用于检测容器中破损的系统和方法与流程

1.本发明涉及用于检测密封容器中破损的系统和方法，特别是用于检测密封的气调食品容器(诸如托盘和袋)中破损的系统和方法。


背景技术：

2.气调包装(map)作为减少产品变质和延长保质期的一种方式，在食品包装工业中被广泛采用。map通常包括修改食品容器中伴随食品产品存在的气体的成分，使得其以最大化食品产品寿命的方式与标准大气成分区分开。这通常涉及提高以及降低食品包装内大气的氧气、氮气和/或二氧化碳比例。
3.当使用气调包装包装食品时，随着包装内的大气被允许恢复至标准大气成分，包装的任何不完全密封都会减少或完全抵消map过程所提供的延长的保质期。
4.为了试图识别具有破损的容器，即有进入包装的开口使包装不完全密封，包装被机械地测试。机械测试通常包括机械地挤压容器，并在密封包装内的压力增加并且包装抵抗机械挤压时确定预期反应。这种机械地测试包装的方法通常非常缓慢，这会限制最大生产速度，或者需要许多独立的通道来跟上较快的包装系统。此外，机械系统通常在可检测到的泄漏的尺寸方面受限，往往无法检测到1.0mm或更小的破损。
5.近期研发了激光技术，其可以准确且精确地识别，例如其的二氧化碳含量。这种激光技术是基于称为可调谐二极管激光吸收光谱法(tdlas)的原理，利用可调谐二极管激光和激光吸收光谱法测量气体混合物中某种气体的浓度。与其他测量技术，诸如顺磁检测器(“pmd”)和化学发光法相比，tdlas提供了多元素检测能力、具有宽动态范围的高精确度、低维护要求、以及长的生命周期。使用激光作为光谱光源允许使用高分辨率光谱学(hrs)，其中量子级联激光器(qcl)提供对电磁波谱中宝贵的中红外(mir)部分的访问。可以在wo 03087787a1中找到qcl系统的实施例。
6.这种类型的技术已经被整合至用于检测食品容器中破损的线上系统中，详见wo19076838 a1。在此，激光光束被布置成在食品容器上直接地延伸，以在相邻的辊子等压缩容器时，检测排出的气体。已经被发现的是这能提供合理可靠的泄漏检测。在理论上，光学技术的灵敏度使得现在可检测到小于1.0mm的破损；但是，已经被发现的是，这种实施方式并没有充分利用这种高灵敏度的优势。因此，为了进一步提高这种相对新的泄漏检测技术的可靠性和效率，期望提供这种技术的改进集成方式。


技术实现要素：

7.根据本发明的第一方面，提供了一种用于检测密封食品容器中破损的泄漏检测系统，所述泄漏检测系统包括：第一光学传感器，被配置为在第一测试路径上传输光信号，所述第一光学传感器对气体成分变化(即，冲击在沿测试路径传输的光信号上的气体的气体成分变化)敏感；以及可渗透按压构件，被配置为在使用中对密封食品容器施加压力；其中所述第一光学传感器被布置为使得光信号沿其传输的第一测试路径的至少一部分位于可
渗透按压构件之后或可渗透按压构件内。
8.在这个系统中，提供了可渗透按压构件，所述可渗透按压构件被配置为向密封食品容器施加压力，例如用按压构件的按压表面施加压力。这种可渗透压制件允许气体穿过按压构件的按压表面。这确保的是，例如，在施加压力时从容器中排出的气体可以通过按压构件的按压表面，进入按压构件的内部或按压构件之后。此外，第一光学传感器被布置为使得第一测试路径的至少一部分位于可渗透按压构件之后或可渗透按压构件内。例如，测试路径可以被布置在按压构件的按压表面之后，即相对于按压表面与密封食品容器接触的一侧，或者可以被布置在可渗透按压构件内，其中容器与按压构件的外表面接触。因此，渗透通过按压构件的气体可以冲击沿测试路径传输的光，使得其以上述方式改变所传输光的光学特性。
9.这个系统提供的是，测试路径可以被定位成更接近于按压构件和密封食品容器之间的接触点。在已知的系统中，当对密封食品容器施加压力时，可能会导致它们在接触点的两侧隆起或膨胀。在密封食品容器是成袋的食品产品情况下，这是特别成问题的。由于这种影响，已知的系统必须在光束路径和密封食品容器之间提供足够的空隙，使得容器本身不会冲击测试路径和阻挡传输的光。实际上，本发明人发现的是，在辊子的前缘或后缘处执行检测的已知系统由于光学传感器从按压位置横向偏移，因此灵敏度显著下降。在本系统中，测试路径在按压构件之后或按压构件内，使得按压构件本身就能防止容器阻挡测试路径，并且允许将传感器布置成尽可能地靠近与容器的接触点。使测试路径定位成更靠近密封食品容器的接触点定位，提高了泄漏检测过程的灵敏度和可靠性。
