一种孔检测治具的制作方法

1.本实用新型涉及机械加工技术领域，尤其涉及一种孔检测治具。


背景技术：

2.相关技术中，通常采用游标卡尺来检验孔的尺寸是否合格，效率低。对于沉孔来说，其深度不易检验，仅通过测量沉孔口部直径来判断是否合格，且口部直径不易测量。


技术实现要素：

3.本公开实施例提供了一种孔检测治具，该检测治具结构简单，制作成本低，能够对通孔和沉孔进行尺寸检验，且检验效率高。
4.本公开实施例所提供的技术方案如下：
5.一种孔检测治具，包括：
6.手持体，包括相对的两端；
7.分别设置于所述手持体相对的两端的通规和止规，所述通规和所述止规均为柱体结构，且所述止规的外径大于所述通规的外径；
8.以及，连接在所述通规与所述手持体之间的测量体，所述测量体为与所述通规同轴的柱体结构，所述测量体具有与待测量沉孔的内周面形状适配的外周面，且所述测量体上设有在所述通规的轴向方向上间隔预定距离的上限偏差标记和下限偏差标记，所述预定距离为待测量沉孔的深度上限偏差和深度下限偏差的差值。
9.示例性的，所述测量体包括连接所述通规的第一端和连接所述手持体的第二端，其中所述第二端的端面呈第一平面，所述第一平面上设有凹陷的凹槽结构，所述凹槽结构的槽底为与所述第一平面平行的第二平面，其中所述上限偏差标记包括所述第一平面，所述下限偏差标记包括所述第二平面。
10.示例性的，所述凹槽结构设置于所述第一平面的一侧边缘处。
11.示例性的，所述通规的外径大于或等于所述手持体的外径。
12.示例性的，所述测量体的第一端的直径小于所述第二端直径，且所述测量体的外周面为自所述第一端向所述第二端逐渐变化的球形曲面或锥面。
13.示例性的，所述通规和所述止规均为圆柱体。
14.示例性的，所述通规与所述止规为同轴设置。
15.本公开实施例所带来的有益效果如下：
16.本公开实施例所提供的孔检测治具，在手持体的相对两端分别设置了通规和止规，所述通规的直径与待测量沉孔的直径下偏差相适配，所述止规与待测量沉孔的直径上偏差相适配，在所述通规与所述手持体之间设置了测量体，该测量体的外周面与待测量沉孔的内周面形状相适配，且测量体上设置了沉孔深度的上限偏差标记和下限偏差标记。在检验孔尺寸是否合格时，可以手持该治具的手持体，将通规端插入待测量通孔内，此时所述测量体的下限偏差标记沉入待测量沉孔内，而上限偏差标记高于待测量沉孔面，再将止规
端插入待测量通孔内，所述止规无法插入所述待测量通孔，则此时检测孔尺寸为合格；若所述上限偏差标记沉入孔内，或者，下限偏差标记高于沉孔面，或者所述止规通过待检测孔均视为检测不合格。由此可见，本公开实施例提供的孔检测治具的结构简单，制作成本低，检验效率高，尤其是可适用于沉孔的直径以及深度检验。
附图说明
17.图1所示为本公开实施例所提供的孔检测治具的结构示意图；
18.图2所示为图1中a-a向的剖视图。
具体实施方式
19.为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
20.除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
21.图1所示为本公开实施例所提供的孔检测治具的结构示意图；图2所示为图1中a-a向的剖视图。
22.如图1所示，本公开实施例所提供的孔检测治具包括：手持体100、通规200、止规300和测量体400，所述手持体100包括相对的两端，所述通规200和所述止规300分别设置于所述手持体100相对的两端，所述通规200和所述止规300均为柱体结构，且所述止规300的外径大于所述通规200的外径；所述测量体400连接在所述通规200与所述手持体100之间，所述测量体400为与所述通规200同轴的柱体结构，所述测量体400具有与待测量沉孔的内周面形状适配的外周面410，且所述测量体400上设有在所述通规200的轴向方向上间隔预定距离的上限偏差标记和下限偏差标记，所述预定距离为待测量沉孔的深度上限偏差和深度下限偏差的差值。
