一种激光器快轴指向检验装置的制作方法

1.本实用新型涉及激光器技术领域，具体涉及到一种激光器快轴指向检验装置。


背景技术：

2.激光器快轴指向是指激光器设计制造中，激光从激光芯片到垂直方向(快轴指向)整形光学元件(包括fac元件)传播过程，光轴偏离原轴向的角度值，该角度值在光学设计中允许偏差的范围往往在毫弧度级。现有fac元件装配工艺一般为胶水固化工艺，fac元件安装位置产生微小偏移都会对快轴指向产生非常大的影响，从而影响激光器整体制造工艺，快轴指向检验因此定义为激光器生产制造中关键检验项。
3.现有快轴指向检验手段通常利用市面上的全自动fac耦合系统，该系统集成了fac装调、fac指向检验等全自动功能，但该系统无法实现胶水固化工艺，由于fac指向检验动作在胶水固化工艺之后，胶水固化工艺又具有时间长的特点，为提升生产效率，fac装调和fac指向检验需要分开单独作业，该逻辑决定了不同的作业工位需要配置相应的设备，考虑到全自动fac耦合系统造价高昂，为缩减生产成本，有必要设计一种造价低，操作简单，能满足快轴指向检验要求的快轴指向检验平台。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种激光器快轴指向检验装置。
5.为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：一种激光器快轴指向检验装置，用于检验激光从激光芯片到整形光学元件的传播过程中光轴偏离原轴向的角度值，包括管壳、加电装置、标靶，所述激光芯片和整形光学元件设置在管壳上，所述整形光学元件位于激光芯片和标靶之间，所述加电装置用于向激光芯片通电，以使激光芯片产生激光且激光向整形光学元件传播，所述激光经过整形光学元件投射在标靶上。
6.进一步的，所述加电装置包括加电模块，所述加电模块与激光芯片连接，用于向激光芯片通电。
7.进一步的，所述加电模块包括两个金属探针，所述两个金属探针分别位于激光芯片正负极的正上方。
8.进一步的，所述金属探针外接有电源。
9.进一步的，所述加电装置包括剪式升降台，所述剪式升降台与加电模块连接，用于驱动加电模块上下活动。
10.进一步的，所述加电装置包括转接臂，所述转接臂用于连接剪式升降台与加电模块。
11.进一步的，所述管壳包括垫板，所述垫板用于固定安装管壳。
12.进一步的，所述标靶上设置有高度刻度。
13.进一步的，所述管壳上设置有pbs组合镜，所述pbs组合镜设置在整形光学元件和
标靶之间。
14.进一步的，所述整形光学元件为fac微透镜。
15.本实用新型的有益效果：由上述对本实用新型的描述可知，与现有技术相比，本实用新型的激光器快轴指向检验装置包括管壳、加电装置、标靶，所述激光芯片和整形光学元件设置在管壳上，所述整形光学元件位于激光芯片和标靶之间，所述加电装置用于向激光芯片通电，以使激光芯片产生激光且激光向整形光学元件传播，所述激光经过整形光学元件投射在标靶上。本实用新型采用光束转折元件实现光路外移，整个检验可在光学平台上进行，最后激光束射入标靶，通过移动标靶，测量远近距光点的位置变化，即可完成对快轴指向的检验。本实用新型设计解决了生产单位非必要配制高成本设备的情况，全自动fac耦合系统造价高昂，但fac指向检验仅需要实现检验功能的仪器，配制全自动fac耦合系统会面临fac装调功能闲置的问题，造成成本浪费。本实用新型造价低，实现了fac指向检验设计，满足供需关系，体现了资源利用最大化的效果。
附图说明
16.图1为本实用新型优选实施例中一种激光器快轴指向检验装置的立体结构示意图；
17.图2为本实用新型优选实施例中一种激光器快轴指向检验装置的局部结构的俯视示意图；
18.附图标记：1、激光芯片；2、整形光学元件；3、管壳；4、加电装置；5、标靶；31、垫板；32、pbs组合镜；41、加电模块；42、剪式升降台；43、转接臂。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。
20.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
