技术特征：
1.一种线激光标定方法，其特征在于，所述线激光标定方法应用于激光传感器，所述激光传感器设置有传感器外壳；所述线激光标定方法包括：获取所述激光传感器发射的初始线激光点集；将所述初始线激光点集进行平面拟合，得到参考水平面；获取所述激光传感器与所述参考水平面之间的参考距离；在距离所述传感器外壳预设距离处设置与水平面垂直的至少两组障碍物，得到至少两组新的线激光点集；将所述新的线激光点集分别进行平面拟合，得到与所述参考水平面垂直的参考垂直面；获取所述激光传感器与所述参考垂直面之间的当前距离；根据所述参考距离、所述预设距离以及所述当前距离进行线激光标定。2.如权利要求1所述的线激光标定方法，其特征在于，所述获取所述激光传感器发射的初始线激光点集之前，还包括：获取初始线激光数据；检测所述初始线激光数据是否为有效数据；若所述初始线激光数据为有效数据，则根据所述初始线激光数据控制所述激光传感器发射线激光点集。3.如权利要求1所述的线激光标定方法，其特征在于，所述将所述初始线激光点集进行平面拟合，得到参考水平面之前，还包括：检测所述初始线激光点集中各个线激光点是否处于一条直线上；若处于，则执行将所述初始线激光点集进行平面拟合，得到参考水平面的步骤。4.如权利要求1所述的线激光标定方法，其特征在于，所述预设距离处于所述激光传感器的最小线激光探测距离与最大线激光探测距离之间。5.如权利要求1所述的线激光标定方法，其特征在于，所述预设距离包括第一预设距离和第二预设距离，所述新的线激光点集包括第一新的线激光点集和第二新的线激光点集；所述在距离所述传感器外壳预设距离处设置与水平面垂直的至少两组障碍物，得到至少两组新的线激光点集，包括：在距离所述传感器外壳第一预设距离处设置与水平面垂直的第一障碍物，得到第一新的线激光点集；剔除所述第一障碍物，并距离所述传感器外壳第二预设距离处设置与水平面垂直的第二障碍物，得到第二新的线激光点集。6.如权利要求5所述的线激光标定方法，其特征在于，所述根据所述参考距离、所述预设距离以及所述当前距离进行线激光标定，包括：根据所述参考距离、所述预设距离以及所述当前距离确定传感器角度、传感器内嵌距离以及传感器高度；根据所述传感器角度、所述传感器内嵌距离以及所述传感器高度进行线激光标定。7.如权利要求6所述的线激光标定方法，其特征在于，所述当前距离包括第一当前距离和第二当前距离；
所述根据所述参考距离、所述预设距离以及所述当前距离确定传感器角度、传感器内嵌距离以及传感器高度，包括：根据所述第一预设距离、所述第二预设距离、所述第一当前距离以及所述第二当前距离计算传感器角度，具体基于以下公式：sinθ＝(d1-d2)/(l1-l2)，其中；θ为传感器角度、d1为第一预设距离、d2为第二预设距离、l1为第一当前距离、l2为第二当前距离；根据所述传感器角度、所述第一预设距离以及所述第一当前距离计算传感器内嵌距离；或者根据所述传感器角度、所述第二预设距离以及所述第二当前距离计算传感器内嵌距离；根据所述参考距离和所述传感器角度计算传感器高度。8.一种线激光标定装置，其特征在于，所述线激光标定装置包括：扫描模块，用于获取所述激光传感器发射的初始线激光点集；拟合模块，用于将所述初始线激光点集进行平面拟合，得到参考水平面；获取模块，用于获取所述激光传感器与所述参考水平面之间的参考距离；所述扫描模块，还用于在距离所述传感器外壳预设距离处设置与水平面垂直的至少两组障碍物，得到至少两组新的线激光点集；所述拟合模块，还用于将所述新的线激光点集分别进行平面拟合，得到与所述参考水平面垂直的参考垂直面；所述获取模块，还用于获取所述激光传感器与所述参考垂直面之间的当前距离；标定模块，用于根据所述参考距离、所述预设距离以及所述当前距离进行线激光标定。9.一种线激光标定设备，其特征在于，所述线激光标定设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的线激光标定程序，所述线激光标定程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的线激光标定方法。10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有线激光标定程序，所述线激光标定程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的线激光标定方法。
技术总结
本发明公开了一种线激光标定方法、装置、设备及存储介质，属于激光传感器技术领域。本发明通过将激光传感器发射的初始线激光点集拟合得到参考水平面；获取激光传感器与参考水平面之间的参考距离；在距离传感器外壳预设距离处设置与水平面垂直的至少两组障碍物，得到至少两组新的线激光点集；将新的线激光点集分别拟合得到与参考水平面垂直的参考垂直面；获取激光传感器与参考垂直面之间的当前距离；根据参考距离、预设距离以及当前距离进行线激光标定，通过参考水平面和参考垂直面对发射线激光的激光传感器进行标定，能够根据激光传感器在使用过程中产生的高度误差、角度误差以及距离误差进行线激光标定，从而保证线激光测距的准确性。准确性。准确性。
技术研发人员：赵伟杰 李凌云
受保护的技术使用者：深圳市云鼠科技开发有限公司
技术研发日：2022.01.26
技术公布日：2022/5/30