于一直线上。
15.本实用新型的c型磁粉检测试片，增设第二人工缺陷槽与沿片材的长度方向延伸的第一人工缺陷槽夹角相交(或以延长线相交)，使得c型磁粉检测试片上具有多角度的人工缺陷槽，实现多角度缺陷验证。
16.本实用新型的c型磁粉检测试片不仅具有验证灵敏度的功能，还有具有以下功能：第一，根据磁化后显示磁痕的人工缺陷槽，能马上确定哪些角度范围的线性缺陷能够检出；第二，根据磁化后试片所有显示磁痕人工缺陷槽所形成的夹角，能快速计算出最少磁化次数，避免因相关磁粉检测标准关于磁化方向、次数规定上的不严谨等导致的漏检。
附图说明
17.下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：
18.图1是本实用新型第一实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图；
19.图2是本实用新型第二实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图；
20.图3是本实用新型第三实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图；
21.图4是本实用新型第四实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图；
22.图5是本实用新型第五实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图；
23.图6是本实用新型第六实施例的c型磁粉检测试片的结构示意图。
具体实施方式
24.为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的具体实施方式。
25.参考图1、图2，本实用新型的c型磁粉检测试片，包括片材1、设置在片材1上的若干分割线组、第一人工缺陷槽10以及若干人工缺陷槽组。
26.片材1通常呈长方形，具有相对的第一表面和第二表面。若干分割线组、第一人工缺陷槽10以及若干人工缺陷槽组均设置在片材1的第一表面上，未贯穿至第二表面。
27.其中，若干分割线组沿片材1的长度方向在第一表面上间隔分布，将第一表面分成若干区间100。根据实际检测需要，可以通过分割线组将片材1切割为所需的长度。每一分割线组包括两个间隔相对且处于一直线上的分割线11，两个分割线11分别与片材1的两个长边垂直相交，并且与片材1的宽边相平行。
28.第一人工缺陷槽10在片材1的第一表面上平行片材1的长度方向直线延伸，其两端可与片材1的两个宽边相接。第一人工缺陷槽10位于片材1的中线上，可将片材1的第一表面分为两个在宽度方向上相接的片区。
29.若干人工缺陷槽组分别对应在若干区间100内，即每一区间100具有一人工缺陷槽组。每一人工缺陷槽组与第一人工缺陷槽10之间夹角相交，这样片材1上不仅具有平行长边的直线延伸的第一人工缺陷槽10，还具有在其他角度上的人工缺陷槽，使得c型磁粉检测试片不仅具有验证灵敏度的功能，还有具有以下功能：第一，根据磁化后显示磁痕的人工缺陷槽，能马上确定哪些角度范围的线性缺陷能够检出；第二，根据磁化后试片所有显示磁痕人工缺陷槽所形成的夹角，能快速计算出最少磁化次数，避免因相关磁粉检测标准关于磁化方向、次数规定上的不严谨等导致的漏检。
30.在一些实施例中，人工缺陷槽组包括至少一第二人工缺陷槽20；第二人工缺陷槽
20与第一人工缺陷槽10相交且交点位于第一人工缺陷槽10上。相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、和/或相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角为0
°‑
90
°
，且不为0
°
。
31.如图1所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第一实施例中，每一人工缺陷槽组包括一第二人工缺陷槽20。在每一区间100内，第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10相垂直交叉(即两者之间的夹角为90
°
)，形成十字形的人工缺陷槽。
32.如图2所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第二实施例中，每一人工缺陷槽组包括三个相交的第二人工缺陷槽20，交点位于第一人工缺陷槽10上。每一第二人工缺陷槽20通过与第一人工缺陷槽10的相交，形成分别位于第一人工缺陷槽10两侧且相接的两个槽段。
33.在每一区间100内，一第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10相垂直交叉(即两者之间的夹角为90
°