10.如上文所述，第一光学传感器对气体成分变化敏感。例如，光学传感器对冲击测试路径的空气中的二氧化碳或氮气比例的变化敏感。这提供的是，如果气调容器中存在破损，按压构件会导致气体从容器中排出，这将导致测试路径附近的一种或多种气体的比例急升或下降。因此，光学传感器能够检测气体成分的这种变化，从中可以推断出密封食品容器中存在破损。
11.第一光学传感器可以沿大体上一维的测试路径(例如激光光束路径)传输光，但是如果期望提供更宽的测试区域，所述路径也可以延伸至二维，例如线聚焦激光可以照射一个平面。然而，优选的是，测试路径不超过待测试容器的长度，从而确保可以确定哪个容器具有破损。出于这个原因，优选地使用激光光束来提供高精确度。
12.优选地，系统还包括传送机，用于传送密封食品容器通过泄漏检测系统。例如，传送机可以在传送带上将密封食品容器传送通过按压构件。在此，按压构件的按压表面的至少一部分可以布置在测试路径和传送机之间。
13.按压构件可以有利地被配置为在所述密封食品容器移动通过泄漏检测系统时，例如在所述密封食品容器被先前提及的传送机移动时，对所述密封食品容器施加压力。这确保了密封食品容器在检测过程中不需要停顿，提高了系统的产量。下面将给出合适的按压构件实施例，但通常所述按压构件将需要可移动或可旋转的按压表面，以便在密封食品容器移动通过系统时用于与所述密封食品容器接触。
14.在优选实施方案中，可渗透按压构件与传送机相对地布置，使得密封食品容器可以在可渗透按压构件和传送机之间通过。即是，例如，传送机可以移动密封食品容器通过系统，并且将所述密封食品容器带入可渗透按压构件和传送机之间的间隙中，这导致密封食
品容器在移动穿过这个间隙时该密封食品容器中的压力上升。
15.优选地，系统还包括与第一光学传感器联接的控制单元，所述控制单元接收第一光学传感器的信号，并且基于所述第一光学传感器的信号确定密封食品容器中破损的存在。例如，一旦光学传感器敏感的一种或多种气体的一个或多个阈值被超过，控制单元就可以确定密封食品容器中存在破损。替代地，所述确定可以基于气体成分的变化率。
16.在一些实施方案中，控制单元被配置为接收关于密封食品容器相对于第一光学传感器的位置的信息，并且所述控制单元被配置为基于第一光学传感器的信号以及关于密封食品容器位置的信息，来确定密封食品容器中破损的位置。关于密封食品容器位置的信息可以来自光栅，所述光栅布置成在容器从按压构件和光学传感器下方通过时检测该容器的前缘和后缘。在其他实施例中，传感器(诸如称重传感器或相机等)可以被用于确立系统内或系统上游的容器的位置。控制器也可以联接至传送机，并且在容器移动穿过系统时，控制器可以利用传送机的速度来跟踪容器的位置。确定破损的位置有助于识别上游密封机械中的故障。例如，如果经常在容器的后缘发现破损，这可以用来识别密封错误的来源，诸如密封工具对应端的碎屑。
17.在许多实施方案中，控制单元被配置为基于第一光学传感器的信号来确定破损的大小(即尺寸)。例如，光学传感器的信号可以通过检测气体成分变化的峰值，或通过检测气体成分的变化率的方式来被使用，并且通过上述这些中的一项或两项推断出容器破损的尺寸。这可以通过使用带有变化的破损尺寸的样本容器来校准，以确定对于不同的破损尺寸来说典型的气体成分变化曲线。控制器可以基于确定的破损大小来决定容器是“好”还是“坏”。例如，对于密封食品容器来说，非常小的破损可能在可接受容差范围内。然而，能够检测和监测小破损的发生，对于识别密封机械中的问题来说仍有价值。
