一种用于定位电子成像设备感光鼓的辅助装置的制作方法

文档序号:29476227发布日期:2022-04-02 07:21阅读:149来源:国知局

1.本实用新型涉及一种定位装置,更具体地,涉及一种用于定位电子成像设备感光鼓的辅助装置。


背景技术:

2.复印机、打印机和传真机等电子成像设备已广泛应用于现代办公环境中,这些电子成像设备中的感光鼓是电子成像设备中的重要核心组件,其安装相对于磁辊有着特定的位置要求,感光鼓与磁辊的两侧间隙大小会直接影响最终成像品质,但是,电子成像设备在现场装配或品控检测的过程中,都存在着感光鼓、磁辊的驱动端和非驱动端的两侧间隙尺寸检测困难及检测精度不够的问题。现有技术普遍采用的是激光式检测设备,但激光式检测设备由于其工作原理的复杂性,导致硬件成本居高不下,并且受激光技术限制,其测量精度非常有限。
3.专利号为zl200910017881.7的专利公开了一种磁辊与感光鼓两端间隙测定系统。该系统由半导体激光器、平行光管、光衰减片、柱形圆通、圆筒底座、底座定位磁铁、oe双输出棱镜、平面反射镜、测试支架、驱动装置、傅里叶透镜、 ccd相机和图像测量软件组成。该系统主要工作原理是采用ccd相机抓拍平行激光通过感光鼓与磁辊间隙后所形成的单缝衍射图,随后利用图像测量软件进行间隙大小判定。该系统存在如下缺点:图像经ccd相机抓取后需要进行自适应滤波、图像均衡和二值化处理,但这些后处理手段均会在一定程度上造成原始图像的失真,导致测量结果误差偏大。另外,由于连续的光折射、反射还会进一步造成系统误差的叠加。此外,在实际生产线使用中,还要经常针对不同套鼓型号对系统中所有结构进行空间位置的调整,操作相对复杂和繁琐,容易造成系统误差偏大,系统稳定鲁棒性较低等问题。由此可见,现有技术中的测定系统结构相对复杂,硬件设备成本高,操作繁琐,系统误差偏大,很难达到所需要的精度,因此在实际的流水生产作业线上很难提高其使用率。


技术实现要素:

4.针对背景技术中的问题,本实用新型提供了一种用于定位电子成像设备感光鼓的辅助装置,包括:磁辊模拟轴杆,其平行于感光鼓设置;磁辊驱动轴套,其套在磁辊模拟轴杆的驱动端,与驱动端长度测量仪器抵接,且与感光鼓的驱动端的表面线性接触;磁辊非驱动轴套,其套在磁辊模拟轴杆的非驱动端,与非驱动端长度测量仪器抵接,且与感光鼓的非驱动端的表面线性接触;磁辊模拟轴杆相对于磁辊驱动轴套和磁辊非驱动轴套具有旋转自由度。
5.可选地,所述磁辊驱动轴套的端部设置有环形凸台,所述环形凸台与驱动端长度测量仪器抵接,且与感光鼓的驱动端的表面线性接触;所述磁辊非驱动轴套端部设置有环形凸台,所述环形凸台与非驱动端长度测量仪器抵接,且与感光鼓的非驱动端的表面线性接触。
6.可选地,所述的辅助装置还包括:感光鼓驱动轴套,其套在感光鼓的驱动端,与所述磁辊驱动轴套的环形凸台线性接触;感光鼓非驱动轴套,其套在感光鼓的非驱动端,与所述磁辊非驱动轴套的环形凸台线性接触。
7.可选地,所述的辅助装置还包括:球轴承,所述球轴承安装在磁辊驱动轴套,用于限制磁辊驱动轴套水平方向自由度。
8.可选地,所述的辅助装置还包括:定位底座,所述定位底座包括水平座和竖直座,所述感光鼓固定在定位底座的水平座上,所述磁辊模拟轴杆固定在所述定位底座的竖直座上。
9.可选地,所述水平座沿所述感光鼓的轴向方向上设置有用于限制所述感光鼓位置的第一限位架和第二限位架。
10.可选地,所述第一限位架和所述第二限位架为与所述感光鼓外壁相适配的弧形限位架。
