一种探针模组、压接治具及压接测试装置的制作方法

文档序号:29536158发布日期:2022-04-07 04:03阅读:104来源:国知局
一种探针模组、压接治具及压接测试装置的制作方法

1.本实用新型属于探针技术领域,更具体地,涉及一种探针模组、压接治具及压接测试装置。


背景技术:

2.面板、集成电路、半导体等产品,为了保证产品质量,在生产过程中会进行各种测试,在这些测试过程中,需要用到各种压接单元,这些压接单元上的探针模组一端接触产品的测试点,另一端接触pcb/fpc等上的测试点,pcb/fpc等再与其它传输单元或测试设备连接,从而实现对产品的导通。
3.当前面板、集成电路、半导体等产品精细化程度越来越高,体积越来越小,相应的其上的测试点间距越来越小,而pcb/fpc等由于自身加工制作工艺的局限,加工难度大,使得其上测试点的间距较大,无法与面板、集成电路、半导体等产品上测试点间距相匹配,导致无法实现产品的导通。


技术实现要素:

4.针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本实用新型提供了一种探针模组、压接治具及压接测试装置,其目的在于可以增大探针的一端之间的布置间距,从而实现对pcb/fpc上测试点的导通,进而实现对产品的导通。
5.第一方面,本实用新型提供了一种探针模组,所述探针模组包括固定组件和多个探针;
6.所述固定组件包括固定座和盖板,所述固定座和所述盖板可拆卸地连接在一起,且所述固定座和所述盖板之间形成空腔;
7.各所述探针均为z形结构,多个所述探针间隔布置在所述空腔中,且各所述探针的两端分别贯穿所述固定座和所述盖板,且任意两个相邻所述探针的一端的间距大于两个所述探针的另一端的间距。
8.可选地,所述固定座和所述盖板上具有多个间隔布置的通孔,多个所述通孔和多个所述探针一一对应,各所述探针的两端插装在相对应的所述通孔中。
9.可选地,所述固定座为方形结构或者圆形结构。
10.可选地,所述固定组件还包括多个探针片板,各所述探针片板均平行间隔插装在所述固定座中,且各所述探针片板均为z形结构,且各所述探针片板和多个所述探针之间均通过绝缘件连接在一起。
11.可选地,各所述探针片板包括两个间隔布置的板体,多个所述探针对称布置在两个所述板体之间,且两个所述板体和多个所述探针之间均通过绝缘胶粘接在一起。
12.可选地,各所述探针片板和各探针均包括第一端部、中间部和第二端部,所述第一端部和所述第二端部竖直布置,所述中间部的两端分别连接所述第一端部和所述第二端部。
13.可选地,各所述探针均包括依次连接的本体、弹性部和针尾,所述弹性部为弹性结构。
14.可选地,任意两个相邻所述探针的一端的间距为0.2-1mm,两个相邻所述探针的另一端的间距为0.05-0.2mm。
15.第二方面,本实用新型还提供了一种压接治具,所述压接治具包括如第一方面所述探针模组。
16.第三方面,本实用新型还提供了一种压接测试装置,所述压接测试装置包括如第一方面所述探针模组。
17.本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
18.对于本实用新型实施例提供的一种探针模组,首先,将各探针安装在固定座的空腔中。然后,将盖板安装在固定座上,并使得探针的两端分别出固定座和盖板。此时,探针的顶部可以用来连通产品的测试点,探针的底部可以用来连接pcb/fpc的测试点。
19.进一步地,各探针均为z形结构,多个探针间隔布置在空腔中,且任意两个相邻探针的一端的间距大于两个探针的另一端的间距(在x轴方向和y轴方向上),这样使得探针的底部的间隔均大于探针的顶部的间隔,这样就可以增大探针的底部的间距,降低pcb/fpc上测试点设置间距的要求,从而降低pcb/fpc的加工难度,满足对产品的导通。
20.也就是说,本实用新型实施例提供的一种探针模组可以增大探针的一端之间的布置间距,从而实现对pcb/fpc上测试点的导通,进而实现对产品的导通。
附图说明
21.图1是本实用新型实施例提供的一种探针模组的结构示意图;
22.图2是本实用新型实施例提供的一种探针模组的剖视图;
23.图3是本实用新型实施例提供的另一种探针模组的第一视图;
24.图4是本实用新型实施例提供的另一种探针模组的第二视图;
25.图5是本实用新型实施例提供的探针片板的结构示意图;
26.图6是图3的局部放大图;
27.图7是图4的局部放大图;
28.图8是图5的侧视图;
29.图9是图5的局部放大图。
30.图中各符号表示含义如下:
31.1、固定组件;11、固定座;12、盖板;13、通孔;14、探针片板;141、板体;142、限位部;2、探针;21、本体;22、弹性部;23、针尾;3、第一端部;4、中间部;5、第二端部。
具体实施方式
32.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。此外,下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