18.在特别优选的实施方案中，可渗透按压构件包括第一可渗透传送带。这种可渗透传送带可以被布置在先前提及的传送机上方并与之相对，使得密封食品容器可以在两个传送机之间穿过，从而导致压力增加。有利地，可渗透传送带便于在按压构件内提供测试路径。即是，测试路径可以在传送带内(例如，在传送带的相对侧之间)延伸。
19.优选地，第一可渗透传送带包括穿过传送带的开口阵列，以允许气体渗透通过传送带。例如，传送带可以具有穿过带的孔或槽阵列，这将允许气体穿过和冲击测试路径。
20.第一可渗透传送带还可以包括元件阵列，所述元件阵列从传送带的表面(即，按压表面)突出，用于接触密封食品容器，并且将传送带的主体(即，带的大部分)与密封食品容器的表面分开。突出元件阵列减少了按压构件和容器之间的接触面积，从而防止按压构件无意地阻挡容器的任何破损。合适的突出元件可以包括隆起或细长的脊。
21.在特别优选的实施方案中，第一光学传感器被布置成使得测试路径的至少一部分位于第一可渗透传送带内，并且延伸跨越传送带的宽度(即跨越垂直于其传送方向的方向)。这通常会为第一光学传感器的物理元件提供方便的位置(即在夹带式传送带的横向开口处)，同时允许测试路径跨越所有或大部分可能的接触位置。
22.虽然在一些实施方案中第一可渗透传送带是优选的，但在其他实施方案中，可渗透按压构件例如可以包括可渗透辊子。
23.在传送机被设置为用于将密封容器传送至可渗透按压构件/或从可渗透按压构件传送出的实施方案中，优选地所述传送机包括可渗透传送机，并且其中对气体成分变化敏
感的第一光学传感器或第二光学传感器被配置为在第二测试路径上传输第二光信号，其中所述光学传感器被布置为使得第二光信号沿其传输的第二测试路径的至少一部分位于可渗透传送机之后或可渗透传送机内。基本上，在这些实施方案中，在传送中容器所在的下部传送机也充当按压构件，用于通过容器中破损提取气体样品。当密封食品容器被配置为夹在传送机和可渗透按压构件之间时，即当所述密封容器穿过限定在两者之间的间隙时，这是特别优选的。
24.优选地，可渗透传送机包括第二可渗透传送带。第二可渗透传送带可以具有上文关于第一可渗透传送带所描述的所有特征，即开口、突出元件和测试路径的布置。例如，光学传感器也可以被布置为使得第二测试路径的至少一部分位于第二传送带内，并且跨越传送带的宽度延伸。
25.如上文所指，第二测试路径可以由在可渗透按压构件中提供测试路径的同一光学传感器形成。这可以通过镜子的布置来提供，例如，用于将光向下引导并且穿过第二传送带，使得仅提供沿容器两侧延伸的一条光路径，然后在测量所接收光信号的单个光学检测器被接收。替代地，第二测试路径可以由与第一光学传感器不同的第二光学传感器提供。这有助于识别破损位于容器的哪一侧，从而有助于诊断密封或其他制造故障。可以设置用于沿两条路径传输光的两个光源，或者一个光源，所述一个光源分成两条路径，并在相应的光学检测器处被接收。
26.在使用第二光学传感器的实施方案中，优选地第一光学传感器对第一测试路径中的气体成分变化敏感，第二光学传感器对第二测试路径中的气体成分变化敏感。例如，沿第一测试路径的光信号可以与沿第二测试路径的光信号分开，这些光信号可以被对光源传输的光信号敏感的相应的光学检测器接收。优选地，控制单元与第二光学传感器联接，并且被配置为接收来自所述第二光学传感器的信号，所述控制单元被配置为基于来自第一光学传感器的信号和来自第二光学传感器的信号确定破损的位置。例如，如上文所述，这允许区分密封食品容器的破损是在顶部还是底部。控制单元可以被配置为通过比较来自第一光学传感器的信号和来自第二光学传感器的信号来确定破损的位置。例如，如果一个传感器的气体成分变化比另一个传感器大，或如果一个传感器检测到气体成分变化而另一个传感器没有检测到气体成分变化，这便可以用于推断出破损位于或朝向容器的靠近该传感器的一侧。
27.在特别优选的实施方案中，可渗透按压构件可调整地安装在传送机上方，使得按压构件和传送机之间的距离可以变化，以适应不同尺寸的密封食品容器。虽然这是优选的，但在替代方案中，两者可以相对彼此固定。