11.可选地,所述水平座上设置有限位卡台,用于限制所述感光鼓水平方向上的位置。
12.可选地,所述竖直座上设置有用于支撑所述磁辊模拟轴杆的第一托架和第二托架。
13.可选地,所述竖直座上设置有安装孔,用于容纳所述驱动端长度测量仪器和所述非驱动端长度测量仪器的测量头。
14.本实用新型提供的用于定位电子成像设备感光鼓的装置,通过采用物理接触式检测来测量感光鼓与磁辊模拟轴杆间隙尺寸,与现有技术相比,简化了装置结构,降低了制造成本。另外,通过引入千分表,提高检测精度达到1um量级,充分满足了当前生产企业的检测精度需求,有助于提高利用率。
附图说明
15.为了更容易理解本实用新型,将通过参照附图中示出的具体实施方式更详细地描述本实用新型。这些附图只描绘了本实用新型的典型实施方式,不应认为对本实用新型保护范围的限制。
16.图1为本实用新型提供的用于定位电子成像设备感光鼓的装置的爆炸图。
17.图2为图1所示的用于定位电子成像设备感光鼓的装置的组装图。
18.图3为图1所示的用于定位电子成像设备感光鼓的装置的校准示意图及感光鼓的非驱动端的放大示意图。
19.图4为图1所示的用于定位电子成像设备感光鼓的装置的使用示意图及感光鼓的非驱动端的放大示意图。
20.附图标记
21.1-定位底座;2-磁辊模拟轴杆;3-感光鼓;4-磁辊驱动轴套;5;3-第一球轴承;4-第二球轴承;5-磁辊模拟轴杆;6-驱动端千分表;7-非驱动端千分表;8
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感光鼓驱动端;9-感光鼓非驱动端;10-感光鼓驱动轴套;11-感光鼓非驱动轴套;12-第一限位架;13-第二限位架;14-套鼓支撑座;15-限位卡台;16-第一托架; 17-第二托架;18-第三限位螺母;19-第一限位螺母;20-第二限位螺母;21-第四限位螺母;22-第一球轴承;23-第二球轴承。
具体实施方式
22.下面参照附图描述本实用新型的实施方式,以便于本领域的技术人员可以更好的理解本实用新型并能予以实施,但所列举的实施例不作为本实用新型的限定,在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的技术特征可以相互组合,其中相同的部件用相同的附图标记表示。
23.如图1-4所示,本实用新型的辅助装置包括磁辊模拟轴杆2、磁辊驱动轴套 4和磁辊非驱动轴套5。磁辊驱动轴套4和磁辊非驱动轴套5与磁辊模拟轴杆相配合2,且保持旋转自由度存在。
24.磁辊模拟轴杆2设置在定位底座1上,感光鼓3也可以设置在所述定位底座 1上,所述磁辊模拟轴杆2与所述感光鼓3平行设置,磁辊驱动轴套4和磁辊非驱动轴套5套在所述磁辊模拟轴杆2的两端,所述磁辊驱动轴套4和所述磁辊非驱动轴套5的两个端部分别设置有环形凸台,所述感光鼓3的两端分别设置有感光鼓驱动端8和感光鼓非驱动端9,所述感光鼓驱动端8上套设有感光鼓驱动轴套10,所述感光鼓非驱动端9上套设有感光鼓非驱动轴套11,所述磁辊驱动轴套4的一个环形凸台上抵接有驱动端千分表6(也可以是其他长度测量仪器),所述磁辊驱动轴套4的另一个环形凸台与所述感光鼓驱动轴套10抵接,所述磁辊非驱动轴套5的一个环形凸台上抵接有非驱动端千分表7(例如为工业级电子数显千分表),所述磁辊非驱动轴套5的另一个环形凸台与所述感光鼓非驱动轴套 11抵接。