23.本公开实施例所提供的孔检测治具，在手持体100的相对两端分别设置了通规200和止规300，所述通规200的直径与待测量沉孔的直径下偏差相适配，所述止规300与待测量沉孔的直径上偏差相适配，在所述通规200与所述手持体100之间设置了测量体400，该测量体400的外周面410与待测量沉孔的内周面形状相适配，例如，待测量沉孔的内周面为球形面时，则所述待测量沉孔也为球形面，如图所示，与通规200连接的球面sr直径与沉孔球面直径一致；且测量体400上在通规200轴向上间隔设置了孔深度的上限偏差标记和下限偏差
标记，上、下限偏差标记在通规200轴向上的距离，即所述预设距离即为待测量沉孔的深度上限偏差和深度下限偏差的差值。
24.在检验孔尺寸是否合格时，可以手持该治具的手持体100，将通规200端插入待测量沉孔内，此时所述测量体400的下限偏差标记沉入待测量沉孔内，而上限偏差标记高于待测量沉孔面；然后，将该治具翻过来，将所述止规300端插入待测量通孔内，所述止规300无法插入所述待测量通孔，则此时检测孔尺寸为合格；若所述上限偏差标记沉入沉孔内，或者，下限偏差标记高于沉孔面，或者所述止规300通过待检测孔均视为检测不合格。
25.由此可见，本公开实施例提供的孔检测治具的结构简单，制作成本低，检验效率高，尤其是可适用于沉孔的直径及深度检验。当然也可以适用于通孔的尺寸检验。
26.在一些示例性的实施例中，如图1和图2所示，所述测量体400包括连接所述通规200的第一端和连接所述手持体100的第二端，其中所述第二端的端面呈第一平面420，所述第一平面420上设有凹陷的凹槽结构，所述凹槽结构的槽底为与所述第一平面420平行的第二平面430，其中所述上限偏差标记包括所述第一平面420，所述下限偏差标记包括所述第二平面430。
27.在上述方案中，通过在所述测量体400的连接手持体100一端的平面(即第一平面420)直接作为所述上限偏差标记，而在第一平面420上设置凹槽，利用凹槽的槽底平面作为下限偏差标记，在进行检测时，更易于观察，且结构也更为简单。
28.当然可以理解的是，所述上限偏差标记与所述下限偏差标记的具体结构不限于此，例如，也可以是在测量体400的外周面410上做其他标记来实现。
29.此外，在一些实施例中，如图1和图2所示，所述凹槽结构设置于所述第一平面420的一侧边缘处。也就是说，在第一平面420的一侧边缘处设置了一台阶结构，台阶深度即为待测量沉孔的深度上限偏差和深度下限偏差的差值。当然可以理解的是，在实际应用中，所述凹槽结构也可以设置于第一平面420的中间区域，例如，对于特殊形状沉孔，为了保证测量体400与沉孔内周面形状适配度，凹槽结构也可以设置于第一平面420的中间区域。
30.此外，在一些示例性的实施例中，所述通规200的外径大于或等于所述手持体100的外径，便于操作。
31.在一些实施例中，所述测量体400的第一端的直径小于所述第二端直径，且所述测量体400的外周面410为自所述第一端向所述第二端逐渐变化的球形曲面，且如图1所示，所述第一端的直径应大于或等于所述通规200的外径。
32.上述方案，所述测量体400的外周面410可以是与待测量沉孔的内周面匹配的球形面，在其他实施例中，针对内周面为锥面的沉孔，所述测量体400的外周面410也可以是锥面。
33.此外，在一些实施例中，所述通规200和所述止规300均为圆柱体，当然根据待测量孔的形状，所述通规200和所述止规300也可以是其他规则或不规则形状。
34.此外，在一些实施例中，如图1所示，所述通规200与所述止规300为同轴设置。
35.有以下几点需要说明：
36.(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
37.(2)为了清晰起见，在用于描述本公开的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大
或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”或者可以存在中间元件。
38.(3)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
39.以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。