)，另外两个第二人工缺陷槽20相垂直交叉并位于前一第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10的角平分线上，使得相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角为45
°
。
34.如图3所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第三实施例中，每一人工缺陷槽组包括五个相交的第二人工缺陷槽20，交点位于第一人工缺陷槽10上。在片材1的每一区间100内，所有第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10相交于一点，整体形成放射状的人工缺陷槽结构，相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角为30
°
。
35.可以理解地，每一人工缺陷槽组根据第二人工缺陷槽20数量的增减，使得相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角还可以是22.5
°
、15
°
等等。
36.如图4所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第四实施例中，人工缺陷槽组还包括圆形(圆圈形状)的第三人工缺陷槽30。在片材1上的每一区间100内，第三人工缺陷槽30的圆心位于第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10的交点上，第二人工缺陷槽20远离第一人工缺陷槽10的端部与第三人工缺陷槽30相交，使得第三人工缺陷槽30作为第二人工缺陷槽20的外圆。
37.第三人工缺陷槽30的直径小于或等于其所在区间100的宽度，这样相邻区间100内的第三人工缺陷槽30不会相交。
38.在本实施例中，第二人工缺陷槽20可参考但不限于上述第一至第三实施例的设置。
39.在另一些实施例中，参考图5，人工缺陷槽组包括至少两个第二人工缺陷槽20；第二人工缺陷槽20分布在第一人工缺陷槽10的两侧且与第一人工缺陷槽10形成有夹角。相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、和/或相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角为0
°‑
90
°
，且不为0
°
。
40.第二人工缺陷槽20朝向第一人工缺陷槽10的端部与第一人工缺陷槽10相间隔，而第二人工缺陷槽20的延长线(朝向第一人工缺陷槽10一端的延长线)相交于一点且位于第一人工缺陷槽10上。
41.如图5所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第五实施例中，在片材1的每一区
间100内，每一人工缺陷槽组包括六个第二人工缺陷槽20，六个第二人工缺陷槽20以第一人工缺陷槽10上的一点为中心向外呈放射状均布，第一人工缺陷槽10的每一侧具有三个均布的第二人工缺陷槽20，相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角为45
°
。所有第二人工缺陷槽20相向的一端未相交且界定出一个内圆，该内圆的直径可为0.5mm或1.0mm等等。
42.可以理解地，上述第五实施例中，每一人工缺陷槽组的第二人工缺陷槽20的数量可以根据需要增减，使得相邻的第二人工缺陷槽20与第一人工缺陷槽10之间的夹角、相邻的两个第二人工缺陷槽20之间的夹角还可以是90
°
、30
°
、22.5
°
、15
°
等等。
43.如图6所示，在本实用新型的c型磁粉检测试片的第六实施例中，其不同于第五实施例的是：人工缺陷槽组还包括圆形(圆圈形状)的第三人工缺陷槽30。在片材1上的每一区间100内，第三人工缺陷槽30的圆心位于第二人工缺陷槽20的延长线与第一人工缺陷槽10的交点上，第二人工缺陷槽20远离第一人工缺陷槽10的端部与第三人工缺陷槽30相交，使得第三人工缺陷槽30作为第二人工缺陷槽20的外圆。同时，该外圆与位于第二人工缺陷槽20相向的一端内的内圆同心。
44.第三人工缺陷槽30的直径小于或等于其所在区间100的宽度，这样相邻区间100内的第三人工缺陷槽30不会相交。
45.在本实施例中，第二人工缺陷槽20的数量及设置方式可参考但不限于上述第五实施例。
46.本实用新型的c型磁粉检测试片使用时，贴置于受检部件上，配合磁粉探伤机进行磁化。根据磁化后的磁痕显示，验证磁粉检测的磁场强度是否达到要求。另外，还可以根据磁化后显示磁痕的人工缺陷槽，能马上确定哪些角度范围的线性缺陷能够检出；根据磁化后试片所有显示磁痕人工缺陷槽所形成的夹角，能快速计算出最少磁化次数，避免因相关磁粉检测标准关于磁化方向、次数规定上的不严谨等导致的漏检。
47.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。