33.图1是本实用新型实施例提供的一种探针模组的结构示意图,图2是本实用新型实
施例提供的一种探针模组的剖视图,结合图1和图2所示,该探针模组包括固定组件1和多个探针2。
34.固定组件1包括固定座11和盖板12,固定座11和盖板12可拆卸地连接在一起,且固定座11和盖板12之间形成空腔。
35.各探针2均为z形结构,多个探针2间隔布置在空腔中,且各探针2的两端分别贯穿固定座11和盖板12,且任意两个相邻探针2的一端的间距大于两个探针2的另一端的间距。
36.对于本实用新型实施例提供的一种探针模组,首先,将各探针2安装在固定座11的空腔中。然后,将盖板12安装在固定座11上,并使得探针2的两端分别出固定座11和盖板12。此时,探针2的顶部可以用来连通产品的测试点,探针2的底部可以用来连接pcb/fpc的测试点。
37.进一步地,各探针2均为z形结构,多个探针2间隔布置在空腔中,且任意两个相邻探针2的一端的间距大于两个探针2的另一端的间距(在x轴方向和y轴方向上),这样使得探针2的底部的间隔均大于探针2的顶部的间隔,这样就可以增大探针2的底部的间距,降低pcb/fpc上测试点设置间距的要求,从而降低pcb/fpc的加工难度,满足对产品的导通。
38.也就是说,本实用新型实施例提供的一种探针模组可以增大探针2的一端之间的布置间距,从而实现对pcb/fpc上测试点的导通,进而实现对产品的导通。
39.需要说明的是,探针2顶部可以为圆形或者矩形。
40.示例性地,任意两个相邻探针2的一端的间距为0.2-1mm,两个相邻探针2的另一端的间距为0.05-0.2mm。
41.例如:探针2的底部间距为0.2mm,探针2的顶部间距为0.05mm。
42.在本实施例的一种实现方式中:固定座11和盖板12上具有多个间隔布置的通孔13,多个通孔13和多个探针2一一对应,各探针2的两端插装在相对应的通孔13中。
43.在上述实施方式中,通孔13起到插装探针2的作用,另外,通过通孔13可以将多个探针2隔开,使得各探针2相互独立。
44.示例性地,固定座11可以为方形结构或者圆形结构,本实用新型实施例对此不作限制。
45.在本实施例的另一种实现方式中:图3是本实用新型实施例提供的另一种探针模组的第一视图,图4是本实用新型实施例提供的另一种探针模组的第二视图,图5是本实用新型实施例提供的探针片板的结构示意图,结合图3、图4和图5所示,固定组件1还包括多个探针片板14,各探针片板14均平行间隔插装在固定座11中,且各探针片板14均为z形结构,且各探针片板14和多个探针2之间均通过绝缘件连接在一起。
46.在上述实施方式中,一方面,探针片板14起到连接多个探针2的作用,并插装在固定座11中。另一方面,通过探针片板14可以将多个探针2呈列布置,组装好一片探针片板14就意味着组装好了多根探针2,这种方式大大降低了探针2的组装难度及工作量,对于组装效率也有极大的提升。另外,绝缘件对各探针2起到分隔和绝缘的作用。
47.图6是图3的局部放大图,图7是图4的局部放大图,结合图6和图7所示,在y轴方向上,各探针2的底部的间距m2大于探针2的顶部的间距m1,在x轴方向上,各探针2底部的间距l2大于探针2顶部的间距l1,这样使得探针2的底部在平面内x轴和y轴方向的间隔均大于探针2的顶部在平面内x轴和y轴方向的间隔。
48.示例性地,固定座11中具有方形孔,各探针片板14插装在方形孔的内壁上。
49.具体地,各探针片板14包括两个间隔布置的板体141,多个探针2对称布置在两个板体141之间,且两个板体141和多个探针2之间均通过绝缘胶粘接在一起。
50.在上述实施方式中,两个板体141对探针2的支撑更加稳定。绝缘件可以为绝缘胶,使得各探针2成为独立体,互不相连,分别对应不同的测试点进行转接传导。
51.示例性地,两个板体141分别插装在方形孔的两侧。
52.示例性地,各板体141的两端部均具有限位部142,方形孔内壁上具有多个限位槽,多个限位部142和多个限位槽一一对应,各限位部142插装在相对应的限位槽中。
53.图8是图5的侧视图,如图8所示,各探针片板14和各探针2均包括第一端部3、中间部4和第二端部5,第一端部3和第二端部5竖直布置,中间部4的两端分别连接第一端部3和第二端部5,从而实现探针2“上密下梳”的特点,降低pcb/fpc的加工难度。
54.需要说明的是,中间部4可以为弧形,也可以为直线形,本实用新型对此不作要求。
55.图9是图5的局部放大图,如图9所示,各探针2均包括依次连接的本体21、弹性部22和针尾23,弹性部22为弹性结构。
56.在上述实施方式中,弹性部22可以压缩产生弹力,避免针尾23和pcb/fpc的测试点硬接触。
57.本实用新型实施例还提供了一种压接治具,该压接治具包括如上述的探针模组。
58.本实用新型实施例还提供了一种压接测试装置,该压接测试装置包括如上述的探针模组。
59.本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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