平板式光纤微弯测试装置的制作方法

文档序号:29766012发布日期:2022-04-22 11:00阅读:98来源:国知局
平板式光纤微弯测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及光纤测试技术领域,特别是涉及一种平板式光纤微弯测试装置。


背景技术:

2.光纤的光学性能除了常规的性能指标以外,还有部分定性的指标,光纤微弯损耗就是其中一个,它反映了光纤抗环境中外力造成的光纤损耗问题。
3.微弯损耗是由于光纤轴线微小的畸变造成的损耗,这些轴线上微小的畸变是由于光纤受到不均匀的应力作用。不同的光纤对微弯的敏感性不同,要衡量其敏感性差异程度,就要对光纤微弯附加损耗进行测试。然而,由于光纤微弯的变形量或者弯曲半径极小,并且有一定的随机性,在光纤微弯附加损耗的测试方法中最难的是要能模拟光纤产生微弯的场景,并且操作简单、有重复性,这是一直以来困扰光纤测试业界的难题。
4.目前光纤的微弯敏感性测量方法主要有可膨胀圆筒法、固定直径圆筒法和金属网格法,都存在一定的局限性和操作不稳定性,且测试时光纤的宏弯损耗会存在一定的干扰,影响测试结果的准确性。


技术实现要素:

5.本实用新型主要解决的技术问题是提供一种平板式光纤微弯测试装置,采用两块平行钢板作为施加力和弯曲的载体,平板压力可在线调整,能够有效规避圆筒法测试时光纤宏弯损耗所产生的影响,更精准地定性光纤微弯时的附加衰减变化,判断光纤是否拥有良好的微弯不敏感性能,对评估光纤的微弯敏感性提供了有效依据。
6.为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种平板式光纤微弯测试装置,包括:
7.一弯曲载体,用于摆放受试光纤,所述弯曲载体上表面设有粗糙面;
8.一施压载体,所述施压载体的底表面设有光滑面,施压载体正上方设有配重砝码;
9.将受试光纤设于粗糙面和光滑面之间使受试光纤产生微弯,然后通过配重砝码对受试光纤施加压力使其产生附加衰减。
10.在本实用新型一个较佳实施例中,所述弯曲载体为一固定钢板,固定钢板呈水平设置,受试光纤以正弦曲线的方式均匀分布在固定钢板上表面。
11.在本实用新型一个较佳实施例中,所述施压载体为一上压钢板,上压钢板与固定钢板平行设置,配重砝码设于上压钢板的正上方中间位置。
12.在本实用新型一个较佳实施例中,所述配重砝码的规格范围为1-20kg。
13.在本实用新型一个较佳实施例中,所述固定钢板和上压钢板的形状互相匹配,固定钢板的长度≥350mm,固定钢板的宽度≥350mm,固定钢板的厚度为7-12mm,上压钢板长度大于固定钢板长度10mm,上压钢板的宽度大于固定钢板的宽度10mm。
14.在本实用新型一个较佳实施例中,所述粗糙面设于固定钢板上表面,所述光滑面设于上压钢板底表面,粗糙面的材料采用砂纸或喷砂,粗糙面的尺寸略小于固定钢板的尺
寸,砂纸或喷砂的粗糙度为335-398目。
15.在本实用新型一个较佳实施例中,所述固定钢板的尺寸大小为600
×
600
×
10mm,粗糙面的尺寸为500
×
500mm,砂纸或喷砂的粗糙度为370目,受试光纤的长度在1km以上。
16.在本实用新型一个较佳实施例中,所述砂纸通过粘贴方式进行连接,所述喷砂通过涂覆方式进行连接。
17.本实用新型的有益效果是:本实用新型平板式光纤微弯测试装置采用平板法在线测试光纤的微弯敏感性,平板压力可以在线调整,能够有效规避圆筒法测试时光纤宏弯损耗所产生的影响;结构简单、操作方便,能够更精准地定性光纤微弯时的附加衰减变化,判断光纤是否拥有良好的微弯不敏感性能,对评估光纤的微弯敏感性提供了有效依据。
附图说明
18.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图,其中:
19.图1是本实用新型的平板式光纤微弯测试装置一较佳实施例的结构示意图;
20.附图中各部件的标记如下:100、固定钢板,110、粗糙面,200、上压钢板,210、光滑面,300、配重砝码,400、受试光纤。
具体实施方式
21.下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
22.请参阅图1,本实用新型实施例包括:
23.实施例一
24.一种平板式光纤微弯测试装置,包括弯曲载体和施压载体,弯曲载体用于摆放受试光纤400,弯曲载体上表面设有粗糙面110;施压载体设于弯曲载体上方,施压载体的底表面设有光滑面210,施压载体正上方设有配重砝码300。
25.测试时,将受试光纤400设于粗糙面110和光滑面210之间,使受试光纤产生微弯,然后通过配重砝码300对受试光纤施加压力使其产生附加衰减。
26.实施例二
27.一种平板式光纤微弯测试装置,包括弯曲载体和施压载体,所述弯曲载体为一固定钢板100,所述施压载体为一上压钢板200,所述固定钢板100呈水平设置,所述上压钢板200与固定钢板100平行设置。
28.固定钢板100作为受试光纤摆放的平台和力的传输媒介,需保证固定钢板100的水平和力的传输均匀。
