一种转盘式电容测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及电容性能测试装置技术领域，具体为一种转盘式电容测试装置。


背景技术：

2.片式电容，如钽电容、固态铝电容等，在生产中需要效率高、成本较低的测试装置，是一种两端设有电极的电容。随着片式电容的技术发展，出现了容值较大、耐压较高、尺寸较小的电容品种，这种电容可代替如尺寸较大的薄膜电容及其它传统电容，应用于对可靠性要求较高的领域。为了保证电容的性能，需要在生产完成后对这些电容进行测试，例如容量、损耗、esr交流测试、漏电流等多种参数。
3.传统的测试装置一般采用轨道式，例如公开号为cn210753855u的专利公开的一种用于电子元器件的检测设备，其包括上料区、检测区、下料区、设置在上料区和下料区之间的呈直线的输送轨道，上料区将装载有电容的统一装载盒放置在输送轨道上，然后通过检测区的检测探针板对统一装载盒内的电容进行检测，之后通过下料区将检测后的统一装载盒进行下料，采用上述结构的测试装置长度较长，不利于空间布置，同时，各个区域之间需要额外通过机构来转移装载盒，导致设备结构复杂。


技术实现要素：

4.针对传统轨道式的测试装置长度较长、使用不便、结构复杂的问题，本实用新型提供了一种转盘式电容测试装置，其采用转盘作为检测台，有效缩短了测试装置的长度同时简化设备结构，便于操作使用。
5.其技术方案是这样的：一种转盘式电容测试装置，其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区安装有上料装置，所述检测区安装有用于电容加电或检测的探针板，所述下料区安装有下料装置，其特征在于：其还包括步进式转盘，所述上料区、所述检测区和所述下料区分别均匀分布在所述步进式转盘上，所述步进式转盘上还均匀开设有多个定位槽，每个定位槽内用于放置多个待检测的电容或者用于放置装载有多个电容的装载盒，所述定位槽沿所述步进式转盘的半径方向分布，所述上料装置用于将电容或者装载盒置于所述定位槽内，所述下料装置用于将电容或者装载盒从所述定位槽内取出，所述探针板上分布有探针用于与对应的定位槽内的电容或者装载盒中的电容分别连接。
6.其进一步特征在于：
7.相邻的所述定位槽的间隔角度为a，所述检测区还包括大于等于一个的检测工位，当所述检测工位的数量大于1时，各个所述检测工位之间间隔的角度为d，d=n
×
a，n为正整数；
8.相邻的所述定位槽的间隔角度为a，所述上料区和所述检测区之间的间隔角度为b，所述检测区和所述下料区的间隔角度为c，b=l
×
a，c=m
×
a，l、m分别为正整数；
9.所述检测区包括漏电流测量工位、容量损耗测量工位、esr值测量工位和电流浪涌试验工位中的一种或多种，当所述检测区包括漏电流测量工位时，所述漏电流测量工位之
前还安装有加电工位；
10.待检测电容呈条带状，每个所述定位槽用于容纳条带状电容，所述探针板上的探针分布方式与条带状电容的引脚分布方式相对应；
11.待检测电容呈颗粒状，每个所述定位槽内设有用于容纳单个电容的容纳槽；
12.所述电容的电极位于其一端，所述探针板上的探针分布方式与所述电极的分布方式相对应；
13.所述电极朝上布置，所述探针板位于所述步进式转盘上方并且用于在检测时向下移动使其探针压覆在所述电极上；
14.所述电极朝下布置，所述容纳槽底部开设有用于探针伸入的贯穿孔，所述贯穿孔的位置与电容的电极的位置相对应，所述探针板包括位于所述步进式转盘上方的抵压探针板和位于所述步进式转盘下方的测试探针板，所述抵压探针板上连接有抵压探针用于压覆在电容上方，所述测试探针板包括测试探针用于穿过所述贯穿孔与所述电极接触；
15.所述电容的电极位于其上下两端，所述容纳槽底部开设有用于探针伸入的贯穿孔，所述贯穿孔的位置与电容的电极的位置相对应，所述探针板包括位于所述步进式转盘上方的下压探针板和位于所述步进式转盘下方的上压探针板，所述下压探针板和所述上压探针板上分别连接有测试探针，所述下压探针板的测试探针和所述上压探针板的测试探针分别用于与电容上方和下方的电极接触。
16.采用了这样的结构后，通过采用转盘作为承载电容的装置，相较于轨道式的测试装置，能够有效缩减装置长度，同时不需要额外在上下料区与检测区之间设置用于转移电容的转移机构，能够简化设备，便于使用。
附图说明
17.图1为本实用新型结构示意图；
18.图2为本实用新型俯视示意图；
19.图3条带状电容示意图；