25.为了达到精确的测量效果,在使用本装置进行感光鼓与磁辊间隙测量前,首先需要进行校准归零工作,如图3所示,首先将所述感光鼓3固定在定位底座1 上,所述驱动端千分表6和所述非驱动端千分表7分别施加给磁辊驱动轴套4和磁辊非驱动轴套5不同的预紧压力,使得所述磁辊驱动轴套4和所述磁辊非驱动轴套5内侧大径凸环台分别与所述感光鼓3的轴向外壁表面存在线性接触,且两侧千分表读数不同,此时即可对所述驱动端千分表6和所述非驱动端千分表7分别进行归零操作。
26.使用时,如图4所示,本装置通过感光鼓3、感光鼓驱动轴套10、感光鼓非驱动轴套11、磁辊驱动轴套4、磁辊非驱动轴套5及磁辊模拟轴杆2间的相互抵接配合,模拟仿真了套鼓整机内部感光鼓与磁辊之间的真实空间位置关系。本领域技术人员通过该装置可以实时检测感光鼓和磁辊两侧的间隙,确保最终产品符合组装要求。具体地,按照上述方法对本装置完成校准归零操作后,将感光鼓3 固定在所述定位底座1上。所述感光鼓3设置方向与所述磁辊模拟轴杆2平行。所述磁辊驱动轴套4、所述磁辊非驱动轴套5分别与磁辊模拟轴杆2连接,并且能保持自由旋转。所述磁辊驱动轴套4和所述磁辊非驱动轴套5在工作状态下,外表面与感光鼓驱动轴套10、非驱动轴套11的外表面线性接触,与驱动端千分表6和非驱动端千分表7的测量头表面相互抵接。
27.优选地,如图1-4所示,所述磁辊驱动轴套4和所述磁辊非驱动轴套5的两端具有环形凸台,所述磁辊驱动轴套4和所述磁辊非驱动轴套5的外端侧的环形凸台分别与所述感光鼓驱动轴套10和感光鼓非驱动轴套11外壁接触。此时所述驱动端千分表6和所述非驱动端千分表7的所得数值即为感光鼓与磁辊模拟轴杆在驱动端和非驱动端的间隙大小。本装置通过引入千分表,可以提高检测精度达到1um量级,从而充分满足当前生产企业的检测精度需求。
28.本实用新型的定位底座1上优选地设置有用固定所述驱动端千分表6和非驱动端
千分表7的定位孔,所述定位孔与所述驱动端千分表6和非驱动端千分表7 的测量杆相适配,如图2所示,所述驱动端千分表6通过第一限位螺母19固定在定位孔内,所述非驱动端千分表7通过第二限位螺母20固定在定位孔内。本领域技术人员应该理解的是的,上述定位孔及限位螺母仅是本实用新型的一种用于固定千分表的优选实施方案,本实用新型还可以采用本领域技术人员所熟知的适合固定千分表的其他固定方式,此处不再赘述。
29.作为本实用新型的一种优选方案,如图1所示,所述定位底座1沿所述感光鼓3的轴向方向上设置有用于限制所述感光鼓3垂直方向上位置的第一限位架12 和第二限位架13,更优选地,所述第一限位架12和所述第二限位架13为顶部与所述感光鼓3外壁相适配的弧形限位架。在所述定位底座1上固定所述感光鼓3 时,所述感光鼓3外壁与所述弧形限位架的顶部紧密接触贴合,从而保证所述感光鼓3在测定过程中的稳定性。当然,上述用于固定所述感光鼓3的支架的数量及形状仅是本实用新型的一种优选方案,为了提高感光鼓的稳定性,本实用新型还可以采用更多的数量的其它形状的限位架,但考虑到生产成本及难度,本实用新型优选地在接近所述感光鼓3的两端设置两个弧形限位架。
30.本实用新型的定位底座1上还可以优选地设置有套鼓支撑座14,用于连接外部硒鼓组件,
31.为了能在水平方向上快速地定位所述感光鼓3,本实用新型优选地在所述定位底座1上设置用于限制所述感光鼓3水平方向上位置的限位卡台15。作为其中的一种优选方案,所述限位卡台15垂直于所述感光鼓3的轴向方向设置,并且与所述感光鼓3一端抵接。更优选地,所述限位卡台15沿着垂直方向的断面为l 形断面。上述限位卡台15不仅能在安装所述感光鼓3的时候快速地定位操作,简化操作难度,还能避免所述感光鼓3在测定过程中发生水平位移,保证测定的成功率。本领域技术人员应该理解的是,上述形状的限位卡台15仅是本实用新型的一种优选方案,本领域技术人员还可以将其他形状的限位卡台应用在本实用新型中,比如与所述感光鼓3端部相适配的圆形或环形限位卡台。
