用于操作源同步设备的装置和方法与流程

文档序号:34117048发布日期:2023-05-11 00:53阅读:42来源:国知局
用于操作源同步设备的装置和方法与流程


背景技术:

1、电子部件诸如半导体设备、电路和印刷电路板(pcb)组件在其制造期间和之后使用测试系统诸如自动化测试装备(ate)来进行频繁测试。为了执行这些测试,ate可包括生成或测量测试信号的仪器,使得可在特定被测设备(dut)上测试一系列操作状况。例如,仪器可生成数字信号的模式以驱动半导体设备内的数字逻辑。仪器还可从半导体设备接收数字信号以检查由dut发射的信号是否正确。对于许多类型的dut,检查信号需要确定该信号具有预期值以及其在预期时间发生。

2、可能被测试的一些设备被设计为作为系统的一部分来操作,在该系统中一个或多个信号充当时钟。当正确运行时,这些设备在相对于时钟信号变化的已知时间发射或感测信号。这些设备可用生成时钟的ate来测试,该时钟与生成发送到dut的信号和测量来自dut的信号结合使用。以这种方式,ate可生成并测量具有与时钟相关的适当时序的信号。

3、可能被测试的一些设备在与发送数据的设备可生成的选通信号相关的时间发射数据信号。例如,此选通方案可用于半导体存储器或其它高数据速率应用,其中数据信号与时钟信号的传播时间的差异可致使时钟信号在数据信号之前或之后充分到达设备,使得可能在感测数据信号时发生错误。对于被称为源同步设备的发送选通的设备,数据信号和选通信号彼此并行传送,使得数据信号和选通信号到达另一个设备所需的时间差可能很小,降低了基于选通信号在某个时间感测数据的设备将感测不正确的数据值的机会。

4、对于许多源同步设备来说,数据选通线是双向的,其中设备使用选通线上的信号来感测来自另一个半导体设备的数据以确定何时感测数据线上的值。相反,该设备可在选通线上生成信号以指示其何时在数据线上传输数据,使得另一个设备具有何时感测数据线上的值的指示。

5、为了测试源同步设备,ate可将选通线耦合到配置有接收器的通道的控制输入,以便控制接收器的时序。当被选通时,接收器可将信号记录在耦合到接收器的数据输入的数据线上。ate还可将配置有驱动器电路的通道耦合到选通线。每当ate中的另一个驱动器正在驱动数据线上的数据信号时,该驱动器可被控制以发射作为选通信号操作的信号。ate可被编程为响应于从ate发射的选通信号而丢弃在数据线上感测到的任何数据值,使得ate处理来自dut的信号,并且忽略由ate在数据线上发射的信号。


技术实现思路

1、本公开的各方面涉及基于ate中的驱动电路中的驱动启用(de)信号的状态来选择性地传递所接收的选通信号诸如dqs选通信号的装置和操作该装置的方法。

2、根据一些实施方案,提供一种用于使从半导体设备接收的数据与选通信号同步的装置。该装置包括:第一连接点,该第一连接点被配置为连接到半导体设备的选通信号引脚;第二连接点,该第二连接点被配置为连接到半导体设备的数据引脚;驱动器电路,该驱动器电路具有耦合到第一连接点的输出和驱动启用输入。该驱动器电路被配置为基于该驱动启用输入处的信号的状态在驱动启用周期期间驱动该输出。该装置还包括具有数据输入和选通输入的接收器电路。数据输入耦合到第二连接点,并且接收器电路被配置为基于选通输入处的信号的状态在数据输入处接收数据。该装置还包括门控电路,该门控电路具有耦合到第一连接点的输入和耦合到接收器电路的选通输入的输出以及耦合到驱动启用输入的控制输入。该门控电路被配置为基于其控制输入处的信号的状态选择性地将信号从其输入传递到其输出。

3、根据一些实施方案,提供了一种用于与半导体设备进行源同步的方法。该方法包括:在驱动启用信号的驱动启用周期期间启用驱动器以驱动该半导体设备的选通线;在选通线上接收来自半导体设备的选通信号;基于驱动启用信号从选通线上的所接收的选通信号生成门控选通信号;基于门控选通信号来选通接收器以将所接收的数据信号记录在半导体设备的数据线上。