28.在许多实施方案中，光学传感器被安装至所述可渗透按压构件。例如，光学传感器可以安装在可渗透传送带内。这特别助于调整按压构件的定位。当在可渗透传送机中设置第二光学传感器时，所述第二光学传感器同样可以安装至所述传送机，例如，安装在第二传送带内。
29.优选地，光学传感器包括一个或多个光源，优选地激光，被配置为传输光信号，并且其中每个光学传感器包括对由所述光源传输的光信号敏感的检测器。如上文所述，两个光学传感器的特征在于各自的检测器，用于在光穿过相应的测试路径后接收所述光并且检测气体成分变化。然而，光可以例如使用分光器由一个相同的光源传输，或者可以由各自的
光源传输。
30.根据本发明的第二方面，提供了一种检测密封食品容器中破损的方法，所述方法包括：使用可渗透按压构件对密封食品容器施加压力；使用被配置为在测试路径上传输光信号的光学传感器检测可渗透按压构件之后或可渗透按压构件内的气体成分变化；其中所述光学传感器被布置为使得光信号沿其传输的测试路径的至少一部分位于可渗透按压构件之后或位于可渗透按压构件内。
31.上文对应于使用根据第一方面的系统的方法，因此该系统的所有优选特征同样适用于根据第二方面的方法。
32.如上文所解释的，本发明的一个优点是其允许更精确地确定容器中破损的尺寸和/或位置，因此优选地，这个方法涉及对破损尺寸和/或位置的确定。
33.例如，所述方法可以包括基于使用第一光学传感器检测到的气体成分的变化来确定密封食品容器中破损的大小。如上文所解释的，这可以基于检测到的气体成分变化尺度或变化率。
34.优选地，在所述密封食品容器相对于第一光学传感器移动时，使用可渗透按压构件向密封食品容器施加压力，以及所述方法还包括基于检测到的气体成分变化和所述密封食品容器相对于第一光学传感器的位置确定密封食品容器中破损的位置。
35.优选地，所述方法还包括使用第二光学传感器检测气体成分的变化，所述第二光学传感器被配置为在第二测试路径上传输光信号，其中密封食品容器位于或穿过第一测试路径和第二测试路径之间，并且还包括基于第一光学传感器检测到的气体成分变化和第二光学传感器检测到的气体成分变化来确定的密封食品容器中破损的位置。也即是，所述两个传感器可用于确定破损是更靠近第一光学传感器还是更靠近第二光学传感器，从而指出破损是在例如容器的顶部或底部。
附图说明
36.图1示出了根据一个实施方案的泄漏检测系统的侧视图；
37.图2示出了图1中所示的泄漏检测系统的俯视图；
38.图3示出了图1和图2中所示的泄漏检测系统的端部视图；
39.图4示出了图1至图3中所示的泄漏检测系统的端部视图，其中传送带被省略，以展示光学传感器的定位；以及
40.图5示出了第二泄漏检测的端部视图，其中传送带被省略，以展示光学传感器的定位。
具体实施方式
41.现在将参考图1至图4描述泄漏检测系统的第一实施方案。
42.泄漏检测系统1包括第一传送机系统100和相对的第二传送机系统200。上部传送机100包括围绕一系列辊子102a、102b、102c、102d夹带的传送带101。驱动辊子102a、102b被定位在传送机100的上游端和下游端，并且确定了传送机的长度，而辅助辊子102c、102d被设置为调整夹带式传送带101的形状。特别地，传送带101围绕辊子102a、102b、102c、102d被夹带，使得传送带的下表面大体上平坦，即驱动辊子102a、102b被定位在同一高度，并且下
表面在驱动辊子102a、102b之间延伸且不改变方向。在另一方面，传送带的上表面围绕经过朝向传送带中心定位的辅助辊子102c、102d，所述辅助辊子102c、102d用于将传送带的上表面与平坦的下表面分隔开。这增加了传送带101上表面和下表面之间的间隙，并且为内部部件提供了空间，这将被后文进一步讨论。虽然在这个实施方案中仅有这些辊子被示出，但将领会的是，可以根据需要提供额外的夹带辊子，从而用于支撑和保持传送带的形状。