32.作为本实用新型的一种优选方案,本实用新型还在所述定位底座1上设置有用于支撑所述磁辊模拟轴杆2的第一托架16和第二托架17,如图2所示,所述第一托架16优选地通过第三限位螺母18固定在所述定位支架1上,所述第一托架17优选地通过第四限位螺母21固定在所述定位支架1上。通过限位螺母来固定第一托架16和第二托架17并不是本实用新型唯一可选的实施方式,本装置的第一托架16和第二托架17还可以采用本领域所述公知的其他固定方式来固定第一托架16和第二托架17,例如,卡接、胶接等。
33.进一步地,所述第一托架16和所述第二托架17优选地为包括固定在所述定位底座1上的连杆及垂直于所述连杆的托举杆,当然,所述第一托架16和所述第二托架17并不局限于上述结构,只要能有效地支撑并固定所述磁辊模拟轴杆2 位置的任何支撑架都可以作为第一托架和第二托架使用,例如断面为l形的铁板或钢板。
34.使用时,如图2所示,所述磁辊模拟轴杆2优选地水平设置于所述第一托架 16和所述第二托架17上,本装置可优选地在所述磁辊驱动轴套4的外侧设置第一球轴承22和第二球轴承23,从而通过所述球轴承限制其水平方向自由度,使所述磁辊模拟轴杆2仅存在沿第一托架16和第二托架17的延伸方向的平移自由度和绕自身轴线的转动自由度。
35.为了获得更加准确的感光鼓与磁辊模拟轴杆在驱动端和非驱动端的间隙读值,本实用新型的驱动端千分表6优选地垂直于所述磁辊模拟轴杆2轴向方向抵接在所述磁辊驱
动轴套4上,所述非驱动端千分表7优选地垂直于所述磁辊模拟轴杆2轴向方向抵接在所述磁辊非驱动轴套5上。当然,本实用新型的驱动端千分表6和非驱动端千分表7还可以根据实际测定和生产需要,对不同的位置和角度进行适应性安装,只要能保证千分表能进行正确的使用和读值即可。
36.在上述优选的实施方案的基础上,本实用新型的定位底座1优选地包括水平座和竖直座,所述感光鼓3可设置在所述水平座上,所述磁辊模拟轴杆2、所述驱动端千分表6和所述非驱动端千分表7可设置在所述竖直座上。本领域技术人员不难理解的是,上述定位底座1的形状及设置方式仅是本实用新型的一种优选方案,本领域技术人员还可以实际的生产和测定需要,采用适合固定感光鼓3和磁辊模拟轴杆2的其他形式的定位底座,此处不再赘述。
37.综上所述,本实用新型的辅助装置通过采用物理接触式检测手段来测量感光鼓与磁辊间隙尺寸,极大地简化了装置结构,降低了制造成本,同时通过引入千分表,提高检测精度达到1um量级,充分满足了当前生产企业的检测精度需求,此外,本实用新型还可以直观地展示感光鼓与磁辊在套鼓内部区域的相互作用关系,有利于提高套鼓组件的进一步研发和感光鼓装配线的合格率。
38.以上所述的实施例,只是本实用新型较优选的具体实施方式,本说明书使用词组“在一种实施例中”、“在另一个实施例中”、“在又一实施例中”或“在其他实施例中”,其均可指代根据本公开的相同或不同实施例中的一个或多个。本领域的技术人员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。
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