4、根据一些实施方案,提供了一种用于操作自动化测试装备(ate)以测试半导体设备的方法。ate包括具有耦合到半导体设备的选通线的输出的驱动器电路、接收器电路和具有耦合到选通线的输入的门控电路。该方法包括:在驱动启用信号的驱动启用周期期间启用驱动器电路以驱动选通线;在门控电路的输入处接收来自半导体设备的选通信号;基于所接收的选通信号和驱动启用信号,利用门控电路生成门控选通信号;以及基于门控选通信号来选通接收器电路以将数据信号记录在半导体设备的数据线上。



技术特征:

1.一种用于使从半导体设备(20)接收的数据与选通信号同步的装置(100),所述装置包括:

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述驱动启用输入通过包括第一延迟部件和第二延迟部件的延迟电路耦合到所述控制输入,其中

3.根据权利要求2所述的装置,其中所述延迟电路还包括:

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述第一延迟部件和所述第二延迟部件可独立地编程。

5.根据权利要求3所述的装置,其中所述门控电路包括:

6.根据权利要求1所述的装置,其中所述门控电路被配置为当所述门控电路的控制输入处的所述信号处于第一状态时选择性地将所述信号从所述门控电路的输入传递到所述门控电路的输出,并且当所述门控电路的控制输入处的所述信号处于不同于所述第一状态的第二状态时传递逻辑低值。

7.根据权利要求1所述的装置,其中所述装置包括自动测试装备(ate),所述自动测试装备包括被配置为生成和/或测量被测设备(dut)的信号的多个通道,并且

8.根据权利要求1所述的装置,还包括第二延迟电路,并且所述门控电路的所述输出通过所述第二延迟电路耦合到所述接收器电路的所述选通输入。

9.一种用于与半导体设备进行源同步的方法,所述方法包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其中从所述选通线上的所述信号生成所述门控选通信号包括基于所述驱动启用信号交替地将所接收的选通信号作为所述门控选通信号传递或者将所述门控选通信号设置为逻辑低值。

11.根据权利要求9所述的方法,其中从所述选通线上的所述信号生成所述门控选通信号包括将所接收的选通信号作为所述门控选通信号传递或者在门控持续时间期间阻挡所接收的选通信号,其中所述驱动启用周期由所述驱动启用信号中的第一沿和第二沿限定,并且其中:

12.根据权利要求11所述的方法,其中所述门控持续时间比所述驱动启用周期长。

13.根据权利要求11所述的方法,所述方法还包括:

14.根据权利要求9所述的方法,其中所述选通信号是dqs信号,并且其中所接收的数据信号是dq信号。

15.根据权利要求9所述的方法,其中选通所述接收器包括:

16.一种用于操作自动化测试装备(ate)以测试半导体设备的方法,所述ate包括具有耦合到所述半导体设备的选通线的输出的驱动器电路、接收器电路和具有耦合到所述选通线的输入的门控电路,所述方法包括:

17.根据权利要求16所述的方法,其中生成所述门控选通信号包括基于所述驱动启用信号交替地将所接收的选通信号作为所述门控选通信号传递或者将所述门控选通信号设置为逻辑低值。

18.根据权利要求16所述的方法,其中从所述选通线上的所述信号生成所述门控选通信号包括将所接收的选通信号作为所述门控选通信号传递或者在门控持续时间期间阻挡所接收的选通信号,其中所述驱动启用周期由所述驱动启用信号中的第一沿和第二沿限定,并且其中:

19.根据权利要求18所述的方法,其中所述门控持续时间比所述驱动启用周期长。

20.根据权利要求18所述的方法,其中所述门控电路包括第一延迟线和第二延迟线,并且所述方法还包括:


技术总结
本发明描述了利用门控DQS信号选通DQ信号的电路和操作该电路的方法。一些方面针对门控方案,以基于ATE中的驱动电路中的驱动启用(DE)信号的状态来选择性地传递所接收的选通信号诸如DQS选通信号,使得防止由驱动电路生成的沿错误地选通所接收的数据信号诸如DQ信号。

技术研发人员:罗纳德·A·萨特斯奇夫,扬·保罗·安东尼·范德瓦特,南森·纳里,格雷迪·博尔德斯
受保护的技术使用者:泰瑞达公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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