21.参照图1-2所示，本实用新型的优选实施例，一种激光器快轴指向检验装置，用于检验激光从激光芯片1到整形光学元件2的传播过程中光轴偏离原轴向的角度值，包括管壳3、加电装置4、标靶5，所述激光芯片1和整形光学元件2设置在管壳3上，所述整形光学元件2位于激光芯片1和标靶5之间，所述加电装置4用于向激光芯片1通电，以使激光芯片1产生激光且激光向整形光学元件2传播，所述激光经过整形光学元件2投射在标靶5上。
22.本实用新型的激光器快轴指向检验装置包括管壳3、加电装置4、标靶5，所述激光芯片1和整形光学元件2设置在管壳3上，所述整形光学元件2位于激光芯片1和标靶5之间，所述加电装置4用于向激光芯片1通电，以使激光芯片1产生激光且激光向整形光学元件2传播，所述激光经过整形光学元件2投射在标靶5上。本实用新型采用光束转折元件实现光路外移，整个检验可在光学平台上进行，最后激光束射入标靶5，通过移动标靶5，测量远近距
光点的位置变化，即可完成对快轴指向的检验。本实用新型设计解决了生产单位非必要配制高成本设备的情况，全自动fac耦合系统造价高昂，但fac指向检验仅需要实现检验功能的仪器，配制全自动fac耦合系统会面临fac装调功能闲置的问题，造成成本浪费。本实用新型造价低，实现fac了指向检验设计，满足供需关系，体现了资源利用最大化的效果。
23.作为本实用新型的优选实施例，其还可具有以下附加技术特征：
24.在本实施例中，所述加电装置4包括加电模块41，所述加电模块41与激光芯片1连接，用于向激光芯片1通电。加电装置4包括加电模块41，通过加电模块41向芯片通电。
25.在本实施例中，所述加电模块41包括两个金属探针，所述两个金属探针分别位于激光芯片1正负极的正上方，所述金属探针外接有电源。加电模块41包括两个金属探针，金属探针外接电源，将金属探针设置在激光芯片1正负极的正上方，以便对激光芯片1进行通电。本实用新型考虑到激光器设计上具有激光芯片1微型化、耦合平台精密化的特点，采用细直金属探针对激光芯片1通电，设计上保证了加电过程不与其他微型器件发生干涉。
26.在本实施例中，所述加电装置4包括剪式升降台42，所述剪式升降台42与加电模块41连接，用于驱动加电模块41上下活动。加电装置4包括剪式升降台42，通过剪式升降台42驱动加电模块41上下活动，以便对激光芯片1通电。
27.在本实施例中，所述加电装置4包括转接臂43，所述转接臂43用于连接剪式升降台42与加电模块41。加电装置4包括转接臂43，通过转接臂43连接剪式升降台42与加电模块41。
28.在本实施例中，所述管壳3包括垫板31，所述垫板31用于固定安装管壳3。管壳3包括垫板31，通过垫板31固定安装管壳3。
29.在本实施例中，所述标靶5上设置有高度刻度。标靶5上设置有高度刻度，使用时移动标靶5位置以测量远近距光点的位置变化，计算光轴偏离原轴向的角度值，完成对快轴指向的检验。
30.在本实施例中，所述管壳3上设置有pbs组合镜32，所述pbs组合镜32设置在整形光学元件2和标靶5之间。其中，pbs组合镜32为偏振合束镜的简称，管壳3上设置有pbs组合镜32，pbs组合镜32设置在整形光学元件2和标靶5之间，由于激光传输检测需要较大距离，本实用新型采用光束转折元件pbs组合镜32实现光路外移，使本实用新型的检测可以在一般大小的光学平台上进行，。
31.在本实施例中，所述整形光学元件2为fac微透镜。整形光学元件2为fac微透镜，以测试fac微透镜的快轴指向检验。
32.在不出现冲突的前提下，本领域技术人员可以将上述附加技术特征自由组合以及叠加使用。
33.可以理解，本实用新型是通过一些实施例进行描述的，本领域技术人员知悉的，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，可以对这些特征和实施例进行各种改变或等效替换。另外，在本实用新型的教导下，可以对这些特征和实施例进行修改以适应具体的情况及材料而不会脱离本实用新型的精神和范围。因此，本实用新型不受此处所公开的具体实施例的限制，所有落入本技术的权利要求范围内的实施例都属于本实用新型所保护的范围内。