20.图4为电极位于同一端的电容在测试时的示意图；
21.图5为电极位于上下两端的电容在测试时的示意图。
具体实施方式
22.如图1、图2所示的一种转盘式电容测试装置，其包括上料区、检测区和下料区，上料区安装有上料装置1，检测区安装有用于电容加电或检测的探针板2，下料区安装有下料装置，其还包括步进式转盘3，上料区、检测区和下料区分别均匀分布在步进式转盘3上，步进式转盘3上还均匀开设有多个定位槽4，每个定位槽4内用于放置多个待检测的电容，或者也可以直接将装有电容的装载盒置入定位槽4中，定位槽4沿步进式转盘3的半径方向分布，上料装置1（例如上料漏斗或者上料吸盘）用于将电容或者装载盒置于定位槽4内，下料装置（例如吸盘）用于将电容或者装载盒从定位槽4内取出，探针板2上分布有探针用于与对应的定位槽内的电容或者装载盒中的电容分别连接，通过探针将电容接入到测试电路（测试表）或者加电电路中，由于直接对装载盒中电容进行测试的方式与背景技术中提到的测试方式类似，本实施例以直接在定位槽内放置电容的方式来进行描述。
23.所谓的步进式转盘即每次转动一个固定角度后停止一段时间的转盘，停止的时间根据用时最长的工位所需时间来定，其可以通过与步进电机连接来进行驱动，为此，相邻的定位槽4的间隔角度为a，检测区还包括大于等于一个的检测工位，当检测工位的数量大于1时，各个检测工位之间间隔的角度为d，d=n
×
a，n为正整数，使得转盘每次转动一个或者多个a角度后，定位槽会位于每个检测工位处，从而可以对每个定位槽都能进行检测。
24.另外，由于上料可以是静态上料（转盘静止时上料）也可以是动态上料（转盘转动时上料，图示为动态上料），当静态上料时，相邻的定位槽的间隔角度为a，上料区和检测区之间的间隔角度为b，检测区和下料区的间隔角度为c，b=l
×
a，c=m
×
a，l、m分别为正整数，这样就使得转盘转动一个或者多个a角度后，定位槽会位于上料区、下料区进行上下料，从而可以对每个定位槽进行上下料。
25.检测区具体包括漏电流测量工位、容量损耗测量工位、esr值测量工位和电流浪涌试验工位中的一种或多种，当检测区包括漏电流测量工位时，漏电流测量工位之前还安装有加电工位。
26.由于片式电容形态各异，当待检测电容呈如图3所示的条带状时，每个定位槽用于容纳条带状电容，探针板上的探针分布方式与条带状电容的引脚分布方式相对应，通过控制探针板下压使其探针压覆在条带状电容的引脚上，从而将电容接入检测、加电电路中。
27.而当待检测电容呈颗粒状时，每个定位槽4内设有用于容纳单个电容的容纳槽5，每个容纳槽放置有一颗电容。
28.当电容为例如钽电容的电容的电极位于其一端的电容时，探针板2上的探针分布方式与电极的分布方式相对应。具体的，如果电极朝上布置，探针板则位于步进式转盘3上方并且用于在检测时在上下移动机构（例如气缸）的驱动下向下移动使其探针压覆在电极上。而当，电极朝下布置，结合图4所示，容纳槽5底部开设有用于探针伸入的贯穿孔6，贯穿孔6的位置与电容的电极的位置相对应，探针板2包括位于步进式转盘上方的抵压探针板21和位于步进式转盘下方的测试探针板22，抵压探针板21上连接有抵压探针23用于压覆在电容上方，测试探针板22包括测试探针24用于穿过贯穿孔6与电极接触，这样通过上方的探针来抵住电容使得下方的探针能够压在电容电极上。
29.当电容的电极位于其上下两端时（例如陶瓷电容），容纳槽5底部开设有用于探针伸入的贯穿孔6，贯穿孔6的位置与电容的电极的位置相对应，探针板包括位于步进式转盘2上方的下压探针板25和位于步进式转盘下方的上压探针板26，下压探针板25和上压探针板26上分别连接有测试探针24，下压探针板25的测试探针24和上压探针板26的测试探针24分别用于与电容上方和下方的电极接触。
30.另外，其还可以包括外观检测工位，通过摄像头进行拍摄检测电容外观，还可以设置筛选工位来筛选不合格的电容，容量损耗测量工位可以与esr值测量工位合并为一个工位，也可分为两个工位，也可以有两组充电工位及漏电流测试工位，在esr测试工位，探针卡采用4针开尔文方式测试测试每一个电容，探针板一次压在当前电容组的所有电容的电极上。
31.以上为片式电解电容转盘式测试装置的方案，转盘运动结构比较简单，各工位探针布局也很容易，上下料操作也容易实现，所有操作的动作速度均是较慢的动作，容易以简单结构实现，既容易提高设备的可靠性，也大幅降低了设备的成本，适合有较大容量的片式
电容的全自动测试。