43.第二传送机200类似地包括围绕辊子202a、202b、202c、202d夹带的传送带201。第一驱动辊子202a和第二驱动辊子202b同样被定位在传送机200的上游端和下游端，并且确定了传送机的长度。辊子202a和202b为第二传送机200提供大体上平坦的上表面，而辅助辊子202c、202d将带的下表面与上表面分隔开，以便在传送机内部为内部部件提供空间。同样，可以根据需要提供额外的辊子。特别地，由于这个传送机200可以支撑被传送通过系统的物品，因此可能需要沿传送机的长度方向提供支撑传送带201上表面的额外辊子。
44.如上文所述，传送机100和传送机200彼此相对。上部传送机100的平坦下表面和下部传送机200的平坦上表面提供了在两个相对的传送机系统100、200之间限定了高度大体恒定的间隙。在使用中，托盘10通过上游传送机(未显示)向泄露检测系统1传送，使得托盘在系统1的上游端进入相对的传送机100、200之间。两个传送机100、200由各自的驱动辊子组102a、102b、202a、202b驱动，使得带101、102用于传送托盘10通过系统。两个传送带101、201的这种运动导致托盘10被吸入两个传送机100、200之间的间隙，在此所述托盘10被相对的传送带的表面压缩。
45.如图2所示，第一传送带101包括呈槽阵列103形式、穿过带的一系列开口。这些槽103允许气体穿过传送带表面101。特别地，当托盘10被压缩时，位于托盘内的气调会通过容器中的破损泄漏，并且被允许穿过槽103中的一个。虽未示出，但第二传送机系统200类似地包括传送带201，所述传送带201带有用于允许气体渗透的类似开口阵列。
46.如图3所示，每个传送带101、201还包括一系列的突出脊104、204，沿所述传送带的传送方向延伸。从图3中可以看出，这些突出脊104、204使传送带101和201与托盘10之间的接触面积最小化。这种接触面积的最小化确保了传送带101、102的表面不会无意地阻挡密封食品容器10中的任何破损。
47.如图1和图4所示，第一传送机系统100和第二传送机系统200包括位于各自的传送带101、201的上表面和下表面之间的各自的光学传感器110、210。两个光学传感器110、120均朝向传送机上游端定位。这确保的是，当容器10进入传送机之间并且受到被施加的压力时，光学传感器被适当地定位成在显著量的气体逸出之前检测到被排出的气体。这提高了系统的灵敏度。第一光学传感器110，位于第一传送机100中，包括光源111和检测器112。光源111可以是激光，诸如二极管激光或半导体激光。为光源选定的波长或波长范围应当与位于气调托盘10内部的至少一种气体的吸收光谱相匹配。优选地，所述波长应当被选定成与在容器中占比与外界空气中占比相差最大的气体的吸收光谱相匹配。检测器112可以是能够检测到为光源111选定的波长或波长范围的任何光学检测器，例如，可以是光电二极管、光电放大器、ccd检测器、cmos检测器或ingaas检测器。
48.光源111被布置在传送机的一个横向边缘处，并且被配置为将光信号113跨越传送机100的宽度传输至位于传送机的相对横向边缘处的检测器112。光源111和检测器112被布置为靠近传送带101的下表面，使得当托盘10在传送机100、200之间穿过时，传输的光113将
尽可能地靠近所述托盘10穿过。在这个实施方案中，光源111被布置在传送机100的一个横向侧处，而检测器112位于传送机100的相对横向侧处，使得光信号113跨越大体上传送机100的整个宽度延伸，来提供最大化的覆盖范围，并且顺应在不同横向位置进入的托盘。
49.如上文所述，第二传送机200同样包括光学传感器210，与第一光学传感器110一样，所述光学传感器210包括在传送机的一个横向侧处的光源211以及在传送机的相对横向侧处的检测器212，使得光源211跨越大体上传送机200的整个宽度传输光信号213。在这个实施方案中，第二光源211和第二检测器212被布置成使得光信号213沿靠近下部传送带200的上表面的路径延伸。同样，以这种方式布置光学传感器210确保了光信号在托盘10穿过传送机100、200之间时尽可能地靠近所述托盘10。