29.所述固定钢板100和上压钢板200的形状互相匹配,固定钢板100的长度≥350mm,固定钢板100的宽度≥350mm,固定钢板100的厚度为7-12mm,上压钢板200长度大于固定钢
板100长度10mm,上压钢板200的宽度大于固定钢板100的宽度10mm。
30.具体地,在一些优选实施例中,固定钢板100的尺寸大小为600
×
600
×
10mm,上压钢板200的尺寸大小为610
×
610
×
10mm,受试光纤的长度在1km以上。
31.整盘受试光纤400的长度在1km以上,受试光纤400以正弦曲线的方式均匀分布在固定钢板100上表面,配重砝码300设于上压钢板200的正上方中间位置。
32.配重砝码300用于向受试光纤施加受力,挤压的受力可以通过配重砝码300进行调节,所述配重砝码300的规格范围为1-20kg,在不同的受压力下,得到微弯效应所产生不同的附加衰减。
33.进一步地,粗糙面110的材料采用砂纸或喷砂,纸或喷砂的粗糙度为335-398目。
34.固定钢板100上表面设有粗糙面110,上压钢板200底表面设有光滑面210,受试光纤400以正弦曲线方式均匀分布在粗糙面110和光滑面210之间,使光纤受力时产生微弯。
35.其中,粗糙面110的材料采用砂纸或喷砂,砂纸通过粘贴方式进行连接,喷砂通过涂覆方式进行连接。砂纸或喷砂的粗糙度是选定的,其粗糙度范围为335-398目,粗糙面110的尺寸略小于固定钢板100的尺寸。
36.具体地,在一些优选实施例中,砂纸或喷砂的粗糙度为370,粗糙面的尺寸为500
×
500mm。
37.实施例三
38.一种光纤微弯测试方法,采用实施例二所述的平板式光纤微弯测试装置,然后通过使用光时域反射仪测试光纤的衰减,测量方法为后向散射法:将测试光纤盘的外端通过熔接光纤连接器或裸纤适配器,接入光时域反射计进行测试;测试中光时域反射计使用最小二乘法(lsa)计算光纤的衰减,此方法可忽略光纤中可能的熔接或接头损耗对光纤链路测试造成的影响;光纤衰减测试中,应选择光纤测试曲线中的线性区域,避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域,测试两点间的光纤衰减(db/km);然后更改光时域反射计的测试波长,分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析。
39.光时域测试仪是利用光的后向散射原理制作的,所谓后向散射就是光传输的过程中发生瑞利散射,其中向光波输入端方向传输的这部分光就称为后向散射光。
40.具体的测量步骤为:
41.s1、在恒温恒湿条件下,温度21-25℃,相对湿度45-55%,将受试光纤以正弦曲线方式均匀摆放在固定钢板的粗糙面表面,必要时使用辅助胶片固定光纤,避免光纤交叉和重叠;
42.s2、然后将上压钢板压在光纤固定钢板表面,上压钢板和固定钢板闭合,受试光纤置于粗糙面和光滑面之间,然后增加配重砝码,通过调节配重砝码来调节对受试光纤的施加压力,受试光纤的施加压力为≥2n/m;
43.s3、打开光时域反射仪的电源,选择测量窗口,调节折射率,将尾纤连入光时域测试仪中光波发射器的驱动端,设置脉冲宽度为10ms,根据受试光纤的长度设置测量范围;
44.s4、将受试光纤的两头用剥线钳将涂覆层剥离,露出纤芯,并用刀具将纤芯切断,通过v型槽将受试光纤与尾纤通过裸纤适配器连接或直接用熔接机熔接,记录受试光纤的初始衰减值a0;
45.s5、测试中光时域反射仪使用最小二乘法计算受试光纤衰减,光纤衰减测试中应
选择光纤测试曲线中的线性区域,避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域,测试两点间的光纤衰减,然后更改光时域反射计的测试波长,分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析;
46.s6、当受试光纤长度大于3m时,受试光纤在不同施加压力的作用下得到微弯效应所产生不同的附加衰减值a1,通过衰减增加值来计算光纤的微弯敏感性,
47.所述微弯敏感性的计算公式为:微弯敏感性=,其中:
48.a1为受试光纤在被施压压力后光纤衰减值,db/km;
49.a0为受试光纤初始衰减值,db/km;
50.p为配重砝码和上压钢板重量之和产生的施加压力,n。
51.本实用新型平板式光纤微弯测试装置的有益效果是:
52.采用平板法在线测试光纤的微弯敏感性,平板压力可以在线调整,能够有效规避圆筒法测试时光纤宏弯损耗所产生的影响;
53.结构简单、操作方便,能够更精准地定性光纤微弯时的附加衰减变化,判断光纤是否拥有良好的微弯不敏感性能,对评估光纤的微弯敏感性提供了有效依据。
54.以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
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