一种用于大尺寸测试座的杠杆结构的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试领域，特别是一种用于大尺寸测试座的杠杆结构。


背景技术：

2.芯片的功能测试是芯片研发和生产中必不可少的重要步骤，而芯片测试座为功能测试的关键治具，测试座功能是将芯片定位后通过导体探针将芯片上的芯片球与线路板之间建立电子信号和电流传输，从而达到测试目的。
3.对于大尺寸的芯片而言，其芯片球数通常在1000个球以上，故相应的测试座的尺寸也要达到要求，在实际测试时，现有的大尺寸的测试座需要较大的压力来完成下压，下压困难，且测试座的结构复杂，加工精度要求高，导致加工成本较高。


技术实现要素：

4.为解决上述问题，本实用新型提出了一种用于大尺寸测试座的杠杆结构。
5.本实用新型的主要内容包括：
6.一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，包括浮动设置在测试座基座两侧的两个浮动支撑件；所述浮动支撑件包括浮动座以及设置在所述浮动座下方的复位弹簧；其中一个所述浮动座上转动连接有测试座盖体；所述浮动支撑件内设置有连动轴，所述连动轴具有铣扁结构；所述连动轴连接有压杆，所述压杆带动所述连动轴转动，使其在第一位置和第二位置之间转换；所述连动轴处于第一位置时，测试座处于打开状态下；所述连动轴处于第二位置时，测试座处于测试状态。
7.优选的，测试座基座的两侧开设有浮动槽体，所述浮动座通过所述复位弹簧浮动设置在所述浮动槽体内。
8.优选的，所述浮动槽体的两个相对的侧壁开设有浮动轴孔；所述浮动座内开设有轴放置槽体，所述连动轴在所述放置槽体内在第一位置和第二位置转动，所述连动轴的两端穿过所述浮动轴孔延伸至测试座基座外。
9.优选的，所述压杆包括第一压杆体、第二压杆体和连接在第一压杆体和第二压杆体一端的压杆把手；所述第一压杆体和第二压杆体的另一端与其中一个所述连动轴的两端连接。
10.优选的，所述连动轴包括轴本体以及设置在轴本体两端的两个轴连接头，所述轴本体呈圆柱体且具有一个铣平面；所述轴连接头的横截面为多边形；所述第一压杆体和第二压杆体的另一端开设有呈四边形的轴连接孔，所述轴连接头配置在所述轴连接孔内。
11.优选的，还包括连杆单元，所述连杆单元的一端与所述压杆连接，所述压杆与其中一个所述连动轴连接，所述连杆单元的另一端与另一个所述连动轴连接。
12.优选的，所述连杆单元包括第一连杆体和第二连杆体，所述第一连杆体的一端与另一个所述连动轴连接，所述第二连杆体的一端与所述第一连杆体的另一端转动连接，其另一端与所述压杆转动连接。
13.优选的，所述压杆上设置有压杆凸起，所述第二连杆体上设置有连杆凸起，当所述压杆带动所述连动轴转动时，所述压杆凸起通过所述连杆凸起推动所述第二连杆体向着所述第一连杆体水平运动；在测试状态下，所述压杆凸起抵压在所述第二连杆体上，所述复位弹簧处于压缩状态。
14.优选的，测试座基座的四角开设有块放置槽，所述块放置槽内浮动设置有支撑块，所述压杆的一端配置在所述支撑块上。
15.优选的，所述浮动槽体底部开设有导向槽，所述浮动座底部向下延伸设置有导向柱，所述导向柱配置在所述导向槽内。
16.与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：
17.(1)通过压杆带动具有铣扁结构的连动轴，使其在第一位置和第二位置之间转动时，即可实现测试座在打开状态和测试状态之间切换，操作简便；
18.(2)通过设置连杆单元，与所述压杆共同作用，利用杠杆原理，施加较小的作用力即可满足测试下压力的需求，方便了测试人员的操作。
附图说明
19.图1为本实用新型的整体结构示意图；
20.图2为本实用新型打开状态下的结构示意图；
21.图3为本实用新型测试状态下的结构示意图；
22.附图标记：
23.1-基座；100-容置空间；110-浮动槽体；111-导向槽；120-复位弹簧；2-上盖；20-上盖框架；21-卡扣板；22-散热组件；23-轴安装座；31-压杆；310-第一压杆体；311-第二压杆体；312-压杆把手；313-压杆凸起；314-轴连接孔；315-连接安装孔；32-连杆单元；320-连杆凸起；321-第一连杆体；322-第二连杆体；323-连杆安装孔；4-芯片；
24.5-探针固定组件；50-探针；51-第一固定板；52-第二固定板；6-ic放置板；60-导向通孔；70-浮动座；700-轴放置槽体；701-浮动轴孔；71-连动轴；710-轴本体；711-铣平面；712-轴连接头；72-支撑块；720-块放置槽；73-导向柱。
具体实施方式
25.以下结合附图对本实用新型所保护的技术方案做具体说明。
26.请参阅图1至图3。本实用新型提出一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，所述测试座包括基座1和上盖2，其中，所述基座的中心具有容置空间100，用于固定放置探针固定组件5 和ic放置板，具体地，所述探针固定组件5包括上下设置的第一固定板51和第二固定板52，用于连通芯片4和用于测试的pcb板的探针50被固定放置其内，同时将芯片4放置在ic放置板6上，在所述ic放置板6上开设有使探针50穿过的导向通孔60，当所述芯片4被上盖 2下压时，所述ic放置板6带动所述芯片4向下运动而使得探针50与芯片稳定接触。