50.在使用中，当托盘10被传送通过在相对的传送机100、200之间的泄漏检测系统1时，由于托盘10在两个传送机之间被挤压，其将经历施加的压力。这种施加的压力会导致气体从密封容器的任何破损处泄漏出。在托盘10在光学传感器110、210之间通过时，从破损的容器中泄漏的气体会通过开口渗透通过传送带101或102，并且冲击相应的光学传感器110、210的光信号113或213。这种来自密封容器内部的气体的冲击可因此导致有对应的光信号传播的气体的成分发生变化。由于在对应于所述气体的吸收光谱的波长中检测到的光信号强度的增加或减少，检测器112或212可因此检测到气体成分的变化。在检测器处检测到的这种强度变化可用于推断位于光学传感器之间的托盘含有破损。
51.第一光学传感器110和第二光学传感器210均通过相应的电线21、22连接至控制单元20。在这个实施方案中，控制单元20位于上部传送机内，连接至第二光学传感器120的电线从上部传送机100的侧面延伸出，随后向下布线并且进入第二传送机200的侧面，进而连接至第二光学传感器210。在其他实施方案中，控制单元可以位于两个传送机之外。控制单元与光学传感器110、210的检测器112、212相连，并且接收指示冲击在相应的光信号上的气体的气体成分的信号。通过这种方式，控制单元能够处理气体成分数据，并且确定破损的存在。例如，如果容器具有富含co2的气调，一旦超过co2的阈值，或检测到co2的一定变化率时，控制单元20就可以确定密封食品容器10中有破损。
52.这个实施方案不仅允许检测破损，而且还可以被用于推断上游故障的类型。特别地，这个系统可以区分破损在容器顶部还是在容器底部。例如，仅第一光学传感器110可以检测到气体成分的变化，在这种情况下可以推断出破损在容器顶部。替代地，两个光学传感器110、210之间的信号可以通过控制单元20比较，从而确定哪个传感器检测到的强度的最大峰值或下降，变化越大指示破损更靠近所述传感器。例如，如果在容器的顶部或底部检测到异常高比例的破损，这可以被用于推断出存在特定类型的上游问题。例如，经常破损的容器底部可能指示底部托盘密封工具或托盘成型机有问题。替代地，在容器顶部的高比例破损可以被用于推断出上部托盘密封工具有问题或薄膜有问题。
53.此外，结合关于容器位置的信息，这个实施方案可以用于确定沿容器传送方向的破损的位置。例如，可以布置光栅(未示出)来检测在第一光学传感器110和第二光学传感器210之间通过的容器。光栅信号可以被控制单元20接收，并且与来自光学传感器110、210的信号进行比较，以确定沿传送方向的破损的位置。例如，如果当光栅被容器触发时，第一光学传感器检测到co2的峰值，而第二光学传感器未检测到，则可以推断出破损沿容器的上部前缘定位。如果在特定位置经常检测到破损，则这可以被用于诊断上游密封系统中的故障。
54.图5示出了光学传感器的替代布置。在这个实施方案中，仅提供一个光学传感器110。在这个实施方案中，光学传感器包括位于上部传送机100内的光源111和位于下部传送机200内的检测器112。光源111位于传送机的一个横向边缘处并且传输光信号113，所述光信号113沿上部传送机100的宽度传播，并且从传送机100的相对横向侧传出。第一镜子114a和第二镜子114b被设置为使这个光信号向下偏转并且进入第二传送机200中，即在带201的上表面和下表面之间。光信号跨越大体上此第二传送机200的整个宽度传播，并且被检测器112接收。光源111被设置为靠近上部传送带101的下表面，并且检测器被定位成靠近下部传送带201的上表面，使得在托盘10通过传送机100、200之间时，光信号113将靠近托盘10的上表面和下表面通过。由此，这种布置提供了单个光信号，所述单个光信号沿着跨越两个传送机100、200延伸的路径通过。这个实施方案减少了为了实现对托盘10的上表面和下表面附近的气体成分变化敏感而需要的光学传感器部件的数量。
55.在图5中，控制单元未示出，使得光信号的布置能够被更清楚地看出，但是例如所述控制单元可以被布置在下部传送机200的内部，并且连接至检测器112。