27.本实用新型提出了的杠杆结构能够为上盖2下压提供下压压力。
28.实施例一
29.在本实施例中，在所述基座2的两侧开设有浮动槽体110，在所述浮动槽体110内设置有浮动支撑件，所述浮动支撑件包括浮动座70以及复位弹簧120，所述复位弹簧120设置
在所述浮动座70和浮动槽体110之间；进一步地，在所述浮动座70内开设有轴放置槽体700，同时，在所述浮动槽体110的两个相对的侧壁开设有浮动轴孔701，在所述轴放置槽体700 内放置有连动轴71，所述连动轴71的两端穿过所述浮动轴孔701延伸至所述基座2的外侧。
30.其中，所述连动轴71包括轴本体710和设置在所述轴本体710两端的轴连接头712，所述轴连接头712延伸出所述基座2的外侧，用于连接压杆31，而所述轴本体710呈圆柱状，且其具有铣扁结构，具体地，在所述轴本体710位于所述轴放置槽体700的一段的外周面铣出一铣平面711，从而使得所述连动轴71形成凸轮结构；在测试座打开状态下，所述连动轴 71的铣平面711面向轴放置槽体700，所述连动轴71处于第一位置；此时，所述复位弹簧 120处于初始状态，而当在测试状态下，所述连动轴71在压杆31的带动下发生转动而处于第二位置，即所述连动轴71的铣平面711不再面向轴放置槽700，而是其圆柱面抵压在所述浮动座70上，此时，所述复位弹簧120处于压缩状态。
31.所述连动轴71由第一位置变为第二位置，即使得测试座由打开状态变为测试状态，所述连动轴71的第一位置和第二位置之间的转变是在压杆31的操作下实现的。
32.具体地，在其中一个浮动座70上方还设置有一个轴安装座23，所述上盖2的一侧转动连接在所述轴安装座23上，同时，所述上盖2的另一侧通过卡扣板21卡扣在另一个浮动座 70上，从而使得所述上盖2能够随着所述浮动座70的上下浮动而同步运动，也即在所述浮动座70受连动轴71的下压力而向下运动时，所述上盖2也随着同时向下而对芯片4施压向下的压力，从而使得芯片4与探针50稳定接触。
33.而所述压杆31包括第一压杆体310和第二压杆体311以及连接所述第一压杆体310和第二压杆体311的压杆把手312，其中，所述第一压杆体310和第二压杆体311的一端开设有轴连接孔314，相应的连动轴701的轴连接头712配置在所述轴连接孔314内，在本实施例中，所述轴连接孔314为四边形结构，而所述轴连接头712的横截面为多边形结构712；更进一步地，所述第一压杆体310和第二压杆体311由两个呈钝角的杆体一体成型，操作时，人员抓住所述压杆把手312即可使得所述第一压杆体310和第二压杆体311同时带动所述连动轴71转动，而使得所述连动轴71在第一位置和第二位置之间转换。
34.此外，所述浮动槽体110底部开设有导向槽111，所述浮动座70底部向下延伸设置有导向柱73，所述导向柱73配置在所述导向槽111内。
35.实施例二
36.本实施例中与实施例一不同之处在于，所述杠杆结构还包括连杆单元32。
37.所述连杆单元32的一端与所述压杆31连接，所述压杆31与其中一个所述连动轴71连接，所述连杆单元32的另一端与另一个所述连动轴71连接。
38.具体地，所述连杆单元32包括第一连杆体321和第二连杆体322，所述第一连杆体321 的一端与另一个所述连动轴71连接，所述第二连杆体322的一端与所述第一连杆体321的另一端转动连接，其另一端与所述压杆31转动连接。
39.在本实施例中，所述第一连杆体321与相应的连动轴71的连接方式与所述第一压杆体 310和第二压杆体311和相应的连动轴71的方式相同，在此不再赘述；所述第一连杆体321 和第二连杆体322之间为轴连接，且第二连杆体322与所述第一压杆体310和所述第二压杆体311均为轴连接；更进一步地，所述第一压杆体310和第二压杆体311上设置有压杆凸起312，同时，在所述第二连杆体322上设置有连杆凸起320，使得由打开状态变为测试状态
时，当所述压杆31带动所述连动轴71转动时，所述第二连杆体322被所述压杆31推动而向着所述第一连杆体321水平运动，同时，所述压杆凸起312也能够通过所述连杆凸起320在一定程度上推动所述第二连杆体322向着所述第一连杆体321水平运动，而所述第一连杆体321 带动相应的连动轴71转动至第二位置；在测试状态下，所述压杆凸起312抵压在所述第二连杆体322上，此时所述复位弹簧120处于压缩状态。而当由测试状态变为打开状态时，所述压杆31带动相应的连动轴71转动时，连动所述第二连杆体322远离所述第一连杆体321水平移动，而使得所述第一连杆体321带动相应的连动轴71同时转动，即由第二位置变为第一位置，同时，所述复位弹簧120复位至初始状态。
40.在本实施例中，所述基座2的四角开设有块放置槽720，所述块放置槽720内浮动设置有支撑块72，所述压杆31和所述第一连杆体321的一端配置在所述支撑块72上。
41.此外，为了解决测试过程中的散热问题，在所述上盖2上设置有散热组件22，具体地，所述上盖2包括上盖框架20以及设置在所述上盖框架20内的散热组件22，在测试状态下，所述散热组件22的下表面与待测芯片4接触，在盖合所述上盖2时，所述上盖2上的散热组件22的下表面即与待测芯片4接触，而对其施加一定的力。优选的，所述散热组件22包括若干散热翅片。
42.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。